JPS6260730B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は一般的に記録媒質にデータを記録す
る装置、更に具体的に云えば、この記録を妨げる
様な欠陥が媒質にあることを検出する装置に関す
る。

この様な特定の形式の装置は、磁気又は光学媒
質にデータ、特にデイジタル・データを記録する
装置で、磁気材料又は光学面の欠陥がそこにデー
タを記録する妨げとなり得る様な場合に有用であ
る。こういう装置は、所望のデータが正しく記録
されたことを検証する手段か、或いはその代り
に、データを記録する前に記録媒質上の不良領域
を検出する手段を持つていて、記録過程でこの様
な不良領域を避けることが出来る様にすることが
望ましいことが判つた。

データを記録した後に検証する方式は、通常、
「書込み後読取り」又は「書込みながらの読取
り」方式と分類される。この形式の典型的な装置
では、光学デイスクにデータを記録する為、デー
タを強度変調された書込み光ビームにより、同心
に配置された一連の円形トラツクに記録する。こ
の光ビームは、デイスクが一定角速度又は一定の
線速度と云う様な所定の角速度で回転する時、デ
イスク上に集束される。更に、データを書込んだ
ばかりのデイスクの部分に読取光ビームを向け
て、実際に記録されたデータによつて強度変調さ
れた反射ビームを発生する。この反射ビームを検
出し、書込もうとしたデータと比較して、それが
デイスクに正しく記録されていることを検証す
る。記録の誤りが検出された場合、不正確なデー
タには適当なフラグをつけ、データの所定の部分
の書込みの仕直しをする。

典型的な１つの書込み後読取式の光学デイスク
記録装置が、IEEEスペクトラム誌、1979年２月
号所載のジヨージC.ケニー他の論文「光学デイ
スクは25本の磁気テープの代りになる」に記載さ
れている。この装置は、データを実質的に誤りな
しに再生することが出来る様な記録媒質を作るの
に一般的に有効であるが、記録データに誤りが検
出された時には、何時でも普通はデータのかなり
の部分の書込みの仕直しをしなければならないの
で、利用し得る記録容量の使用効率が悪いことが
ある。

データを書込む前に、記録媒質上の不良領域を
検出する手段を含む装置では、媒質全体を典型的
には最初に走査し、検出されたあらゆる不良領域
の場所を示す為に、確認フラグが記録される。媒
質全体が走査され、それに欠陥があれば、その欠
陥にフラグをつけた後、データを媒質の欠陥のな
い領域に記録する。然し、この様な装置はいろい
ろな理由で不満足であることが判つた。１つの理
由は、欠陥を検出する為と、データを記録する為
の２回の完全な記録媒質の走査が必要であること
である。更に、記録トラツクの精密な場所が、デ
ータを実際に記録するまで決定されない様な光学
デイスクの場合、欠陥を検出する為の最初の走査
の際に走査されるデイスクの相次ぐ円周方向の区
域が、記録する時に走査される相次ぐ区域と正確
に対応しない場合がある。その結果、２回の走査
を相関させて、記録用の走査の間、前に不良であ
ると判断されたデイスクの一部分を走査している
時を正確に決定するのが困難になることがある。

上に述べた所から、記録媒質にデータを記録す
る方法並びに装置として、媒質の完全な２回の走
査を行うことを必要とせずに、且つデータの実質
的な部分の書込みの仕直しをすることを必要とせ
ずに、媒質の欠陥を検出し、その欠陥のない部分
にデータを記録することが出来る様にする方法並
びに装置に対する要望があつたことが理解されよ
う。

基本的には、この発明を実施した改良された装
置並びに記録媒質にデータ信号を記録する関連し
た方法では、所定の形で媒質を走査する変換器手
段に信号を結合し、信号を媒質に記録する。この
発明では、装置が、変換器手段による走査と同期
して、記録媒質のまだ記録されていない部分を走
査して、データの記録を妨げる様な欠陥が媒質の
表面に存在することを検出する欠陥検出手段と、
変換器手段がこの様な欠陥を走査していることが
決定された時、何時でも変換器手段からデータ信
号を切離す制御手段とを有する。もはや不良領域
を走査していないことが決定されると、データ信
号が再び変換器手段に結合される。その結果、記
録媒質の不良領域にデータを記録することが避け
られ、記録効率が実質的に改善される。

更に具体的に云えば、この発明の装置は、変換
器手段がデータ信号に従つて書込み光ビームの強
度を変調する様に作用し、デイスクが所定の角速
度で回転する時、レンズ・キヤリツジが変調ビー
ムをデイスクに向ける様にして、光反射性デイス
クにデータ信号を記録するのに特に適している。
ビームの強度は、ビームが入射するデイスクの部
分が実質的に非反射性になる様な予定の閾値より
交代的に高くなつたり低くなつたりし、キヤリツ
ジはデイスクに対して半径方向に移動して、略円
形の同心記録トラツクとして配置された一連の相
隔たる微視的な非反射性領域が形成される。

更にレンズ・キヤリツジは、書込み光ビームよ
り前に、然しそれと同期して、デイスク上に強度
が比較的弱い書込み先行光ビームを向ける様に作
用する。この書込み先行ビームは、この為デイス
クの記録されていない部分を走査するが、入射点
に於けるデイスクの反射率に従つてデイスクによ
つて反射される。デイスクから反射されたビーム
を欠陥検出手段によつて監視する。この欠陥監視
手段は、ビームの強度変化が、デイスクの非反射
性の欠陥と出会つたことを示す時、何時でも欠陥
検出信号を発生する。この為、書込みビームが、
デイスクの内、欠陥検出信号によつて不良である
と指摘された一部分を走査している時、データ信
号を変調手段から切離す。

