JPS6246928A - モ−ルド容器の検査および選別方法及び装置 - Google Patents

モ−ルド容器の検査および選別方法及び装置

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JPS6246928A
JPS6246928A JP61164884A JP16488486A JPS6246928A JP S6246928 A JPS6246928 A JP S6246928A JP 61164884 A JP61164884 A JP 61164884A JP 16488486 A JP16488486 A JP 16488486A JP S6246928 A JPS6246928 A JP S6246928A
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  • Multi-Process Working Machines And Systems (AREA)
  • Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はモールドされた容器の検査に関し、特にモール
ド金型を基本としたガラスびんのような容器の完全に自
動化された検査及び選別装置及び方法に関する。
（従来の技術） ガラスびんのようなモールドされた容器の欠陥はしばし
ば金型の欠陥に関係している。そのため複数の金型を有
する自動化された製造には特定のモールド容器をその金
型で確認し容器の欠陥を金型に関連づけて修理または交
換の用に供することのできる能力をもつことが望ましい
。例えばガラスびん製造用の自動化装置では、個別セク
ションと呼ばれるいわゆるＩｓ装置は複数の金型とガラ
ス塊を次々に配置された金型に送って吹くことにより容
器をつくるための自動化された装置を含んでいる。吹か
れた容器は次に適当なコンベア装置により焼戻し領域に
送られて焼戻され、そしてその後にいわゆるコールドエ
ンドに送られて出荷のだめの容器の梱包前に検査と選別
が行われる。モールディングと検査の間の処理の遅れを
考慮すると、スクラップを減らずために９期に潜在的な
欠陥金型を確認することが望ましい。同様に適正操作を
保証するために金型が交換あるいは修理された後にその
金型からの容器をｍ密に検査することが望ましい。
米国特許第４．４１３，７３８号は側壁と仕上げ欠陥に
ついてのモールド容器の１００％検査のための、そして
欠陥とされた金型からめ容器を自動的に選別するための
システムを開示している。
夫々の容器はその側壁と仕上げの自動化された光学的検
査のために複数の多段検査装置の１個を通るように方向
づけられる。これら検査装置の主たるものは夫々の容器
に鋳込まれたコードを読取りそれによりその装置を通過
する容器を金型に関係付けるための自動金型検査装賀を
含みあるいはそれと関連づけられている。仕上げ製品コ
ンピュータがこの主検査装置を通るびんの欠陥を欠陥金
型に相関させる。すべての容器は次に第２の金型確認装
置を通るように方向づけられ、そこで仕上げ製品コンピ
ュータにより欠陥とされた金型からつくられる容器が区
分けされて排除される。
（発明が解決しようとする問題点） この米国特許に示される検査システムは商業的にかなり
成功し且つ動作が経済的であるが、更に自動化が望まれ
ている。例えばこのシステムには組込まれていない容器
の容積、壁厚及び圧力テストのようなサンプリングされ
たものについて行われねばならない容器テストがある。
現在これらテストを行うには手動的に容器をサンプリン
グする必要があるが、容器の金型について自動化サンプ
リングにもとづきそのようなテストを行うことが望まし
い。更に望ましい特徴としては欠陥金型の修理または交
換のため、手動または自動化プロセ。
スでホットエンドにおいて容易に採用できるように欠陥
金型情報を明確且つ迅速に与えることである。本発明の
目的は従来技術に対し上記の望ましい改善を実現するモ
ールド容器の検査装置および方法を提供することである
。
本発明の他の目的は側壁および仕上げ欠陥についてモー
ルドされる容器の１００％検査のためおよび金型にもと
づく耐圧、壁厚、内ａ積等についての容器の自動化され
たサンプリング検査のための完全自動化された装置およ
び方法を提供することである。
更に他の目的は疑わしい金型の追跡および／または新し
いまたは修理された金型の迅速な保証のため、金型の確
認の関数としてサンプリングされた検査テストのサンプ
リング速度を変化させる能力を有する上記の特徴をもつ
