JPH0321509B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0321509B2
JPH0321509B2 JP20020485A JP20020485A JPH0321509B2 JP H0321509 B2 JPH0321509 B2 JP H0321509B2 JP 20020485 A JP20020485 A JP 20020485A JP 20020485 A JP20020485 A JP 20020485A JP H0321509 B2 JPH0321509 B2 JP H0321509B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sintered body
ceramic sintered
composition
metallizing
conductive film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP20020485A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6259585A (ja
Inventor
Shunichiro Tanaka
Akio Sayano
Tsuneji Kameda
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP60200204A priority Critical patent/JPS6259585A/ja
Priority to KR1019860007492A priority patent/KR890003856B1/ko
Priority to EP86306983A priority patent/EP0215638A1/en
Publication of JPS6259585A publication Critical patent/JPS6259585A/ja
Priority to US07/143,288 priority patent/US4820562A/en
Publication of JPH0321509B2 publication Critical patent/JPH0321509B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1229Composition of the substrate
    • C23C18/1245Inorganic substrates other than metallic
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1204Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material inorganic material, e.g. non-oxide and non-metallic such as sulfides, nitrides based compounds
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/02Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
    • C23C18/12Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
    • C23C18/1204Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material inorganic material, e.g. non-oxide and non-metallic such as sulfides, nitrides based compounds
    • C23C18/1208Oxides, e.g. ceramics
    • C23C18/1216Metal oxides

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Ceramic Products (AREA)
  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明はセラミツクス焼結体、特にメタライズ
が困難とされている窒化物系セラミツクス焼結体
に導電性被膜を形成することのできるメタライズ
用組成物に関する。
[発明の技術的背景とその問題点] 従来から、セラミツクス焼結体を金属部材に接
合させるために、セラミツクス焼結体の表面に導
電性被膜を形成させることが行われている。
この導電性被膜の形成方法としては、セラミツ
クス焼結体表面にモリブデン粉末とマンガン粉末
とを主成分とするモリブデン−マンガンメタライ
ズペーストを塗布し、還元雰囲気中で焼成する方
法が一般的である。
この方法は、いずれもアルミタ等の酸化物系セ
ラミツクス焼結体に適用され、成功をおさめてき
ているが、近年、耐摩耗性や高温特性の良好なこ
とで脚光を浴びている窒化ケイ素等の非酸化物系
セラミツクス焼結体については検討の余地があ
り、例えばこの方法では導電性被膜の形成が困難
であることから、この方法は非酸化物系セラミツ
クス焼結体には必ずしも適用できるものではない
ことがわかつている。
そのため、導電性表面を有する窒化ケイ素焼結
体を得るために、例えば反応焼結法により得られ
たポーラスな窒化ケイ素製セラミツクス焼結体表
面にモリブデン酸アンモニウム塩を含浸させ、還
元してモリブデンからなる導電性被膜を形成させ
る方法も試みられている。
しかしながら、この方法は導電性被膜が窒化ケ
イ素セラミツクスの熱膨張係数とほぼ等しい熱膨
張係数を有するモリブデンからなるので、セラミ
ツクス焼結体どうしを接合させる場合には有効で
あるが、モリブデンが窒化ケイ素セラミツクスと
化学反応していないため、その接合強度に限界が
あり、また非酸化物系セラミツクス焼結体を金属
部材、特に鋼材と接合させる場合はさらに接合が
困難であるという問題があつた。
[発明の目的] 本発明はこのような問題を解消するためなされ
