JP2626626B2 - プリント基板の布線検査方法 - Google Patents
プリント基板の布線検査方法Info
- Publication number
- JP2626626B2 JP2626626B2 JP7130059A JP13005995A JP2626626B2 JP 2626626 B2 JP2626626 B2 JP 2626626B2 JP 7130059 A JP7130059 A JP 7130059A JP 13005995 A JP13005995 A JP 13005995A JP 2626626 B2 JP2626626 B2 JP 2626626B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring pattern
- printed circuit
- circuit board
- antenna
- wiring
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は従来の布線検査機のよう
に多数のピンを用いること無く、簡単な構成で配線パタ
ーンの良否が判別できるプリント基板の布線検査方法に
関する。
に多数のピンを用いること無く、簡単な構成で配線パタ
ーンの良否が判別できるプリント基板の布線検査方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】プリント基板は配線パターンに断線がな
く導通が確実であること、独立の線間の絶縁が確実で異
常な導通がないことが基本であり、このため電気試験つ
まり布線検査が行われる。この検査には各ランドにスプ
リング付きコンタクトプローブ（以下ピンと略す）を接
触させ、各ランドすなわち各ピン間の導通状態を検出
し、基準データと比較し不同であればエラーとして、断
線かショートかの別とその関連するランドの位置あるい
はピンNo.または回路No.を表示あるいは印字する布線検
査機が一般的に用いられる。
く導通が確実であること、独立の線間の絶縁が確実で異
常な導通がないことが基本であり、このため電気試験つ
まり布線検査が行われる。この検査には各ランドにスプ
リング付きコンタクトプローブ（以下ピンと略す）を接
触させ、各ランドすなわち各ピン間の導通状態を検出
し、基準データと比較し不同であればエラーとして、断
線かショートかの別とその関連するランドの位置あるい
はピンNo.または回路No.を表示あるいは印字する布線検
査機が一般的に用いられる。
【０００３】このような検査機は、例えば 0.1インチ間
隔でマトリックス状に配列した数万本ものピン群をプリ
ント基板面に接触させ、各ピンに印加する電圧をスイッ
チング素子を用いて順次スキャンして検査している。
隔でマトリックス状に配列した数万本ものピン群をプリ
ント基板面に接触させ、各ピンに印加する電圧をスイッ
チング素子を用いて順次スキャンして検査している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な多数のピンを用いて検査する検査方法は、 格子位置から外れたランドを持つ配線パターンは検
査できない ピン数の増加に従ってスイッチング素子も増え、コ
スト高となる ランドにピンの傷痕がつき、不良原因となる という欠点を有している。
な多数のピンを用いて検査する検査方法は、 格子位置から外れたランドを持つ配線パターンは検
査できない ピン数の増加に従ってスイッチング素子も増え、コ
スト高となる ランドにピンの傷痕がつき、不良原因となる という欠点を有している。
【０００５】この発明は上記欠点に鑑み、簡易な構成で
検査できる新規な布線検査方法を提供することを目的と
している。
検査できる新規な布線検査方法を提供することを目的と
している。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は、プリント基
板の各配線パターンをアンテナと見なし、その受信信号
から前記配線パターンの断線やショートを検査するプリ
ント基板の布線検査方法であって、図１に示すように、
発振器１に接続された送信アンテナ２から発射された電
波を、受信アンテナとなるプリント基板３の配線パター
ン４で受信し、該配線パターンからの受信信号出力と、
メモリ６に格納された基準信号とを比較器７により比較
して検査するものである。
板の各配線パターンをアンテナと見なし、その受信信号
から前記配線パターンの断線やショートを検査するプリ
ント基板の布線検査方法であって、図１に示すように、
発振器１に接続された送信アンテナ２から発射された電
波を、受信アンテナとなるプリント基板３の配線パター
ン４で受信し、該配線パターンからの受信信号出力と、
メモリ６に格納された基準信号とを比較器７により比較
して検査するものである。
【０００７】
【作用】発振器１の駆動により送信アンテナ２から電波
が発射され、配線パターン４はこの電波を受け受信器５
