JPS6253767B2 - - Google Patents

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JPS6253767B2
JPS6253767B2 JP53048277A JP4827778A JPS6253767B2 JP S6253767 B2 JPS6253767 B2 JP S6253767B2 JP 53048277 A JP53048277 A JP 53048277A JP 4827778 A JP4827778 A JP 4827778A JP S6253767 B2 JPS6253767 B2 JP S6253767B2
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JP
Japan
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ceramic body
pores
holes
numerous
screen
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JP53048277A
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Suzuhiko Kondo
Kei Yamada
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NGK Insulators Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95692Patterns showing hole parts, e.g. honeycomb filtering structures
    • GPHYSICS
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    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8803Visual inspection

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は内燃機関やボイラーの排気ガス浄化に
使用する触媒担体や熱交換器の蓄熱体等に使用す
る蜂巣状セラミツク構造体のような薄い隔壁をも
つて区画された無数の貫通細孔を有するセラミツ
ク体の貫通細孔相互間にある隔壁の中切れを適確
容易に検査して不良品を発見できるようにした無
数の貫通細孔を有するセラミツク体の中切れ検査
方法に関するものである。
無数の貫通細孔を有する前記のようなセラミツ
ク体は成形後における乾燥時或いは焼成時におけ
る部分的な収縮の差異によつて貫通細孔を区画す
る薄い隔壁にクラツクが生じ易く、このようなク
ラツクが一定限度以上あるものは製品の機能や耐
久性能に大きな影響を及ぼす関係上焼成後におけ
る検査により廃棄している。ところが、この種の
無数の貫通細孔を有するセラミツク体は貫通細孔
の孔径が極めて小さいうえに貫通細孔を区画する
隔壁も薄いため、一端面から他端面までの長さが
大きくなると目視による検査では両端面にわたつ
ている隔壁のクラツクは発見できても中切れと呼
ばれている隔壁の中間部のクラツクの発見は困難
で検査の正確性を欠くうえに目の疲労も大きく、
貫通細孔の隔壁の中切れを適確容易に検査できる
検査方法の開発が強く要望されている。
本発明はこのような要望に応えた無数の貫通細
孔を有するセラミツク体の中切れ検査方法を目的
として完成されたもので、以下、図示の実施例に
より本発明を詳細に説明する。
1は薄い隔壁をもつて区画された無数の貫通細
孔を有する蜂巣状のセラミツク体イを所要間隔下
に載置して間歇的に駆動される移送装置で、該移
送装置1は両端に配置したチエンホイール間に懸
装されて図示されない駆動源により間歇回動され
る無端のチエン1a,1aに支持体1bを介して
前記蜂巣状のセラミツク体イを安定して支持する
ための受板1cを所要間隔下に取付けたものであ
る。2は移送装置1上にある無数の貫通細孔を有
するセラミツク体イの一端面に略均一な光線を照
射する投光器であつて、この投光器2は間歇的に
駆動される移送装置1の所要の受板1cの外側縁
に近い位置にすりガラス等の光拡散板2aが開口
基部に張設される筒状の投光口2bを臨ませたケ
ーシング2c内に例えば写真用の照明ランプ2d
を2個と冷却用のフアン2eを収納したもので、
照明ランプ2dは検査対象物の形状や大きさ等に
応じ電圧を調整して鮮明な投影像を得るよう電圧
