JPS62250366A - オツシロスコ−プ - Google Patents

オツシロスコ−プ

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JPS62250366A
JPS62250366A JP9342686A JP9342686A JPS62250366A JP S62250366 A JPS62250366 A JP S62250366A JP 9342686 A JP9342686 A JP 9342686A JP 9342686 A JP9342686 A JP 9342686A JP S62250366 A JPS62250366 A JP S62250366A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveform
display
circuit
supplied
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9342686A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Ichijo
一條 博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kenwood KK
Original Assignee
Kenwood KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Kenwood KK filed Critical Kenwood KK
Priority to JP9342686A priority Critical patent/JPS62250366A/ja
Publication of JPS62250366A publication Critical patent/JPS62250366A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はオツシロスコープに関し、さらに評言すれは表
示波形の拡大表示時に指定した部分を表示管面上にて表
示可能としたオッシロスコープに関する。
(発明の背景) オツシロスコープにより波形を観測する場合に、信号の
一部のみを拡大して観測したい場合がある。
この場合に、観測している部分のみを拡大するためには
感度を切替え、信号全体に対する振幅を増大させ、位置
指定& +7ユームで観測波形を希望位置にずらせて視
ることが行なわれる。
上記にて不充分なときは、入力結合状態を交流結合とし
て観測されるが、このとき信号が低い周波数のときは観
測波形が揺れて実際上観測できない。
また、入力結合状態を直流結合として観測する場合にお
いても、いちいち位置指定ボリュームを調節して観測波
形が管面上の所望位置にくる工うにせねはならない問題
点があった。
本発明は上記の問題を解決したオッシロスコープを提供
することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は上記の問題点を解決するために、下記のように
構成した。
オッシロスコープ表示波形の時間軸指定範囲内における
被観測信号の最大値および最小値を検出する検出手段と
、検出手段により検出された最大値をCRT管面表示上
端位置に割り当てた値から減算し、検出手段により検出
された最小値からCRT管面表示下端位置に割如当てた
値を減算し、かつ両減算によって得た2つの値の差を演
算する演算手段とを備え、演算手段により演算された差
に対応した信号をオフセット信号として垂直増幅器に供
給して、被観測信号の波形表示位置を垂直軸方向に偏移
させてCRT管面表示上端位置とCRT管面表示下端位
置との間に位置させるようKした。
(作用) 上記の如く構成された本発明において、オツシロスコー
プ表示波形の時間軸指定範囲内における被観測信号の最
大値および最小値が検出手段により検出される。
一方、CRT管面表示上端位置および下端位置にはそれ
ぞれ値が割シ当てられている。たとえばCRT管面表示
下端位置を基準としてCRT管面表示上端位置に対応す
る値が割り当てられている。
そこで検出手段により検出された最大値がCRT管面表
示上端位置に割シ当てた値より大きいときは表示波形の
一部はCRT管面表示上端位置をはみ出している状態で
ある。また逆に検出手段にょジ検出された最小値がCR
T管面表示下端位置に割り当てた値よシ小さいときは表
示波形の一部はCRT管面表示下端をはみ出している状
態である。
しかるに、演算手段によって検出手段によって検出され
た最大値がCRT管面表示上端に割υ当てられた値から
減算され(この減算値をa)、検出された最小値からC
RT管面表示下端に割り当てられた値が減算され(この
減算値をb)、かつ(a−b)が演算される。この(a
−b)に対応した信号がオフセット信号として垂直増幅
器に供給される。
このオフセット信号は(a−b)の極性にょυその極性
が制御され、(a−b)の絶対値にょシそのレベルが制
御され、被観測信号波形は垂直軸方向に前記極性にした
がった方向にかつ前記絶対値に対応した値だけ偏移され
、被観測信号波形はCRT管面上に表示されることにな
る。
(発明の実施例) 以下、本発明を実施例により説明する。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
第1図においてはオツシロスコープの垂直軸回路の一部
が示してあり、入力被観測信号は入力端子1を通して、
入力結合回路2、減衰器3、垂直前置増幅器4、垂直増
幅器5および垂直出力増幅器6t−経て、CRTの垂直
偏向回路に供給される。
ここで入力結合回路2は直流結合、交流結合の中の1つ
を選択可能に構成してあシ、減衰器3は入力信号を所定
レベルに減衰する減衰器であり、垂直前置増幅器4、垂