に入力される。メモリ６には予め基準値が格納されてお
り、この基準信号と前記受信信号とを比較器７で比較
し、不一致であれば前記配線パターン３が不良である旨
の信号を出力する。
が発射され、配線パターン４はこの電波を受け受信器５
に入力される。メモリ６には予め基準値が格納されてお
り、この基準信号と前記受信信号とを比較器７で比較
し、不一致であれば前記配線パターン３が不良である旨
の信号を出力する。
【０００８】本発明により簡易な構成で配線パターンの
良、不良が容易に判別できる。
良、不良が容易に判別できる。
【０００９】
【実施例】図２は本発明の第１実施例を説明するブロッ
ク図である。この図において、11はシートアンテナであ
り、シートにＸおよびＹ方向に延びるアンテナｘおよび
ｙが形成されている。Ｘ方向に延びた配線パターンの測
定にはアンテナｘを、Ｙ方向に延びた配線パターンの測
定にはアンテナｙが給電切換部12により切り換えられ
る。給電切換部12は発振器13に接続される。
ク図である。この図において、11はシートアンテナであ
り、シートにＸおよびＹ方向に延びるアンテナｘおよび
ｙが形成されている。Ｘ方向に延びた配線パターンの測
定にはアンテナｘを、Ｙ方向に延びた配線パターンの測
定にはアンテナｙが給電切換部12により切り換えられ
る。給電切換部12は発振器13に接続される。
【００１０】14は配線パターン15を有するプリント基板
であり、図示しない載置台の固定部材16により所定位置
に固定される。前記配線パターン14の測定ランドにピン
17が押圧接触される。ピン17はインピーダンス整合部18
を介して受信器19に接続される。20は予め良品のプリン
ト基板の各配線パターンから得られた受信信号を基準値
として格納するためのメモリである。
であり、図示しない載置台の固定部材16により所定位置
に固定される。前記配線パターン14の測定ランドにピン
17が押圧接触される。ピン17はインピーダンス整合部18
を介して受信器19に接続される。20は予め良品のプリン
ト基板の各配線パターンから得られた受信信号を基準値
として格納するためのメモリである。
【００１１】21はこの基準値と被検査プリント基板の配
線パターンから得られた受信信号値とを比較する比較器
である。22、23はＸおよびＹ方向のグランドアンテナで
あり、Ｘ方向に延びた配線パターンの測定にはグランド
アンテナ22を、Ｙ方向に延びた配線パターンの測定には
グランドアンテナ23が受電切換部24により切り換えられ
る。
線パターンから得られた受信信号値とを比較する比較器
である。22、23はＸおよびＹ方向のグランドアンテナで
あり、Ｘ方向に延びた配線パターンの測定にはグランド
アンテナ22を、Ｙ方向に延びた配線パターンの測定には
グランドアンテナ23が受電切換部24により切り換えられ
る。
【００１２】25は制御部であり、給電切換部12、受電切
換部24、インピーダンス整合部18、受信器19、メモリ20
の制御およびピン17の位置制御を行う。また26は比較器
20からの信号を処理する処理部である。次ぎに、このよ
うな構成の布線検査機の動作について説明する。まず、
予め他の方法によって測定した良品のプリント基板を図
示しない検査台に載置する。ここで第２図に示すような
Ｘ方向の配線パターン15を検査する場合、給電切換部12
および受電切換部24はアンテナｘおよびグランドアンテ
ナ22を選択する。
換部24、インピーダンス整合部18、受信器19、メモリ20
の制御およびピン17の位置制御を行う。また26は比較器
20からの信号を処理する処理部である。次ぎに、このよ
うな構成の布線検査機の動作について説明する。まず、
予め他の方法によって測定した良品のプリント基板を図
示しない検査台に載置する。ここで第２図に示すような
Ｘ方向の配線パターン15を検査する場合、給電切換部12
および受電切換部24はアンテナｘおよびグランドアンテ
ナ22を選択する。
【００１３】次ぎに、発振器13の駆動により送信アンテ
ナｘから電波が発射され、配線パターン15はこの電波を
受け受信器５に入力されるが、通常配線パターンを受信
アンテナとした場合は不平衡型となりやすく、そのため
インピーダンス整合部18によりインピーダンスを調整し
て共振状態にする。このときの最大受信信号を受信器19
を介してメモリ20に入力する。このようにして全配線パ
ターンに順次ピン17をたて、その時のインピーダンスの
値と受信信号の値を基準データとしてメモリ20に格納す
る。
ナｘから電波が発射され、配線パターン15はこの電波を
受け受信器５に入力されるが、通常配線パターンを受信
アンテナとした場合は不平衡型となりやすく、そのため
インピーダンス整合部18によりインピーダンスを調整し
て共振状態にする。このときの最大受信信号を受信器19
を介してメモリ20に入力する。このようにして全配線パ
ターンに順次ピン17をたて、その時のインピーダンスの
