JPS62257070A - プリント基板の布線検査機 - Google Patents
プリント基板の布線検査機Info
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- JPS62257070A JPS62257070A JP61101802A JP10180286A JPS62257070A JP S62257070 A JPS62257070 A JP S62257070A JP 61101802 A JP61101802 A JP 61101802A JP 10180286 A JP10180286 A JP 10180286A JP S62257070 A JPS62257070 A JP S62257070A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
この発明は、プリント基板の配線パターンをアンテナと
見なし、基準となる配線パターンからの受信信号出力と
被検査プリント基板の配線パターンからの受信信号出力
とを比較することにより被試験配線パターンの断線やシ
ョートを検査するプリント基板の布線検査機に関する。
見なし、基準となる配線パターンからの受信信号出力と
被検査プリント基板の配線パターンからの受信信号出力
とを比較することにより被試験配線パターンの断線やシ
ョートを検査するプリント基板の布線検査機に関する。
〔産業上の利用分野］
この発明は、プリント基板の各配線パターンをアンテナ
と見なし、その受信信号から前記配線パターンの断線や
ショートを検査するプリント基板の布線検査機に関する
。
と見なし、その受信信号から前記配線パターンの断線や
ショートを検査するプリント基板の布線検査機に関する
。
プリント基板は配線パターンに断線がなく１が確実であ
ること、独立の線間の絶縁が確実で異常な導通がないこ
とが基本であり、このため電気試験つまり布線検査が行
われる。
ること、独立の線間の絶縁が確実で異常な導通がないこ
とが基本であり、このため電気試験つまり布線検査が行
われる。
この検査には各ランドにスプリング付きコンタクトプロ
ーブ（以下ピンと略す）を接触させ、各ランドすなわち
各ピン間の導通状態を検出し、基準データと比較し不向
であればエラーとして、断線かショートかの別とその関
連するランドの位置あるいはビン魚または回路魚を表示
あるいは印字する布線検査機が一般的に用いられる。
ーブ（以下ピンと略す）を接触させ、各ランドすなわち
各ピン間の導通状態を検出し、基準データと比較し不向
であればエラーとして、断線かショートかの別とその関
連するランドの位置あるいはビン魚または回路魚を表示
あるいは印字する布線検査機が一般的に用いられる。
このような検査機は、例えば０．１インチ間隔でマトリ
ックス状に配列した数万本ものビン群をプリント基板面
に接触させ、各ピンに印加する電圧をスイッチング素子
を用いて順次スキャンして検査している。
ックス状に配列した数万本ものビン群をプリント基板面
に接触させ、各ピンに印加する電圧をスイッチング素子
を用いて順次スキャンして検査している。
ところで、上記のような多数のピンを用いて検査する検
査機は、 ■ 格子位置から外れたランドを持つ配線パターンは検
査できない ■ ビン数の増加に従ってスイッチング素子も増え、コ
スト高となる ■ ランドにピンの傷痕がつき、不良原因となる という欠点を有している。
査機は、 ■ 格子位置から外れたランドを持つ配線パターンは検
査できない ■ ビン数の増加に従ってスイッチング素子も増え、コ
スト高となる ■ ランドにピンの傷痕がつき、不良原因となる という欠点を有している。
この発明は上記欠点に鑑み、簡易な構成で検査できる新
規な布線検査機を提供することを目的としている。
規な布線検査機を提供することを目的としている。
第１図は本発明の布線検査機の原理図である。
図において、２は発振器１に接続された送信アンテナ、
４はプリント基板３の配線パターンであり、前記送信ア
ンテナからの電波を受信する受信アンテナとなる。
４はプリント基板３の配線パターンであり、前記送信ア
ンテナからの電波を受信する受信アンテナとなる。
５は配線パターン３に接続された受信器、６は予め良品
のプリント基板の配線パターンから得られた受信信号を
基準値として格納するメモリ、７はこの基準値と被検査
プリント基板の配線パターンから得られた受信信号値と
を比較する比較器である。
のプリント基板の配線パターンから得られた受信信号を
基準値として格納するメモリ、７はこの基準値と被検査
プリント基板の配線パターンから得られた受信信号値と
を比較する比較器である。
発振器１の駆動により送信アンテナ２から電波が発射さ
れ、配線パターン４はこの電波を受は受信器５に入力さ
れる。メモリ６には予め良品のプリント基板の各配線パ
ターンから得られた受信信号が基準値として格納されて
おり、この基準信号と前記受信信号とを比較器７で比較
し、不一致であれば前記配線パターン３が不良である旨
の信号を出力する。
れ、配線パターン４はこの電波を受は受信器５に入力さ
れる。メモリ６には予め良品のプリント基板の各配線パ
ターンから得られた受信信号が基準値として格納されて
おり、この基準信号と前記受信信号とを比較器７で比較
し、不一致であれば前記配線パターン３が不良である旨
の信号を出力する。
本発明により簡易な構成で配線パターンの良、不良が容
易に判別できる。
易に判別できる。
第２図は本発明の第１実施例を説明するブロック図であ
る。
る。
この図において、１１はシートアンテナであり、シート
にＸおよびＹ方向に延びるアンテナＸおよびｙが形成さ
れている。Ｘ方向に延びた配線パターンの測定にはアン