直増幅器5および垂直出力増幅器6は減衰器3から出力
された信号レベルを順次増幅し、CRTの垂直軸方向の
振幅に対して偏向を掛ける。垂直増幅器5は、外部から
与えたバイアス電圧により入力信号に対しオフセットが
加えられるように構成してあり、前記バイアス電圧はオ
ツシロスコープのパネル面につまみが設けられたポテン
ショメータフにより変化させられ、ポテンショメータ7
の出力電圧の変化により表示波形の垂直軸上における位
置が上下させられる。
またポテンショメータ7の出力電圧と後記するディジタ
ル/アナログ変換器9からの変換出力とを切替える切替
スイッチ手段8を介して何れか一方の電圧を選択して前
記バイアス電圧として印加する。
一方、減衰器3からの出力はオツシロスコープ表示波形
の時間軸範囲指定信号を受けて、指定された時間軸範囲
における最大値電圧および最小値電圧を検出する検出回
路10に供給する。検出回路10の一例は後記する。
検出回路10にて検出した最大値電圧および最小値電圧
は、演算制御回路11に供給する。演算制御回路11は
入力された最大値電圧と最小値電圧と、表示範囲とから
表示が管面内に入るべくオフセット電圧を演算し、演算
オフセットデータをディジタル/アナログ変換器9に供
給する。
説明の都合上検出回路10についてまず第3図および第
4図により説明する。
被測定信号が反転入力端子に供給されるアナログ比較器
21−1および非反転入力端子に供給されるアナログ比
較器21−2とからなるアナログ比較器1に被測定信号
を供給し、被測定信号とディジタル/アナログ変換器(
以下、D/A変換器)26の出力と比較する。アナログ
比較器21−1の出力と測定区間信号とはナンド?−)
22.に供給し、ナンドデート22−1の出力によりフ
リップフロッグ23−4をセットする。
同様にアナログ比較器2X−2の出力と測定区間信号と
はナンドr−)2L2に供給し、ナンドデート22−2
の出力によりフリップフロッグ23−2をセットする。
ここでナンドデー)2L、および22−2はゲート手段
を構成し、フリップフロッグ231および23−2は反
転検出手段を構成している。
第2図(a)は被測定信号波形の一例を、第4図(b)
は測定区間信号を示し、測定区間信号は論理“1″(以
下単に高電位と記す)の信号であり、たとえはオツシロ
スコーグの掃引区間信号である。
カウンタ25には制御演算回路24からクロック・母ル
スを供給して、それを計数し、カウンタ25の計数値は
D/A変換器26に印加してアナログ信号に変換すると
共に、制御演算回路24に供給する。
いま、D/A変換器26に与える入力を零から始める本
のとする。逆に総てのビットが1′となる入力を与える
ところから始める事も可能である。
カウンタ25にクロックパルスが供給される毎にカウン
タ25にて計数され、カウンタ25の計数値はアナログ
電圧に変換のうえ、アナログ比較器21に与えられる。
このアナログ電圧と被測定信号とが比較されて、両者の
大小関係が逆転するとアナログ比較器21 (2Ltお
よび2l−2)の出方が反転する。一方、アナログ比較
器21の出力は測定区間を指定する信号によりf−)さ
れている。
このためアナログ比較器21 (2L、および2l−2
)の上記反転が測定区間内のときはフリップフロッグ2
3−1がセットされ、フリップフロップ23−1のQ出
力は高電位となる。フリップフロラ7”23−。
のQ出力が最初に高電位になったことは制御演算回路2
4により検出され、カウンタ25の計数値は読み込まれ
る。この読み込みの終了によりフリップフロッグ23が
リセットされる。
したがってカウンタの読み込まれた上記の計数値が被測
定電圧の最小値Bである。仮にD/A変換器26を全ビ
ット11”から始め、カウンタ25にて“−1#してい
くようにすれば、フリップフロッグ23−2のQ出力が
最初に高電位になったときにカウンタ25の計数−が読
み込まれ最大値となる。
つぎに、フリップフロッグ23 (23−、および2:
L2 )をリセットしながら、カウンタ25にクロック
ツ臂ルスを供給することにより、カウンタ25の計数値
は上記した値から順次“+11されていき、アナログ比
較器21 (2L、および2l−2)の出力が反転しな
くなるまで続け、アナログ比較器21 (2Ljおよび
2l−2)の出力が最初に反転しなくなったことはフリ
ップフロッグ23−2のQ出力がセットされなくなった
ことによって制御演算回路24にて検出され、この検出
によってそのときのカウンタ25の計数値が読み込まれ
る。この計数値は被測定電圧の最大値Aである。また、
仮にD/A変換器26を全ビット“1”から始め、カウ
ンタ25にて′−1”していくようにすれば、フリップ
フロラf23−.のQ出力が最初にセットされなくなっ
た時にカウンタ25の計数値が読み込まれ、この値が最
小値となる。
制御演算回路24によって、読み込んだ最小値Bと最大
値との差(A−B )演算が行なわれて、ピーク−ピー
ク間の電圧が測定される。
なお、この場合、最小値Bと、最大値Aとの間において
、フリップフロッグ3(:l、お−よび3−2)をリセ
ットしながらカウンタ25にクロックパルスを供給して
いるため、最小値Bと最大傭人との間における被測定信
号の変化は単調増大(減少)である必要もない。
なお、上記した一実施例においてはカウンタ25を用い
た場合を例示したが、カウンタ25に代ってレジスタを
用いることもできる。レジスタを用いた場合は、その置
数値は制御演算回路24により与えられる。この−例と
して一旦、所定の置数値が与えられた後、インクリメン
ト、またはデイクリメノトシて置数値を順次変更すれば
よい。
入力端子1に供給された信号は入力結合回路2を介して
減衰器3に導かれて、減衰のうえ垂直前置増幅器4に供
給され、増電される。
同時に減衰器3からの出力は検出回路10に供給されて