装置と方法を提供することである。
（問題点を解決するための手段） 本発明はモールド金型にもとづきガラスびんのようなモ
ールドされる容器の検査と選別のための完全に自動化さ
れた装置および方法を提供する。
相互に接続したコンピュータ組織が装置の種々の部分お
よびステーションから金型とテストの情報を受けて予定
の品質基準にもとづき選別とサンプリングのプロセスを
制御する。
（作　用） 本装置の第１部分においては仕上げられた容器が側壁と
仕上げの欠゛陥のような欠陥についての１００％検査の
ために複数の検査ステーションの１個を通して運ばれる
。そのような検査ステーションの少なくとも１個が欠陥
容器と欠陥を金型に関連づけるための関連サンプル金型
確認装置を有する、欠陥および金型確認情報は仕上がり
製品コンピュータに送られ、それがすべての容器を運ぶ
第２の制御金型検査装置を制御する。欠陥とされた金型
からの容器は自動的に選別されて排除される。
第２の部分は金型品質コンピュータによりｉ制御され且
つ洗滌されたサンプル容置を受けるために制御金型確認
装置に接続される自動サンプリング指示器を含んでいる
。金型品質コンピュータは同じく仕上がり製品コンピュ
ータにも接続されて制御金型確認装置での選ばれたサン
プリングを管理できるようになっている。このように最
終容器は関連する金型確認にもとづくテストのために選
択的且つ自動的にサンプリングされる。自動サンプリン
グ指示器は自動容積、厚さおよび傾斜または圧力テスト
ステーションのような複数の自動化された品質−１スト
スデーシヨンに、またはそれを通してサンプリングされ
た容器を運び、そして欠陥とされた容器の金型確認が追
跡されて金型品質コンビコークで認識される。またこの
サンプリング指示器は必要であれば容器を選択的に目視
検査ステーシコンあるいは排除ステーションに送る。す
べての非破壊テストを通ったサンプリングされた容器は
主コンベアにもどされる。
金型マツプは金型品質コンピュータに保持され、これが
金型確認を個々の部分またはＩｓ形成機内の物理的位置
に関係付ける。マツプに現れない金型からの容器は新し
い金型の品質の保証のために予め選ばれた数の容器につ
いて１００％のサンプリングを受ける。同様に、金型品
質コンピュータは、欠陥とされた金型の確認または再保
証のためにそのような金型からの容器のサンプリングを
制御する。このように金型品質情報は連続的且つ自動的
に維持されそして更新されて要求に応じてオペレータに
供される。
ガラス容器製造用の全自動プラントでは多数の仕上がり
製品検査ラインの夫々について金型品質コンピュータが
すべての金型品質情報の収集と調達のためにコールドエ
ンド管理コンピュータに接続される。コールドエンド管
理コンピュータはこのプラントのホットエンドまたは成
形部内の対応する管理コンピュータに接続してそこに金
型品質情報を送りまたそこから種々の品質制御コンピュ
ータ内の金型マツプの更新用の情報を得るようになって
いる。コールドエンドおよびホットエンド管理コンピュ
ータも制御システムまたはマスタープラント管理コンピ
ュータに接続される。
（実施例） 第１図において、ガラスびんのような容器は従来周知の
個々の部分あるいはＩｓガラス成形機（図示せず）内の
生産金型２０内で形成される。
各金型は、容器をその金型に関連づけるために読゛取可
能な固有の確認コードをそこでモールドされた容器に付
ず。これら容器は、一般に強度を増し所望の仕上り特性
を加えるために成形された容器を過熱し冷却する複数の
温度領域を含む焼戻し装置２２に送られる。装置２２を
出た容器ｔよ検査と梱包を可能にするべく充分に冷却さ
れている。装置２２はこのように容器生産設備の検査と
梱包が行われるいわゆるコールドエンドからいわゆるホ
ットエンドを分離している。
装置２２を出た容器はコンベア通路２４に沿ってランダ
ムに多段平行検査ループ２６．２８゜３０に送られる。
検査ルー１２６はいわゆる主検査ループであって受は入
れた容器の個数を８１数するためのカウンタ３２を含ん
でいる。インパクトシミュレータづなわちＩ　’ＣＫ　
３４はカウンタ３２からの容器を受けてその側壁周辺の
一部に圧力を加えることにより構造的欠陥、基本的な側
壁欠陥についてその容器をテストする。容器はＩＣＫ’
３４から金型検査装置すなわちＣＩＤ３６に送られ、Ｃ
ＩＤ３６が検査ループ２６を通る容器上のコード１＜１
わノ５指標を読取り夫々の容器をその金型にｌＩｌ連づ
ける。容器は次に多段仕上り製品検査すなわらＦＰＩ装
置３８を通されて、そこで側壁および仕上げ欠陥、直径
