JPH0626968Y2 - 光カード記録再生装置 - Google Patents

光カード記録再生装置

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JPH0626968Y2
JPH0626968Y2 JP1987165026U JP16502687U JPH0626968Y2 JP H0626968 Y2 JPH0626968 Y2 JP H0626968Y2 JP 1987165026 U JP1987165026 U JP 1987165026U JP 16502687 U JP16502687 U JP 16502687U JP H0626968 Y2 JPH0626968 Y2 JP H0626968Y2
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optical card
optical system
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茂 余田
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Description

【考案の詳細な説明】 <産業上の利用分野> この考案は、情報を光学的に記録できるカード状の記録
媒体(以下「光カード」という)へ情報を記録し、また
は記録情報を再生するのに用いられる光カード記録再生
装置に関連し、殊にこの考案は、光カードの情報記録ト
ラックに傷などの欠陥が存在するか否かの判別機能を具
備した光カード記録再生装置に関する。
<従来の技術> 従来の光カードは、第8図に示す如く、一方表面に帯状
の情報記録部2が設けられた構造のものであり、この光
カード1を光学ヘッドに対し相対移動させることによ
り、各情報記録トラック3に対する情報の記録や再生が
行われる。各情報記録トラック3の両側にはトラックガ
イド4,4が位置し、情報の記録・再生に際し各トラッ
クガイド4は光学ヘッドを所定の情報記録トラックに追
随させる。なお同図中、5は情報記録トラック3に形成
された情報単位を構成するピットである。
上記構成の光カード1において、情報記録部2に傷や付
着物などによる欠陥が存在していると、情報記録トラッ
ク3へ情報の書込みを行って、その記録情報を再生しよ
うとしても、適性な再生情報を得ることは困難である。
そこで従来は、光カード1の製作時に、検査員が情報記
録部2の表面を目視して傷などの欠陥の有無を検査した
り、光カード1の各情報記録トラック3を光学ヘッドで
走査して欠陥の有無や欠陥量を検査することが行われて
いる。
<考案が解決しようとする問題点> ところが前者の目視検査方法によれば、検査の精度が低
く、肉眼で確認し難い欠陥を検出するのが困難である。
また後者の検査方法によれば、1枚の光カードを検査す
るのに多大の時間がかかるため、光カードの製作コスト
を高価なものとしてしまう。しかもいずれの方法も光カ
ードの出荷後に発生した欠陥に対処することが不可能で
ある。
この問題を解決するため、先般、特定の情報記録トラッ
クへ情報を記録する際、同じ情報記録トラックまたは隣
接する情報記録トラックの末の記録位置にも光を照射し
て、その反射光から欠陥の有無を検出する装置が提案さ
れた(特開昭56−25240号)。しかしながらこの
装置では、光学系に回折格子を設けて、ピット生成位置
には情報記録用の光スポットを、先にピット生成位置に
は欠陥検出用の光スポットを、それぞれ個別に生成する
方式を採用しているため、光学系が大型化するばかりで
なく、ピット生成位置の周辺に存在する欠陥を検出する
ことが不可能である。このためピット列が蛇行するよう
な場合に、欠陥検査されていない領域に情報が記録され
る虞がある。
この考案は、複数の情報記録トラックに跨がるように光
を照射してその反射光から各情報記録トラックの記録情
報を同時に読み取ることが可能な既存の光カード記録再
生装置を利用して構成されたもので、つぎに記録すべき
情報記録トラックの欠陥の有無を広範囲にわたって検査
できる小型の光カード記録再生装置を提供することを目
的とする。
<問題点を解決するための手段> この考案の光カード記録再生装置は、光カードへ光を照
射して記録すべき特定の情報記録トラックに光スポット
を生成する情報記録用に第1の光学系と、光カードへ光
を照射して前記特定の情報記録トラックおよびこれと隣
接する情報記録トラックにこれら情報記録トラックに跨
がる単一の光スポットを生成する記録情報再生用の第2
の光学系とを備えたものであって、前記第2の光学系
は、光スポットによる前記特定の情報記録トラックとこ
れと隣接する情報記録トラックからの反射光を個別かつ
同時に取り込むことが可能な光受光部と、前記特定の情
報記録トラックに対する情報の記録時に、つぎに記録す
べき隣接する情報記録トラックの欠陥の有無を上記光受