たもので、下地のセラミツクス焼結体との密着が
良好で金属部材との接合を可能ならしめる導電性
被膜をセラミツクス焼結体に形成することのでき
るメタライズ用組成物を提供することを目的とす
る。
[発明の概要] 本発明のメタライズ用組成物はタングステン酸
および/またはモリブデン酸の金属塩とIVa族遷
移金属またはその化合物とを含むことを特徴とし
ている。
本発明の適用されるセラミツクス焼結体として
は強度等が優れる点から非酸化性セラミツクスが
好ましい。なかでも構成元素として窒素を含むも
の、例えば窒化ケイ素、サイアロンのような窒化
ケイ素系セラミツクスあるいは窒化アルミニウム
系セラミツクス、窒化ホウ素系セラミツクスが好
適である。
なお、アルミナ系、ベリリア系のような公知の
セラミツクス基板を構成するセラミツクスや炭化
ケイ素などの炭化物にも同様に適用することが可
能である。
本発明に使用するタングステン酸の金属塩とし
てはタングステン酸リチウム、タングステン酸カ
リウム、タングステン酸カルシウム、タングステ
ン酸ナトリウム、タングステン酸マグネシウム等
があげられ、モリブデン酸の金属塩としてはモリ
ブデン酸リチウム、モリブデン酸カリウム、モリ
ブデン酸カルシウム、モリブデン酸ナトリウム、
モリブデン酸鉛等があげられ、特にモリブデン酸
リチウムが好適である。
本発明に使用するIVa族遷移金属またはその化
合物としては、チタン、ジルコニウム、ハラニウ
ムおよびそれらの酸化物、ホウ化物、炭化物、有
機金属化合物等があげられ、特に二酸化チタンが
好適である。
本発明のメタライズ用組成物は上述の金属塩と
IVa族遷移金属またはその化合物とをエチルセル
ロース等のバインダーや水に保持して液状もしく
はペースト状として使用するのが適しているが、
組成物中タングステン酸および/またはモリブデ
ン酸の金属塩とIVa族遷移金属またはその化合物
とを総量が50%モル以上、また金属塩とIVa族遷
移金属またはその化合物が1:6〜3:1の重量
比で、それぞれ2モル%以上含有させることが望
ましい。
本発明においてはこのメタライズ用組成物をセ
ラミツクス焼結体の所定部分に塗布あるいは浸漬
し、乾燥して溶剤を除去した後、空気中でタング
ステン酸またはモリブデン酸の金属塩の溶融する
温度以上に加熱し、次いで非酸化性雰囲気中で
1100℃以上の温度に加熱して焼成させることによ
り導電性被膜を形成されることができる。なおこ
の空気中で金属塩の溶融する温度以上に加熱する
のはセラミツクス焼結体との密着性を強化し、濡
れ性を改善させるためである。
また非酸化性雰囲気中での焼成は、セラミツク
ス焼結体とタングステン酸またはモリブデン酸の
金属塩とを反応させ、さらにセラミツクス焼結体
中の窒素とIVa族遷移金属とを反応させて導電性
物質たとえば窒化チタンを形成させるためのもの
で、これに必要な焼成温度はメタライズ用組成物
の構成成分によつてそれぞれ異なるが、モリブデ
ン酸リチウムと二酸化チタンとを含むメタライズ
用組成物の場合には1200〜1400℃で焼成すること
が好ましい。
本発明のメタライズ用組成物は、任意の流動性
を付与することができるので、従来無電解めつき
によらざるを得なかつたセラミツクス基板のスル
ーホール、セラミツクス基板を貫通する充実導電
路、セラミツクスパイプや複雑形状を有するセラ
ミツク中空体の内面、例えば磁気浮上形X線管用
回転体にターゲツト陽電極電流を導入するための
導電路の形成に好適している。
[発明の実施例] 次に本発明の実施例について説明する。
実施例 1 モリブデン酸リチウム(Li2MoO4)と二酸化
チタン(TiO2)とが重量比で1:1に混合され
た混合粉末2gに適量のバインダーを加えたイン
ク状のメタライズ用組成物を作製した。このペー
ストを半導体基板用の窒化アルミニウム製セラミ
ツクス焼結体の表面に塗布し、乾燥させた後、空
気中で750℃、5分間加熱してモリブデン酸リチ
ウムを溶融し、次いで、窒素:水素=1:1の混
合ガス中で1300℃、60分間加熱焼成して導電性被
膜を形成させた。この導電性被膜はTiN、Mo、
γ−Al2O3と類似のスピネル相からなるものであ
つた。
このようにして導電性被膜を形成したセラミツ
クス焼結体に3〜4μmの厚さにニツケル電解め
つきを施し、同様にニツケルめつきを施したコバ
ール合金片に銀ろうを用いて接合した、この接合
体についてせん断試験を行つたところ接合強度は
約9Kg/mm2であつた。
実施例 2 モリブデン酸リチウムと二酸化チタンとが重量
比で1:1に混合された混合粉末2gに水6gを
添加してスラリー状のメタライズ用組成物を作製
した。これを酸化イツトリウムと酸化アルミニウ
ムを含む窒化ケイ素製セラミツクス基板の表面に
塗布し、乾燥させた後、空気中で750℃、5分間
加熱してモリブデン酸リチウムを溶融し、次いで
窒素:水素=1:1の混合ガス中で1300℃、60分
間加熱焼成して導電性被膜を形成させた。この導
電性被膜はTiN、Mo、Y2O3・2SiO2および少量
の不明相からなるものであつた。このようにして
形成させた導電性被膜にさらにニツケル電解めつ
きを施し、厚さ0.3mmの銅材を緩衝材して介在さ
せて銀ろうにより鋼材と接合させた。得られた接
合体の接合強度は約12Kg/mm2であつた。
実施例 3 第1図に示すように、両端に外径10mmの小径部
1aを有する外径50mmのアルミナ製中空筒状体1
内に、実施例1で使用したインク状のメタライズ
用組成物を入れ内面に均一に付着させて乾燥さ
せ、これを窒素と水素の還元性雰囲気中で1350℃
で2時間焼成して内面に厚さ約10μmの導電面2
を形成させた。
実施例 4 第2図に示すように中心に中空孔3aを有する
窒化ケイ素焼結体からなる回転体3の中空孔3a
に、実施例1で使用したスラリー状のメタライズ
用組成物を通過させてその内面に付着させて乾燥
させ、約1300℃で2時間焼成して内面に導電路4
を形成させた。
[発明の効果] 上説明したように本発明の組成物によれば、メ
タライズしにくい窒化物系セラミツクス焼結体に
対しても非常に密着強度の大きい導電性被膜が形
成できるのでセラミツクス焼結体どうしはもちろ
んのこと、セラミツクス焼結体と金属部材とをよ
り強固に接合することが可能である。
また流動性を有するので、中空体の内面のよう