更に具体的な実施例では、装置は、書込み先行
ビームより僅かだけ遅れた場所で、デイスクの記
録されていない部分を走査する強度が比較的弱い
別の光ビームを用いることが出来る。この余分の
ビームはデイスクによつて同じ様に反射され、こ
の反射ビームの強度が反射された書込み先行ビー
ムの強度を所定量以上越える時、何時でも、書込
み先行ビームがデイスク上の非反射性の欠陥と出
会つたと決定され、欠陥検出信号が発生される。

書込みビームも書込み先行ビームも共通のレン
ズ・キヤリツジによつてデイスクに向けられる
が、これらのビームはデイスクの同じ又は異なる
半径の所に入射することが出来る。２つのビーム
がデイスクの同じ半径の所を走査していて、書込
み先行ビームが書込みビームより所定量だけ先行
している時、書込み先行ビームによつて欠陥が走
査されて、欠陥検出手段によつて検出されてから
予定の時間後、データ信号を変調手段から切離す
ことが出来る。一般的に、この所定の時間は、書
込み先行ビームが書込みビームより先行している
量より小さくしなければならない。

２つのビームがデイスクの異なる半径の所を走
査しているが、やはり書込み先行ビームが書込み
ビームより、デイスクの完全な１回転という様な
所定量だけ先行しているこの発明の別の実施例で
は、書込み先行ビームによつて走査され且つ欠陥
検出手段によつて検出される各々の欠陥を適当な
レジスタに貯蔵することが出来る。書込みビーム
がこの後でこういう場所を走査する時、前に述べ
た様に、変調手段からデータ信号を切離す。

この発明の別の１面として、書込みビームがデ
イスクの不良部分を走査していると判定された時
には、何時でも特別の欠陥フラグ信号を書込みビ
ーム変調器に結合し、こうすることによつて、こ
の後でデイスクからデータ信号が再生される時、
データ信号が一時的に中断することを確認するこ
とが出来る。デイスクの内、欠陥がないと決定さ
れた部分を書込みビームが再び走査する時、デー
タ信号が、デイスクに記録する為に、再び変調手
段に結合される。

更にレンズ・キヤリツジ手段は、書込み光ビー
ムの入射点より所定量だけ遅れた場所で、デイス
クに略一定強度の読取光ビームを向ける様にも作
用し得る。この読取光ビームが記録された情報に
従つてデイスクによつて反射され、反射ビームを
適当に検出して、データ信号がデイスクに正しく
記録されていることを検証することが出来る。こ
の発明の更に具体的な１面として、反射された読
取ビームを利用して、デイスク上に欠陥フラグ信
号があれば、それが存在することを検出すること
が出来る。こうすることにより、所定の長さの時
間の間、フラグ信号が検出された後、書込みビー
ムがもはやデイスクの欠陥を走査していないと判
定され、デイスクに記録する為にデータ信号を再
び書込みビーム変調手段に結合することが出来
る。

この発明のその他の面並びに利点は、以下図面
についてこの発明の好ましい実施例を説明する所
から明らかになろう。

最初に第１図について説明すると、回転し得る
光反射性デイスク１１にデイジタル・データ信号
を記録する書込み後に直接的に読取る記録装置が
示されている。装置は、書込み光ビーム１３及び
読取光ビーム１５をデイスクに集束する様に作用
し、書込みビームの強度が、デイスクの記録面に
実質的に非反射性の微視的な孔（ピツト）が形成
される予定の閾値より交互に高くなつたり低くな
つたりする様に、データ信号によつて変調され
る。これに対して、読取光ビームは、デイスクに
孔が形成される値より低い略一定の強度を持つて
いる。

装置が、デイスクがスピンドル・モータ１９に
よつて所定の角速度で回転させられる時、書込み
ビーム１３及び読取ビーム１５のデイスク１１に
対する夫々の入射点を半径方向にゆつくりと移動
させるレンズ・キヤリツジ１７を持つており、こ
の為、デイスクには一連の略円形で同心に配置さ
れた記録トラツクが形成される。更に、デイスク
に対する読取ビームの入射点の半径は書込みビー
ムと同じであるが、書込みビームより所定の時間
後にデイスクの各々の部分を走査する様に配置さ
れている。読取ビームが、書込みビームによつて
発生された相隔たる非反射性の孔のパターンに従
つて、デイスクによつて反射され、この反射ビー
ムを普通の方法で検出して、データ信号が正しく
記録されていることを検証する。

この発明では、装置は、書込みビーム１３より
前にデイスクを走査して、デイスクに情報を記録
する妨げになる様な非反射性の欠陥がデイスクに
存在することを検出する略一定強度の書込み先行
光ビーム２１をデイスク１１に集束する様にも作
用する。この後、もはや欠陥を走査していないこ
とが判定されるまで、データ信号の記録を中断す
る。更に装置は、不良であると判定されたデイス
クの部分の直前及び直後に特別の欠陥フラグ信号
を記録する様に作用する。この為、この後、再生
又は読取装置を使つて、デイスクからデータ信号
を再生する時、装置はこのフラグを検出して、デ
ータ信号が一時的に中断することを確認すること
が出来る。この方式を使うことにより、普通の書
込み後直接的に読取る装置によつて欠陥を検出す
る時に普通必要となる大きな情報ブロツクの書込
みの仕直しを避けることが出来、こうして装置の
記録効率を実質的に改善する。