調整器2fを介して電源に接続されている。な
お、光拡散板2aはセラミツク体イの一端面から
貫通細孔に向け照射される光線を略均一化すると
ともに光線が第5図に示すように隔壁に当つて反
射しつつ貫通細孔の内部を通過するようにするた
めの1手段として用いるものである。3は受板1
c上において投光器2より一端面に光線が照射さ
れる無数の貫通細孔を有するセラミツク体イの他
端面に近接させてこの投光器2の対向位置に設け
たスクリーンであつて、該スクリーン3は後記す
るカメラ5を収納するケーシング5aの前端開口
に張設されたすりガラス3aの裏面に検査対象物
である無数の貫通細孔を有するセラミツク体イの
端面形状に相当する窓孔3bを有する板紙等のマ
スキング材3cを添着したもので、前記光拡散板
2aを通じ均一化されたうえ無数の貫通細孔を有
するセラミツク体イの一端面から該貫通細孔に向
け照明ランプ2dから照射された光線によつて該
無数の貫通細孔を有するセラミツク体イは投影像
としてスクリーン3におけるすりガラス3aのマ
スキング材3cが添着されていない部分に鮮明に
映し出されるようになつている。4はスクリーン
3に映し出された投影像により貫通細孔の隔壁の
中切れを検査する判定装置で、図示の実施例にお
ける判定装置4はスクリーン3にレンズを臨ませ
てケーシング5a内に収納されたテレビ用のカメ
ラ5より送られる投影像を拡大して目視を容易と
したテレビ受像機が1例として使用されており、
5bは判定装置4の1例としてのテレビ受像機の
電源、1dは移送装置1の上方一側に設けられて
無数の貫通細孔を有するセラミツク体イを支持体
1bの適正位置に容易に載置できるようにするた
めの位置決めガイドである。
今、図示されない駆動源を作動させてチエンホ
イールを介しチエン1a,1aを回動させること
により該チエン1a,1aに支持体1b付の受板
1cを所要間隔下に取付けた移送装置1を間歇的
に駆動前進させるとともに投光器2、カメラ5、
判定装置4を共に電源に接続させておき、検査対
象物として端面形状が長軸170mm、短軸80mmの楕
円形をした長さ125mmの柱体に1.2mm×1.2mm×125
mmの貫通細孔を相互間に肉厚が0.3mmの隔壁を残
して均斉に透設した無数の貫通細孔を有するセラ
ミツク体イを順次支持体1b上に載置すれば、投
光器2とこれに対向したスクリーン3との間には
支持体1b上にある無数の貫通細孔を有するセラ
ミツク体イが移送されてきて一旦停止することと
なるから、この状態において投光器2とスクリー
ン3との間に停止した支持体1b上にある無数の
貫通細孔を有するセラミツク体イにはその一端面
から該貫通細孔に向け投光器2より光線が照射さ
れ、この光線の照射によつてこの無数の貫通細孔
を有するセラミツク体イの他端面に近接している
スクリーン3には該セラミツク体イの端面形状と
略同形の投影像が的確に映し出されることとな
る。即ち、投光器2の照明ランプ2dより発する
光線をケーシング2cの投光口2bの開口基部に
張設されているすりガラス等の光拡散板2aを透
過させて直進成分及び斜行成分を含む略均一な光
線となし、該投光口2bより無数の貫通細孔を有
するセラミツク体イの一端面に照射してその斜行
成分を隔壁により反射させつつ貫通細孔の内部を
通過させ、直進成分は無数の貫通細孔をそのまま
通過させて無数の貫通細孔に相当する点状の明る
い像Aをスクリーン3に投影するのであるが、各
貫通細孔の相互間にある隔壁及び周壁の一端面に
照射された光線はこの隔壁及び周壁を透過する際
に減光されてスクリーン3には暗い像Bとして投
影され、貫通細孔を区画する薄い隔壁に全くクラ
ツクが生じていない場合は第3図に示すように無
数の貫通細孔を有するセラミツク体イの端面形状
と略同一の投影像が得られることとなる。しかし
貫通細孔を区画する薄い隔壁に中切れがある場合
には第4図に示すように正常製品の投影像と相違
し投影像中に線状の明るい像Dが投影される。こ
の理由は第5図に示すように、隔壁ロ,ロ′及び
隔壁ロ′,ロ″により反射しつつこれらの隔壁間の
貫通細孔ハ及び貫通細孔ハ′の内部を通過する光
線が隔壁ロ′の中間部にある中切れニを通つて貫
通細孔ハ′,ハに入つたうえ外側の隔壁ロ″,ロに
当たつて反射し、この光線がスクリーン3の前記
中切れニのある隔壁ロ′に臨む部分を照射するか
ら、隔壁に相当する暗い像Bのうち中切れのある
隔壁ロ′に相当する部分は前記光線分だけ光量が
増加して線状の明るい像Dとなるものと考えられ
る。なお、貫通細孔に目詰まりがある場合には投
影像中に暗い像Cが現れることは言うまでもな
い。このようにしてスクリーン3としてのすりガ
ラス3aにおけるマスキング材3cが添着されて
いない部分に該マスキング材3cにより余分な光
線が遮断されて鮮明に映し出された投影像はケー
シング5a内に収納されたテレビ用のカメラ5に
適確にキヤツチされたうえ判定装置4としてのテ
レビ受像機に送られ、このテレビ受像機のブラウ
ン管に投影像が所要倍率に拡大されて映されるか
ら、検査員は判定装置4としてのテレビ受像機に
拡大して映された投影像を目視してその投影像中
に生ずる明るい線状の像Dの有無を検査し、この
ような像Dが発見された場合には移送装置1の1
支持体1b上にある無数の貫通細孔を有するセラ
ミツク体イを除去すればよく、この間製品検査は
検査員の目視によるものであつても判定装置4と
してのテレビ受像機に拡大して映し出された投影
像により判定すればよいから、直接無数の貫通細
孔を有するセラミツク体イを目視により検査する
場合に比較して目の疲れがないうえに外側にあら
われたクラツク以外に貫通細孔の中間における隔
壁の中切れの発見も容易にできて適確な検査を行
うことができる。なお、図示の実施例ではスクリ
ーン3に映し出された投影像をカメラ5により判
定装置4としてのテレビ受像機に拡大して送り、
これを目視により検査して不良品を除去するよう
になつているが、判定装置4としてはスクリーン
3に映し出された投影像に中切れに相当する限度
以上の線状の明るい像Dがある場合に信号を発
し、この信号により移送装置1の間歇駆動を停止
させたり図示しない製品除去装置を働かせるよう
にしたもの等種々のものが考えられ、従つて、判
定装置4が前記実施例に示すものに限定されない
ことは勿論であり、また、照射する光線としては
レーザー光線を使用するようにしてもよい。しか
して、このようにして無数の貫通細孔を有するセ
ラミツク体イの1個の製品検査が終了すると、間
歇的に駆動される移送装置1の一時的停止は解か
れて前進し、次の支持体1bに載置された無数の
貫通細孔を有するセラミツク体イが投光器2とス
クリーン3間に移送されて一時的に停止して前記
同様に検査が行われ、検査済の無数の貫通細孔を
有するセラミツク体イ中合格品はこの移送装置1
の間歇的な前進により次工程に送られることとな
る。
本発明は前記実施例による説明によつて明らか
なように、蜂巣状のセラミツク体の一端面から貫
通細孔の内部に照射される光線により他端面に近
接して設けられたスクリーンにその投影像を映し
出し、この投影像中の明るい線状の像の有無をも
つて、従来正確な検査はできないとされていた孔
径が極めて小さくて隔壁が極めて薄いうえ相当な
長さのある無数の貫通細孔を有する蜂巣状のセラ
ミツク体の貫通細孔中間にある隔壁の中切れを適
確容易に発見することができるようにしたもので
あり、無数の貫通細孔を有するセラミツク体の中
切れ検査方法として業界にもたらす益の極めて大
きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施に用いられる装置を示す
一部切欠平面図、第2図はその移送装置部分の一
部切欠正面図、第3図は中切れのない無数の貫通
細孔を有するセラミツク体の投影像の1例を示す
一部切欠正面図、第4図は中切れのある無数の貫
通細孔を有するセラミツク体の投影像の1例を示
す一部切欠正面図、第5図は中切れ部分が線状の
明るい像として映し出される理由の説明図であ
る。 1:移送装置、2:投光器、3:スクリーン、
4:判定装置、5:カメラ、イ:無数の貫通細孔
を有する蜂巣状のセラミツク体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 薄い隔壁をもつて区画された無数の貫通細孔
    を有する蜂巣状のセラミツク体の一端面から該貫
    通細孔に向け略均一な光線を照射して光線を隔壁
    により反射させつつ貫通細孔の内部を通過させ、
    前記隔壁の中間部の中切れの有無を前記光線が中
    切れを通過することによりセラミツク体の他端面
    に近接して設けられるスクリーンに映し出される
    投影像中に生ずる明るい線状の像の有無をもつて
    検査することを特徴とする無数の貫通細孔を有す
    るセラミツク体の中切れ検査方法。
JP4827778A 1978-04-21 1978-04-21 Method and device for testing ceramic piece having innumerable through pores Granted JPS54139784A (en)

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