光部での受光信号に基づいて判別する欠陥判別部とを具
備している。
<作用> 第1の光学系により特定の情報記録トラックへ光を照射
して情報を書き込む際、第2の光学系を作動させると、
その特定の情報記録トラックおよびつぎび記録すべき隣
接する情報記録トラックにこれら情報記録トラックに跨
がる単一の光スポットが生成される。この単一の光スポ
ットによるこれら情報記録トラックからの反射光は光受
光部に個別に取り込まれると、欠陥判別部は光受光部に
よる受光信号に基づき、つぎに記録すべき隣接する情報
記録トラックの欠陥の有無を判別する。この場合に、複
数の情報記録トラックに跨がる単一の光スポットを生成
するので、つぎに記録すべき情報記録トラックが広範囲
にわって検査され、ピット列が蛇行することがあって
も、欠陥検査されていない領域に情報が記録されるとい
うことがない。
<実施例> 第2図は、この考案が実施された光カード記録再生装置
に組み込まれる光学ヘッドの光学系を示している。
図示例のものは、光カード1の記録すべき情報記録トラ
ックへ記録光L1を照射して情報を書き込むための第1の
光学系Aと、光カード1の再生すべき情報記録トラッ
クへ再生光L2を照射してその反射光L3から記録情報を読
み取るための第2の光学系Aとを具備するもので、前
記光カード1での反射光L3は後記する光学経路を経て光
受光部L4へ導かれるようになっている。
第1の光学系Aはレーザダイオード6を光源とし、こ
のレーザダイオード6が出力する記録光L1をコリメート
レンズ7により平行光に形成した後、この平行光を偏光
ビームスプリッタ8を通過させ、集光レンズ9により光
カード1の情報記録部2上に焦点を結ばせて、スポット
光を照射するものである。
第1図は、上記の光照射により光カード1の所定の情報
記録トラック3aに直径が約1μ程度の第1の光スポッ
トSP1が生成された状態を示すもので、この光スポットS
P1は情報記録部2に熱的不可逆変化を起こさせて、他の
部分より光の反射率の低いピット5を生成する。
第2の光学系Aは、発光ダイオード10を光源とし、
この発光ダイオード10が出力する再生光L2をコリメー
トレンズ11により平行光に形成し、この平行光を非偏
光ビームスプリッタ12を通過させた後、前記偏光ビー
ムスプリッタ8へ導いている。この偏光ビームスプリッ
タ8は、前記記録光L1と再生光L2とを混合すると共に、
再生光L2の光カード1での反射光L3を記録光L1より分離
する。この偏光ビームスプリッタ8内で反射した再生光
L2は、集光レンズ9の作用で光カード1の情報記録部2
上に焦点を結び、第1図に示す如く、直径が数μm程度
の第2の光スポットSP2が生成される。図示例では、こ
の第2の光スポットSP2は、3本の情報記録トラック3
a,3b,3cに跨がった単一のものであって、第1の
光スポットSP1の生成位置直後に生成される。なお第1
図および第2図中、矢印cは光学ヘッドに対する光カー
ド1の相対移動方向を示す。
前記光スポットSP2による反射光L3は、集光レンズ9を
経て偏光ビームスプリッタ8および非偏光ビームスプリ
ッタ12で順次反射された後、集光レンズ13により光
受光部14へ導かれて受光され、この光受光部14上に
前記光スポットSP2の像が生成される。この実施例にお
ける光受光部14は、少なくとも3個のフォトダイオー
ドを含んでおり、従って記録情報の再生時には、これら
フォトダイオードは3本の情報記録トラック3a,3
b,3cからの反射光を個別かつ同時に検出して、3ト
ラック分の情報を同時に読み取ることができる。
第1図において、矩形で示す部分14a,14b,14
cは各フォトダイオードによる前記反射光L3の検出範囲
を示すもので、その大きさはピット5より大きい形状を
なし、かつその位置は3本の情報記録トラック3a,3
b,3cに対応するように位置設定してある。
前記光受光部14には、ある情報記録トラック3aに対
する情報の記録時に、つぎに情報記録すべき情報記録ト
ラック3bの欠陥の有無を判別するための欠陥判別部が
接続してある。
第3図はこの欠陥判別部15の具体的な回路構成例を、
また第4図はそのタイムチャートを、それぞれ示すもの
で、光受光部14を構成する3個のフォトダイオードの
うち、第1図中の14bの部分を検出するフォトダイオ
ード16に欠陥判別部15が電気接続されている。
図示例の欠陥判別部15は、電流電圧変換器17,ロー
パスフィルタ18,アナログコンパレータ19,アンド
回路20,カウンタ21,ディジタルコンパレータ22
をその構成として含むもので、前記電流電圧変換器17
によりフォトダイオード16で光電変換して得られた電
流出力が電圧に変換される。この電圧はローパスフィル
タ18を通じてアナログコンパレータ19に与えられ、
アナログコンパレータ19はこの入力電圧のレベル(第
4図(1)に示す)と基準レベルVrefとを比較し、入力電