更に具体的に云うと、第１図に示す様に、書込
み光ビーム１３が書込みレーザ２３によつて発生
され、ポツケルス・セル又は音響式変調器の様な
変調器２５によつて強度変調される。変調された
ビームが半径方向に可動のレンズ・キヤリツジ１
７に送られ、そこで鏡２７によつて反射され、第
１のビーム分割器２９を透過し、対物レンズ３１
によつてデイスク１１上に集束される。デイスク
はスピンドル・モータ１９によつて所定の角速度
で回転させられるが、レンズ・キヤリツジはデイ
スクに対して半径方向に移動させられ、この為、
一連の略円形で同心に配置された記録トラツクが
形成される。

更に装置は光ビーム３４を発生する読取ビーム
３３を含む。光ビーム３４が回折格子３５に送ら
れ、そこで回折により３つの別々のビームに分け
られる。即ち読取ビーム１５、書込み先行ビーム
２１及び焦点ビーム３７である。格子によつて発
生される主なビームは読取ビームであり、これは
回折しない時のビームの約35％のエネルギ・レベ
ルを持つている。第１次ビームは焦点ビームであ
り、これは回折しない時のビームの約20％のエネ
ルギ・レベルを持つている。第２次ビームは書込
み先行ビームであり、これは回折しない時のビー
ムの約20％のエネルギ・レベルを持つている。回
折格子は更に高次のビーム及び第１図及び第２次
ビームを主ビームの反対側に遠ざける様に適当に
ブレーズを付ける。

３つのビーム２１，３７，１５が格子３５から
第２のビーム分割器３９を介して半径方向に可動
のレンズ・キヤリツジ１７に送られ、そこで第１
のビーム分割器２９によつて反射されることによ
り、書込みビーム１３と組合され、その後対物レ
ンズ３１によつてデイスク１１上に集束される。
第１図の好ましい実施例では、３つの回折ビーム
及び書込みビーム１３は互いに並びにデイスクに
対して整合していて、それら全部は共通の半径上
にあり、書込み先行ビームは焦点ビームより約25
ミクロン先の所にあり、読取ビームより50ミクロ
ン先の所にある。書込みビームは読取ビームより
約１乃至４ミクロン先の所にある。

書込み先行ビーム２１、焦点ビーム３７及び読
取ビーム１５がいずれも、夫々の入射点に於ける
デイスクの反射率に従つて、デイスク１１によつ
て反射される。書込み先行ビーム及び焦点ビーム
はいずれも書込みビーム１３より前に配置されて
いて、その為、デイスクの記録されていない部分
を走査するから、それらに対応する反射ビームは
略一定の強度を持つのが理想的である。これに対
して、読取ビームは書込みビームより遅れている
ので、その反射ビームは記録された情報によつて
変調された強度を持つている。３つの反射ビーム
の全部を対物レンズ３１で収集し、その後第１の
ビーム分割器２９によつて第２のビーム分割器３
９へ反射し、そこで３つの別々の光検出器４１，
４３，４５へ反射される。

反射された書込み先行ビーム２１及び反射され
た読取ビーム１５に対する光検出器４１，４５
は、夫々のビームの強度に比例する対応する電気
信号を発生する。これらの２つの信号が前置増幅
器４７，４９で適当に増幅され、夫々線４８，５
０に出力される書込み先行信号及び書込み後読取
信号となる。

これに対して、反射された焦点ビーム３７に対
する光検出器４３は、１対の電気信号を発生する
２つの別々のセルを持つている。これらの２つの
信号が焦点ビーム前置増幅器５１に供給され、そ
こで増幅されて加算され、ビームの全体的な強度
を表わす和信号を発生すると共に、互いに減算さ
れて、全てのビームに対する焦点合せの程度を表
わす焦点誤差信号を発生する。焦点誤差信号が線
５３に出力され、焦点合せサーボ装置（図に示し
てない）に使われる。適当な１つの焦点合せサー
ボ装置が米国特許第4152586号に記載されてい
る。

書込み先行ビーム及び読取ビーム前置増幅器４
７，４９からの出力として得られる書込み先行信
号及び書込み後読取信号と、焦点ビーム前置増幅
器５１からの和信号が、夫々線４８，５０，５９
を介してデータ信号形成回路６１に送られる。こ
の回路はこれらの信号を適当に処理して、デイス
ク１１の非反射性の欠陥を検出すると共に、書込
みビーム変調器２５へ線６３を介して結合する為
に、デイジタル・データ信号を適当に形成する。

こゝでデイスク１１の各々の記録トラツクに記
録されるデータ信号の形式について説明すると、
実尺ではないが、この形式が第４図に略図で示さ
れている。この形式は最初の導入符号と、それに
続く複数個の（普通は約24乃至28個）の隣接した
データ・セクタと、それに続く最後の終り符号と
を含む。各々のデータ・セクタが多数の相次ぐ情
報セグメント、即ち、アドレス・フラグ符号、セ
クタ・アドレス符号、及び別々の８つのデータ・
マトリクスからのデータとを含んでおり、これら
は互いに特別の分離帯符号によつて隔てられてい
る。

