JPS6252948U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6252948U JPS6252948U JP14560685U JP14560685U JPS6252948U JP S6252948 U JPS6252948 U JP S6252948U JP 14560685 U JP14560685 U JP 14560685U JP 14560685 U JP14560685 U JP 14560685U JP S6252948 U JPS6252948 U JP S6252948U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- data
- output
- test
- integrated circuit
- Prior art date
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- Granted
Links
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
第1図は本考案の一実施例における集積回路の
構成を示すブロツク図、第2図は従来の集積回路
の構成の一例を示すブロツク図である。 1……ロジツク回路、2……テスト回路、3…
…データ入力端子、3a……入力バツフア回路、
4……出力端子、4a……出力バツフア回路、6
……シフトレジスタ、7……テスト用入力端子、
7a……バツフア回路、8……選択回路、8a…
…インバータ、TD……テストデータ、CK……
シフトクロツク、SS……選択制御信号。
構成を示すブロツク図、第2図は従来の集積回路
の構成の一例を示すブロツク図である。 1……ロジツク回路、2……テスト回路、3…
…データ入力端子、3a……入力バツフア回路、
4……出力端子、4a……出力バツフア回路、6
……シフトレジスタ、7……テスト用入力端子、
7a……バツフア回路、8……選択回路、8a…
…インバータ、TD……テストデータ、CK……
シフトクロツク、SS……選択制御信号。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 集積回路本体およびそのテスト回路をパツ
ケージ内に収容した集積回路において、テスト用
データを直並列変換して前記テスト回路に供給す
る直並列変換回路と、この直並列変換回路にテス
ト用データおよびそのシフトクロツクをそれぞれ
供給するテスト入力端子と、前記集積回路本体の
データ入力端子から入力回路を経て入力されたデ
ータおよび集積回路本体の出力データを択一的に
選択して出力回路を経て出力端子へ出力する選択
回路とを具備したことを特徴とする集積回路。 (2) 選択回路は、直並列変換回路の並列出力の
うちの特定のビツトを選択制御信号として入力し
て出力回路へ出力するデータの選択を行なうもの
である実用新案新案登録請求の範囲第(1)項記載
の集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985145606U JPH056669Y2 (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985145606U JPH056669Y2 (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6252948U true JPS6252948U (ja) | 1987-04-02 |
JPH056669Y2 JPH056669Y2 (ja) | 1993-02-19 |
Family
ID=31057301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985145606U Expired - Lifetime JPH056669Y2 (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH056669Y2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011220881A (ja) * | 2010-04-12 | 2011-11-04 | Kawasaki Microelectronics Inc | 半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57210640A (en) * | 1981-06-18 | 1982-12-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Large scale integrated circuit |
JPS60169147A (ja) * | 1984-02-13 | 1985-09-02 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
-
1985
- 1985-09-24 JP JP1985145606U patent/JPH056669Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57210640A (en) * | 1981-06-18 | 1982-12-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Large scale integrated circuit |
JPS60169147A (ja) * | 1984-02-13 | 1985-09-02 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011220881A (ja) * | 2010-04-12 | 2011-11-04 | Kawasaki Microelectronics Inc | 半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH056669Y2 (ja) | 1993-02-19 |
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