JPS6089736A - 無数の貫通細孔を有するセラミツク体の中切れ検査装置 - Google Patents
無数の貫通細孔を有するセラミツク体の中切れ検査装置Info
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- JPS6089736A JPS6089736A JP12023884A JP12023884A JPS6089736A JP S6089736 A JPS6089736 A JP S6089736A JP 12023884 A JP12023884 A JP 12023884A JP 12023884 A JP12023884 A JP 12023884A JP S6089736 A JPS6089736 A JP S6089736A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は内燃機関やボイラーの排気ガス浄化に使用する
触媒担体や熱交換器の蓄熱体等に使用する蜂巣状セラミ
ック構造体のような薄い隔壁をもって区画された無数の
貫通細孔を有する蜂巣状のセラミック体の貫通細孔相互
間にある隔壁の中切れを適確容易に検査して不良品を発
見できる無数の貫通細孔を有するセラミック体の中切れ
検査装置に関するものである。
触媒担体や熱交換器の蓄熱体等に使用する蜂巣状セラミ
ック構造体のような薄い隔壁をもって区画された無数の
貫通細孔を有する蜂巣状のセラミック体の貫通細孔相互
間にある隔壁の中切れを適確容易に検査して不良品を発
見できる無数の貫通細孔を有するセラミック体の中切れ
検査装置に関するものである。
無数の貫通細孔を有する蜂巣状のセラミック体は成形後
における乾燥時或いは焼成時における部分的な収縮の差
異によって貫通細孔を区画する薄い隔壁にクラックが生
じ易く、このようなりラックが一定限度以上あるものは
製品の機能や耐久性能に大きな影響を及ぼす関係上焼成
後における検査により廃棄している。ところが、この種
の無数の貫通細孔を有するセラミック体は貫通細孔の孔
径が極めて小さいうえに貫通細孔を区画する隔壁も薄い
ため、一端面から他端面までの長さが大きくなると目視
による検査では両端面にわたっている隔壁のクランクは
発見できても中切れと呼ばれている隔壁の中間部のクラ
ンクの発見は困難で検査の正確性を欠くうえに目の疲労
も大きく、貫通細孔の隔壁の中切れを適確容易に検査で
きる検査装置の開発が強く要望されている。
における乾燥時或いは焼成時における部分的な収縮の差
異によって貫通細孔を区画する薄い隔壁にクラックが生
じ易く、このようなりラックが一定限度以上あるものは
製品の機能や耐久性能に大きな影響を及ぼす関係上焼成
後における検査により廃棄している。ところが、この種
の無数の貫通細孔を有するセラミック体は貫通細孔の孔
径が極めて小さいうえに貫通細孔を区画する隔壁も薄い
ため、一端面から他端面までの長さが大きくなると目視
による検査では両端面にわたっている隔壁のクランクは
発見できても中切れと呼ばれている隔壁の中間部のクラ
ンクの発見は困難で検査の正確性を欠くうえに目の疲労
も大きく、貫通細孔の隔壁の中切れを適確容易に検査で
きる検査装置の開発が強く要望されている。
本発明はこのような要望に応えた無数の貫通細孔を有す
るセラミック体の中切れ検査装置を目的として完成され
たもので、以下、図示の実施例により本発明の詳細な説
明する。
るセラミック体の中切れ検査装置を目的として完成され
たもので、以下、図示の実施例により本発明の詳細な説
明する。
（１）は薄い隔壁をもって区画された無数の貫通細孔を
有する蜂巣状のセラミック体（イ）を所要間隔下に載置
して間歇的に駆動される移送装置で、該移送装置ｔ （
１１は両端に配置したチェンホイール間に懸装されて図
示されない駆動源により間歇回動される無端のチェノ（
１ａ）、（１ａ）に支持体（１ｂ）を介して前記セラミ
ック体（イ）を安定して支持するための受板（１ｃ）を
所要間隔下に取付けたものである。（２）は移送装置（