第５図に示す様に、各々のトラツク・セクタの
８つのデータ・マトリクスの各々は、夫々96ビツ
トの16行に分けて配置された1536個のビツト・セ
ルを含んでいる。各行の最初の64ビツトがデー
タ・フイールドを構成し、残りの32ビツトが普通
の誤り訂正符号であつて、デイスクからビツトを
再生する際に起り得る誤りを補正する。データ・
マトリクスの各行に誤り訂正符号の32ビツトが冗
長に設けられていることにより、１行あたり少な
くとも２つのビツトの誤りを訂正することが出来
る。最初データは行毎に各々のマトリクスに送込
まれるが、符号化して最終的にデイスクに記録す
る為に、データ信号形成回路６１に出力される時
は、列毎に送出される。この飛越し方式により、
バースト形の誤り、即ちデイスク上の多数の相次
ぐビツト・セルに生ずる誤りが発生したことによ
つて、各行の32ビツトの誤り訂正符号の誤り訂正
能力が越えない様にする。即ち、例えば、記録さ
れたデイスクから16個の相次ぐビツトを再生する
際に誤りが起つた場合、各々の不正確なビツトは
必然的にマトリクス内の異なる行から来たもので
あり、各行に対する誤り訂正符号の能力を越える
ことはない。

好ましい実施例では、トラツク形式内の相次ぐ
情報セグメントはいずれも50％のデユーテイ・サ
イクルを持つており、こうしてデータを再生する
再生装置（図に示してない）が記録トラツクを正
しく追跡し易くしている。種々の全ての情報セグ
メントは、1.8MHz、3.6MHz及び7.2MHzの周波数
を持つ３つの同期矩形波信号からの適当な選択に
よつて発生される。

特に、第４図に示す様に、導入符号は1.8MHz
信号の複数個のサイクルで構成され、アドレス・
フラグ符号は1.8MHz信号の10サイクルに続く
3.6MHz信号の４サイクルによつて構成され、デ
ータ・フラグは1.8MHz信号の８サイクルに続く
3.6MHz信号の８サイクルによつて構成され、分
離帯符号は1.8MHz信号の４サイクルによつて構
成される。各セクタのセクタ・アドレス・セグメ
ント及び各セクタに対する８個のデータ・マトリ
クスの各々は特別な形式になつており、“１”は
7.2MHz信号の完全な１サイクルによつて表わさ
れ、“０”は3.6MHz信号の半サイクルによつて表
わされる。それらの位相は、各々の相次ぐビツ
ト・セルの間で必ずレベル変化が起る様に構成さ
れている。

データ信号形成回路６１が第２図に示されてい
る。この回路は、書込み先行ビーム前置増幅器４
７からの書込み先行信号を焦点ビーム前置増幅器
５１からの和信号と比較することにより、デイス
ク１１の非反射性の欠陥を検出する欠陥検出器６
５を含む。検出器６５が、和信号が所定量以上書
込み先行信号を越える時を感知する為の普通の差
動増幅器及び比較回路を含んでいる。そうなつた
時、書込み先行ビームの走査がデイスク上の非反
射性の欠陥にぶつかつたと判定され、線６７に適
当な欠陥検出信号が出力される。反射された書込
み先行ビームの強度を所定の一定の閾値に比較す
る代りに、反射された焦点ビームの強度と比較す
ることにより、デイスク上の比較的大きな面積に
わたつて徐々に起り、その為に該デイスクにデー
タ信号を記録するのに不当な妨げとならない様な
反射率の変化は、欠陥とは判定しない。

別の実施例の装置では、欠陥検出器６５が書込
み先行信号だけを受取り、検出器は普通の高域
波器及び閾値検出回路を含んでいて、反射された
書込み先行ビーム２１の強度に急速な変化が起り
つゝある時を感知する。この様な急速な変化は、
ビームがデイスク１１の非反射性の欠陥の前縁又
は後縁を走査している時に起るのが普通である。
第２図の実施例と同様に、欠陥検出器が線６７に
対応する欠陥検出信号を発生する。

更にデータ信号形成回路６１が書込みビーム変
調器２５に線６３を介して送られるデイジタル・
データ信号を発生するデータ符号化及びフラグ発
生回路６９と、データ符号化器６９の動作を適当
に制御する形式順序化回路７１と、導入符号検出
回路７３と、欠陥フラグ符号検出回路７５とを含
む。データ符号化器は、前に述べた1.8MHz、
3.6MHz及び7.2MHzの矩形波信号を発生する発振
器を含み、普通の動作では、特定の周波数又はそ
の逆数が、形式順序化器から供給された多数の制
御信号によつて、データ信号として出力として選
択される。これらの制御信号の中には、データ付
能信号、1.8MHz付能信号及び3.6MHz付能信号が
含まれており、これらは全て夫々線７７，７９，
８１を介して供給される。形式順序化器７１が上
に述べたデータ信号順序（第４図）を発生する為
に制御信号を適当な順序に定めるマイクロプロセ
ツサを含んでいる。

各々のトラツクの初めに、導入符号を記録すべ
きことが決定され、この為形式順序化器７１から
線７９に1.8MHz付能信号が出力される。データ
符号化及びフラグ発生回路６９がそれに応答し
て、1.8MHz矩形波信号をデイジタル・データ信
号として線６３の出力に接続し、1.8MHz信号が
デイスク１１に記録される。記録された1.8MHz
符号が導入符号検出回路７３によつて検出され、
この検出回路は読取ビーム前置増幅器４９から線
５０を介して供給された書込み後読取信号を連続
的に監視している。所定数のサイクル、好ましく
は約８サイクルの間、この符号が検出された後、
線８５を介して検出器順序化器回路７１に信号が
出力され、この為この回路は次に続く情報セクタ
に対する適当な付能信号、即ち、アドレス・フラ
グ符号を出力し始める。具体的に云うと、アドレ
ス・フラグ符号では、順序化回路は最初1.8MHz
付能信号を10サイクルの間線７９に出力し、次に
3.6MHz付能信号を４サイクルの間線８１に出力
する。