、最大値電圧および最小値電圧が検出される。いま仮に
検出回路100分解能を8ビツトとすればピークの最大
値はFF(H) ”’までとり得る。また検出回路10
に使用をしているディジタル/アナログ変換器26の入
力がたとえばFF(H)“のときにCRT管面で表示上
端位置く対応させ、”00(H)”のときにCRT管面
表示下端位置に対応させたとき、CRT管面上の垂直軸
方向の中心Cは80(H) ”が対応する。ここで、第
2図(a)に示す如く減衰器3で減衰された信号の最大
値電圧と最小値電圧間の電位差が”FF()1)”を超
えるような場合には、第2図(&)に示す如く入力信号
波形の希望する部分すなわち前記した時間軸指定範囲内
の入力信号波形をCRT管面上に全部全表示できず、入
力がCRT管面の有効範囲を超えている状態であって、
演算制御回路11は警報表示をなすのみである。
つぎに第2図(b)に示す如く減衰器3で減資された信
号の最大gL電圧と最小値電圧との間の電位差が”FF
(H)=を超えない場合、−FF(H)”−’A(6)
1=″a”、’B(H)”−′00(H)’=”b’お
よび′a”−′b#=″d# の演算が演算制御回路1
1にて行なわれ、演算結果dがディジタル/アナログ変
換器9に供給される。ここで、”A(H)”は最大値電
圧であり、第2図に示す如く’FF(H)’を超えてい
るときはFF(H)’である。また”B(H)’は最小
値電圧であり、′00(H)”側にオイてCR’l’管
面外へはずれているトキは’00(H)’である。
したがって第2図(b)に示す状態においては、切替ス
イッチ手段8によりディジタル/アナログ変換器9の出
力が選択されているときは、CRT管面上の波形は第2
図において、第2図(b)から下側にd#に対応する距
離移動させられて、第2図(e)に示す如くになり、C
RT管面上で希望する信号をほぼ中央付近において表示
させることができる。
また、被観測波形がCRT表示管面の下端位置からはみ
出しているときも同様な演算がなされ、被観測波形は第
2図において上側へ演算結果に対応した童だけ移動させ
られる。
なお、上記の例においては、検出回路1oの分解能およ
びCRT管面上端、下端位置を示すディノタル値を8ビ
ツトとしているが必要に応じて変えることもできる。
また、検出回路10の入力は垂直前置増幅器4または垂
直増幅器5の出力から得てもよい。
(発明の効果) 以上説明した如く、オッシロスコープ表示波形の時間軸
指定範囲内における被観測信号の最大値と最小値を検出
し、この検出による最大値をCRT管面表示上端に割り
当た値から減算した第1の値を得るとともに、前記検出
による最小値からCRT管面表示下端に割り当た値を減
算した第2の値を得て、第1の値と第2の値との差を演
算し、演算された差に対応し九信号をオフセット信号と
して垂直増幅器に与えて、前記時間軸指定範囲内の波形
がCRT管面内に入るようにしたため、いちいちバイア
ス付加のための位置指定/ IJニームを調節する必要
はなくなる。またDC結合の状態で波形観測ができるた
め正確に波形を評価することもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図。 第2図は本発明の一実施例の作用の説明に供する波形図
。 第3図は本発明の一実施例に用いた検出回路の一例を示
すブロック図。 第4図は第3図に示す検出回路の作用の説明に供する波
形図。 2・・・入力結合回路、3・・・減衰器、4・・・垂直
前置増幅器、5・・・垂直増幅器、8・・・切替スイッ
チ手段、9・・・ディジタル/アナログ変換器、10・
・・検出回路、11・・・演算制御回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. オツシロスコープ表示波形の時間軸指定範囲内における
    被観測信号の最大値および最小値を検出する検出手段と
    、検出手段により検出された最大値をCRT管面表示上
    端位置に割り当てた値から減算し、検出手段により検出
    された最小値からCRT管面表示下端位置に割り当てた
    値を減算し、かつ両減算によつて得た2つの値の差を演
    算する演算手段とを備え、演算手段により演算された差
    に対応した信号をオフセット信号として垂直増幅器に供
    給して、被観測信号の波形表示位置を垂直軸方向に偏移
    させてCRT管面表示上端位置とCRT管面表示下端位
    置との間に位置させるようにしたことを特徴とするオツ
    シロスコープ。
JP9342686A 1986-04-24 1986-04-24 オツシロスコ−プ Pending JPS62250366A (ja)

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JPS62250366A true JPS62250366A (ja) 1987-10-31

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5498532A (en) * 1978-01-23 1979-08-03 Toshiba Corp Enlarged display system
JPS5923391A (ja) * 1982-07-29 1984-02-06 富士通株式会社 プラズマデイスプレイパネルの駆動回路
JPS6157860A (ja) * 1984-08-30 1986-03-24 Shin Kobe Electric Mach Co Ltd 波形観測装置
JPS6138568B2 (ja) * 1978-04-03 1986-08-29 Mc Graw Edison Co

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