JPS6249742B2 - - Google Patents
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- JPS6249742B2 JPS6249742B2 JP53126247A JP12624778A JPS6249742B2 JP S6249742 B2 JPS6249742 B2 JP S6249742B2 JP 53126247 A JP53126247 A JP 53126247A JP 12624778 A JP12624778 A JP 12624778A JP S6249742 B2 JPS6249742 B2 JP S6249742B2
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- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 18
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 18
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
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- H01L24/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はリードフレームを使用したレジン封止
半導体装置の製法に関する。
半導体装置の製法に関する。
リードフレームを使用したレジン封止半導体装
置は、第1図に示すように、タブ11及びその周
囲に配置されそれから遠ざかる方向に延びる複数
個のリード片12からなるリードフレーム1と、
タブ11上に載置固着された所定機能を有する半
導体ペレツト2と、半導体ペレツト2とリード片
12のタブ11側とを接続するボンデイングワイ
ヤ3と、タブ11、リード片12のタブ側、半導
体ペレツト2、及びボンデイングワイヤ3を一体
に被覆するレジン封止部材4とから構成されてい
る。最近部品数の低減、作業性の向上及び製造設
備の利用率向上等の点から各種の標準化が進めら
れている。リードフレームについてもあらゆる機
種、仕様の半導体装置に適用できるように標準化
が図られている。リードフレームの標準化に伴な
いタブ面積の増大及びタブ下げ(図面で示すよう
にリード片の位置より下方側に位置する)が行な
われている。しかし、タブの面積が広くなると、
レジンモールドの際にレジンモールドキヤビテイ
内ではタブの上側と下側のレジンが混り合わなく
なり、タブの上側の流体抵抗の小さい側のレジン
が矢印で示すように下側に回り込みタブの下側に
おいてボイド5を発生しやすくなる。ボイドの発
生は熱放散効率の低下及び電気特性の低下等の原
因となり好ましくない。
置は、第1図に示すように、タブ11及びその周
囲に配置されそれから遠ざかる方向に延びる複数
個のリード片12からなるリードフレーム1と、
タブ11上に載置固着された所定機能を有する半
導体ペレツト2と、半導体ペレツト2とリード片
12のタブ11側とを接続するボンデイングワイ
ヤ3と、タブ11、リード片12のタブ側、半導
体ペレツト2、及びボンデイングワイヤ3を一体
に被覆するレジン封止部材4とから構成されてい
る。最近部品数の低減、作業性の向上及び製造設
備の利用率向上等の点から各種の標準化が進めら
れている。リードフレームについてもあらゆる機
種、仕様の半導体装置に適用できるように標準化
が図られている。リードフレームの標準化に伴な
いタブ面積の増大及びタブ下げ(図面で示すよう
にリード片の位置より下方側に位置する)が行な
われている。しかし、タブの面積が広くなると、
レジンモールドの際にレジンモールドキヤビテイ
内ではタブの上側と下側のレジンが混り合わなく
なり、タブの上側の流体抵抗の小さい側のレジン
が矢印で示すように下側に回り込みタブの下側に
おいてボイド5を発生しやすくなる。ボイドの発
生は熱放散効率の低下及び電気特性の低下等の原
因となり好ましくない。
本願発明の目的はレジンモールド時にタブに対
するペレツトの位置ずれに関係なくボイドの発生
を未然に防止し得るリードフレーム構造を具備す
るレジン封止半導体装置の製法を提供することに
ある。かかる目的を達する本発明レジン封止半導
体装置の特徴とするところは、タブに半導体ペレ
ツト側から反対側に貫通する穴を設けた点にあ
る。この穴はタブの全面に亘つて均一な密度で設
けるのが望ましい。
するペレツトの位置ずれに関係なくボイドの発生
を未然に防止し得るリードフレーム構造を具備す
るレジン封止半導体装置の製法を提供することに
ある。かかる目的を達する本発明レジン封止半導
体装置の特徴とするところは、タブに半導体ペレ
ツト側から反対側に貫通する穴を設けた点にあ
る。この穴はタブの全面に亘つて均一な密度で設
けるのが望ましい。
以下本発明の実施例を第2図により詳細に説明
する。第2図において、1,11,12,2,
3,及び4、は第1図と同様に、リードフレー
ム、タブ、リード片、半導体ペレツト、ボンデイ
ングワイヤ及びレジン封止部材をそれぞれ示して
いる。11aはタブ11を半導体ペレツト2側か
ら反対側へ貫通する複数個の穴である。このよう
にタブ11に穴11aを形成すれば、レジンモー
ルドの際にレジンモールドキヤビテイ内において
タブ11の上側のレジンと下側のそれとの混り合
いが矢印の如く穴を通じて良好になり、第1図に
示す従来構造に比較してボイドの発生が低減でき
る。更に、レジンモールドの際のタブ位置の変動
も防止できる効果がある。
する。第2図において、1,11,12,2,
3,及び4、は第1図と同様に、リードフレー
ム、タブ、リード片、半導体ペレツト、ボンデイ
ングワイヤ及びレジン封止部材をそれぞれ示して
いる。11aはタブ11を半導体ペレツト2側か
ら反対側へ貫通する複数個の穴である。このよう
にタブ11に穴11aを形成すれば、レジンモー
ルドの際にレジンモールドキヤビテイ内において
タブ11の上側のレジンと下側のそれとの混り合
いが矢印の如く穴を通じて良好になり、第1図に
示す従来構造に比較してボイドの発生が低減でき
る。更に、レジンモールドの際のタブ位置の変動
も防止できる効果がある。
本願発明によれば、タブの全面に均一に貫通穴
が設けられている為、半導体ペレツトをタブに載
置固着する際に半導体ペレツトがずれても所定の
数の穴を確保できるという効果があります。
が設けられている為、半導体ペレツトをタブに載
置固着する際に半導体ペレツトがずれても所定の
数の穴を確保できるという効果があります。
また、タブの全面に均一に貫通穴が設けられて
いる為、タブの面積が実質的に小となり、レジン