１）上にある無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ
）の一端面から貫通細孔の内部に略均−な光線を照射す
る投光器で、間歇的に駆動される移送装置（１）の所要
の受板（１ｃ）の外側縁に近い位置にすりガラス等の光
拡散板（２ａ）が開口基部に張設される筒状の投光口（
２ｂ）を臨ませたケーシング（２ｃ）内に例えば写真用
の照明ランプ（２ｄ）を２個と冷却用のファン（２ｅ）
を収納したもので、照明ランプ（２ｄ）は検査対象物の
形状や大きさ等に応じ電圧を調整して鮮明な投影像を得
るよう電圧調整器（２ｆ）を介して電源に接続されてい
る。（３）は受板（１ｃ）上において投光器（２）より
一端面に略均−な光線が照射される無数の貫通細孔を有
するセラミック体（イ）の他端面に近接させてこの投光
器（２）の対向位置に設けたスクリーンであって、該ス
クリーン（３）は後記するカメラ（５）を収納するケー
シング（５ａ）の前端開口に張設されたすりガラス（３
ａ）の裏面に検査対象物である無数の貫通細孔を有する
セラミック体（イ）の端面形状に相当する窓孔（３ｂ）
を有する板紙等のマスキング材（３ｃ）を添着したもの
で、前記光拡散板（２ａ）を通じ均一化されたうえ無数
の貫通細孔を有するセラミック体（イ）の一端面から該
貫通細孔に向は照明ランプ（２ｄ）から照射された光線
によって該無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）
は投影像としてスクリーン（３）におけるすりガラス（
３ａ）のマスキング材（３Ｃ）が添着されていない部分
に鮮明に映し出されるようになっている。（４）はスク
リーン（３）に映し出された投影像により貫通細孔の隔
壁の中切れを検査する判定装置で、図示の実施例におけ
る判定装置（４）はスクリーン（３）にレンズを臨ませ
てケーシング（５ａ）内に収納されたテレビ用のカメラ
（５）より送られる投影像を拡大して目視を容易とした
テレビ受像機が１例として使用されており、（５ｂ）は
判定装置（４）の１例としてのテレビ受像機の電源、（
１ｄ）は移送装置（１）の上方−側に設けられて無数の
貫通細孔を有するセラミック体（イ）を支持体（１ｂ）
の適正位置に容易に載置できるようにするための位置決
めガイドである。
有する蜂巣状のセラミック体（イ）を所要間隔下に載置
して間歇的に駆動される移送装置で、該移送装置ｔ （
１１は両端に配置したチェンホイール間に懸装されて図
示されない駆動源により間歇回動される無端のチェノ（
１ａ）、（１ａ）に支持体（１ｂ）を介して前記セラミ
ック体（イ）を安定して支持するための受板（１ｃ）を
所要間隔下に取付けたものである。（２）は移送装置（
１）上にある無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ
）の一端面から貫通細孔の内部に略均−な光線を照射す
る投光器で、間歇的に駆動される移送装置（１）の所要
の受板（１ｃ）の外側縁に近い位置にすりガラス等の光
拡散板（２ａ）が開口基部に張設される筒状の投光口（
２ｂ）を臨ませたケーシング（２ｃ）内に例えば写真用
の照明ランプ（２ｄ）を２個と冷却用のファン（２ｅ）
を収納したもので、照明ランプ（２ｄ）は検査対象物の
形状や大きさ等に応じ電圧を調整して鮮明な投影像を得
るよう電圧調整器（２ｆ）を介して電源に接続されてい
る。（３）は受板（１ｃ）上において投光器（２）より
一端面に略均−な光線が照射される無数の貫通細孔を有
するセラミック体（イ）の他端面に近接させてこの投光
器（２）の対向位置に設けたスクリーンであって、該ス
クリーン（３）は後記するカメラ（５）を収納するケー
シング（５ａ）の前端開口に張設されたすりガラス（３
ａ）の裏面に検査対象物である無数の貫通細孔を有する
セラミック体（イ）の端面形状に相当する窓孔（３ｂ）
を有する板紙等のマスキング材（３ｃ）を添着したもの
で、前記光拡散板（２ａ）を通じ均一化されたうえ無数