および高さの変動、偏心度等につき検査される。検査さ
れた容器はコンベア／ＩＯに送られる。第２検査ループ
２８．３０はカウンタ３２ａ、３２ｂ１インパクトシミ
ユレータ３４ａ、３４ｂおよび仕上り製品多段検査装行
３８ａ、３８ｂを夫々含んでいる。ＦＰＩ３８ａ。
３８ｂを出た容器はコンベア４０に送られる。カウンタ
３２，３２ａ、３２ｂ、ＦＰＩ３８゜３８ａ、３８ｂお
よびＣＩＤ３６はすべて欠陥データの分析とその金型と
の相関づけのために仕上り製品コンピュータすなわちＦ
ＰＣ４２に接続される。制御金型検査装置すなわちＣＩ
Ｄ４４はコンベア４０によりそこに送られたすべての容
器上の金型コードを受けて読取る。０１０４４はＦＰＣ
４２に接続されて欠陥金型を示す制御情報を受けそして
対応する金型コードを有するすべての容器を廃棄ステー
ション４６に送る。
一般に装置２２を出た容器は第１検査ループ２６と第２
検査ループ２８．３０にランダムに送られるから、すべ
ての検査ループで認められる金型欠陥は第１ルー１２６
で得られた欠陥情報と同様に金型に関連づけられると考
えることが出来る。
このようにＣＩＤ３６により読取られてＦＰＣ４２に送
られる金型コードはＦＰＣ４２においてカウンタ３２，
３２ａ、３２ｂからのサンプリング情報にもとづいてＦ
ＰＩ３８．３８ａ、３８ｂから入る欠陥情報と相関づけ
られる。欠陥金型がＦＰＣ４２で確認されると、対応す
る゛金型コードがＣＩＤ４４に送られ、そのコードを有
するすべての容器が排除される。インパクトシミュレー
タ３４．３４ａ、３４ｔｌ）側は米国特許第３，９９１
．６０８号に示されている。多段仕上り製品検査装ｆｆ
１３Ｂ、３８ａ、３８ｂは米国特許第３，３１３．４０
９弓および同第３．７５７．９４０号に示されている。
更に、米国特許出願用４２４゜６８７号（出願臼１９８
２年９月２７日）および同第６０２，８６２号（出願臼
１９８４年４月２３日）は容器の側壁欠陥を確認するた
めの光学的方法および装置を示しており、これはそのよ
うな仕上り製品検査装置に組込むことができる。同様に
米国特許第４７３．２８５号（出願臼１９８３年３月８
日）および同第７５６．５３９号（出願臼１９８５年７
月１９日）はガラス容器の仕上りの光学的検査方法およ
び装置を示しており、これらは同様に本装置に組込み可
能である。米国特許第４．１７５．２１９号および第４
，２３０゜２６６号は容器の底にモールドされたリング
の関数として印刷された金型指標を読取るための金型検
査装置またはＣＩＤを示している。また米国特許出願用
７２０，３３６号（出願臼１９８５年４月５日）は容器
の金型を容器の下部のまわりにアレイとして伸びる一連
の突出部で示される容器コードを読取ることにより確認
するようになった金。
型検査装置を示している。ＦＰＣ４２、ＣＩＤ４４およ
び検査ループ２６．２８．３０の上述のような組合せが
米国特許第４．４１３．７３８号に示されている。その
ような米１月特許および米国特許出願のすべては本出願
人によるものである。
本発明によれば、自動サンプリング指示器またはＡＳＩ
５０はＣＩＤ４４から容器を選択的に受けそしてそのよ
うな容器を複数の物理的検査ステーションの内で指示す
るため星型型または他の適当なコンベア５２を含んでい
る。例えばそのようなステーションは選ばれた金型から
サンプリングされた容器をプラント側の品質制御オペレ
ータによる物理的検査のために保持する選択ステーショ
ン５４を含むことができる。自動厚さテスタすなわち、
ＡＴＴ５６がＡＳＩコンベア５２に接続してサンプリン
グされた容器の壁厚の検査を行う。
自動傾斜テスタづ゛なわちＡＲＴ５８は同様にＡｓ■コ
ンベア５２に接続して洗滌されたサンプル容器の内部破
裂圧を測定する。ＡＲＴ５８は容器を仕上りまで固定し
保持する４セクシヨン装置であるとよい。仕上げクラン
プには容器の損傷を防ぐために非金属の交換可能なイン
サートを用いる。
容器には水があふれるまで入れられて１分間当り４サン
プルの割合で破壊テストのために静水圧が加えられる。
破壊しなかった容器およびガラスの破片は集積システム
へと流される。自動集積テストすなわちＡＶＴステーシ
ョン６０ではコンベア５２上のサンプリンタされた容器
の内容積がテストされる。コンベア５２上の欠陥容器は
排除ステーション６２に送られ、またすべての非破壊テ
ストを通った容器は制御ＣＴＤ４４の下流のコンベア４
０にもどされる。第１図の物理的テストステーション５
６，５８．６０はコンベア５２の周辺のテストおよび選
択ステーションと共に例であるにすぎない。
金型品質コンピュータすなわちＣＱＣ６４はＡＴＴ５６
から厚さテスト情報を、ＡＲＴ５８から破裂圧情報を、
モしてＡＶＴ６０から容積テスト情報を受け、ＡＳＩ５
０の動作を制御して種々のテストステーション内のサン
プリングされた容器を指示する。ＣＱＣ６４はＦＰＣ４
２に接続してそこなら検査情報を受けてＣＩＤ４４を金
型コードの関数としてサンプリングされたものにもとづ
きＡＳＩ５０に選択的に容器を送るようにする。
このように、仕上り容器はｌＮする金型確認にもとづき
ＡＳＩ５０においてテストのために自動的にサンプリン
グされそしてＡＳＩ５０で欠陥とされた容器の金型が追
跡されてＣＱＣ６４に知らされる。Δ３１５０から選択
ステーション５４と排除ステーション６２へのサンプリ
ングされた容器の方向づけは同じ＜ＣＱＣ６４により制
御される。
ＣＱＣ６４はオペレータのＣＲＴ６６に接続されてオペ
レータに制御情報を表示し、プリンタ６８に接続されて
適当な品質レボ−・トを用意し、オペレータキーボード
７０に接続されて金型情報および適当な制御インストラ
クションを受ける。
本発明の重要な特徴によれば、検査制御のためにＣＱＣ
６４に記憶されそれにより利用される情報の内、金型を
番号により金型位置とＩｓ成形機のセクションに関係付
ける情報マツプまたはテーブルが与えられる。この金型
マツプは特定の金型に関係づけるばかりでなくＩＳｍ械
のセクションまで追跡することのできる方向を確認する
のに有用である。マツプにない金型からの容器は新しい
金型の品質を証明するための予め選ばれた数の容器にわ
たりＣＩＤ４４での１００％サンプリングのために自動
的にフラグをつける。同様に新しい金型の情報はキーボ
ード７０により与えることができる。ＣＱＣ６４はサン
プリングにより、欠陥とされた金型を含むすべての金型
からの容器の選択を制御して修理または交換後のそのよ
うな金型の品質の確認または再証明を可能にする。この
ように金型品質情報は連続的且つ自動的に維持されて更
新され、要求によりオペレータに供される。
第２図は第１図の検査装δの、多段成形および検査ライ
ンを含む容器の完全自動製造プラントへの組込みを示し
ている。ＣＱＣ６４は他の検査′ラインからのＣ３Ｃ６
４ａ〜５４ｎと共にコールドエンド管理コンピュータす
なわちＣ３Ｃ７２に接続される。成形（ホットエンド）
管理コンピュータ７４はコールドエンド管理コンピュー
タ７２と相互接続してそれらの間の情報の自動転送を可
能にすると共に、種々の成形ラインでの容器成形プロセ
スのモニタと制御用に接続される（図示せず）。ＦＳＣ
７４とＣ３Ｃ７２はマスタブラントυｌ１１１システム
管理コンビ１−タ寸なわちｃｓｓｃ７６に接続する。Ｃ
３Ｃ７２は生産データの文書記録装置を含み、金型マツ
プ情報を含む情報をＣ３Ｃ６４ａ〜６，４ｎの夫々に伝
達する。このように、第２図の全自動システムにおいて
はＣＲＴ６６、プリンタ６８およびキーボード７０がＣ
３Ｃ７２またはＣ３ＳＣ７６に接続する。
第３〜１０図は第１図のシステムにおけるＣＱＣ６４の
動作を示すフローチャートであり、ここではＡｓ　Ｉ　
５０はＡＲＴ５８のみを含んでいる。
第３図は主動作プログラムを示す。スタートにより、デ
ーラストラクチ１ア、インターラブドおよび他の機能が
動作準備のために開始される。このプログラムは次に事
象すなわちインターラブドの検出に対して待機し、そし
て事象が検出されると適正なインターラブドサブルーチ
ンを確認し実行する。キーボード７０からのインターラ
ブ］〜が入れば、対応するキーボード機能が実行されて
情報を記憶し、あるいはキーボードのオペレータにＪ：
り希望されるコマンドを入れる。このプログラムの他の
部分からのソフトウェアインターラブドにより対応する
ソフトウェア要求の実行が行われる。
キーボードおよびソフトウェアインターラブド動作は従
来の通りである。ハードウエアインターシフトが検出さ
れると、プログラムはそのようなインターラブドが内部
クロック、ＡＲＴ５８への入力、ＡＲＴデータ出力また
は制御ＣＩＤ４４のいずれに発生したかを決定し、そし
て夫々用４．６．７．８図の適当な対応するサブルーチ
ンを実行する。そのようなハードウェアナブル−チンの
完了により、あるいはハードウエアインターラブトが検
出されない場合に、動作はプログラムが事象の検出をモ
ニタする点までもどる。第３図にはインターラブドが直
列的に示されているが、そのようなインターラブドは優
先順に駆動されるのであり動作の任意の時点で取扱うこ
とができる。
第４図はクロックプログラムサブルーチンの動作を示し
ており、これに第３図の主ルーチン内のクロックハード
ウエアインターシフトの検出時に動作が分かれる。ＣＱ
Ｃ６４はまずその内部クロックとカレンダを更新し、ぞ
して内部クロック時間がプラントシフト変化に対応する
かどうかを決定する。対応すれば動作は第５図のシフ］
・変化サブルーチンに分かれる。テストはこのとき自動
テス１へ動作モードがオペレータキーボード７０で選択
されているかどうかを決定するためになされる。
選択されていなければ動作は第５図の主ルーチンにもど
る。他方、自動テストモードが選択されていればテスト
スケジュールタイマが減時を行いそして例えば３０分程
度である自動テスト時間が経過したかどうかを決定する
ためにテストされる。
経過していれば、第９図の自動テストシーケンスプログ
ラムが実行されそして動作は第５図の主ルーチンにもど
る。他方、経過していなければ、動作は単に主ルーチン
にもどる。
第５図はシフト変化サブルーチンの動作を示す。
プラントシフト変化が第４図のクロックルーチン内に示
されると、ＣＱＣ６４（第４図）に記憶されたすべての
品質情報がまずハードディスク磁気テープあるいは他の
同様のものに永久的に記憶される。金型マツプデータの
ようなシステムデータは次に記憶されたものから更新さ
れて、次のシフト中の動作を反映する。前のシフト中の
システム動作のリポートはプリンタ６８（第１図）で準
備され、そしてすべての前のシフトデータがメモリから
消去される。シフト変化サブルーチンの動作はこのとき
終了する。
第６図はＡＲＴ入カアカプログラム動作しており、ＡＲ
Ｔ入力インターラプトが第３図の主プログラム中検出さ
れて容器がＡＲＴ５８　（第１図）に入ったことを示す
場合に動作がこれに分かれる。
ＡＲＴ５８に接続づるＣＱＣ人カチャンネルの金型確認
データは読取られて、ＡＲＴ５８にそのようにして入る
容器がデス１〜装置で期待されている容器に対応するか
どうかを決定する。容器が期待されたものではないとき
、動作は第５図の主ルーチンにもどる。他方、それがＣ
ＱＣ６４によるサンプリング用に選ばれたものに対応す
るものであれば、容器のテストパラメータはＡ　ＲＴ　
５８にもどされる。動作は次に第５図の主ルーチンにも
どり、圧力テストがＡＲＴで行われる。第７図はＡＲＴ
出カル−チンの動作を示しており、ＡＲＴ出力インター
ラストが第３図の主ルーチン内で検出されたとき、すな
わち、ＡＲＴでの容器のテストの完了後にそれに動作が
分かれる。容器の金型コードと対応する破裂圧力を示す
ＣＱＣ６４へのＡＲＴ５８　（第１図）の出力チレンネ
ル上のデータは読取られて記憶され、インターラブドが
宣言されてω」作が第３図の主ルーチンにもどる。
第８図は制御ＣＩＤ／１４（第１図）からインターラブ
ドが入る場合のＣＩＤインターラブドサブルーチン動作
を示す。まず、金型データが読取られ、そしてそのよう
に指示された金型がＡＳＩ５０でのテストのためのサン
プル−セレクトであるものかどうかの決定がなされる。
そうでない場合には金型コードが第１検査ルー１２６で
欠陥容器をつり出すものと認められたものであるかどう
かについての決定がなされる。もしそうであれば対応す
る排除コードがＦＰＣ４２を通じて！１１　ｆｉｔ　Ｃ
ＩＤ４４に移され、ｃＩＤ４／ｌが容器を排除ステ−シ
ョン４６へと向けるように機能する。他方、もし問題の
金型がＡＳＩ５０でのサンプルテスト用に選ばれたもの
であれば、対応するコードがＦＰＣ４２を通じてＣＩＤ
４４に移されてその容器がＡＳＩコンベア５２に送られ
る。その金型コードはサンプルテストの完了後の参照用
に記憶されて事象が宣言される。ＣＩＤ４４からインタ
ーラブドが入ったときは常にＣＩＤ４４での容器の金型
コードが動作中の金型マツプに含められそして動作が第
３図の主ルーチンにもどる。
第９図は、自動テストモードがキーボード７０（第１図
）で選択されており且つ自動テストスケジュールタイマ
の時限が経過した場合に第４図から入る自動テストシー
ケンスルーチンの動作を示す。自動テストルーチンまた
はプログラムにおいて、ＣＯＣＯ２はまず、自動セット
アウトモードがオペレータキーボード７０で選択されて
いるかどうかを決定する。選択されていれば制御ＣＩＤ
４４はＦＰＣ４２によりモニタされ、そして夫々の金型
からの１個の容器サンプルが品質制御を行う者による目
視検査のために自動的に選択ステーション５４に向Ｇノ
られる。この自動セットアウトルーチンの完了により、
あるいは自動セラ１−アウトが選択されていない場合に
、通常のテストシーケンスが開始されて正規テストイン
ジケータがセットされる。この通常テストシーケンスで
は、夫々の金型からの１個のサンプル容器、すなわら、
金型マツプ内の夫々のコードを有する１個の容器がＣＩ
Ｄ４４により自動的にＡＲＴ５８に向けられて破裂圧（
第１図）についてテストされる。自動テストシーケンス
プログラムの動作はそのような通常のテストシーケンス
が完了するまでアイドリング状態となり、前述のように
その間に第６〜８図のＡＲＴ入力、ＡＲＴ出力およびＣ
ＩＤインターラブドプログラムが周期的に機能する。
夫々の金型からの１個の容器がテストされて正規のテス
トルーチンが完了したことが示された後に、１個以上の
金型からの容器を再チェックすべきかどうかにつき決定
がなされ、もしチェックすべきであれば再チエツクイン
ジケータがセットされて第１０図のＡＲＴテストサブル
ーチンが再チェックされるべき金型につき再び開始され
る。この再チェックの完了により、他の再チェックが指
示されるかどうかそして他の自動テストシーケンスの開
始前に充分な時間があるかどうかにつき決定がなされる
。もしそれ以上の再チェックが不要でありあるいは充分
な時間がない場合には第９図の自動テストシーケンスサ
ブルーチンが終了する。
第１０図はＡＲＴ自動テストプログラムの動作を示す。
まず第９図の正規のテストインジケータがセットされて
いるかどうかを決定するためのチェックが行われる。セ
ラ］・されていれば通常のテストが開始されすべての金
型コードを含む正規テストリストがつくられる。正規テ
ストインジケータがセットされておらず、再チエツクモ
ード（第９図）が示されれば、再チェックされるべき金
型ＩＤについてのリストがつくられる。いずれの場合で
もＣＩＤ４４　（第１図）はＦＰＣ４２によりＩＩ、＋
制御されてリスト（正規または再チェック）上の夫々の
金型コードを有する１個のサンプル容器を選択する。夫
々の容器はＡ　ＲＴ　５８に向けられて破裂圧テストを
受け、そしてテスト結果が金型コードの関数としてＣＯ
ＣＯ２に記憶される。このプロセスは、適用可能なリス
ト上のすべての金型コードがテストされているためある
いは自動テストシーケンスタイマ（第４図）の時限が切
れて新しい自動テストルーチンを開始すべきことを示す
から、このテストが完了するまで続けられる。
正規または再チエツクテストが完了したとき、夫々の金
型コードについてのテスト結果がＣＯＣＯ２において適
用可能なテストの目安に対して比較されて合格または不
合格のラベルづけがされる。
特に夫々の金型コードについての破裂圧は予定の標準と
比較されて破裂圧が予め選ばれたしきい値より低い場合
に不合格が指示される。これらテスト結果は記憶されそ
して再チエツクインジケータがテストされる。再チエツ
クインジケータがセットされず、正規インジケータがヒ
ツトされて正規テストルーチンが動作中である場合には
、テスト１ｔ￥を満たさなかった夫々の金型についての
金型ｌＤがＣＱＣメモリに記憶された疑わしいあるいは
欠陥金型を示す金型再チエツクリストと比較される。欠
陥金型がすでに再チエツクリストにあればテスト完了イ
ンジケータがセットされる。他方、不合格の金型がその
リストにない場合には、それが再チエツクリストに加え
られその金型コードが排除すべきものとしてラベルづけ
される。ＦＰＣ４２はこのように、その金型コード（お
よび再チエツクリスト上のすべての他のコード）を有す
るすべての容器が排除されるべきことを指示し、そして
制御ＣＩＤ４４　（第４図）がこのように金型再チエツ
クリスト上の金型からのすべての容器を排除すべくＦＰ
Ｃ４２により制御される。
第１０図の再チエツクインジケータテストがＡＲＴテス
トルーチンが第９図の再チェックサイク。
ルの部分であることを示す場合には、合格した容器につ
いての金型コードが再チエツクリストからはずされ、そ
の容器のコードが排除されるべきことを示すラベルまた
はフラグが対応して打消される。このように金型コード
はセットされた再チエツクインジケータによる再チエツ
クテストシーケンス中にのみ再チエツクリストから除去
される。
その後Ｆ　Ｐ　Ｃ４２はＣＩＯ／１４を制御して再保証
された金へ１１が再び再チエツクリストに加えられない
限りそれからの容器を通過させる。ＡＲＴテスト完了イ
ンジケータがセットされると、自動ＡＲＴテストプログ
ラムが完了する。
〔発明の効果〕
これまで述べた本発明の利点は圧力テストの目安が単純
な合格／不合格の目安よりも複雑であることである。例
えば金型の経歴により各正規テストインターバルまたは
変化するテストインターバルでのテストのために金型を
リストアツブすることができる。このように満足すべき
容器を作る金型は正規テストインターバルで再テストさ
れる必要がなく、再チエツクリスト上の金型の再保証用
により多くテスト時間を割くことができる。圧力テスト
データはＣＱＣ６４により保証され、それ故金型の再テ
ストインターバルはテストの結果並びにテストの経歴で
直接変えることができる。
ＡＶＴ６０とＡＴＴ５６　（第１図）ノｉ！ＩＩＩｍト
動作はＡＲＴ５８について詳述したラインに沿って与え
られる。ＡＶＴ６０は基準に対して大きいあるいは小さ
い内容積を有する容器に関連した金型コードを確認する
ものであり、そのようなコードはＣ１［）４４で排除す
べきとラベルづけされそしてＡＶＴ再チェックリストに
加えられる。同様にＡＴＴ５６は厚すぎまたは薄すぎる
壁厚を有する容器に関連した金型コードを確認する。こ
れに関連して、ＡＳＩ５０とＡＳＩコンベア５２はＣＱ
Ｃ６４により制御されて金型コードの関数としてサンプ
リングされた容器をＣＩＤ４４から１個以上の物理的テ
ストステーションに選択的に方向づ【Ｊる。このように
テストシーケンス中ＣＩＤ４４から入るはじめにサンプ
リングされた容器はＡＴＴ５６へ、第２はＡＶＴ６０へ
と、容器がＣＩＤ４４に入りサンプリングされるシーケ
ンスおよび金型コードがある再チエツクリストによりＡ
ＴＴ５６と／１Ｔ５８等をバイパスしながら送られる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例によるモールド容器の検査と
選別のための自動化システムを示す概略図、第２図は′
第１図の実施例の変更例の部分的機能ブロック図、第３
図、第４図、第５図、第６図、第７＠、第８図、第９図
および第１０図は第１図の金型品質コンピュータの動作
を示すフローチャートである。 ２０・・・モー・ルド金型、２２・・・焼戻し装置、２
４・・・コンベア通路、２６．２８．３０・・・検査ル
ープ、３２・・・カウンタ、３４・・・インパクトシミ
ュレータ（ＩＣＫ）、３６・・・金型検査装Ｖ３（ＣＩ
Ｄ）、４０．５２・・・コンベア、３Ｂ・・・仕上り製
品検査装￥７（ＦＰＩ）、４２・・・仕上り製品コンピ
ュータ（ＦＰＣ）、４４・・・制御金型検査装δ（ＣＩ
Ｄ）、４６．６２・・・排除ステーション、５０・・・
自動サンプリング指示ｆｆ１（ＡＳり、５４・・・セレ
クトステーション、５６・・・自動厚みテスタ（ＡＴＴ
）、５８・・・自動傾斜テスタ（ΔＲＴ）、６０・・・
自動容積テスト（ＡＶＴ）、６４・・・金型品質コンピ
ュータ（ＣＱ、Ｃ）、７０・・・キーボード、７２・・
・コールドエンド管理コンピュータ（Ｃ８Ｃ）、７４・
・・ホットエンド管理コンピュータ（ＥＳＣ）、７６・
・・マスタプラント制御システム管理コンピュータ（Ｃ
８ＳＣ）、６６・・・ＣＲＴ。 ６８・・・プリンタ。 出願人代理人　　佐　　藤　　−雄 ２０−／７７”ｏ７ノｔ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、予定の通路に沿つて容器を運ぶための第１コンベア
    装置と、この通路を動く容器を検査し欠陥容器の金型を
    確認するためにこの通路内に配置される検査装置と、上
    記通路内を動く容器上の金型を示す読取可能な指標を読
    取り金型確認の制御可能な関数として通路から容器を選
    択的に選別するために上記通路に配置される金型確認装
    置と、欠陥容器の金型を示す情報を受けるために上記検
    査装置に、また容器を選別すべく上記金型確認装置を選
    択的に制御するために上記金型確認装置に結合する第１
    制御装置と、サンプリングされた容器を受けるために上
    記金型確認装置に接続する第２コンベア装置及びサンプ
    リングされた容器の物理的品質を自動的にテストし欠陥
    をもつサンプリングされた容器の金型を確認するための
    上記第２コンベアに接続する装置を含むサンプルテスト
    装置と、上記サンプルテスト装置に、上記第１制御装置
    を介して上記金型確認装置に接続して上記通路から夫々
    の金型の容器の内の予め選ばれたサンプルを自動的に選
    別し選別された容器を上記サンプルテスト装置に方向づ
    けるための第２制御装置と、から成る、金型を示す読取
    り可能な指標を有するモールドされた容器の検査及び選
    別装置。 ２、前記サンプルテスト装置は前記第２コンベア装置と
    前記第２制御装置に接続して容器に関連した金型確認の
    関数として上記第２コンベア装置内の容器について異な
    つた品質テストを選択的に行うための複数のテストステ
    ーションを含むごとくなつた特許請求の範囲第１項記載
    の装置。 ３、前記第２制御装置は前記複数のテストステーション
    に応答して金型確認の関数として容器の予め選ばれたサ
    ンプルを自動的に変えて上記テストステーションにより
    欠陥とされた容器を反映するようにする装置を含むごと
    くなつた特許請求の範囲第２項記載の装置。 ４、前記複数のテストステーションは前記第２制御装置
    と第２コンベア装置に接続して容器の内部破裂圧を選択
    的且つ自動的にテストすると共に予め選ばれたしきい値
    より低い破裂圧をもつ容器に関連した金型を確認するた
    めの装置を含むごとくなつた特許請求の範囲第３項記載
    の装置。 ５、前記複数のテストステーションは前記第２制御装置
    と第２コンベア装置に接続して上記第２コンベア装置に
    より運ばれる容器の内部容積を選択的且つ自動的にテス
    トすると共に予め選ばれた標準からはずれる内容積をも
    つ容器に関連した金型を確認するための装置を更に含む
    ごとくなつた特許請求の範囲第４項記載の装置。 ６、前記複数のテストステーションは前記第２制御装置
    と第２コンベア装置に接続して上記第２コンベア装置に
    より運ばれる容器の壁厚を選択的且つ自動的にテストす
    ると共に予め選ばれた標準からはずれる壁厚を有する容
    器に関連した金型指標を確認するための装置を更に含む
    ごとくなつた特許請求の範囲第５項記載の装置。 ７、前記サンプルテスト装置は前記第２制御装置に応答
    してそれにより確認される金型指標を有するすべての容
    器を自動的に選別するための装置を含むごとくなつた特
    許請求の範囲第３項記載の装置。 ８、前記サンプルテスト装置は許容される容器を前記通
    路にもどすための装置を更に含むごとくなつた特許請求
    の範囲第３項記載の装置。 ９、前記第２制御装置はすべての使用中の金型に関連し
    た指標を含む金型マップと、前記第１制御装置とサンプ
    ルテスト装置に応じて上記マップ上の欠陥金型を確認す
    るための装置とを含むごとくなつた特許請求の範囲第１
    項記載の装置。 １０、前記第２制御装置は前記第１制御装置に応答して
    前記マップにない金型に関連した前記金型確認装置によ
    り読取られる金型指標を確認するための装置と、上記金
    型を証明すべく予め選ばれた数の上記指標を有する容器
    を前記自動サンプルテスト装置に自動的に方向づけるた
    めの装置とを更に含むごとくなつた特許請求の範囲第９
    項記載の装置。 １１、前記第２制御装置に応答して欠陥金型を指示する
    ための表示装置を更に含む特許請求の範囲第９項記載の
    装置。 １２、前記マップに新しい金型指標を加えるためのデー
    タエントリ装置を更に含むごとくなつた特許請求の範囲
    第１１項記載の装置。 １３、下記の段階からなる、容器の金型を示す読取可能
    な指標を有する容器の検査及び選別方法。 （イ）予定の通路に沿つて容器を移送する段階。 （ロ）上記通路を動く容器の欠陥を検査し、欠陥容器の
    金型を確認する段階。 （ハ）上記通路を動く容器の上記指標を読取りそして段
    階（ロ）において確認された金型に対応する指標を有す
    る容器を上記通路から選択的に区分けする段階。 （ニ）夫々の金型からの予め選ばれた数の容器を上記通
    路から自動的且つ周期的に選別しそしてそれらをサンプ
    ルテスト装置に方向づける段階。 （ホ）上記サンプリングされた容器の物理的品質を上記
    サンプルテスト装置において自動的にテストし欠陥容器
    の金型を確認する段階。 １４、下記の段階を更に含む特許請求の範囲第１３項記
    載の方法。 （ヘ）すべての使用中の金型に関連する指標を含む金型
    マップを維持する段階。 （ト）上記マップ上で欠陥金型を確認する段階。 １５、下記の段階を更に含む特許請求の範囲第１４項記
    載の方法。 （チ）前記マップにない金型に関連して前記段階（ハ）
    において読取られた金型指標を確認する段階。 （リ）段階（チ）において確認された指標を有する予め
    選ばれた数の容器を前記自動サンプルテスト装置に方向
    づけ上記マップにない金型を証明する段階。
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