JPS6243104A - 抵抗ペ−スト - Google Patents
抵抗ペ−ストInfo
- Publication number
- JPS6243104A JPS6243104A JP60184444A JP18444485A JPS6243104A JP S6243104 A JPS6243104 A JP S6243104A JP 60184444 A JP60184444 A JP 60184444A JP 18444485 A JP18444485 A JP 18444485A JP S6243104 A JPS6243104 A JP S6243104A
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- JP
- Japan
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- oxide
- component
- mol
- powder
- resistance
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- Conductive Materials (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、酸化鉄−酸化ルテニウム−酸化鉛を主たる
電導成分とづる抵抗ペーストに関するものである。
電導成分とづる抵抗ペーストに関するものである。
(従来の技#1)
金属酸化物を電導成分とする抵抗ペーストとしては、た
とえばRu2O3あるいはBi2RU207などの酸化
ルテニウム系のものがあることは知られている。
とえばRu2O3あるいはBi2RU207などの酸化
ルテニウム系のものがあることは知られている。
たとえば、これらの成分を含む抵抗ペーストをアルミナ
などの絶縁基板の上にスクリーン印刷により2 fli
シ、空気中で焼付けることにより、半固定抵抗器の抵
抗体として用いられていた。
などの絶縁基板の上にスクリーン印刷により2 fli
シ、空気中で焼付けることにより、半固定抵抗器の抵
抗体として用いられていた。
しかしながら、この抵抗体上にスライダを摺動させると
、上記した抵抗ペーストにより得られた抵抗ペーストで
は、100回転程度で抵抗値が初期値にくらべて30〜
50%のもの変化を示すものであり、安定した特性が(
qられなかった。
、上記した抵抗ペーストにより得られた抵抗ペーストで
は、100回転程度で抵抗値が初期値にくらべて30〜
50%のもの変化を示すものであり、安定した特性が(
qられなかった。
また、高価なRuO2を主たる成分とするため、得られ
る1!(抗体の価格を引き上げる要因となっていた。
る1!(抗体の価格を引き上げる要因となっていた。
このような問題を解決するために、発明者等は未だ公知
になっていないか1、酸化鉄−酸化ルテニウム−酸化鉛
を電導成分とする抵抗ペーストを見い出し、実用可能な
ものにすることができた。
になっていないか1、酸化鉄−酸化ルテニウム−酸化鉛
を電導成分とする抵抗ペーストを見い出し、実用可能な
ものにすることができた。
この抵抗ペーストは、導電成分の金属酸化物粉末である
酸化鉄、酸化ルテニウムおよび酸化鉛をFe2O3、R
u 02 、PI]304にそれぞれ換算したとき、 Fe203 :Ru 02 :Pb3 o4 = 1
: 0,6〜3: 0.2〜1のモル比からなるも
のである。
酸化鉄、酸化ルテニウムおよび酸化鉛をFe2O3、R
u 02 、PI]304にそれぞれ換算したとき、 Fe203 :Ru 02 :Pb3 o4 = 1
: 0,6〜3: 0.2〜1のモル比からなるも
のである。
そして、この抵抗ペーストによれば、抵抗器の変化、特
に半固定抵抗器の抵抗体とした場合には、回転寿命特性
が大幅に向−卜し、スライダを100回程度目転させて
も、初期値にくらべて僅か数%以内の抵抗1tQ変化し
か示さないものに改善することができた。
に半固定抵抗器の抵抗体とした場合には、回転寿命特性
が大幅に向−卜し、スライダを100回程度目転させて
も、初期値にくらべて僅か数%以内の抵抗1tQ変化し