若干異なるが、セクタ・アドレス符号又は１つ
のデータ・マトリクスからのデータを記録する
時、形式順序化器７１が線７７にデータ付能信号
を出力し、データ符号化及びフラグ発生回路６９
が応答して、線８７にクロツク信号を出力し、ア
ドレス及びデータ貯蔵レジスタ（図に示してな
い）からのNRZデータ入力信号にクロツク作用を
して、線８９を介して発生回路に伝達される様に
する。発生回路６９がNRZ信号を普通の方法で
fm形式に変換し、適当なデータ信号出力を発生
する。fm形式では、“１”が7.2MHz信号の完全な
１サイクルによつて表わされ、“０”が3.6MHz信
号の半サイクルによつて表わされ、その位相は、
相次ぐビツト・セルの間で必ずレベル変化が起る
様になつている。

次に欠陥検出回路６５によつてデイスク１１上
の非反射性の欠陥が検出された時のデータ信号の
形式について説明すると、第６図のフローチヤー
トには、デイスク１１上に記録する情報の形式を
定める際にデータ信号形式回路６１が行う相次ぐ
工程が略図で示されている。欠陥検出器によつて
デイスクの欠陥が検出されると、その後行われる
特定の順序は、現在記録中の特定のセクタの情報
セグメントに関係する。

従つて、最初の工程91で、どのセクタ・セグメ
ントをデイスク上で次に記録するかが判定され
る。導入符号、マトリクス分離帯符号又は終り符
号を記録する場合、符号全体が工程93でデイスク
に記録され、欠陥検出器６５の出力は監視しな
い。その後最初の工程91に戻り、次に記録すべき
セクタ・セグメントはどれであるかを判定する。
デイスクの非反射性の欠陥の為に、これらの情報
セグメントで記録の誤りがあつた場合、情報を再
生する再生装置は悪影響を受けない。

最初の工程91で、アドレス・フラグ又はデー
タ・フラグをデイスク１１に記録すべきであると
決定されると、フラグ全体が工程95で記録され、
その後工程97で、フラグを記録している間、欠陥
検出器６５によつて欠陥が検出されたかどうかが
判定される。この時間の間に欠陥が検出されない
場合、最初の工程91に戻り、次に記録すべきセク
タ・セグメントはどれであるかが判定される。こ
れに対して、工程97で、アドレス・フラグ又はデ
ータ・フラグの記録中に欠陥が検出されたと判定
されると、フラグ全体を工程99で再び記録し、工
程97に戻つて、フラグの書込みを仕直している間
に欠陥が検出されたかどうかを判定する。フラグ
を書込んでいる間に欠陥が検出されなかつたと判
定されるまで、この過程が続けられる。

これに対して、工程91で、セクタ・アドレス・
フイールド又はデータ・フイールドを記録すべき
であると判定されると、そのセグメントの次に続
くビツトが工程101で記録され、その後工程103
で、今記録したばかりのビツトがフイールドの最
終ビツトであるかどうかが判定される。最終ビツ
トであれば、最初の工程91に戻り、そこで次にど
のセクタ・セグメントに記録するかを判定する。
これに対して、工程103で最後に記録されたビツ
トがフイールドの最終ビツトでないと判定される
と、工程105で、このビツトを記録している間に
欠陥検出器６５によつて欠陥が検出されたかどう
かが判定される。この時欠陥が検出されなけれ
ば、工程101に戻り、そこでフイールドの次に続
くビツトを記録する。これに対して、この時欠陥
検出器によつて欠陥が検出されたと判定される
と、工程107で、所定数の誤りのないサイクルが
書込みビーム１３によつて記録され且つ読取ビー
ム１５によつて走査されたと判定されるまで、特
別の欠陥フラグ符号がデイスクに記録される。そ
うなつた時、工程101に戻り、フイールドの次に
続くビツトをデイスク１１に記録する。欠陥検出
器６５によつて初めて欠陥が検出された時に書込
み中であつたビツトは、書込みの仕直しをする必
要がない。これは、書込みビーム１３は、デイス
クの欠陥のない部分で記録が行われる様に保証す
るのに十分な長さだけ、書込みビーム２１より遅
れているからである。

好ましい実施例では、特別の欠陥フラグ符号は
1.8MHz矩形波信号の最初の２サイクルに続く
3.6MHz矩形波信号の多数のサイクルで構成され
る。反射された読取ビーム１５を監視することに
よつて、16個の相次ぐレベル変化が記録され且つ
検出されたと判定されるまで、3.6MHz信号が引
続いてデイスクに記録される。これは、書込みビ
ーム１３がもはや非反射性の欠陥を走査していな
いことを表わす。この独特な順序は、デイスクに
記録されたデータ信号の他の情報セグメントから
容易に識別することが出来、この為データ信号が
一時的に中断することを表示する為のフラグとし
て有効に使うことが出来ることが理解されよう。

然し、デイスクに対するデータ信号の記録に戻
る前に、アドレス・フイールドの記録中であつた
かデータ・マトリクスの記録中であつたかを最初
に決定しなければならない。欠陥が初めて検出さ
れた時にアドレス・フイールドの記録中であつた
場合、データ符号化及びフラグ発生回路６９は、
記録の為に1.8MHz信号の完全な４サイクルに続
いてアドレス・フイールド情報を再開する様に適
当に制御される。これに対して、データ・マトリ
クスの記録中であつた場合、発生回路は1.8MHz
信号の４サイクルを出力した後、3.6MHz信号の
８サイクルを出力し、それに続いてデータ・マト
リクス情報を再開する様に制御される。この追加
された符号セグメントは、再生装置によつてデイ
スクから情報を正しく再生出来る様にする保証を
高めるものである。

再び第２図について説明すると、形式順序化回
路７１によつて、デイスク１１に欠陥フラグ符号
を記録すべきであると決定された時、欠陥フラグ
付能信号が線１０９を介してデータ符号化及びフ
ラグ発生回路６９に出力され、この回路はそれに
応答して前述の符号を発生し、それを線６３を介
して書込みビーム変換器２５に送る。この時、欠
陥フラグ符号検出回路７５が、読取ビーム前置増
幅器４９から線５０を介して供給された書込み後
読取信号を連続的に監視し、欠陥フラグ符号の
3.6MHz部分の相次ぐ８サイクルを正しく検出し
た時、形成順序化回路に線１１１を介して結合さ
れる制御信号を発生する。線１０９の欠陥フラグ
付能信号がこの時終了し、フラグ発生回路６９は
前述の短い符号を経由して、欠陥フラグ符号を完
了し、その後データ信号の記録を再開する。

書込み先行ビーム２１は書込みビーム１３より
約45乃至50ミクロン先にデイスク１１を走査し、
且つ欠陥フラグ符号の書込みは、書込み先行ビー
ムが非反射性の欠陥と出会つた瞬間から１ピツト
時間以内に開始されるので、一般的には、書込み
ビームが初めて欠陥とぶつかる前に、欠陥フラグ
符号の多数のサイクルがデイスクに記録される。
この為、欠陥が欠陥フラグ符号の記録を完全に妨
げたとしても、この符号のそれまでのサイクル
が、デイスクから情報を再生する再生装置によつ
て検出されるのが普通であり、この再生装置がデ
ータ信号が一時的に中断することを確認する。

デイスク１１の検出された欠陥が特に長い場
合、欠陥フラグ符号もそれに応じて長くなること
が理解されよう。欠陥フラグ符号がデイスクに正
しく記録され、所定の持続時間の間デイスクから
再生された後にのみ、データ信号の記録が再開さ
れる。この様な正しい記録は、普通は、デイスク
の欠陥のない部分でのみ起り得る。

更にデータ信号形成回路６１が、読取ビーム前
置増幅器４９から線５０を介して供給された書込
み後読取信号を監視する書込み後読取誤り検出回
路１１３を含む。この回路は、デイスク１１に実
際に記録された情報を表わす信号を、記録された
と考えられている線６３のデータ信号と比較し、
２つの信号が互いに対応しない時には、何時でも
書込み後読取誤り検出信号を出力する。

書込み後読取誤り検出信号が書込み後読取検出
回路１１３から線１１５を介して形式順序化回路
７１及びアドレス及びデータ貯蔵レジスタ（図に
示してない）に結合される。導入符号、アドレ
ス・フラグ、セクタ・アドレス、データ・フラ
グ、データ・マトリクス分離帯付号又は終り符号
のいずれかを記録している間に誤りが検出された
場合、形式順序化回路は符号全体の記録を仕直す
様に動作する。これに対して、マトリクスからの
ビツトを記録している間に誤りが検出された場
合、現在記録中のマトリクスの列を最初に完了し
た後、データ・フラグ符号を記録し、マトリク
ス・データの記録を再開する。最後に記録された
２列のデータを再び記録する。この特別の記録仕
直し順序を行うのは、書込み後読取の誤りが初め
て検出された時に記録中であつた特定のビツト・
セルを決定するのが時によつて困難である為であ
る。

この発明の別の実施例（図面に示してない）で
は、書込み先行ビーム及び書込みビームが異なる
半径の所で、例えば、１トラツク間隔だけ離れた
所で、デイスクに入射する。これは、回折格子を
適当に構成することによつて容易に達成し得る。
この実施例の装置は、書込み先行ビームによつて
走査される各々の欠陥の円周方向の位置を貯蔵す
るレジスタと、書込みビームが既に検出されてい
る１つの欠陥に接近しつゝあると判定された時、
何時でもデータ信号の記録を中断し、その代りに
特別の欠陥フラグ信号を前述の様に記録する手段
とを含む。

この発明の更に別の実施例（図面に示してな
い）では、書込み先行ビーム及び書込みビームが
デイスクの同じ半径の所に入射するが、各々の記
録トラツクはデイスクの相次ぐ２回転で走査され
る。１回目の回転の時、書込み先行ビームがデイ
スクを走査して、トラツクに欠陥があればその存
在並びに円周方向の位置を検出し、その位置をレ
ジスタに貯蔵する。２回目の回転で、データ信号
がトラツクに記録され、前に述べた様に、特別の
欠陥フラグ符号を記録するのに適切な様に中断が
行われる。

この実施例では、書込み先行ビームが読取ビー
ムの作用もして、データ信号を記録しているデイ
スクの１つおきの回転の間、書込みビームの直後
にデイスクを走査することが好ましい。この実施
例を使うには、各トラツクがデイスクの２回転で
走査される為に、特定数のトラツクを記録するの
に２倍の時間を必要とするが、多数の強度の弱い
ビームを発生する回折格子が要らないと共に、多
数の別々の光検出器及び前置増幅器を設ける必要
がない。

以上の説明から、この発明が記録媒質にデータ
信号を記録する改良された方法並びに装置を提供
したことは明らかであろう。データ信号の記録を
妨げる惧れのある媒質の欠陥が、信号を記録する
変換器の直前に走査されて検出される。この欠陥
が検出されると、データ信号の記録を一時的に中
断し、その代りに、媒質の不良領域より前並びに
その真上に、特別の欠陥フラグ符号が記録され
る。この結果、データ信号の実質的な部分の書込
みの仕直しを避けることが出来る。

この発明の特定の形式を図示し且つ説明した
が、当業者であれば、この発明の範囲内で種々の
変更が可能であることが理解されよう。従つて、
特許請求の範囲の記載は、この発明の範囲内で可
能な全ての変形を包括するものと承知されたい。

【図面の簡単な説明】

第１図は光反射性デイスク上の非反射性の欠陥
の存在を検出し、欠陥がないと判定されたデイス
クの部分にのみデータ信号を記録する書込み後直
接的に読取る記録装置の簡略ブロツク図、第２図
は第１図の記録装置に使われるデータ信号形成回
路の更に詳しいブロツク図、第３図は第１図の記
録デイスクの一部分の拡大図で、書込み先行ビー
ム、焦点ビーム、書込みビーム及び読取ビームの
デイスク上での相対的な位置を示す。第４図は実
尺ではないが、デイスクの各々の円形記録トラツ
クに記録されるデータ信号のトラツク及びセクタ
形式を示す略図、第５図は各々のトラツク・セク
タによる８個のデータ・マトリクスの各々に於け
るデータ信号の構成を示す図、第６図は欠陥が検
出された時に、デイスクにデータ信号を記録する
際、第１図の装置が行う動作工程を略図で示すフ
ローチヤートである。 主な符号の説明、１１……デイスク、１７……
レンズ・キヤリツジ、２１……書込み先行ビー
ム、２５……変調器、６５……欠陥検出器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 光反射性デイスクにデータ信号を記録する装
   置に於て、書込み光ビームを発生する手段と、該
   書込み光ビームの強度をデータ信号に従つて変調
   する手段と、書込み先行光ビームを発生する光源
   及び該書込み先行光ビーム及び前記強度変調され
   た書込み光ビームの両方をデイスクに差し向ける
   手段を含む光学手段とを有し、前記書込み光ビー
   ムはデイスクに対する入射点でデイスクの反射率
   を変更するのに十分な位高い尖頭強度を持ち、前
   記書込み先行光ビームはデイスクに対する入射点
   でデイスクの反射率に従つてデイスクによつて反
   射される位に十分低い強度を持ち、デイスクの反
   射率がこれによつて影響を受けない様にし、更
   に、前記デイスクを前記先行ビーム及び書込み光
   ビームに対して回転させる手段を有し、この為、
   回転するデイスクには両方のビームが同時に入射
   し、データ信号が前記書込み光ビームによつてデ
   イスクに記録され、こうしてデイスクに記録トラ
   ツクを形成し、前記光学手段が、前記書込み先行
   光ビームが前記書込み光ビームより所定量だけ先
   行して前記書込み光ビームより前方のデイスクの
   記録されていない領域に入射する様に、前記書込
   み先行光ビーム及び書込み光ビームを相対的に位
   置ぎめする手段を含んでおり、更に書込み先行光
   ビームの入射点に於けるデイスクの反射率に従つ
   て反射された書込み先行光ビームの強度を監視す
   ると共に、その反射率に影響するデイスクの欠陥
   に入射した時を決定して対応する欠陥検出信号を
   発生する欠陥検出手段と、該欠陥検出信号に応答
   して、該欠陥検出手段によつて欠陥が検出されて
   から後に、データ信号を前記変調手段から切離す
   制御手段とを有し、該制御手段が、欠陥検出信号
   が存在する時には、何時でも前記変調手段に特殊
   欠陥フラグ信号を結合する様に作用し得る手段を
   含み、この為、各々の検出された欠陥の場所より
   前にデイスク上にマーカが記録され、該マーカ
   は、この後でデータ信号を再生した時、データ信
   号が一時的に中断していることを表示する様に作
   用する装置。 ２ 特許請求の範囲１に記載した装置に於て、前
   記光学手段が、デイスクの反射率がその影響を受
   けない位に低い強度を持つ読取光ビームを発生し
   て、該読取光ビームをデイスクに差し向ける読取
   光源を含み、該読取光ビームは前記書込み光ビー
   ムより所定の距離だけ後方に位置ぎめされ、前記
   デイスクは記録信号によつて強度変調された反射
   読取光ビームを発生し、前記欠陥検出手段は、反
   射読取光ビームが欠陥フラグ信号によつて強度変
   調されている時には、何時でもその時を感知し、
   かつ所定の時間の間欠陥フラグ信号が感知された
   後は、何時でもデータ信号の記録を再開させる手
   段を含んでいる装置。 ３ 特許請求の範囲２に記載した装置に於て、前
   記光学手段が源光ビームを発生する手段を含み、
   前記書込み先行光ビーム及び読取光ビームの両方
   が前記源光ビームを回折格子に通すことによつて
   発生される装置。 ４ 特許請求の範囲１に記載した装置に於て、前
   記光学手段が、前記書込み先行光ビーム及び書込
   み光ビームのデイスクに対する夫々の入射点を半
   径方向に移動させる様に作用し得る手段を含んで
   おり、この為、複数個の略円形で同心に配置され
   た記録トラツクがデイスクに形成され、更に前記
   光学手段は、前記書込み先行光ビーム及び前記書
   込み光ビームがデイスクの異なる半径の所に入射
   されるように位置ぎめする手段を含んでいる装
   置。 ５ 特許請求の範囲１に記載した装置に於て、前
   記制御手段が、前記欠陥検出手段によつて検出さ
   れた任意欠陥のデイスク上の位置を記憶するため
   の手段を含んでおり、この為、前記書込み光ビー
   ムにより続いて走査された時、データ信号が前記
   変調手段から切離される様にした装置。 ６ 特許請求の範囲１に記載した装置に於て、更