封止後のタブ、ペレツト、樹脂との熱膨張係数の
差が緩和され、又、均一に貫通穴が設けられてい
るため、タブの収縮がタブ全面にわたつて均一で
あるため、クラツクの発生が減少するという効果
があります。
いる為、タブの面積が実質的に小となり、レジン
封止後のタブ、ペレツト、樹脂との熱膨張係数の
差が緩和され、又、均一に貫通穴が設けられてい
るため、タブの収縮がタブ全面にわたつて均一で
あるため、クラツクの発生が減少するという効果
があります。
また、レジン封止後は、タブの穴内にレジンが
入り込んでいるためタブとレジンとの密着性が向
上するという効果がある。
入り込んでいるためタブとレジンとの密着性が向
上するという効果がある。
以上は本発明を一実施例について説明したが、
本発明はこれに限定されることなく種々の変形が
可能である。
本発明はこれに限定されることなく種々の変形が
可能である。
第1図は従来のレジン封止半導体装置を示す概
略断面図、第2図は本発明レジン封止半導体装置
を示す概略断面図である。 1……リードフレーム、2……半導体ペレツ
ト、4……レジン封止部材、11……タブ、11
a……穴、12……リード片。
略断面図、第2図は本発明レジン封止半導体装置
を示す概略断面図である。 1……リードフレーム、2……半導体ペレツ
ト、4……レジン封止部材、11……タブ、11
a……穴、12……リード片。
Claims (1)
- 1 全面に均一に貫通穴が設けられたタブの所定
の領域に半導体ペレツトを載置固着する工程と、
前記半導体ペレツトとリード片のタブ側とをボン
デイングワイヤで接続する工程と、前記タブ、前
記リード片のタブ側、前記半導体ペレツト及び前
記ボンデイングワイヤを一体にレジンで被覆する
工程とからなることを特徴とするレジン封止半導
体装置の製法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12624778A JPS5553450A (en) | 1978-10-16 | 1978-10-16 | Semiconductor device with resin enclosure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12624778A JPS5553450A (en) | 1978-10-16 | 1978-10-16 | Semiconductor device with resin enclosure |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5553450A JPS5553450A (en) | 1980-04-18 |
JPS6249742B2 true JPS6249742B2 (ja) | 1987-10-21 |
Family
ID=14930433
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12624778A Granted JPS5553450A (en) | 1978-10-16 | 1978-10-16 | Semiconductor device with resin enclosure |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5553450A (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5371411A (en) * | 1980-09-01 | 1994-12-06 | Hitachi, Ltd. | Resin molded type semiconductor device having a conductor film |
JPS5745259A (en) * | 1980-09-01 | 1982-03-15 | Hitachi Ltd | Resin sealing type semiconductor device |
US4556896A (en) * | 1982-08-30 | 1985-12-03 | International Rectifier Corporation | Lead frame structure |
JPS6068639A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-04-19 | Toshiba Corp | 樹脂封止型半導体装置 |
JPS619840U (ja) * | 1984-02-24 | 1986-01-21 | 新電元工業株式会社 | 樹脂封止型半導体装置 |
JPS6280342U (ja) * | 1985-11-08 | 1987-05-22 | ||
JPS6329956U (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-27 | ||
US4884124A (en) * | 1986-08-19 | 1989-11-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Resin-encapsulated semiconductor device |
US4942454A (en) * | 1987-08-05 | 1990-07-17 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Resin sealed semiconductor device |
JP3170182B2 (ja) * | 1995-08-15 | 2001-05-28 | 株式会社東芝 | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法 |
JP3034814B2 (ja) * | 1997-02-27 | 2000-04-17 | 沖電気工業株式会社 | リードフレーム構造及び半導体装置の製造方法 |
US6794740B1 (en) * | 2003-03-13 | 2004-09-21 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe package for semiconductor devices |
-
1978
- 1978-10-16 JP JP12624778A patent/JPS5553450A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5553450A (en) | 1980-04-18 |
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