か示さないものに改善することができた。
〈発明が解決しようとする問題〉
しかしながら、改善された電導成分を含む抵抗ペースト
では、冑られる抵抗値の選択範囲がほぼ1にΩ/口〜2
MΩ/口のものに限られ、低抵抗側、詳しくは1に07
口以上の抵抗値を有する抵抗体を得ることが困難であっ
た。
では、冑られる抵抗値の選択範囲がほぼ1にΩ/口〜2
MΩ/口のものに限られ、低抵抗側、詳しくは1に07
口以上の抵抗値を有する抵抗体を得ることが困難であっ
た。
(発明の目的)
したがって、この発明は酸化鉄−酸化ルテニウム−酸化
鉛を主たる電導成分とする抵抗ペーストにおいて、支間
でかつ面積抵抗値の低い、具体的には1にΩ7/ロ以下
の値を有する抵抗体を得るための抵抗ペーストを提供す
ることを目的とする。
鉛を主たる電導成分とする抵抗ペーストにおいて、支間
でかつ面積抵抗値の低い、具体的には1にΩ7/ロ以下
の値を有する抵抗体を得るための抵抗ペーストを提供す
ることを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
寸なわら、この発明の要旨とするところは、金属酸化物
粉末、ガラスフリット、および有機質ビヒクルよりなる
抵抗ペーストであって、前記金属酸化物粉末は酸化鉄、
酸化ルテニウム、酸化鉛および酸化バナジウムからなる
ものである。
粉末、ガラスフリット、および有機質ビヒクルよりなる
抵抗ペーストであって、前記金属酸化物粉末は酸化鉄、
酸化ルテニウム、酸化鉛および酸化バナジウムからなる
ものである。
この金属酸化物粉末のうち、酸化鉄、酸化ルテニウム、
および酸化鉛を第1の構成成分とし、酸化バナジウムを
第2の構成成分としたとき、第 1の構成成分について
、酸化鉄をFe50+に換算し、酸化ルテニウムをRu
O2に換算し、酸化鉛をpb 304に換算したとき、
各第1の構成成分は、 Fe3O4:Ru 02 :Pb3 Q4 = 1:
1〜3: 0.2〜1 のモル比からなり、 第2の構成成分について、酸化バナジウムを■として換
算したとき、前記第1の構成成分の総ω1モルに対して
0.5モル以下含有するものからなる。
および酸化鉛を第1の構成成分とし、酸化バナジウムを
第2の構成成分としたとき、第 1の構成成分について
、酸化鉄をFe50+に換算し、酸化ルテニウムをRu
O2に換算し、酸化鉛をpb 304に換算したとき、
各第1の構成成分は、 Fe3O4:Ru 02 :Pb3 Q4 = 1:
1〜3: 0.2〜1 のモル比からなり、 第2の構成成分について、酸化バナジウムを■として換
算したとき、前記第1の構成成分の総ω1モルに対して
0.5モル以下含有するものからなる。
またこの発明において、金属酸化物粉末はぞの第3の構
成成分として、酸化アンチモン、酸化チタンおよびチタ
ン酸ストロンチ「クム系半導体粉末のうちいずれか1種
を含有する。この場合において、酸化アンチモンはSb
2O3に換算したとき、上記第1の構成成分の総ω1モ
ルに対して0.05モル以下含有される。また酸化チタ
ンはTiOに換算したとき、上記第1の構成成分の$3
!a 1モルに対して0.07モル以下含有される。さ
らにブタン酸ストロンチウム系半導体粉末は上記第1の
構成成分の総ω100φ槌部に対して30手ω部以下含
有される。
成成分として、酸化アンチモン、酸化チタンおよびチタ
ン酸ストロンチ「クム系半導体粉末のうちいずれか1種
を含有する。この場合において、酸化アンチモンはSb
2O3に換算したとき、上記第1の構成成分の総ω1モ
ルに対して0.05モル以下含有される。また酸化チタ
ンはTiOに換算したとき、上記第1の構成成分の$3
!a 1モルに対して0.07モル以下含有される。さ
らにブタン酸ストロンチウム系半導体粉末は上記第1の
構成成分の総ω100φ槌部に対して30手ω部以下含
有される。
上記した金属酸化物粉末を構成ザる各第1の構成成分、
第2の構成成分および第3の構成成分について、それぞ
れの存rEωを規定したのは次のような理由による。
第2の構成成分および第3の構成成分について、それぞ
れの存rEωを規定したのは次のような理由による。
つまり、第1の構成成分についてはFe50+四を基準
としており、このFe50+に対してRuQ2の成分モ
ル比率を1〜3としたのは、1未満では抵抗が大きくな
りすぎるからであり、一方3を越えると電気的特性には
問題のないものの、Ru 02 mが多くなり杼済的な
メリットがなくなり、コストダウンに結びつかないから
である。また、Pb 304についてその成分モル比率
を0.2〜1としたのは、0.2未満では電気的特性に
は問題のないものの、Pb 304 mが少なくなる分
RL102量を増やさなければならず、その結果コスト
アップになり、一方1を越えると抵抗値が大きくなりす
ぎるからである。
としており、このFe50+に対してRuQ2の成分モ
ル比率を1〜3としたのは、1未満では抵抗が大きくな
りすぎるからであり、一方3を越えると電気的特性には
問題のないものの、Ru 02 mが多くなり杼済的な
メリットがなくなり、コストダウンに結びつかないから
である。また、Pb 304についてその成分モル比率
を0.2〜1としたのは、0.2未満では電気的特性に
は問題のないものの、Pb 304 mが少なくなる分
RL102量を増やさなければならず、その結果コスト
アップになり、一方1を越えると抵抗値が大きくなりす
ぎるからである。
次に第2の構成成分である酸化バナジウムを■として換
算したとき、第1の構成成分の総量1モルに対して0.
5モル以下としたのは、この範囲で低い面積抵抗値のも
のが得られるが、0.5モルを越えると面積抵抗値が上
昇するからである。
算したとき、第1の構成成分の総量1モルに対して0.
5モル以下としたのは、この範囲で低い面積抵抗値のも
のが得られるが、0.5モルを越えると面積抵抗値が上
昇するからである。
さらに、第3の構成成分のうち、酸化アンチモンについ
てSb2O3に換算して第1の構成成分の総量1モルに
対して0.05モル以下としたのは、0.05モルを越
えると抵抗温度係数がマイナス側に大きく変化するから
である。また、酸化チタン、チタン酸ストロンチウム系
半導体粉末の各含有量についてもこの酸化アンチモンの
含有量を規定した理由が当て嵌まる。なお、チタン酸ス
トロンチウム系半導体粉末は、たとえば5rTiO’a
にYlSblBilTa、W、あるいは希土類元素を微
量含有させたものを還元性雰囲気で焼成して得られたも
のであり、その比抵抗が100〜10−1Ω・(il程
度のものが用いられる。
てSb2O3に換算して第1の構成成分の総量1モルに
対して0.05モル以下としたのは、0.05モルを越
えると抵抗温度係数がマイナス側に大きく変化するから
である。また、酸化チタン、チタン酸ストロンチウム系
半導体粉末の各含有量についてもこの酸化アンチモンの
含有量を規定した理由が当て嵌まる。なお、チタン酸ス
トロンチウム系半導体粉末は、たとえば5rTiO’a
にYlSblBilTa、W、あるいは希土類元素を微
量含有させたものを還元性雰囲気で焼成して得られたも
のであり、その比抵抗が100〜10−1Ω・(il程
度のものが用いられる。
また、金1iI酸化物粉末に対するガラスフリットの混
合割合は、金1iriM化物粉末30〜70重山%に対
しガラスフリットは70〜30重2%の割合で配合され
る。ガラスフリット缶がこの範囲に限定されるのは、金
属酸化物粉末が10重置%を越え、ガラスフリット埴が
30重ω%未満では耐湿特性が劣化し、一方、金属酸化
物粉末が30重口%未満で、ガラスフリットωが70重
四%を越えると、たとえば可変抵抗体の抵抗体として用
いた場合、回転寿命特性が劣化するからである。ここで
、ガラスフリットとしては、たとえばホウケイ酸鉛系の
ものが用いられる。
合割合は、金1iriM化物粉末30〜70重山%に対
しガラスフリットは70〜30重2%の割合で配合され
る。ガラスフリット缶がこの範囲に限定されるのは、金
属酸化物粉末が10重置%を越え、ガラスフリット埴が
30重ω%未満では耐湿特性が劣化し、一方、金属酸化
物粉末が30重口%未満で、ガラスフリットωが70重
四%を越えると、たとえば可変抵抗体の抵抗体として用
いた場合、回転寿命特性が劣化するからである。ここで
、ガラスフリットとしては、たとえばホウケイ酸鉛系の
ものが用いられる。
これらの金属酸化物粉末とガラスフリットからなる固形
成分に対しては、ペースト状とするために有機質ビヒク
ルが加えられる。上記した固形成分に対する有機質ビヒ
クルの口は25〜35重量%の範囲で選択される。この
範囲に限定したのは印刷性を考慮したことによる。つま
り、25重量%未満では固形成分が多くなり、印舅性の
よいペーストが得られないからであり、一方、35重量
%を越えると印刷パターンの滲みが発生し、一定面積の
パターンが形成されず、抵抗値にバラツキが生じるから
である。ha質ビヒクルとしては、たとえばエチルセル
ロースに溶剤であるα−テレピネオールを加えたものが
用いられる。
成分に対しては、ペースト状とするために有機質ビヒク
ルが加えられる。上記した固形成分に対する有機質ビヒ
クルの口は25〜35重量%の範囲で選択される。この
範囲に限定したのは印刷性を考慮したことによる。つま
り、25重量%未満では固形成分が多くなり、印舅性の
よいペーストが得られないからであり、一方、35重量
%を越えると印刷パターンの滲みが発生し、一定面積の
パターンが形成されず、抵抗値にバラツキが生じるから
である。ha質ビヒクルとしては、たとえばエチルセル
ロースに溶剤であるα−テレピネオールを加えたものが
用いられる。
抵抗ペーストを調整するには、金属酸化物粉末の原料で
あるFe304 、Ru 02 、Pb3O4を所定比
率で秤グし、各原料をボットミルに水とともに入れ、所
定時間混合する。そののち水を蒸発させ、600〜90
0℃で熱処理して金属酸化物粉末を得る。この金属酸化
物粉末にガラスフリットを所定比率で加え、さらに酸化
バナジウム、有機質ビヒクル、必要に応じて酸化アンチ
モン、酸化チタンおよびチタン酸ストロンチウム系半導
体粉末のうちいずれか1種を加えて混合することにより
抵抗ペーストが得られる。この他、酸化バナジウム、必
要に応じ酸化アンチモン、酸化チタン、チタン酸ストロ
ンチウム系半導体粉末のいずれか1種をFe304 、
Ru 02 、Pb3O4とともに秤m1合してもよい
。
あるFe304 、Ru 02 、Pb3O4を所定比
率で秤グし、各原料をボットミルに水とともに入れ、所
定時間混合する。そののち水を蒸発させ、600〜90
0℃で熱処理して金属酸化物粉末を得る。この金属酸化
物粉末にガラスフリットを所定比率で加え、さらに酸化
バナジウム、有機質ビヒクル、必要に応じて酸化アンチ
モン、酸化チタンおよびチタン酸ストロンチウム系半導
体粉末のうちいずれか1種を加えて混合することにより
抵抗ペーストが得られる。この他、酸化バナジウム、必
要に応じ酸化アンチモン、酸化チタン、チタン酸ストロ
ンチウム系半導体粉末のいずれか1種をFe304 、
Ru 02 、Pb3O4とともに秤m1合してもよい
。
刷により塗布され、空気中たとえば700〜900℃の
温度で焼付けられ、抵抗体として構成されることになる
。
温度で焼付けられ、抵抗体として構成されることになる
。
(実施例)
以下、この発明を実施例にもとづいて詳細に説明する。
実施例1゜
金属酸化物のうち第1の構成成分であるFe3O4、R
LI 02およびPb 304を第1表に示すモル比率
で調合し、ボットミル中で水とともに24時時間式混合
した。そののら水を蒸発させ、乾燥粉末をルツボに入れ
て 700℃の温度で2時間保持して導電性粉末を得た
。この導電性粉末に第1表に示す割合で第2の構成成分
である酸化バナジウムまたは有機バナジウム(v203
、V205、VO(C5H702)2、V(C5H7
02)3)を加え、さらにホウケイ酸鉛ガラスフリット
を加えた。これらの固形成分に対して有機質ビヒクルを
28重a%加えて混練し、抵抗ペーストを調整した。
LI 02およびPb 304を第1表に示すモル比率
で調合し、ボットミル中で水とともに24時時間式混合
した。そののら水を蒸発させ、乾燥粉末をルツボに入れ
て 700℃の温度で2時間保持して導電性粉末を得た
。この導電性粉末に第1表に示す割合で第2の構成成分
である酸化バナジウムまたは有機バナジウム(v203
、V205、VO(C5H702)2、V(C5H7
02)3)を加え、さらにホウケイ酸鉛ガラスフリット
を加えた。これらの固形成分に対して有機質ビヒクルを
28重a%加えて混練し、抵抗ペーストを調整した。
これらの抵抗ペーストを、アルミナ基板の表面に4−一
の間隔であらかじめ形成した 1対の銀焼付は電極間に
スクリーン印刷で塗布し、850℃、10分間の条件で
焼付けた。
の間隔であらかじめ形成した 1対の銀焼付は電極間に
スクリーン印刷で塗布し、850℃、10分間の条件で
焼付けた。
得られた抵抗体の面積抵抗値、−55℃と+ 150℃
における抵抗温度係数(T、C,R)を測定し、その結
果を第1表に合わせて示した。
における抵抗温度係数(T、C,R)を測定し、その結
果を第1表に合わせて示した。
抵抗温度係数の測定はMIL STD 202F試
験法304にもとづいて行った。
験法304にもとづいて行った。
なお、この発明範囲外のものについては、比較例として
第1表に合わせて示した。
第1表に合わせて示した。
また、試料番号1−10〜1−13、参考例3.4につ
いては酸化バナジウムを第1の構成成分と一緒に混合し
て抵抗ペーストを調整したものである。
いては酸化バナジウムを第1の構成成分と一緒に混合し
て抵抗ペーストを調整したものである。
第1表から明らかなように、Fe 304−RuO2−
Pb 304に酸化バナジウムを添加含有させたものは
、その添加含有笥囲が0.5モル以下のものについて、
低い面積抵抗値のものが得られていることがわかる。
Pb 304に酸化バナジウムを添加含有させたものは
、その添加含有笥囲が0.5モル以下のものについて、
低い面積抵抗値のものが得られていることがわかる。
実施例2
実施例1における試料1−13の配合比からなる金属酸
化物粉末を用い、これに第3の構成成分である酸化アン
チモン、酸化チタンおよびチタン酸ストロンチウム系半
導体粉末のいずれか1種を第2表に示す割合で加え、さ
らにホウケイ酸鉛ガラスフリットを加えた。これらの固
形成分に対してこの抵抗ペーストを実施例1と同様に処
理し、アルミナ基板の上に抵抗体を形成した。そして、
実施例1と同様に特性を測定し、その結果を第2表に合
わせて示した。
化物粉末を用い、これに第3の構成成分である酸化アン
チモン、酸化チタンおよびチタン酸ストロンチウム系半
導体粉末のいずれか1種を第2表に示す割合で加え、さ
らにホウケイ酸鉛ガラスフリットを加えた。これらの固
形成分に対してこの抵抗ペーストを実施例1と同様に処
理し、アルミナ基板の上に抵抗体を形成した。そして、
実施例1と同様に特性を測定し、その結果を第2表に合
わせて示した。
なお、この発明範囲外のものについては、比較例として
合わせて示した。
合わせて示した。
第 2 表
慢ST粉末はチタン酸ストロンチウム系半導体粉末の略
でめる。
でめる。
第2表から明らかなように、金属酸化物粉末に第3の構
成成分を含有させることによって、抵抗温度係数を制御
することができる。詳しくは、これらの第3の構成成分
は第2の構成成分である酸イヒバナジウムを含有するこ
とによってプラス側に変化した抵抗温度係数をマイナス
側へ変化させることができる。しかも面積抵抗値を急激
に上昇させるという問題もないという利点を有している
。
成成分を含有させることによって、抵抗温度係数を制御
することができる。詳しくは、これらの第3の構成成分
は第2の構成成分である酸イヒバナジウムを含有するこ
とによってプラス側に変化した抵抗温度係数をマイナス
側へ変化させることができる。しかも面積抵抗値を急激
に上昇させるという問題もないという利点を有している
。
(効果)
以上の実施例から明らかなように、この発明にかかる抵
抗ペーストによれば、次のような効果が1巳ンられる。
抗ペーストによれば、次のような効果が1巳ンられる。
■金属酸化物粉末のうち、第1の構成成分であるFe3
O4、RLI○2、Pb3O4に第2の構成成分として
酸化バナジウムを含有させたため、面積抵抗(0が1に
Ω/口までの低い値のものが得られる。
O4、RLI○2、Pb3O4に第2の構成成分として
酸化バナジウムを含有させたため、面積抵抗(0が1に
Ω/口までの低い値のものが得られる。
■さらに第3の構成成分である酸化アンチモン、酸化チ
タン、およびチタン酸ストロンチウム系半導体粉末のい
ずれか1秤を含有させることによって、第2の構成成分
である酸化バナジウムを含有したことによる抵抗温度係
数のプラス側への変化をマイナス側へII+御すること
ができる。
タン、およびチタン酸ストロンチウム系半導体粉末のい
ずれか1秤を含有させることによって、第2の構成成分
である酸化バナジウムを含有したことによる抵抗温度係
数のプラス側への変化をマイナス側へII+御すること
ができる。
またこの第3の構成成分を含有させても、面積抵抗値が
上昇するというおそれもない。
上昇するというおそれもない。
特 許 出 願 人
株式会社村田製作所
Claims (2)
- (1)金属酸化物粉末、ガラスフリット、および有機質
ビヒクルよりなる抵抗ペーストであって、前記金属酸化
物粉末は酸化鉄、酸化ルテニウム、酸化鉛、および酸化
バナジウムからなり、 該各金属酸化物粉末のうち、酸化鉄、酸化ルテニウム、
および酸化鉛を第1の構成成分とし、酸化バナジウムを
第2の構成成分としたとき、第1の構成成分について、
酸化鉄をFe_3O_4に換算し、酸化ルテニウムをR
uO_2に換算し、酸化鉛をPb_3O_4に換算した
とき、各第1の構成成分は次のモル比からなり、 Fe_3O_4:RuO_2:Pb_3O_4=1:1
〜3:0.2〜1 前記第2の構成成分について、酸化バナジウムをVとし
て換算したとき、前記第1の構成成分の総量1モルに対
して0.5モル以下含有することを特徴とする抵抗ペー
スト - (2)前記金属酸化物粉末の第3の構成成分として、酸
化アンチモン、酸化チタンおよびチタン酸ストロンチウ
ム系半導体粉末のうちいずれか1種を、酸化アンチモン
についてはSb_2O_3に換算して前記第1の構成成
分の総量1モルに対して0.05モル以下、酸化チタン
についてはTiOに換算して前記第1の構成成分の総量
1モルに対して0.07モル以下、チタン酸ストロンチ
ウム系半導体粉末については前記第1の構成成分の総量
100重量部に対して30重量部以下含有することを特
徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の抵抗ペースト
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60184444A JPH0732082B2 (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | 抵抗ペ−スト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60184444A JPH0732082B2 (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | 抵抗ペ−スト |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6243104A true JPS6243104A (ja) | 1987-02-25 |
JPH0732082B2 JPH0732082B2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=16153253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60184444A Expired - Lifetime JPH0732082B2 (ja) | 1985-08-21 | 1985-08-21 | 抵抗ペ−スト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0732082B2 (ja) |
-
1985
- 1985-08-21 JP JP60184444A patent/JPH0732082B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0732082B2 (ja) | 1995-04-10 |
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