JPS6259585A - セラミツクス焼結体のメタライズ用組成物 - Google Patents

セラミツクス焼結体のメタライズ用組成物

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JPS6259585A
JPS6259585A JP60200204A JP20020485A JPS6259585A JP S6259585 A JPS6259585 A JP S6259585A JP 60200204 A JP60200204 A JP 60200204A JP 20020485 A JP20020485 A JP 20020485A JP S6259585 A JPS6259585 A JP S6259585A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 し発明の技術分野] 本発明はセラミックス焼結体、特にメタライズが困難と
されている窒化物系セラミックス焼結体に導電性被膜を
形成することのできるメタライズ用組成物に関する。
[発明の技術的背景とその問題点] 従来から、セラミックス焼結体を金属部材に接合さける
ために、セラミックス焼結体の表面に導電性被膜を形成
ざVることが行われている。
この導電性被膜の形成方法としては、セラミックス焼結
体表面にモリブデン粉末とマンガン粉末とを主成分とす
るモリブデン−マンガンメタライズペーストを塗布し、
還元雰囲気中で焼成する方法が一般的である。
この方法は、いずれもアルミナ等の酸化物系セラミック
ス焼結体に適用され、成功をおさめてきているが、近年
、耐摩耗性や高温特性の良好なことで脚光を浴びている
窒化ケイ素等の非酸化物系セラミックス焼結体について
は検討の余地がおり、例えばこの方法では導電性被膜の
形成が困難であることから、この方法は非酸化物系セラ
ミックス焼結体には必ずしも適用できるものではないこ
とがわかっている。
そのため、導電性表面を有する窒化ケイ素焼結体を得る
ために、例えば反応焼結法により得られたポーラスな窒
化ケイ素製セラミックス焼結体表面にモリブデン酸アン
モニウム塩を含浸ざU、還元してモリブデンからなる導
電性被膜を形成さしる方法も試みられている。
しかしながら、この方法は導電性被膜が窒化ケイ素しラ
ミックスの熱膨張係数とほぼ等しい熱膨張係数を有する
モリブデンからなるので、セラミックス焼結体どうしを
接合さヒる場合には有効であるが、モリブデンが窒化ケ
イ素セラミックスと化学反応していないため、その接合
強度に限界がおり、また非酸化物系セラミックス焼結体
を金属部材、特に鋼材と接合させる場合はざらに接合が
困難であるという問題があった。
[発明の目的] 本発明はこのような問題を解消するためなされたもので
、下地のセラミックス焼結体との密着が良好で金属部材
との接合を可能ならしめる導電性被膜をセラミックス焼
結体に形成することのできるメタライズ用組成物を提供
することを目的とする。
[発明の概要] 本発明のメタライズ用組成物はタングステン酸および/
またはモリブデン酸の金属塩とIVa族遷移金属または
その化合物とを含むことを特徴としている。
本発明の適用されるセラミックス焼結体としては強度等
が優れる点から非酸化性セラミックスが好ましい。なか
でも構成元素として窒素を含むもの、例えば窒化ケイ素
、サイアロンのような窒化ケイ素系セラミックスおるい
は窒化アルミニウム系セラミックス、窒化ホウ素セラミ
ックスが好適である。
なお、アルミナ系、ベリリア系のような公知のセラミッ
クス基板を構成するセラミックスや炭化グ゛イ素などの
炭化物にも同様に適用することが可能である。
本発明に使用するタングステン酸の金属塩としてはタン
グステン酸リチウム、タングステン酸カリウム、タング
ステン酸カルシウム、タングステン酸ナトリウム、タン
グステン酸マグネシウム等があげられ、モリブデン酸の
金属塩としてはモリブデン酸リチウム、モリブデン酸カ
リウム、モリブデン酸カルシウム、モリブデン酸ナトリ
ウム、モリブデン酸鉛等があげられ、特にモリブデン酸
リチウムが好適である。
本発明に使用するIVa族遷移金属またはその化合物と
しては、チタン、ジルコニウム、ハラニウムおよびそれ
らの酸化物、ホウ化物、炭化物、有機金属化合物等があ
げられ、特に二酸化チタンが好適である。
本発明のメタライズ用組成物は上述の金属塩どIVa族
遷移金属またはその化合物とをエチルセルロース等のバ
インダーや水に保持して液状もしくはペースト状として
使用するのが適しているが、組成物中タングステン酸お
よび/またはモリブデン酸の金属塩とIVa族遷移金属
またはその化合物との総量が50%モル以上、また金属
塩とIVa族遷移金属またはその化合物がに6〜3:1
の重量比で、それぞれ2モル%以上含有さぼることが望
ましい。
本発明においてはこのメタライズ用組成物をセラミック
ス焼結体の所定部分に塗布おるいは浸漬し、乾燥して溶
剤を除去した後、空気中でタングステン酸またはモリブ
デン酸の金属塩の溶融する温度以上に加熱し、次いで非
酸化性雰囲気中で11oo’c以上の温度に加熱して焼
成させることにより導電性被膜を形成されることができ
る。なおこの空気中で金属塩の溶融する温度以上に加熱
するのはセラミックス焼結体との密着性を強化し、濡れ
性を改善させるためである。
また非酸化性雰囲気中での焼成は、セラミックス焼結体
とタングステン駿またはモリブデン酸の金属塩とを反応
させ、さら4Jtラミックス焼結体中の窒素とIVa族
遷移金属とを反応さけて導電性物質たとえば窒化チタン
を形成さけるためのもので、これに必要な焼成温度はメ
タライズ用組成物の構成成分によってそれぞれ異なるが
、モリブデン酸リチウムと二酸化チタンとを含むメタラ
イズ用組成物の場合には1200〜1400℃で焼成す
ることが好ましい。
本発明のメタライズ用組成物は、任意の流動性を付与す
ることができるので、従来無電解めっきによらざるを1