圧レベルが欠陥の存在で基準レベルVref以下に低下し
たとき、第4図(1)(2)に示す如く、欠陥検出信号iを出
力する。
つぎのアンド回路20は、欠陥検出信号iにより開閉動
作してクロックCKを通過させるもので、欠陥検出信号i
のパルス幅に比例した数のクロックCKを含む信号j(第
4図(3)に示す)を出力する。この信号jはカウンタ2
1に与えられ、カウンタ21はそのクロック数を計数し
て計数値をディジタルコンパレータ22へ出力する。デ
ィジタルコンパレータ22は前記計数値を判別基準値と
比較し、計数値が判別基準値を越えるとき、欠陥が存在
すると判断して判別結果を出力する。
第5図は欠陥判別部15の他の実施例の回路構成を、ま
た第6図はそのタイムチャートを、それぞれ示してい
る。
同図のものは、一対のアナログコンパレータ19,23
を備えており、一方のアナログコンパレータ19はその
入力電圧レベルが欠陥の存在で第1の基準レベルVref
以下に低下したときに第6図(1)(2)に示す如く、欠陥検
出信号iを出力し、他方のアナログコンパレータ23は
その入力電圧レベルが欠陥の存在で第2の基準レベルV
ref′以上に上昇したときに、インバータ24を介して
欠陥検出信号i′を出力する、これら欠陥検出信号i,
i′はオア回路25を経てアンド回路20に与えられ、
ここで欠陥検出信号i,i′のパルス幅に比例した数の
クロックCKを含む信号j(第6図(3)に示す)が生成さ
れる。なおこの実施例の他の構成は、第4図の実施例と
同様であり、ここでは対応する構成に同一符号を付する
ことにより、その説明を省略する。
第8図は、第2の光学系Aの光源として発光ダイオー
ドを用いると共に、光受光部14として複数の画素より
成るCCD23を用いた実施例であって、光カード1の
所定の情報記録トラック3aに第1の光スポットSP1
生成され、またその直後に大径の第2の光スポット光SP
2が生成された状態を示している。同図において、矩形
で示す部分はCCDの各画素が光スポットSP2による反
射光を検出する範囲を示すもので、これら画素のうち、
23aで示す部分は書込み中の情報記録トラック3a
に、23bで示す部分はつぎに書き込むべき情報記録ト
ラック3bに、それぞれ対応するように位置設定してあ
る。
しかして第1の光学系Aにより光カード1の所定の情
報記録トラック3aへ記録光L1を照射し、第1の光スポ
ットSP1を生成して情報の書込みを行うと共に、第2の
光学系Aを作動させて光カード1へ再生光L2を照射
し、第1の光スポットSP1の直後位置に情報記録トラッ
ク3a,3b,3cにまたがる第2の光スポットSP2
生成する。この第2の光スポットSP2による光カード1
からの反射光L3は第2の光学系Aにより光受光部14
へ導かれ、つぎに情報を書き込むべき情報記録トラック
3bについてのフォトダイオードの受光信号が欠陥判別
部15に与えられる。これにより欠陥判別部15はこの受
光信号に基づき前記情報記録トラック3bにつき傷など
の欠陥が存在するか否かを判別し、その判別結果を出力
する。
なお上記は第1図の実施例についての作用説明である
が、第7,8図の実施例についてもこれと同様の作用で
あって、ここではその説明を省略する。
<考案の効果> この考案は上記の如く、ある情報記録トラックへの情報
の書込み時に、その後の情報記録トラックにつき欠陥の
有無をチェックするから、光カードの製作時における検
査の負担を軽減でき、光カードの製作コストを低減し得
ると共に、光カードの出荷後に発生した欠陥にも対処で
きる。また第2の光学系により記録すべき特定の情報記
録トラックおよびこれと隣接する情報記録トラックにこ
れら情報記録トラックに跨がる単一の光スポットを生成
し、この単一の光スポットによるこれら情報記録トラッ
クからの反射光を個別かつ同時に光受光部に取り込むよ
うにしたから、つぎに記録すべき情報記録トラックを広
範囲にわたって検査でき、ピット列が蛇行することがあ
っても、欠陥検査されていない領域に情報が記録される
ということがない。さらに光学系に回折格子を設ける必
要がないから、装置の小型化を実現できるなど考案目的
を達成した実用上の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は光カードに対する光の照射状況を拡大して示す
光カードの平面図、第2図は光学ヘッドの光学系を示す
斜面図、第3図は欠陥判別部の回路構成例を示す電気回
路図、第4図は第3図の回路のタイムチャート、第5図
は欠陥判別部の他の実施例を示す回路ブロック図、第6
図は第5図の回路のタイムチャート、第7図はこの考案
の他の実施例による光カードへの光の照射状況を拡大し
て示す光カードの平面図、第8図は従来の光カードの情
報記録部を拡大して示す平面図である。 A……第1の光学系 A……第2の光学系、1……光カード 3,3a,3b……情報記録トラック 14……光受光部、15……欠陥判別部

Claims (5)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】光カードへ光を照射して記録すべき特定の
    情報記録トラックに光スポットを生成する情報記録用の
    第1の光学系と、光カードへ光を照射して前記特定の情
    報記録トラックおよびこれと隣接する情報記録トラック
    にこれら情報記録トラックに跨がる単一の光スポットを
    生成する記録情報再生用の第2の光学系とを備えた光カ
    ード記録再生装置において、 前記第2の光学系は、 光スポットによる前記特定の情報記録トラックとこれと
    隣接する情報記録トラックからの反射光を個別かつ同時
    に取り込むことが可能な光受光部と、 前記特定の情報記録トラックに対する情報の記録時に、
    つぎに記録すべき隣接する情報記録トラックの欠陥の有
    無を上記光受光部での受光信号に基づいて判別する欠陥
    判別部とを具備して成る光カード記録再生装置。
  2. 【請求項2】第1の光学系の光源は、レーザダイオード
    である実用新案登録請求の範囲第1項記載の光カード記
    録再生装置。
  3. 【請求項3】第2の光学系の光源は、発光ダイオードで
    あって、第2の光学系の光受光部は各情報記録トラック
    からの反射光を個別に受光するための複数のフォトダイ
    オードで構成されている実用新案登録請求の範囲第1項
    記載の光カード記録再生装置。
  4. 【請求項4】第2の光学系の光源は、発光ダイオードで
    あって、第2の光学系の光受光部は各情報記録トラック
    からの反射光を個別に受光するための複数の画素を備え
    たCCDで構成されている実用新案登録請求の範囲第1
    項記載の光カード記録再生装置。
  5. 【請求項5】欠陥判別部は、光受光部で光電変換して得
    た電気信号の信号レベルを基準レベルと比較して欠陥検
    出信号を生成するアナログコンパレータと、このアナロ
    グコンパレータが出力する欠陥検出信号のパルス幅を計
    測するカウンタと、このカウンタによる計測値を判別基
    準値と比較して判別結果を出力するディジタルコンパレ
    ータとを構成として含んでいる実用新案登録請求の範囲
    第1項記載の光カード記録再生装置。
JP1987165026U 1987-08-06 1987-10-28 光カード記録再生装置 Expired - Lifetime JPH0626968Y2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987165026U JPH0626968Y2 (ja) 1987-10-28 1987-10-28 光カード記録再生装置
US07/227,336 US5027339A (en) 1987-08-06 1988-08-02 Optical card analyzing apparatus

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987165026U JPH0626968Y2 (ja) 1987-10-28 1987-10-28 光カード記録再生装置

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Publication Number Publication Date
JPH0171311U JPH0171311U (ja) 1989-05-12
JPH0626968Y2 true JPH0626968Y2 (ja) 1994-07-20

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ID=31451139

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5625240A (en) * 1979-06-04 1981-03-11 Discovision Ass Method and device for recording data signal on recording medium
JPS6257126A (ja) * 1985-09-05 1987-03-12 Canon Inc 光学的情報記録媒体

Patent Citations (2)

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