の貫通細孔を有するセラミック体（イ）の一端面から該
貫通細孔に向は照明ランプ（２ｄ）から照射された光線
によって該無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）
は投影像としてスクリーン（３）におけるすりガラス（
３ａ）のマスキング材（３Ｃ）が添着されていない部分
に鮮明に映し出されるようになっている。（４）はスク
リーン（３）に映し出された投影像により貫通細孔の隔
壁の中切れを検査する判定装置で、図示の実施例におけ
る判定装置（４）はスクリーン（３）にレンズを臨ませ
てケーシング（５ａ）内に収納されたテレビ用のカメラ
（５）より送られる投影像を拡大して目視を容易とした
テレビ受像機が１例として使用されており、（５ｂ）は
判定装置（４）の１例としてのテレビ受像機の電源、（
１ｄ）は移送装置（１）の上方−側に設けられて無数の
貫通細孔を有するセラミック体（イ）を支持体（１ｂ）
の適正位置に容易に載置できるようにするための位置決
めガイドである。
今、図示されない駆動源を作動させて支持体（１ｂ）付
の受板（１ｃ）を所要間隔下に取付けた移送装置（１）
を間歇的に駆動前進させるとともに投光器（２）、カメ
ラ＋５）、判定装置（４）を共に電源に接続させておき
、検査対象物として端面形状が長軸１７０ｆｉ、短軸８
０寵の楕円形をした長さ１２５籠の柱体に１．２額×１
，２１ｍＸ１２５削の貫通細孔を相互間に肉厚が０．３
ｍの隔壁を残して均斉に透設した無数の貫通細孔を有す
るセラミック体（イ）を順次支持体（１ｂ）上に載置す
れば、光拡散板（２ａ）を備えた投光器（２）とこれに
対向したスクリーン（３）との間には支持体（１ｂ）上
にある無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）が移
送されてきて一旦停止することとなるから、この状態に
おいて投光器（２）とスクリーン（３）との間に停止し
た支持体（ｌｂ）上にある無数の貫通細孔を有するセラ
ミック体（イ）にはその一端面から該貫通細孔の内部に
光拡散板（２ａ）を備えた投光器（２）から略均−な光
線が照射され、この光線の照射によってこの無数の貫通
細孔を有するセラミック体（イ）の他端面に近接してい
るスクリーン（３）には該セラミック体（イ）の端間形
状と略同形の投影像が的確に映し出されることとなる。
の受板（１ｃ）を所要間隔下に取付けた移送装置（１）
を間歇的に駆動前進させるとともに投光器（２）、カメ
ラ＋５）、判定装置（４）を共に電源に接続させておき
、検査対象物として端面形状が長軸１７０ｆｉ、短軸８
０寵の楕円形をした長さ１２５籠の柱体に１．２額×１
，２１ｍＸ１２５削の貫通細孔を相互間に肉厚が０．３
ｍの隔壁を残して均斉に透設した無数の貫通細孔を有す
るセラミック体（イ）を順次支持体（１ｂ）上に載置す
れば、光拡散板（２ａ）を備えた投光器（２）とこれに
対向したスクリーン（３）との間には支持体（１ｂ）上
にある無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）が移
送されてきて一旦停止することとなるから、この状態に
おいて投光器（２）とスクリーン（３）との間に停止し
た支持体（ｌｂ）上にある無数の貫通細孔を有するセラ
ミック体（イ）にはその一端面から該貫通細孔の内部に
光拡散板（２ａ）を備えた投光器（２）から略均−な光
線が照射され、この光線の照射によってこの無数の貫通
細孔を有するセラミック体（イ）の他端面に近接してい
るスクリーン（３）には該セラミック体（イ）の端間形
状と略同形の投影像が的確に映し出されることとなる。
即ち、投光器（２）の照明ランプ（２ｄ）より発する光
線はケーシング（２ｃ）の投光口（２ｂ）の開口基部に
張設されているすりガラス等の光拡散板（２ａ）を透過
する際に直進成分及び斜行成分を含む略均−な光線とな
って該投光口（２ｂ）より無数の貫通細孔を有するセラ
ミック体（イ）の一端面に照射され、光線中の斜行成分