9なかったセラミックス基板のスルーホール、セラミッ
クス基板を貫通する充実導電路、セラミックスパイプや
複雑形状を有するセラミックス中空体の内面、例えば磁
気浮上形X線管用同転体にターゲット陽電極電流を導入
するための導電路の形成に好適している。
[発明の実施例] 次に本発明の実施例について説明する。
実施例1 モリブデン酸リチウム(L i 2 MOO4)と二酸
化チタン(T!(h)とが重量比で1:1に混合された
混合粉末2qに通計のバインダーを加えたインク状のメ
タライズ用゛組成物を作製した。このペーストを半導体
基板用の窒化アルミニウム製セラミックス焼結体の表面
に塗イロシ、乾燥さけた後、空気中で750℃、5分間
加熱してモリブデン酸リチウムを溶融し、次いで、窒素
:水素=1−1の混合ガス中で1300℃、60分間加
熱焼成して導電性被膜を形成さけた。この導電性被膜は
TiN、Mo、1”−Ai203と類似のスピネル相か
らなるものであった。
このようにして導電性被膜を形成したセラミックス焼結
体に3〜4μ重の厚さにニッケル電解めっきを施し、同
様にニッケルめっきを施したコバール合金片に銀ろうを
用いて接合した、この接合体についてせん断試験を行っ
たところ接合強度は約9kg/mイであった。
実施例2 モリブデン酸リチウムと二酸化チタンとが重量比で1:
1に混合された混合粉末2gに水6qを添加してスラリ
ー状のメタライズ用組成物を作製した。これを酸化イソ
1〜リウムと酸化アルミニウムを含む窒化ケイ素製セラ
ミックス基板の表面に塗布し、乾燥さ!!た後、空気中
で750°C15分間加えj1シてモリブデン酸リチウ
ムを溶融し、次いで窒素:水素−1:1の混合ガス中で
1300’C160分間加熱焼成して導電性被膜を形成
させた。この導電性被膜(、tT i N、 f’vl
o、 Y203 ・23 i 02および少量の不明相
からなるものであった。このようにして形成サケた導電
性被膜にさらにニッケル電解めっきを施し、厚さ0.3
mmの鋼材を緩衝材して介在ざじて銀ろうにより鋼材と
接合ざじた。
得られた接合体の接合強度は約12kg/+nTI!で
あった。
実施例3 第1図に示すように、両端に外径10mmの小径部1a
を有する外径50111711のアルミナ製中空筒状体
1内に、実施例1で使用したインク状のメタライズ用組
成物を入れ内面に均一に付着させて乾燥させ、これを窒
素と水素の還元性雰囲気中で1350°Cで2時間焼成
して内面に厚さ約10μmの導電面2を形成ざぜた。
実施例4 第2図に示すように中心に中空孔3aを有する窒化ケイ
素焼結体からなる回転体3の中空孔3aに、実施例1で
使用したスラリー状のメタライズ用組成物を通過させて
その内面に付着さVて乾燥させ、約1300’Cで2時
間焼成して内面に導電路4を形成させた。
[発明の詳細な 説明したように本発明の組成物によれば、メタライズし
にくい窒化物系セラミックス焼結体に対しても非常に密
着強度の大きい導電性被膜が形成できるのでセラミック
ス焼結体どうしはもらろんのこと、セラミックス焼結体
と金属部材とをより強固に接合することが可能である。
また流動性を有するので、中空体の内面のように通常の
手段では導電層の形成の困難な部分にも容易に導電性被
膜を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、それぞれ本発明の詳細な説明す
るための断面図である。 1・・・・・・・・・・・・アルミナ製中空筒状体1a
・・・・・・・・・小径部 2・・・・・・・・・・・・導電面 3a・・・・・・・・・中空孔 3・・・・・・・・・・・・窒化ケイ素焼結体製回転体
4・・・・・・・・・・・・導電路 出願人     株式会社 東芝 代理人弁理士  須 山 佐 − 第1図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)タングステン酸および/またはモリブデン酸の金
    属塩とIVa族遷移金属またはその化合物とを含むことを
    特徴とするセラミックス焼結体のメタライズ用組成物。
  2. (2)モリブデン酸の金属塩はモリブデン酸リチウムで
    ある特許請求の範囲第1項記載のセラミックス焼結体の
    メタライズ用組成物。
  3. (3)IVa族遷移金属の化合物は二酸化チタンである特
    許請求の範囲第1項または第2項記載のセラミックス焼
    結体のメタライズ用組成物。
  4. (4)メタライズ用組成物は液状またはペースト状媒体
    に保持されて液状もしくはペースト状を呈している特許
    請求の範囲第1項ないし第3項のいずれか1項記載のセ
    ラミックス焼結体のメタライズ用組成物。
  5. (5)セラミックス焼結体は窒化物系セラミックス焼結
    体である特許請求の範囲第1項ないし第4項のいずれか
    1項記載のセラミックス焼結体のメタライズ用組成物。
JP60200204A 1985-09-10 1985-09-10 セラミツクス焼結体のメタライズ用組成物 Granted JPS6259585A (ja)

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KR1019860007492A KR890003856B1 (ko) 1985-09-10 1986-09-08 세라믹스 소결체용 금속화 조성물
EP86306983A EP0215638A1 (en) 1985-09-10 1986-09-10 Metallizing composition for sintered ceramic article
US07/143,288 US4820562A (en) 1985-09-10 1988-01-07 Metallizing composition for sintered ceramic article

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