値と受信信号の値を基準データとしてメモリ20に格納す
る。
【００１４】次ぎに、検査すべきプリント基板を載置
し、前記同様に受信器19で電波を受信し、この受信値と
メモリ20から読み出した基準値とを比較器21で比較し、
配線パターンに断線やショートがあれば不一致となるの
で処理部25は前記配線パターンが不良である旨の信号を
出力する。図３は本発明の第２実施例を説明するブロッ
ク図である。前述した実施例は発振周波数を固定とした
が、本実施例では周波数を可変する点が異なる。
し、前記同様に受信器19で電波を受信し、この受信値と
メモリ20から読み出した基準値とを比較器21で比較し、
配線パターンに断線やショートがあれば不一致となるの
で処理部25は前記配線パターンが不良である旨の信号を
出力する。図３は本発明の第２実施例を説明するブロッ
ク図である。前述した実施例は発振周波数を固定とした
が、本実施例では周波数を可変する点が異なる。
【００１５】図３において、31および32は検査台33上に
載置した良品および被検査プリント基板である。34およ
び35はＸＹ方向に移動可能なピンであり、それぞれのプ
リント基板の同一配線パターンにコンタクトするよう制
御される。プローブ34，35は共に受信器36に接続され
る。37はメモリ、38は比較器である。
載置した良品および被検査プリント基板である。34およ
び35はＸＹ方向に移動可能なピンであり、それぞれのプ
リント基板の同一配線パターンにコンタクトするよう制
御される。プローブ34，35は共に受信器36に接続され
る。37はメモリ、38は比較器である。
【００１６】39は周波数が可変の発振器であり、アンテ
ナ切換部40を介してシートアンテナ41に接続される。シ
ートアンテナ41は図４に示すようにＸおよびＹ方向に複
数本のアンテナを有しており、周波数が低いときは長い
アンテナａを、高周波になるほど短いアンテナｃが選択
される。また、前述したようにＸおよびＹ方向の配線パ
ターンに対応してＸまたはＹ方向のアンテナがアンテナ
切換部40により選択される。
ナ切換部40を介してシートアンテナ41に接続される。シ
ートアンテナ41は図４に示すようにＸおよびＹ方向に複
数本のアンテナを有しており、周波数が低いときは長い
アンテナａを、高周波になるほど短いアンテナｃが選択
される。また、前述したようにＸおよびＹ方向の配線パ
ターンに対応してＸまたはＹ方向のアンテナがアンテナ
切換部40により選択される。
【００１７】42は制御部であり、各配線パターンに対応
した発振周波数を出力するよう発振器39を制御したり、
ピンの位置指定、アンテナ切換部40、受信器36、メモリ
37等を制御する。44は処理部であり、比較器38からの信
号に基づき一致、不一致時の処理を行う。
した発振周波数を出力するよう発振器39を制御したり、
ピンの位置指定、アンテナ切換部40、受信器36、メモリ
37等を制御する。44は処理部であり、比較器38からの信
号に基づき一致、不一致時の処理を行う。
【００１８】本実施例での動作を以下に説明する。ま
ず、検査台33上に２枚の良品のプリント基板31，32を載
置する。そして、それぞれのプリント基板の同一配線パ
ターンにピン34，35をコンタクトさせる。次ぎに、発振
器39を駆動させ、受信器36での受信信号が最大となるよ
う周波数を調整し、そのときの周波数の値、最大受信信
号をメモリ37に入力する。このようにして全配線パター
ンに順次ピン34，35をたて、その受信信号を基準データ
としてメモリ37に格納する。
ず、検査台33上に２枚の良品のプリント基板31，32を載
置する。そして、それぞれのプリント基板の同一配線パ
ターンにピン34，35をコンタクトさせる。次ぎに、発振
器39を駆動させ、受信器36での受信信号が最大となるよ
う周波数を調整し、そのときの周波数の値、最大受信信
号をメモリ37に入力する。このようにして全配線パター
ンに順次ピン34，35をたて、その受信信号を基準データ
としてメモリ37に格納する。
【００１９】次ぎに、一方の良品プリント基板32を取り
除き、検査すべきプリント基板32を載置する。そして、
前記同様に各配線パターンに対応する共振周波数を発振
器39から出力し、受信器36で電波を受信し、この受信値
とメモリ37から読み出した基準値とを比較器38で比較
し、被検査プリント基板の配線パターンに断線やショー
トがあれば不一致となるので処理部43は前記配線パター
ンに不良である旨の信号を出力する。
除き、検査すべきプリント基板32を載置する。そして、
前記同様に各配線パターンに対応する共振周波数を発振
器39から出力し、受信器36で電波を受信し、この受信値
とメモリ37から読み出した基準値とを比較器38で比較
し、被検査プリント基板の配線パターンに断線やショー
トがあれば不一致となるので処理部43は前記配線パター
ンに不良である旨の信号を出力する。