テナＸを、Ｙ方向に延びた配線パターンの測定にはアン
テナｙが給電切換部１２により切り換えられる。給電切
換部１２は発振器１３に接続される。
にＸおよびＹ方向に延びるアンテナＸおよびｙが形成さ
れている。Ｘ方向に延びた配線パターンの測定にはアン
テナＸを、Ｙ方向に延びた配線パターンの測定にはアン
テナｙが給電切換部１２により切り換えられる。給電切
換部１２は発振器１３に接続される。
１４は配線パターン１５を有するプリント基板であり、
図示しない載置台の固定部材１６により所定位置に固定
される。
図示しない載置台の固定部材１６により所定位置に固定
される。
前記配線パターン１４の測定ランドにピン１７が押圧接
触される。ピン１７はインピーダンス整合部１８を介し
て受信器１９に接続される。
触される。ピン１７はインピーダンス整合部１８を介し
て受信器１９に接続される。
２０は予め良品のプリント基板の各配線パターンから得
られた受信信号を基準値として格納するためのメモリで
ある。
られた受信信号を基準値として格納するためのメモリで
ある。
２１はこの基準値と被検査プリント基板の配線パターン
から得られた受信信号値とを比較する比較器である。
から得られた受信信号値とを比較する比較器である。
２２．２３はＸおよびＹ方向のグランドアンテナであり
、Ｘ方向に延びた配線パターンの測定にはグランドアン
テナ２２を、Ｙ方向に延びた配線パターンの測定にはグ
ランドアンテナ２３が受電切換部２４により切り換えら
れる。
、Ｘ方向に延びた配線パターンの測定にはグランドアン
テナ２２を、Ｙ方向に延びた配線パターンの測定にはグ
ランドアンテナ２３が受電切換部２４により切り換えら
れる。
２５は制御部であり、給電切換部１２、受電切換部２４
、インピーダンス整合部１８、受信器１９、メモリ２０
の制御およびピン１７の位置制御を行う。また２６は比
較器２０からの信号を処理する処理部である。
、インピーダンス整合部１８、受信器１９、メモリ２０
の制御およびピン１７の位置制御を行う。また２６は比
較器２０からの信号を処理する処理部である。
次ぎに、このような構成の布綿検査機の動作について説
明する。
明する。
まず、予め他の方法によって測定した良品のプリント基
板を図示しない検査台にＲＴＩする。ここ（，１ で第２図に示すよう鑵Ｘ方向の配線パターン１５を検査
する場合、給電切換部１２および受電切換部２４はアン
テナＸおよびグランドアンテナ２２を選択する。
板を図示しない検査台にＲＴＩする。ここ（，１ で第２図に示すよう鑵Ｘ方向の配線パターン１５を検査
する場合、給電切換部１２および受電切換部２４はアン
テナＸおよびグランドアンテナ２２を選択する。
次ぎに、発振器１３の駆動により送信アンテナＸから電
波が発射され、配線パターン１５はこの電波を受は受信
器５に入力されるが、通常配線パターンを受信アンテナ
とした場合は不平衡型となりやすく、そのためインピー
ダンス整合部１８によりインピーダンスを調整して共振
状態にする。このときの最大受信信号を受信器１９を介
してメモリ２０に入力する。このようにして全配線パタ
ーンに順次ピン１７をたて、その時のインピーダンスの
値と受信信号の値を基準データとしてメモリ２０に格納
する。
波が発射され、配線パターン１５はこの電波を受は受信
器５に入力されるが、通常配線パターンを受信アンテナ
とした場合は不平衡型となりやすく、そのためインピー
ダンス整合部１８によりインピーダンスを調整して共振
状態にする。このときの最大受信信号を受信器１９を介
してメモリ２０に入力する。このようにして全配線パタ
ーンに順次ピン１７をたて、その時のインピーダンスの
値と受信信号の値を基準データとしてメモリ２０に格納
する。
次ぎに、検査すべきプリント基板をｉ！置し、命記同様
に受信器１９で電波を受信し、この受信値とメモリ２０
から読み出した基準値とを比較器２１で比較し、被配線
パターンに断線やショートがあれば不一致となるので処
理部２５は前記配線パターンが不良である旨の信号を出
力する。
に受信器１９で電波を受信し、この受信値とメモリ２０
から読み出した基準値とを比較器２１で比較し、被配線
パターンに断線やショートがあれば不一致となるので処
理部２５は前記配線パターンが不良である旨の信号を出
力する。
第３図は本発明の第２実施例を説明するブロック図であ
る。前述した実施例は発振周波数を同定としたが、本実
施例では周波数を可変する点が異なる。
る。前述した実施例は発振周波数を同定としたが、本実
施例では周波数を可変する点が異なる。
第３図において、３１および３２は検査台３３上に載置
した良品および被検査プリント基板である。３４および
３５はＸＹ方向に移動可能なピンであり、それぞれのプ
リント基板の同一配線パターンにコンタクトするよう制
御される。プローブ３４．３５は共に受信器３６に接続
される。
した良品および被検査プリント基板である。３４および
３５はＸＹ方向に移動可能なピンであり、それぞれのプ
リント基板の同一配線パターンにコンタクトするよう制
御される。プローブ３４．３５は共に受信器３６に接続
される。
部４０を介してシートアンテナ４１に接続される。
シートアンテナ４１は第４図に示すようにＸおよびＹ方
向に複数本のアンテナを有しており、周波数が低いとき
は長いアンテナａを、高周波になるほど短いアンテナＣ
が選択される。また、前述したようにＸおよびＹ方向の
配線パターンに対応し４２は制御部であり、各配線パタ
ーンに対応した発振周波数を出力するよう発振器３９を
制御したり、ピンの位置指定、アンテナ切換部４０、受
信器３６、メモリ３７等を制御する。
向に複数本のアンテナを有しており、周波数が低いとき