は隔壁により反射されつつ貫通細孔の内部を通過し、直
進成分は無数の貫通細孔をそのまま通過してスクリーン
（３）に達し、無数の貫通細孔に相当する点状の明るい
像（Ａ）をスクリーン（３）に投影するとともに、各貫
通細孔の相互間にある隔壁及び周壁の一端面に照射され
た光線はこの隔壁及び周壁を透過する際に減光されてス
クリーン（３）には暗い像（Ｂ）として投影され、従っ
て、無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）の貫通
細孔を区画する薄い隔壁に中切れが生じていない場合は
第３図に示すように無数の貫通細孔を有するセラミック
体（イ）の端面形状と略同−の投影像が得られることと
なる。しかし、貫通細孔を区画する薄い隔壁に中切れが
ある場合には第４図に示すように正常製品の投影像と相
違し、投影像中に線状の明るい像（Ｄ）が投影される。
線はケーシング（２ｃ）の投光口（２ｂ）の開口基部に
張設されているすりガラス等の光拡散板（２ａ）を透過
する際に直進成分及び斜行成分を含む略均−な光線とな
って該投光口（２ｂ）より無数の貫通細孔を有するセラ
ミック体（イ）の一端面に照射され、光線中の斜行成分
は隔壁により反射されつつ貫通細孔の内部を通過し、直
進成分は無数の貫通細孔をそのまま通過してスクリーン
（３）に達し、無数の貫通細孔に相当する点状の明るい
像（Ａ）をスクリーン（３）に投影するとともに、各貫
通細孔の相互間にある隔壁及び周壁の一端面に照射され
た光線はこの隔壁及び周壁を透過する際に減光されてス
クリーン（３）には暗い像（Ｂ）として投影され、従っ
て、無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）の貫通
細孔を区画する薄い隔壁に中切れが生じていない場合は
第３図に示すように無数の貫通細孔を有するセラミック
体（イ）の端面形状と略同−の投影像が得られることと
なる。しかし、貫通細孔を区画する薄い隔壁に中切れが
ある場合には第４図に示すように正常製品の投影像と相
違し、投影像中に線状の明るい像（Ｄ）が投影される。
この理由は第５図に示すように、隔壁（ロ）、（ロ）′
及び隔壁（ロ）′、（ロ）＃により反射されつつこれら
の隔壁間の貫通細孔（ハ）及び貫通細孔（ハ）′の内部
を通過する光線が隔壁（ロ）′の中間部にある中切れ（
ニ）を通過して貫通細孔（ハ）′、（ハ）に入ったうえ
外側の隔壁（ロ）＃、（ロ）に当たって反射し、この光
線がスクリーン（３）の前記中切れ（ニ）のある隔壁（
ロ）′に臨む部分を照射するから、隔壁に相当する暗い
像（Ｂ）のうち中切れのある隔壁（ロ）′に相当する部
分は前記光線分だけ光量が増加して線状の明るい像（Ｄ
）となるものと考えられる。なお、スクリーン（３）は
セラミック体（イ）の他端面に近接されて設けられてい
るので斜行成分による明るい像（Ｄ）は鮮明に現れ、し
かもセラミック体（イ）を移送する際にスクリーン（３
）と接触することも防止される。また、貫通細孔に目詰
まりがある場合には投影像中に点状の暗い像（Ｃ）とし
て現れることは言うまでもない。このようにしてスクリ
ーン（３）としてのすりガラス（３ａ）におけるマスキ
ング材（３ｃ）が添着されていない部分に該マスキング
材（３ｃ）により余分な光線が遮断されて鮮明に映し出
された投影像はケーシング（５ａ）内に収納されたテレ
ビ用のカメラ（５）に適確にキャッチさたうえ判定装置
（４）としてのテレビ受像機に送られ、このテレビ受像
機のブラウン管に投影像が所要倍率に拡大されて映され
るから、検査員は判定装置（４）としてのテレビ受像機
に拡大して映された投影像を目視してその投影像中に生
ずる明るい線状の像（Ｄ）の有無を検査し、このような
明るい線状の像（Ｄ）が発見された場合には移送装置（
１１の１支持体（１ｂ）上にある無数の貫通細孔を有す
るセラミック体（イ）を除去すればよく、この間製品検
査は判定装Ｗ Ｔ４１としてのテレビ受像機に拡大して
映し出された投影像をもって判定すればよいから、直接