【００２０】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように，プリント
基板の配線パターンをアンテナと見なし、基準となる信
号出力と被検査プリント基板の配線パターンからの受信
信号出力とを比較することにより被試験検査パターンの
断線やショートを検査するという本発明によれば、配線
パターン１系列１ポイントの検査で、その系すべてを保
証できる。また従来のスキャン方式に用いられるスイッ
チング素子が不要となり、安価で信頼性の高い検査が可
能となる。
基板の配線パターンをアンテナと見なし、基準となる信
号出力と被検査プリント基板の配線パターンからの受信
信号出力とを比較することにより被試験検査パターンの
断線やショートを検査するという本発明によれば、配線
パターン１系列１ポイントの検査で、その系すべてを保
証できる。また従来のスキャン方式に用いられるスイッ
チング素子が不要となり、安価で信頼性の高い検査が可
能となる。
【００２１】さらに、格子位置から外れるようなランド
にも適用できる等の効果がある。
にも適用できる等の効果がある。
【図１】本発明の原理を説明する図である。
【図２】本発明の第１実施例を説明する図である。
【図３】本発明の第２実施例を説明する図である。
【図４】第２実施例に用いるシートアンテナの平面図で
ある。
ある。
11，41 シートアンテナ 12 給電切換部 13，39 発振器 14，31，32 プリント基板 15 配線パターン 17，34，35 プローブ 18 インピーダンス整合部 19，36 受信器 20，37 メモリ 21，38 比較器 22，23 グランドアンテナ 24 受電切換部 25，42 制御部 26，43 処理部
Claims (1)
- 【請求項１】 発振器に接続された送信アンテナから発
射された電波を、受信アンテナとなるプリント基板の配
線パターンで受信し、該配線パターンからの受信信号出
力により配線パターンの良否を検査することを特徴とす
るプリント基板の布線検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7130059A JP2626626B2 (ja) | 1995-05-29 | 1995-05-29 | プリント基板の布線検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7130059A JP2626626B2 (ja) | 1995-05-29 | 1995-05-29 | プリント基板の布線検査方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61101802A Division JPH0636007B2 (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | プリント基板の布線検査機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07301652A JPH07301652A (ja) | 1995-11-14 |
| JP2626626B2 true JP2626626B2 (ja) | 1997-07-02 |
Family
ID=15025049
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7130059A Expired - Lifetime JP2626626B2 (ja) | 1995-05-29 | 1995-05-29 | プリント基板の布線検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2626626B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000346894A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-12-15 | Fujitsu Ltd | 配線板の検査装置および検査方法 |
-
1995
- 1995-05-29 JP JP7130059A patent/JP2626626B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000346894A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-12-15 | Fujitsu Ltd | 配線板の検査装置および検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07301652A (ja) | 1995-11-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970218 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |