JPS5872053A - 超音波試験装置 - Google Patents

超音波試験装置

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JPS5872053A
JPS5872053A JP57175246A JP17524682A JPS5872053A JP S5872053 A JPS5872053 A JP S5872053A JP 57175246 A JP57175246 A JP 57175246A JP 17524682 A JP17524682 A JP 17524682A JP S5872053 A JPS5872053 A JP S5872053A
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pulse
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、試験片における欠陥部によって反射された
超音波信号を表示するための表示面と欠陥応答性超音波
エコー信号を評価ずろための時間ゲートとを備之ていて
この時間ゲートが信性及び長さの変化するバー(ゲート
バー)の形で表示面上に表示され、そのさいゲートバー
の長さが時間ゲートの持続時間に対応しかつバーの高さ
が最大エコーパルス振幅を表す基準電圧に対応するよう
になっている試験片の非破壊試験用超音波計測器に関す
る。
超音波パルスによる試験片の非破壊試験においては、試
験中の試験片におけろ特定の深さ範囲に対応する走行時
間範囲を選択するために電子的時間ゲートを使用するの
が普通である。エコーパルスはそのさい各走行時間範囲
に対して別別に評価することができる。例えば、あるゲ
ートはある深さ範囲内で発生する欠陥応答性エコー信号
に対して又別のゲートは後壁エコーに対して使用するこ
とができる。試験中、試験プローブは通常試験片の表面
−トで移動させられる。百分の数秒ないし十分の数秒の
間隔で超音波パルスが送受信されろ。
超音波装置の表示面上における唯一の知覚可能な結果は
試験プローブの運動によって引ぎ起とされたパルス表示
のゆらぎである。所定の深さ範囲内で最大パルス振幅が
発生するプローブ位置は特に重要である。それゆえ手操
作試験中、試験プo −ブを試験片上で前後に移動させ
、必要ならばそれの長手軸のまわりに回転させて、最大
のパルス振幅を確かめるようにする。この最大エコーパ
ルス振幅を確定する過程は試験片における欠陥を評価す
るのに不可欠であり、表示面を観察するさい比較的高い
注意力を必要とする。パルス振幅におけろゆら永゛は非
常に速いので最大値は容易に見落とされろことがある。
試験プローブの移動中、パルス振幅のピーク値は非常に
しばしば超過されるが、その場合には新しく発生されな
げればならない。
種種の時点で発生する想定の最大値の間には直接の比較
は存在しない。よく行われる救済策は知覚した最大値を
なお一層高い値が場合により認められるまで油性ペンな
どで表示管の表示面にマークしておくことである。この
試験方法は複雑であって時間を浪費する。スプリアス超
音波パルス表示によって悩ませられないように、調査中
の深さ範囲(期待範囲)に対して限界値な設定してこの
設定限界値を越えるパルス振幅だけで表示することが行
われている。クラウトクレーマ著「超音波による材料試
験」第2版(” Ultrasonic Testin
gof Materials ” by J、 &I1
. Krautlcramer +2nd ed、  
Springer−Verlay 、 Berlin。
Heidelberg、 New Yorlc+ 19
77 )の第247ページを参照せよ。1980年10
月210出願のピー・レンゼル(P、 Renzel 
)外の米国特許出願第199244号[超音波試験デー
タの表示(Display of Ultrasoqt
nd Te5t Da、ta )、すなわち1982年
6月8日付は米国特許第43333/15号も又、限界
値の高さ及び関心事の深さ範囲を調整することができか
つこの調整された座標値により表示面」二にバーとして
それらを表示することのできる方法及び回路を記載して
いる。しかしながら、これらの既知の方法では連続して
受信した多数の超音波信号のピーク振幅を自動的に測定
して表示することは不可能である。
連続して受信した多数の超音波パルスのピーク値を測定
して表示するように設計された別の既知の回路は特願昭
53−125285号に示されている。この目的のため
に、試験されるべき全走行時間範囲が多数の部分範囲に
分割され、各範囲において振幅計数器が振幅を計数して
時間と振幅情報の両方を記憶するが、振幅計数器は上方
C順方向)にのみ計数を行うように構成されている。記
憶された情報を呼び出して超音波計測器の表示面に表示
するためには手動スイッチを使用している。
この構成の欠点はこれまで最大の超音波パルスの振幅が
表示面に表示される前にスイッチを動作させなければな
らないことである。更に、−塵発生した最大エコーのみ
が表示面」−に再現され表示される。エコー振幅又はこ
れの変化の増大に追従することが不可能である。又、既
知の装置は比較的複雑なスイッチング回路を必要とする
ので不利である。
この発明の目的は、既知の計測器におけるものよりも簡
単でありかつ連続して受信した多数の超(9) 音波エコー信号のピーク振幅の読取り過程を簡単化ずろ
スイッチング装置を設けろことである。
この発明の特別の利点は、試験片表面上における試験プ
ローブの前後移動運動から生じる種種のエコー振幅のピ
ーク値が測定されるだけでなく連続して表示されること
である。
この発明のその他の詳細事項及び利点は図面について説
明されろ構成例から容易に明らかになるで゛あろう。
第1図は超音波計測器の表示面1を示したもので、この
表示面には試験片の試験中に通常表示面において見られ
るような種類の超音波パルス図形が示されている。この
図には表示面1に現れろ送信パルス2、欠陥から生じろ
反射エコー(又は欠陥エコー)3、試験片の後壁から生
じるエコー4が示されている。高さ、側方位を行及び長
さの変わるゲートバー5も表示面1上に見られろ。バー
5の長さは時間ゲート(欠陥期待範囲)t2−t、に対
応する。バー5の高さはこの発明により、時間ゲ−1・
の設定によって決定された所定の測定範囲(10) で受信されたすべての欠陥エコー振幅3のピーク値の高
さに等しい。
それゆえ、試験中試験プローブを試験片の表面」二で欠
陥に対して移動させると、欠陥からのエコーが対応する
時点でパルス表示3の形において受信される。パルス表
示が事前選択された時間ゲートt2− t、  におい
て発生するならば、この発明によりバー表示はパルス表
示のピークにおいて現れる。バーの長さは時間ゲートt
2−t1の持続時間に対応する。表示されたパルスがグ
ローブのその後の運動中に一層高い振幅を有するならば
、バーはパルスのピークまで上昇する(第1図b)、こ
れに反して、試験グローブのその後の運動中にパルスの
振幅が低くなる場合には、バーはパルスのピークが試験
プローブの運動中バーより下にとどまるかぎり以前の振
幅にとどまる(第1図C)、試験プローブのその後の運
動中になお一層高いパルスが表示されたならば、バーは
この発明によりその高いパルスのピークまで移動する(
第1図d)、従って、試験中バーはそれまでに達成され
た最大(11) エコーパルス振幅を常に表示することになる。
第2図は受信エコー振幅に依存してゲートバーの高さを
変えるための回路の好適な構成例を示す。
この図にはトルガパルス発生器27(クロック)、超音
波パルス送信機25、及び受信増幅器24が示されてい
る。送信機出力及び受信機入力は試験片15に結合され
た試験プローブ1:3に接続されている。この回路には
又時間ゲート発41−1装置6、比較器17、スレシホ
ルド(r’l Iff 姪惨)電圧発生器23、アンド
ゲート19、スイッチ11及び12、並びに陰極線管か
らなる表示装置10がある。
トリガパルス発生器27は超音波パルス送信機25をト
リガするための周期的パルス21を力え、これによりプ
ローブ13はエネルギーH4されて超音波探索ペルスを
送信ずろ。試験片15におけろ反射部14によって発生
されたエコーパルス及び試験片の後壁からのエコー信号
はこの構成例においてはパルスの各走行時間の経過後に
同じグローブ13により受信されて、電気的パルスに変
換(12) され、そして受信増幅器24において増幅されろ。
二の発明に関しては、エコーパルスが同じプローブ13
によって受信されろか、それとも別のプローブによって
受信されるかは問題ではない。トリガパルス21は時間
ゲート装置6をも動作させ、これによって時間ゲートパ
ルス7が発生される。
ゲートパルス7の長さ及び開始点は都合よく選択するこ
とができ、第1図に示されたよ5に時点t1及びt2に
よって表され℃いる。
例えば、パルス7が存在する(開放ゲート状態である)
時間中に最初に欠陥応答パルス3が発生すると、以下に
おいて説明させるように、セットパルス18が発生され
る。このセットパルスはスレンホルト発生器230人力
23gに供給される。
スレンホルト発生器23の出力23αには基準又は比較
電圧8が現れるが、この電圧8は各セットパルス18に
より1段階ずつディジタル的に増大する。基準電圧8は
比較器17の一方の入力17fに供給され、又比較器1
7の他方の入力17eには増幅器24によって増幅され
たエコ一応答パル(13) ス2 、 :3 、4が供給される。従って、比較器人
力17eにおけるバ/l/ス2 + ’、’3 r 4
が入力17fにおける基準電E8の値より高いピーク値
を有するときには比較器出力11avCパルスが得られ
ろ。
比較器17によって供給されたパルスはアントゲ−1−
19の一方の人力19fに供給され、又そり。
の他方の人力19aVCは時間ゲート発生器6からの時
間ゲートパルス7が供給さjt7+o従って、アントゲ
−11ゲート19の入力19fにおけろパルスの中から
、時間ゲートパルス70期間中に存在スるパルス、すな
わちこの例ではパルス3だけを通過させる。パルス3は
セットパルス18としてスレンホルト発生器入力23C
にイj(給されろ。
対応する数のセットパルス18によって基準電圧8がパ
ルス2,3又は4のピーク値の一つよりも1ディジタル
段階だけ高くなっている場合には、比較器17はパルス
を阻止して、そのような時間中にはそれの出力にパルス
を発生しない。これがパルス3の場合であるならば、ゲ
ートパルス7により決定される時点t1ないしt2の期
間中はア(14) ンドゲートによってパルスが送られない。その曲のパル
スは、同様にアンドゲートを通過することができないの
で、ここでは考慮する必′要がない。
しかしながら、それ以上のセットパルスが発生されない
場合には、スレンホルト発生器23はその出力における
基準電圧8を増大させることができない。ゲート信号7
0期間中に発生するパルス3が対応する基準電rilE
8よりも高いピーク値を有する場合においてのみ、セッ
トパルス18が再び発生され、そして基準電圧8は再び
パルスのピーク値より1ディジタル段階だけ高くなるま
で増大する。望ましくは電子的に動作する第1のスイッ
チ11によって、陰極線管表示部10の信号増幅器、す
なわち望ましくはY増幅器が循環的にかつ交互に、パル
ス表示2,3.4を与えろために受信増幅器24の出力
と、時間ゲート信号7内でこれまでに発生した最高のピ
ークを表示するために基準電圧8とに接続される。その
結果、陰極線管表示部10の表示面1にはニドまでに表
示された最高ピークパルス振幅に等しい高さの所に水平
なバー(15) が示される。第1スイツチ11が利口する位置にあると
きに表示面上にパルスを表示するために、第2のスイッ
チI2を使用して表示部10の全走査線掃引中表足面の
表示の輝度を強くし、又スイッチ11が能力の位置にあ
るときには、表示面の表示は望ましくはパルス7によっ
てゲート期間中だけ輝度を強くされる。その結果、ゲー
ト信号7の期間中、すなわち時間ゲート期間t1ないし
t2の期間中だけ表示面にバーが現れろ。
スイッチ20を用いてスレンホルト発生器よりセットし
、最小値で始まる基準電圧8により新しい測定過程を開
始させろことができろ。
第3図によるこの発明の構成例においては、スレンホル
ト発生器23がD/A変換器231、フリップフロップ
232及びマイクロプロセッサ233からなっている。
アンドゲート19によって発生されたセットパルスはま
ずフリップフロップ232に供給することが望ましい。
フリップフロップはトリガ発生器27からの各パルスの
発生に応答して導線234を通してマイクロプロセラ(
16) すによりリセットされる。フリップフロツバ232ハハ
ルス26を発生するが、これはセットパルスとしてD/
A変換器に供給されて基準電圧8なディジタル段階的に
増大させる。電圧8が超音波パルス3の振幅より1ディ
ジタル段階高いときには比較器17が閉そくされる。前
に述べたように、新しいセットパルス18が発生されな
いので、フリップフロップ232はセットされず、従っ
てD/A 変換器2 :3 ]にセットパルスを供給し
ない。
対応する基準電圧8よりも高いピーク値を有するパルス
3がゲートパルス70期間中に発生した場合においての
み、フリップフロップ232が再びセットされて、基準
電圧8はパルス3のピーク値よりも再びJディジタル段
階高くなるまで増大する。
第4図は基準電圧8をパルスのピーク値に迅速に調整す
るためのこの発明の別の構成例を示す。
図示したように、電圧8は起こり得る最大パルス高の半
分の所に既に設定されている(第4図α)。
次に、前に説明したように、比較器17におい(17) て比較が行われて、比較器が時間ゲート内に出力信号を
供給していない場合には基準電圧が起こり得るパルス高
の4分の1だけ減小しく第4図b)、又比較器が時間ゲ
ートの期間中にフリップフロップ232にパルスを供給
していない場合には基準電圧カ起こり得るパルス高の4
分の1だけ増大する。後続の諸段階中は基準電圧が起こ
り得ろパルス高の1 / 8 、1 / l 6 、l
 / :32 、 I / 64及び1/128だけ増
大又は減小して(第4図C1第4図d)、例えば7番目
のトリガパルスの後では基準電圧はピークパルス値に十
分に接近しており、少数のディジクル段階Y+J加する
ことにより前述の1ディジタル段階だけパルスピーク値
より高くなることができろ。この連続的な近似はマイク
ロプロセッサ233(第3図)によって行うのが好都合
であるが、その場合マイクロプロセッサからD/A変換
器231への接続部2:(5は対応する数の整、例えば
この場合には8本の導線を有していなければならない。
特にアナログ信号処理に使用するためのこの発(18) 明の別の構成例においては、既知のピーク検出器を使用
ずろ。この種のピーク検出器はコンデンサの充電を利用
しており、例えば、ジエイ・アール・ネイラ(J、 R
,Naylor )によってアイ・イー・イー・イー・
スペクトラム1971年6月号41、/12ページの「
演算増幅器のディジクル及びアナログ信号応用J (D
igital and AnalogSignal A
pplications of 0perationa
lAtn、plifiers、 IEEE Spect
rum、 June 1971゜pages 4 ] 
/42 ’)において説明されている。しかしながら、
このようなピーク検出器には、時間ゲートにおいて繰り
返される超音波パルスを増幅することができず、又測定
されるべきエコ一応答信号よりも大きい振幅をもったス
プリアス・パルスによって誤測定な生じることがあると
いう欠点がある。
第5図はこの発明の別の構成例を示す。この図には普通
の超音波装置の構成部分、すなわち、l・リガパルス発
生器27、パルス送信機25、反射部14を有する試験
片15に結合されたプローブ(19) 13、受信増幅器24、時間ゲート信号発生器6、表示
部10、及び表示管に対ずろ掃引発生器101が示され
ている。この回路の構成例において、35で示したブロ
ックには又、アントゲ−1・30、既知の種類のピーク
検出器31.4((びにトリガ可能なスイッチ11及び
12の語構成部分がル)ろ。
この回路の構成及び動作は更に第6図のパルス図によっ
て図解されろ。第6図によにいて、ゲー用・6の動作は
パルス7によって表されろ。トリガパルス21は個個の
測定過程を繰り返してトリガする。超音波パルス:3は
時間ゲートの期間中に、すなわち期待範囲中に受信され
る。表示管10に対する走査線掃引はのとぎり波パルス
+ 03によって表される。電圧3Bはピーク検11曽
’:’j 3 lにおける対応する電圧である。スイッ
チIIの出力側には表示部10におけろ直流電圧がパル
ス;39で示されたよりにパルス波形においてのみ存在
ずく)。
線3/39は各トリガ過程に対して表示部10の管によ
って表示されたパルスを表し、又線:(+5は目で認め
られたパルス表示を表すものでル)って(20) バー5の高すはパルス39の高さに対応している。
第5図及び第6図並びに説明においては、時間ゲート内
で受信されたパルス3について言及されている。その他
のパルス、例えば送信パルス、後壁からのエコーパルス
、及び時間ゲートの外側のその曲のパルスはもちろん存
在するが、この発明と関係がないので図示されていない
第5図及び第6図による例においては、測定期間内のピ
ークパルス振幅を表示するために、ピーク検出器31が
スイッチ20を閉じることによって低い値にセットされ
ろ。スイッチ20が開かれて受信増幅器24がパルスを
供給する場合には、アンドゲート300Å力30Qにこ
のパルスが加えられる。時間ゲートパルス7が同じアン
ドゲートの入力30eに加えられているので、受信パル
スは時間ゲート範囲内で生じた場合にはアンドゲート3
0を通過することができてピーク検出器31に供給され
る。
従って、コンデンサ36はパルスのピーク電圧で充電さ
れろ。コンデンサ36な充電する電圧よ(21) り低い電圧ピークを有ずろその後のパルスは充電電圧に
影響を与えない。コンデンサ36はそれゆえ、これまで
に発生したパルスによって処理された最高のピーク電圧
に充電されたままである。
各トリガパルス21は表示管に対する掃引発生器101
を動作させかつ期待範囲に対して時間ゲート発生器6を
トリガするので、ゲート発生器6はパルス7を発生する
。トリガパルスは又スイッチ11及び12を望ましくは
交互に切り換えろ。
両スイッチが上方位置にあるときには、正常な超音波パ
ルス図形が表示面に表示され、又両スイッチが下方位置
にあるときには、ピーク検出器:つlを充電する電圧3
8が時間ゲートパルス70期間中においてのみ表示され
るが、この場合この期間中は表示の輝度制御を輝度制御
段102によってではなくゲート発生器6によって行う
のが有利である。又、基準電圧38が表示されていると
きには送信機25が超音波パルスを発生しないような方
法で送信機を容易にトリガすることも用油である。トリ
ガパルス21は通常毎秒数百ないし数千(22) 回発生されるので、エコーの表示から電圧38の表示へ
の切り換わっても目はこの変化に追従することができず
、従って表示面には正常な超音波パルス図形とピーク検
出器におけろ電圧38とが表示されろ。この発明によれ
ば、この電圧はこれまでに発生した最高パルス振幅のピ
ークと同じ表示面上の高さで時間ゲートの持続時間に対
して水平なバー5どして示されろ。
スプリアス・パルスによる測定値のひずみを避けろため
に、この発明の別の構成例においては、ピーク検出器に
は各トリガ動作の時間ゲートの期間中に中断されずに連
続してN回発生するパルスだけが供給されろ。この目的
のために必要とされる伺加的な構成部分は、第7図に示
したように、パルス計数器:32、別のアントゲ−1・
34及び比較器33である。アンドゲート30には三つ
の入力がある。この変更例においては、前のように、ス
イッチ20によりピーク検出器31が低い値に設定され
、そのさい計数器32は後で説明されるそれの動作に従
って「ゼロ」に設定される。スイ(23) ツチ20が開かれて受信増幅器24がパルスを供給ずろ
と、このパルスは比較器330入力33 、fにも加え
られ、ろ。コンデンサ;う6がまだ充電されていないの
で、比1咬器入力33eには低い電圧が供給されろ。比
較器はそれゆえ受信機からのパルスを通過させてこれを
アントゲ−1・:34の入力34eに供給する。アント
ゲ−1・の人カニ34fは時間ゲートパルス7を受けて
いるので、受信パルスは時間ゲートの範囲に入ろかぎり
アン1゛ゲートを通過することができて計数器32の入
カニ32eに供給されろ。計数器32は、その人カニ3
2eに連続してN回パルスが供給されろ、すなわち入力
32eで検出される連続I−だゲート信号70期間中に
パルスが供給されろとそ′jtの出力32 aに直流パ
ルスが形成されろよ5に設計されてい乙)。時間ゲート
パルス70期間中の任意の時点で計数器;32がその人
力32 eにパルスを受けないならば、計数器はその開
始ずなわち[ゼロJA装置に再び切り換わる。計数器は
それゆえ、その出カニ32a、従ってアントゲ−1−3
0の第3人力3 Ofが、測(24) 定されるべきパルス3が各時間ゲートパルスの期間中に
存在しているかぎり、連続してN回開放パルスを受けろ
ように設計されている。アンドゲート300Å力30e
にもゲートパルス7が供給さり、、又それの入力30g
には受信機24によって与えられろパルス3が供給され
ろ。従って、ゲ−1・出力30aは受信機24からのパ
ルスが時間ゲート内で発生して計数器32によって連続
してN回計数されるならばこのパルスを送り出す。ピー
ク検出器:31ばそれゆえパルスのピークtEで光電さ
れろ。ピーク検出器は又比較器入力33gに接続されて
いるので、都合よく前に記憶された電圧レベルを越えろ
連続したパルスだけが計数器32に達することができ、
このパルスはこの過程がN個の連続したゲート期間中に
連続してN回発生した場合にのみコンデンサ36の電荷
を増大させる。コンデンサ36に記憶された電圧より低
い電圧ピークを有するパルスは比較器33を通過するこ
とができない。従って、コンデンサ36は各時間ゲート
の期間中にN回繰り返されたパルスに(25) よってこれまでに処理された最高電圧で光電されたまま
に常時とどまっている。コンデンサ36におけろ電圧よ
りも高いピーク電圧を有ずろスプリアス・パルスが時間
ゲート期間中の任意の時点で発生ずるならば、それは比
較器3:(及びアントゲ−1・34を通過ずろことがで
きて計数2:にう2によって計数されろことになる。し
かしながら、スプリアス・パルスがN個の各時間ゲー用
・期間中連続して繰り返されないことは経験」−わかっ
ているので、時間ゲートは入力32eに発生ずるパルス
を伴うことなくいつかは計数器:32に加えられるので
、計数器は「ゼロ」にリセットされろ、。
これまでこの発明の好適な構成例を図示し説明しかつ又
付加的変更例を例示してきたが、この発明の原理から外
れろことなく更に例の改変及び変更を行い得ることは技
術に通じた者には明らかであろう。
【図面の簡単な説明】
第1図αから第1図dまでは超音波計測器のゲートバー
を使用して超音波信号のピーク値を表示(26) する方法を示したものである。 第2図はこの発明の構成例の回路構成図である。 第3図は第2図において使用した限界電圧発生器の回路
構成図である。 第4図aから第4図dまでは連続近似法によるゲートバ
ーの事前調整を図解したものである。 第5図はこの発明の別の構成例を示す。 第6図は第5図による構成例に関するパルス図である。 第7図は伺加的構成部分を必要とするこの発明の別の構
成例を示す回路構成図である。 これらの図面において、1は表示前、2は送信パルス、
3は反射エコー(欠陥エコー)、4は後壁エコー、5は
ゲートバー、6は時間ゲート発生装置、10は表示装置
、13は試験プローブ、15は試験片、17は比較器、
19はアントゲ−換器、232はフリップ70ツブ、2
33はマイクロプロセッサ、235は接続部、30はア
ンド(27) ゲート、3Iはピーク検出器、32はパルスijl数器
、33は比較器、34はアンドゲートを示す。 特許出願人  クラウドクラマー・ゲゼルシャフト・ミ
ツト・ベシュレンクテル・ハフソンク、−1−“i’、
、rA 代理人 弁理士湯浅恭三トノ:! (外q名) (28)

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試験片に結合されろように構成された試験グロー
    ブに電気的パルスを周期的に加えて超音波探索パルスを
    その試験片中に送信ずろようにするためのパルス発生装
    置、前記のプローブに結合されていて試験片における欠
    陥部と交わる探索パルスから生じるエコーパルスを受信
    する受信装置、前記のエコーパルスを表示面に表示する
    ための陰極線管を含む表示装置、並びに前記のパルス発
    生装置及び受信装置に結合されていて繰返しゲート期間
    を生じさせて所定の試験片範囲から前記の受信装置によ
    り受信されたエコーパルスだけを表示装置に与えるよう
    にするための時間ゲート装置を具備する超音波試験装置