無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）を目視によ
り検査する場合に比較して目の疲れがないうえに外側に
あられれたクラック以外に貫通細孔の中間における隔壁
の中切れの発見も容易にできて適確な検査を行うことが
できる。なお、図示の実施例では光線を照射させるのに
写真用の照明ランプをもってしているが、一定領域にお
いてほぼ均一な明るさの光線を得ることができればどの
ような手段をもってしてもよく、例えばレーザー光線を
用いるようにしてもよい。また、図示の実施例ではスク
リーン（３）に映し出された投影像をカメラ（５）によ
り判定装置（４）としてのテレビ受像機に拡大して送り
、これを目視により検査して不良品を除去するようにな
っているが、判定装置（４）としてはスクリーン（３）
に映し出された投影像に中切れに相当する限度以上の線
状の明るい像（Ｄ）がある場合に信号を発し、この信号
により移送装置（１）の間歇駆動を停止させたり図示し
ない製品除去装置を働かせるようにしたもの等種々のも
のが考えられ、従って、判定装置（４）が前記実施例に
示すものに限定されないことは勿論である。しかして、
このようにして無数の貫通細孔を有するセラミック体（
イ）の１個の製品検査が終了すると、間歇的に駆動され
る移送装置（１）の一時的停止は解かれて前進し、次の
支持体（１ｂ）に載置された無数の貫通細孔を有するセ
ラミック体（イ）が投光器（２）とスクリーン（３）間
に移送されて一時的に停止して前記同様に検査が行われ
、検査済の無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）
のうち合格品はこの移送装置（］）の間歇的な前進によ
り次工程に送られることとなる。
及び隔壁（ロ）′、（ロ）＃により反射されつつこれら
の隔壁間の貫通細孔（ハ）及び貫通細孔（ハ）′の内部
を通過する光線が隔壁（ロ）′の中間部にある中切れ（
ニ）を通過して貫通細孔（ハ）′、（ハ）に入ったうえ
外側の隔壁（ロ）＃、（ロ）に当たって反射し、この光
線がスクリーン（３）の前記中切れ（ニ）のある隔壁（
ロ）′に臨む部分を照射するから、隔壁に相当する暗い
像（Ｂ）のうち中切れのある隔壁（ロ）′に相当する部
分は前記光線分だけ光量が増加して線状の明るい像（Ｄ
）となるものと考えられる。なお、スクリーン（３）は
セラミック体（イ）の他端面に近接されて設けられてい
るので斜行成分による明るい像（Ｄ）は鮮明に現れ、し
かもセラミック体（イ）を移送する際にスクリーン（３
）と接触することも防止される。また、貫通細孔に目詰
まりがある場合には投影像中に点状の暗い像（Ｃ）とし
て現れることは言うまでもない。このようにしてスクリ
ーン（３）としてのすりガラス（３ａ）におけるマスキ
ング材（３ｃ）が添着されていない部分に該マスキング
材（３ｃ）により余分な光線が遮断されて鮮明に映し出
された投影像はケーシング（５ａ）内に収納されたテレ
ビ用のカメラ（５）に適確にキャッチさたうえ判定装置
（４）としてのテレビ受像機に送られ、このテレビ受像
機のブラウン管に投影像が所要倍率に拡大されて映され
るから、検査員は判定装置（４）としてのテレビ受像機
に拡大して映された投影像を目視してその投影像中に生
ずる明るい線状の像（Ｄ）の有無を検査し、このような
明るい線状の像（Ｄ）が発見された場合には移送装置（
１１の１支持体（１ｂ）上にある無数の貫通細孔を有す
るセラミック体（イ）を除去すればよく、この間製品検
査は判定装Ｗ Ｔ４１としてのテレビ受像機に拡大して
映し出された投影像をもって判定すればよいから、直接
無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）を目視によ
り検査する場合に比較して目の疲れがないうえに外側に
あられれたクラック以外に貫通細孔の中間における隔壁
の中切れの発見も容易にできて適確な検査を行うことが
できる。なお、図示の実施例では光線を照射させるのに
写真用の照明ランプをもってしているが、一定領域にお
いてほぼ均一な明るさの光線を得ることができればどの
ような手段をもってしてもよく、例えばレーザー光線を
用いるようにしてもよい。また、図示の実施例ではスク
リーン（３）に映し出された投影像をカメラ（５）によ
り判定装置（４）としてのテレビ受像機に拡大して送り
、これを目視により検査して不良品を除去するようにな
っているが、判定装置（４）としてはスクリーン（３）
に映し出された投影像に中切れに相当する限度以上の線
状の明るい像（Ｄ）がある場合に信号を発し、この信号
により移送装置（１）の間歇駆動を停止させたり図示し
ない製品除去装置を働かせるようにしたもの等種々のも
のが考えられ、従って、判定装置（４）が前記実施例に
示すものに限定されないことは勿論である。しかして、
このようにして無数の貫通細孔を有するセラミック体（
イ）の１個の製品検査が終了すると、間歇的に駆動され
る移送装置（１）の一時的停止は解かれて前進し、次の
支持体（１ｂ）に載置された無数の貫通細孔を有するセ
ラミック体（イ）が投光器（２）とスクリーン（３）間
に移送されて一時的に停止して前記同様に検査が行われ
、検査済の無数の貫通細孔を有するセラミック体（イ）
のうち合格品はこの移送装置（］）の間歇的な前進によ
り次工程に送られることとなる。
本発明は前記実施例による説明によって明らかなように
、光拡散板を備えた投光器から貫通細孔の内部に照射さ
れた略均−な光線によりスクリーンに映し出される投影
像中の明るい線状の像の有無をもって、孔径が極めて小
さくて隔壁が極めて薄いうえ相当な長さのある無数の貫
通細孔を有するセラミック体の隔壁の中間部の中切れを
適確容易に発見することができるものであり、無数の貫
通細孔を有する蜂巣状のセラミック体の中切れ検査装置
として業界にもたらす益は極めて大きいものである。
、光拡散板を備えた投光器から貫通細孔の内部に照射さ
れた略均−な光線によりスクリーンに映し出される投影
像中の明るい線状の像の有無をもって、孔径が極めて小
さくて隔壁が極めて薄いうえ相当な長さのある無数の貫
通細孔を有するセラミック体の隔壁の中間部の中切れを
適確容易に発見することができるものであり、無数の貫
通細孔を有する蜂巣状のセラミック体の中切れ検査装置
として業界にもたらす益は極めて大きいものである。
第１図は本発明の実施例を示す一部切欠平面図、第２図
はその移送装置部分の一部切欠正面図、第３図は中切れ
のない無数の貫通細孔を有するセラミック体の投影像の
１例を示す一部切欠正面図、第４図は目詰りと中切れの
ある無数の貫通細孔を有するセラミック体の投影像の１
例を示す一部切欠正面図、第５図は中切れ部分が線状の
明るい像として映し出される理由の説明図である。 （ｌｂ） ：支持体、（２）：投光器、（２ａ） ：光
拡散板、（３）ニスクリーン、（４）：判定装置、（５
）：カメラ、（イ）：無数の貫通細孔を有する蜂巣状の
セミツク体。
はその移送装置部分の一部切欠正面図、第３図は中切れ
のない無数の貫通細孔を有するセラミック体の投影像の
１例を示す一部切欠正面図、第４図は目詰りと中切れの
ある無数の貫通細孔を有するセラミック体の投影像の１
例を示す一部切欠正面図、第５図は中切れ部分が線状の
明るい像として映し出される理由の説明図である。 （ｌｂ） ：支持体、（２）：投光器、（２ａ） ：光
拡散板、（３）ニスクリーン、（４）：判定装置、（５
）：カメラ、（イ）：無数の貫通細孔を有する蜂巣状の
セミツク体。
Claims (1)
- 薄い隔壁をもって区画された無数の貫通細孔を有する蜂
巣状のセラミック体を載置する支持体（ｌｂ）と、該支
持体（１ｂ）上にある前記蜂巣状のセラミック体の一端
面から貫通細孔の内部に略均−な光線を照射する光拡散
板（２ａ）を備えた投光器（２）と、該セラミック体の
他端面に近接して設けられて前記隔壁の中間部にある中
切れを通過した光線による明るい線状の像を含むセラミ
ック体の投影像を映すスクリーン（３）と、該スクリー
ン（３）に映し出されるセラミック体の投影像を判定装
置＋４）に送るカメラ（５）とを備えたことを特徴とす
る無数の貫通細孔を有するセラミック体の中切れ検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12023884A JPS6089736A (ja) | 1984-06-12 | 1984-06-12 | 無数の貫通細孔を有するセラミツク体の中切れ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12023884A JPS6089736A (ja) | 1984-06-12 | 1984-06-12 | 無数の貫通細孔を有するセラミツク体の中切れ検査装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4827778A Division JPS54139784A (en) | 1978-04-21 | 1978-04-21 | Method and device for testing ceramic piece having innumerable through pores |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6089736A true JPS6089736A (ja) | 1985-05-20 |
| JPS6353495B2 JPS6353495B2 (ja) | 1988-10-24 |
Family
ID=14781258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12023884A Granted JPS6089736A (ja) | 1984-06-12 | 1984-06-12 | 無数の貫通細孔を有するセラミツク体の中切れ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6089736A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005274179A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Hitachi Metals Ltd | ハニカム体の検査装置 |
| KR100784854B1 (ko) | 2007-02-14 | 2007-12-14 | 한국기초과학지원연구원 | 여기광원유닛 및 이를 갖는 루미네선스 계측시스템 |
| JP2009300455A (ja) * | 2009-09-15 | 2009-12-24 | Hitachi Metals Ltd | ハニカム体の検査装置及び検査方法 |
-
1984
- 1984-06-12 JP JP12023884A patent/JPS6089736A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005274179A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Hitachi Metals Ltd | ハニカム体の検査装置 |
| KR100784854B1 (ko) | 2007-02-14 | 2007-12-14 | 한국기초과학지원연구원 | 여기광원유닛 및 이를 갖는 루미네선스 계측시스템 |
| JP2009300455A (ja) * | 2009-09-15 | 2009-12-24 | Hitachi Metals Ltd | ハニカム体の検査装置及び検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6353495B2 (ja) | 1988-10-24 |
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