に通常の手段では導電層の形成の困難な部分にも
容易に導電性被膜を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、それぞれ本発明の実施
例を説明するための断面図である。 1……アルミナ製中空筒状体、1a……小径
部、2……導電面、3a……中空孔、3……窒化
ケイ素焼結体製回転体、4……導電路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 タングステン酸および/またはモリブデン酸
    の金属塩とIVa族遷移金属またはその化合物とを
    含むことを特徴とするセラミツクス焼結体のメタ
    ライズ用組成物。 2 モリブデン酸の金属塩はモリブデン酸リチウ
    ムである特許請求の範囲第1項記載のセラミツク
    ス焼結体のメタライズ用組成物。 3 IVa族遷移金属の化合物は二酸化チタンであ
    る特許請求の範囲第1項または第2項記載のセラ
    ミツクス焼結体のメタライズ用組成物。 4 メタライズ用組成物は液状またはペースト状
    媒体に保持されて液状もしくはペースト状を呈し
    ている特許請求の範囲第1項ないし第3項のいず
    れか1項記載のセラミツクス焼結体のメタライズ
    用組成物。 5 セラミツクス焼結体は窒化物系セラミツクス
    焼結体である特許請求の範囲第1項ないし第4項
    のいずれか1項記載のセラミツクス焼結体のメタ
    ライズ用組成物。
JP60200204A 1985-09-10 1985-09-10 セラミツクス焼結体のメタライズ用組成物 Granted JPS6259585A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60200204A JPS6259585A (ja) 1985-09-10 1985-09-10 セラミツクス焼結体のメタライズ用組成物
KR1019860007492A KR890003856B1 (ko) 1985-09-10 1986-09-08 세라믹스 소결체용 금속화 조성물
EP86306983A EP0215638A1 (en) 1985-09-10 1986-09-10 Metallizing composition for sintered ceramic article
US07/143,288 US4820562A (en) 1985-09-10 1988-01-07 Metallizing composition for sintered ceramic article

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60200204A JPS6259585A (ja) 1985-09-10 1985-09-10 セラミツクス焼結体のメタライズ用組成物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6259585A JPS6259585A (ja) 1987-03-16
JPH0321509B2 true JPH0321509B2 (ja) 1991-03-22

Family

ID=16420531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60200204A Granted JPS6259585A (ja) 1985-09-10 1985-09-10 セラミツクス焼結体のメタライズ用組成物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6259585A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6259585A (ja) 1987-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0122522B1 (en) Method of manufacturing sintered ceramic body
KR890003856B1 (ko) 세라믹스 소결체용 금속화 조성물
JPS63103886A (ja) メタライズペ−ストならびにそれを使用してなるセラミツクスのメタライズ法
US4614689A (en) Non-oxide-series-sintered ceramic body and method for forming conducting film on the surface of non-oxide-series-sintered ceramic body
JPH0321509B2 (ja)
JPH0479991B2 (ja)
JPS6021888A (ja) セラミツクスのメタライズ法
JPS61219784A (ja) 非酸化物系セラミックス焼結体
JPH0460946B2 (ja)
JPS62225886A (ja) ルツボ
JPS59207887A (ja) セラミツクスのメタライズ法
JPS62197374A (ja) 導電性メタライズ層を有する窒化アルミニウム焼結体の製造方法
JPS60131885A (ja) 金属化表面を有するセラミツクス焼結体の製造方法
JPH0816033B2 (ja) 窒化珪素用メタライズペ−ストの組成物とそれを用いたメタライズ法
JPH0688857B2 (ja) 金属化面を有する窒化アルミニウム焼結体及びその製造方法
JPS605083A (ja) 導電性セラミツクス焼結体及びその製造方法
JPS62226879A (ja) 封着部を有する窒化アルミニウム焼結体
JPS6317279A (ja) 金属化面を有する窒化アルミニウム焼結体及びその製造方法
JPS6272188A (ja) レ−ザ管
JPS632875A (ja) セラミックスのメタライズ方法
JPS632874A (ja) セラミックスのメタライズ方法
JPS62226881A (ja) 封着部を有する窒化アルミニウム焼結体製窓部材
JPS61174185A (ja) 炭化物系セラミツク体の金属化方法
JPH0825826B2 (ja) ジルコニア系セラミックス用メタライズ組成物
JPH0122237B2 (ja)