   に前記光学手段が、デイスクの反射率がその影響
   を受けない位に低い強度を持つ焦点光ビームを発
   生してデイスクに差し向ける様に作用し得る手段
   を持ち、該焦点光ビームは前記書込み光ビームよ
   り先にデイスクを走査する様に位置ぎめされ、前
   記焦点光ビームはその入射点に於けるデイスクの
   反射率に従つてデイスクから反射され、前記欠陥
   検出手段が、反射焦点光ビームを監視して、反射
   焦点光ビームの強度が反射された書込み先行光ビ
   ームの強度より所定量以上越えた時に、何時でも
   欠陥検出信号を発生する様に作用し得る手段を含
   んでいる装置。 ７ 特許請求の範囲１に記載した装置に於て、前
   記光学手段が、前記書込み先行光ビーム及び書込
   み光ビームのデイスクに対する夫々の入射点を半
   径方向に移動させる様に作用し得る手段を含んで
   おり、この為複数個の略円形で同心に配置された
   記録トラツクがデイスクに形成され、更に前記光
   学手段は、各々の記録トラツクがデイスクの１回
   目の回転時に書込み先行光ビームにより、デイス
   クの相次ぐ２回目の回転時には書込み光ビームに
   よりそれぞれ走査される様に、前記書込み先行光
   ビーム及び書込み光ビームを互いに位置ぎめする
   様に作用し得る手段を含んでおり、前記制御手段
   が欠陥検出信号が発生されたデイスク上の各々の
   円周方向の位置を記憶するレジスタと、デイスク
   の２回目の回転時、書込み光ビームが前に欠陥で
   あると判定された円周方向の位置を走査する時に
   は、何時でもデータ信号を変調手段から切離し、
   その代りに欠陥フラグ信号を結合する様に作用し
   得る手段とを含んでいる装置。 ８ 特許請求の範囲１に記載した装置に於て、前
   記制御手段が、書込み先行光ビームがデイスクを
   走査して欠陥が存在することを検出した時、デイ
   スクの２回目の回転でデータ信号を変調手段から
   切離し、デイスクの２回目の回転で、データ信号
   が記録された時、書込み先行光ビームを利用し
   て、書込み光ビームに追従するデイスクの位置を
   走査し、データ信号がデイスクに正しく記録され
   たことを検証する様に作用し得る手段を含んでい
   る装置。 ９ 特許請求の範囲１に記載した装置に於て、前
   記欠陥検出手段が反射された書込み先行光ビーム
   の強度の急速な変化を感知する高域フイルタと、
   感知された急速な変化の大きさが所定の閾値を越
   えた時には、何時でも欠陥検出信号を発生する閾
   値検出器とを含む装置。 １０ 光反射性デイスクにデータ信号を記録する
   装置に於て、書込み光ビームを発生する手段と、
   該書込み光ビームの強度をデータ信号に従つて変
   調する手段と、書込み先行光ビームを発生する光
   源及び該書込み先行光ビーム及び前記強度変調さ
   れた書込み光ビームの両方をデイスクに差し向け
   る手段を含む光学手段とを有し、前記書込み光ビ
   ームはデイスクに対する入射点でデイスクの反射
   率を変更するのに十分な位高い尖頭強度を持ち、
   前記書込み先行光ビームはデイスクに対する入射
   点でデイスクの反射率に従いデイスクによつて反
   射される位に十分低い強度を持ち、デイスクの反
   射率がこれによつて影響を受けない様にし、更
   に、前記デイスクを前記先行ビーム及び書込み光
   ビームに対して回転させる手段を有し、この為、
   回転するデイスクには両方のビームが同時に入射
   し、データ信号が前記書込み光ビームによつてデ
   イスクに記録され、こうしてデイスクに記録トラ
   ツクを形成し、前記光学手段は、前記書込み先行
   光ビームが前記書込み光ビームより所定量だけ先
   行して前記書込み光ビームより前方のデイスクの
   記録されていない領域に入射する様に、前記書込
   み先行光ビーム及び書込み光ビームを相対的に位
   置ぎめする手段を含んでおり、更に、デイスクの
   反射率がその影響を受けない位に低い強度を持つ
   第２の書込み先行光ビームを発生してデイスクに
   差し向ける様に作用し得る手段を有し、該第２の
   書込み先行光ビームは書込み光ビームより前にデ
   イスクを走査する様に位置ぎめされており、前記
   第２の書込み先行光ビームが入射点に於けるデイ
   スクの反射率に従つてデイスクから反射され、更
   に、反射された第１及び第２の書込み先行光ビー
   ムの強度を監視し、反射された第２の書込み先行
   光ビームの強度が反射された第１の書込み先行光
   ビームの強度とは所定量以上異なる時に、何時で
   も欠陥検出信号を発生する欠陥検出手段と、該欠
   陥信号に応答してデータ信号を変調手段から切離
   す制御手段とを有し、この為、欠陥が書込み光ビ
   ームの入射点に達するより前に、欠陥が検出され
   る度に、デイスクに対するデータ信号の記録が中
   断される様にした装置。 １１ 特許請求の範囲１０に記載した装置に於
   て、前記欠陥検出手段が、前記反射された第２の
   書込み先行光ビームを遮る１対の光電池と、該光
   電池の出力に応答して第１及び第２の電子信号を
   発生する回路手段とを有し、前記第１の信号は前
   記光電池の出力の間の差によつて限定されてい
   て、装置によつて焦点誤差信号として使われ、前
   記第２の信号は前記光電池の出力の和によつて限
   定されていて、前記欠陥検出信号が発生される時
   の前記反射された第２の書込み先行光ビームの強
   度を表わしている装置。