    において、前記の時間ゲート装置、前記の受信装置及び
    前記の表示装置に結合されていて前記の陰極線管表示面
    により可変長の水平ゲートバーを表示させ、そのさいゲ
    ートバーの長さが前記のゲート期間に対応しかつゲート
    バーの高さが前記の繰返し期間中に受信された最大振幅
    を有するエコーパルスのピーク振幅に対応するようにす
    るだめの装置を備えろことを特徴とする超音波試験装置
  2. (2)基準電圧が前記のゲート期間内に発生ずる最大振
    幅を有するエコーパルスのピークにほぼ等しくなるまで
    その基準電圧を増大させかつ先行スるエコーパルスのも
    のよりも低い振幅を有するエコーパルスの受信時には前
    記の基Ql−電圧を一定に保持するようにした基準電圧
    装置と前記の基準電圧を所定の最小値にリセットするた
    めの装置とによって前記のゲートバーの高さが発生され
    る、特許請求の範囲第1項に記載の超音波試験装置。
  3. (3)前記の基準電圧装置が、スイッチング装置を介し
    て前記の陰極線管の垂直偏向装置に出力電圧を印加する
    スレンホルト電圧発生器、アンドゲート、及び比較器か
    らなっており、前記の比較器が一方の入力に前記の受信
    装置からエコーパルスを受けかつ又他方の入力に前記の
    スレンホルト電圧発生器から前記の出力電圧を受け、前
    記の比較器の出力が前記のアンドゲートの一方の入力に
    接続されかつ前記のアンドゲートの他方の入力が前記の
    時間ゲート装置に結合され、かつ前記のアンドゲートの
    出力が前記のスレンホルト電圧発生器の入力に結合され
    ていてアンドゲートが出力信号を与えると前記のスレン
    ホルト電圧発生器の出力が1ディジクル段階だけ増大す
    るようになっている、特許請求の範囲第2項に記載の超
    音波試験装置。
  4. (4)前記のスレンホルト電圧発生器置がマイクロプロ
    セッサからなっており、これの出力がディジタル・アナ
    ログ変換器に接続され又いろ、特許請求の範囲第3項に
    記載の超音波試験装置。
  5. (5)前記の時間ゲート装置の出力がアンドゲートの一
    方の入力に接続され、前記のアンドゲートの他方の入力
    が前記の受信装置に接続され、前記のアンドゲートの出
    力がピーク検出器の入力に接続され、かつ前記のピーク
    検出器の出力がスイッチング装置を介して前記の陰極線
    管の垂直偏向装置に接続されている、特許FJl’l求
    の範囲第2項に記載の超音波試験装置。
  6. (6)前記のアンドゲートが三つの入力を有して   
        ■おり、その第3の入力が計数器及び比較器の
    直列接続を介して前記のピーク検出器の出力に接続され
    、かつ前記の受信装置からのエコ一応答パルスが前記の
    比較器の一方の入力に接続されている、特許請求の範囲
    第5項に記載の超音波試験装置。
  7. (7)前記の比較器と前記の計数器との間に直列に接続
    された別のアントゲ−1・を備えており、この別のアン
    ドゲートの一つの入力が前記のゲート装置に接続されか
    つそれの別の入力が前記の比較器の出力に接続されてい
    る、特許請求の範囲第6項に記載の超音波試験装置。
  8. (8)前記のマイクロプロセッサからディジタル/アナ
    ログ変換器への接続部が複数の出力線からなっていてこ
    の出力線によりディジクル/アナログ変換器がまず起こ
    り得る最終値の半分の高さの基準電圧を発生し、この電
    圧がエコーパルスの振幅と比較されて、この基準電圧が
    エコ、Cルスの振幅とほぼ等しくなるまで半分ずつ増減
    される、特許請求の範囲第4項に記載の超音波試験装置
  9. (9)前記のピーク検出器の出力とエコーパルスとを交
    互に又は前記の陰極線管に加えられる走査線掃引電圧に
    同期して前記の陰極線管の前記の垂直偏向装置に接続す
    る装置を備えた、特許請求の範囲第5項、第6項又は第
    7項のいずれか1項に記載の超音波試験装置。
  10. (10)  前記のスレンホルト電圧発生器の出力とエ
    コーパルスとを交互に又は前記の陰極線管に加えられる
    走査線掃引電圧に同期して前記の陰極線管に接続する装
    置を備えた、特許請求の範囲第4項に記載の超音波試験
    装置。
JP57175246A 1981-10-05 1982-10-05 超音波試験装置 Granted JPS5872053A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109781856A (zh) * 2019-02-25 2019-05-21 河北普阳钢铁有限公司 双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0169903B1 (en) * 1983-03-28 1991-01-16 Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. Numerical value measuring instrument using oscilloscope device
DE3421150A1 (de) * 1984-06-07 1985-12-12 KTV-Systemtechnik GmbH, 8752 Kleinostheim Verfahren zur unterdrueckung von scheinanzeigen bei der automatisierten ultraschallpruefung
DE3435989C2 (de) * 1984-10-01 1987-03-26 Nukem Gmbh, 6450 Hanau Verfahren zur Wanddickenmessung von Körpern mittels Ultraschallimpulsen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP0189137B1 (en) * 1985-01-19 1991-03-13 Hitachi Construction Machinery Co., Ltd. Ultrasonic flaw detecting system
DE3519797C1 (de) * 1985-06-03 1986-04-17 Krautkrämer GmbH, 5000 Köln Ultraschallpruefvorrichtung zur zerstoerungsfreien Werkstoffpruefung
JPH0434457Y2 (ja) * 1985-07-22 1992-08-17
DE3625618A1 (de) * 1985-11-02 1988-02-11 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Verfahren zur digitalen spitzenwertmessung fuer ultraschallpruefimpulse
DE3619292A1 (de) * 1986-06-07 1987-12-10 Hanns Rump Apparat und verfahren zur erkennung der speckdicke an vieh, insbesondere an schlachtvieh
US5269189A (en) * 1988-04-13 1993-12-14 Iowa State University Research Foundation, Inc. Method and means of transmitting and receiving broad-band unipolar, ultrasonic pulses for ultrasonic inspection
US4947351A (en) * 1988-05-06 1990-08-07 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Ultrasonic scan system for nondestructive inspection
US4991440A (en) * 1990-02-05 1991-02-12 Westinghouse Electric Corp. Method of ultrasonically measuring thickness and characteristics of zirconium liner coextruded with zirconium tube
US5335184A (en) * 1990-07-16 1994-08-02 Battelle Memorial Institute Nondestructive ultrasonic testing of materials
US5287291A (en) * 1991-09-03 1994-02-15 Krautkramer-Branson, Incorporated Quiet bus for the busing of analog and digital data
US6374675B1 (en) * 2000-03-20 2002-04-23 Advanced Micro Devices, Inc, Acoustic microscopy die crack inspection for plastic encapsulated integrated circuits
JP2011203037A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Toshiba Corp 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
EP2982971B1 (en) * 2013-04-02 2017-07-12 JFE Steel Corporation Ultrasonic flaw-detection method and device by setting of gates
GB2512835A (en) * 2013-04-08 2014-10-15 Permasense Ltd Ultrasonic detection of a change in a surface of a wall
EP3382386B1 (en) * 2017-03-29 2020-10-14 Fujitsu Limited Defect detection using ultrasound scan data
JP7233853B2 (ja) * 2018-05-11 2023-03-07 三菱重工業株式会社 超音波検査装置、方法、プログラム及び超音波検査システム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50130489A (ja) * 1974-03-13 1975-10-15
JPS5551350A (en) * 1978-10-12 1980-04-15 Mitsubishi Electric Corp Ultrasonic flaw detector

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3474438A (en) * 1965-09-30 1969-10-21 Monsanto Co Display system
DE2226172C3 (de) * 1972-05-30 1975-12-04 Thyssen Niederrhein Ag Huetten- Und Walzwerke, 4200 Oberhausen Verfahren zur Messung und Auswertung von Ultraschall-Prütimpulsen einer gewählten Impulsfolgefrequenz bei der Ultraschallprüfung von Blechen und ähnlichen Prüflingen nach dem Impuls-Echo-Verfahren
GB1485616A (en) * 1973-04-19 1977-09-14 Post Office Apparatus for displaying an extreme value among a succession of digital values and method of testing pulse code modulation equipment using such apparatus
US3972228A (en) * 1974-07-15 1976-08-03 Magnetic Analysis Corporation Ultrasonic non-destructive pulse testing apparatus
DE2945200C2 (de) * 1979-11-09 1983-05-26 Krautkrämer GmbH, 5000 Köln Verfahren und Schaltungsvorrichtung zur Erzeugung von Sägezahnimpulsen sowie Verwendung derartiger Schaltungsvorrichtungen in Ultraschall-Meßgeräten
GB2090412B (en) * 1979-11-09 1984-07-18 Krautkraemer Gmbh Ultrasonic testing

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50130489A (ja) * 1974-03-13 1975-10-15
JPS5551350A (en) * 1978-10-12 1980-04-15 Mitsubishi Electric Corp Ultrasonic flaw detector

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109781856A (zh) * 2019-02-25 2019-05-21 河北普阳钢铁有限公司 双晶直探头判断扁平金属板材中夹杂物群缺陷的方法

Also Published As

Publication number Publication date
FR2514142B1 (fr) 1986-01-24
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US4432235A (en) 1984-02-21
GB2107872A (en) 1983-05-05
DE3139570C2 (de) 1983-09-29
DE3139570A1 (de) 1983-04-21
FR2514142A1 (fr) 1983-04-08

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