は長いアンテナａを、高周波になるほど短いアンテナＣ
が選択される。また、前述したようにＸおよびＹ方向の
配線パターンに対応し４２は制御部であり、各配線パタ
ーンに対応した発振周波数を出力するよう発振器３９を
制御したり、ピンの位置指定、アンテナ切換部４０、受
信器３６、メモリ３７等を制御する。
４４は処理部であり、比較器３８からの信号に基づき一
致、不一致時の処理を行う。
致、不一致時の処理を行う。
本実施例での動作を以下に説明する。
まず、検査台３３上に２枚の良品のプリント基板３１、
３２を載置する。そして、それぞれのプリント基板の同
一配線パターンにピン３４．３５をコンタクトさせる。
３２を載置する。そして、それぞれのプリント基板の同
一配線パターンにピン３４．３５をコンタクトさせる。
次ぎに、発振器３９を駆動させ、受信器３６での受信信
号が最大となるよう周波数を調整し、そのときの周波数
の値、最大受信信号をメモリ３７に入力する。このよう
にして全配線パターンに順次ピン３４、３５をたて、そ
の受信信号を基準データとじてメモリ３７に格納する。
号が最大となるよう周波数を調整し、そのときの周波数
の値、最大受信信号をメモリ３７に入力する。このよう
にして全配線パターンに順次ピン３４、３５をたて、そ
の受信信号を基準データとじてメモリ３７に格納する。
次ぎに、一方の良品プリント基板３２を取り除き、検査
すべきプリント基板３２を載置する。そして、前記同様
に各配線パターンに対応する共振周波数を発振器３９か
ら出力し、受信器３６で電波を受信し、この受信値とメ
モリ３７から読み出した基準値とを比較器３８で比較し
、被プリント基板の配線パターンに断線やショートがあ
れば不一致となるので処理部４３は前記配線パターンに
不良である旨の信号を出力する。
すべきプリント基板３２を載置する。そして、前記同様
に各配線パターンに対応する共振周波数を発振器３９か
ら出力し、受信器３６で電波を受信し、この受信値とメ
モリ３７から読み出した基準値とを比較器３８で比較し
、被プリント基板の配線パターンに断線やショートがあ
れば不一致となるので処理部４３は前記配線パターンに
不良である旨の信号を出力する。
以上、詳細に説明したように、本発明によれば配線パタ
ーン１系列１ポイントの検査で、その系すべてを保証で
きる。また従来のスキャン方式に用いられるスイッチン
グ素子が不要となり、安価で信頼性の高い検査が可能と
なる。
ーン１系列１ポイントの検査で、その系すべてを保証で
きる。また従来のスキャン方式に用いられるスイッチン
グ素子が不要となり、安価で信頼性の高い検査が可能と
なる。
さらに、格子位置から外れるようなランドにも適用でき
る等の効果がある。
る等の効果がある。
第１図は本発明の原理図、
第２図は第１実施例の説明図、
第３図は第２実施例の説明図、
第４図は第２実施例に用いるシートアンテナの平面図で
ある。 図面において、 １１．４１はシートアンテナ、１２は給電切換部、１３
゜３９は発振器、１４，３１．３２はプリント基板、１
５は配線パターン、１７．３４．３５はプローブ、１８
はインピーダンス整合部、１９．３６は受信器、２０．
３７はメモリ２１゜３８は比較器、２２．２３はグラン
ドアンテナ、２４は受電切換部、２５．４２は制御部、
２６．４３は処理部をそれぞれ示す。 第１図 才１突象例設明図 第２図
ある。 図面において、 １１．４１はシートアンテナ、１２は給電切換部、１３
゜３９は発振器、１４，３１．３２はプリント基板、１
５は配線パターン、１７．３４．３５はプローブ、１８
はインピーダンス整合部、１９．３６は受信器、２０．
３７はメモリ２１゜３８は比較器、２２．２３はグラン
ドアンテナ、２４は受電切換部、２５．４２は制御部、
２６．４３は処理部をそれぞれ示す。 第１図 才１突象例設明図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 発振器（１）に接続された送信アンテナ（２）と、該送
信アンテナ（２）の近傍で、かつ所定位置に設置された
受信アンテナとなるプリント基板（３）の配線パターン
（４）と、 該配線パターン（４）に接続され、受信信号を出力する
受信器（５）と、 基準となる配線パターンからの受信信号出力を記憶する
メモリ（６）と、 被検査プリント基板の配線パターンからの受信信号出力
と前記メモリ（６）に格納されている基準信号出力とを
比較する比較器（７）とからなることを特徴とするプリ
ント基板の布線検査機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61101802A JPH0636007B2 (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | プリント基板の布線検査機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61101802A JPH0636007B2 (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | プリント基板の布線検査機 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7130059A Division JP2626626B2 (ja) | 1995-05-29 | 1995-05-29 | プリント基板の布線検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62257070A true JPS62257070A (ja) | 1987-11-09 |
| JPH0636007B2 JPH0636007B2 (ja) | 1994-05-11 |
Family
ID=14310272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61101802A Expired - Lifetime JPH0636007B2 (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | プリント基板の布線検査機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0636007B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6201398B1 (en) | 1996-03-28 | 2001-03-13 | Oht Inc. | Non-contact board inspection probe |
| WO2001088556A1 (fr) * | 1998-11-19 | 2001-11-22 | Oht Inc. | Procede et appareil destines a un test de continuite sur plaquette de circuit imprime, auxiliaire pour ce test et support d'enregistrement |
| US6459272B1 (en) | 1999-05-24 | 2002-10-01 | Nidec-Read Corporation | Apparatus and method for inspecting wiring on board |
| US6825673B1 (en) | 2000-05-19 | 2004-11-30 | Oht Inc. | Method and apparatus for circuit board continuity test, tool for continuity test, and recording medium |
| US6947853B2 (en) | 2002-05-23 | 2005-09-20 | Oht, Inc. | Apparatus and method for inspecting electrical continuity of circuit board, jig for use therein, and recording medium thereon |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55155259A (en) * | 1979-05-24 | 1980-12-03 | Nec Corp | Method of searching electric wiring route |
-
1986
- 1986-04-30 JP JP61101802A patent/JPH0636007B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55155259A (en) * | 1979-05-24 | 1980-12-03 | Nec Corp | Method of searching electric wiring route |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6201398B1 (en) | 1996-03-28 | 2001-03-13 | Oht Inc. | Non-contact board inspection probe |
| US6373258B2 (en) | 1996-03-28 | 2002-04-16 | Naoya Takada | Non-contact board inspection probe |
| WO2001088556A1 (fr) * | 1998-11-19 | 2001-11-22 | Oht Inc. | Procede et appareil destines a un test de continuite sur plaquette de circuit imprime, auxiliaire pour ce test et support d'enregistrement |
| US6459272B1 (en) | 1999-05-24 | 2002-10-01 | Nidec-Read Corporation | Apparatus and method for inspecting wiring on board |
| US6825673B1 (en) | 2000-05-19 | 2004-11-30 | Oht Inc. | Method and apparatus for circuit board continuity test, tool for continuity test, and recording medium |
| US6947853B2 (en) | 2002-05-23 | 2005-09-20 | Oht, Inc. | Apparatus and method for inspecting electrical continuity of circuit board, jig for use therein, and recording medium thereon |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0636007B2 (ja) | 1994-05-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |