JPS627979B2 - - Google Patents
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- JPS627979B2 JPS627979B2 JP53142890A JP14289078A JPS627979B2 JP S627979 B2 JPS627979 B2 JP S627979B2 JP 53142890 A JP53142890 A JP 53142890A JP 14289078 A JP14289078 A JP 14289078A JP S627979 B2 JPS627979 B2 JP S627979B2
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- probe
- pulse
- point
- pulses
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- Expired
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 11
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
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- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 2
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
超音波を利用して鋼材のような試料の内部にお
ける空洞等の欠陥を非破壊的に検出することがで
きる。この超音波探傷器は試料内部に一定の周期
で超音波パルスを入射させて、欠陥によるエコー
パルスを送信探触子と同一または別の探触子で検
出し、その検出時刻によつて欠陥の位置を知ると
共に強度によつて大きさを推定するもので、従来
はブラウン管にエコーパルスの波形を現わして上
述の観測を行つていた。しかし欠陥の位置、大き
さ等を自動的にデイジタル量で表示あるいは記録
しようとすると、正確な測定が困難で、特に2つ
のエコーパルスが極めて接近している場合等は誤
観測を生ずる欠点があつた。本発明は上述の欠点
を除去して自動測定を正確に行うことのできる超
音波探傷器を提供しようとするものである。
ける空洞等の欠陥を非破壊的に検出することがで
きる。この超音波探傷器は試料内部に一定の周期
で超音波パルスを入射させて、欠陥によるエコー
パルスを送信探触子と同一または別の探触子で検
出し、その検出時刻によつて欠陥の位置を知ると
共に強度によつて大きさを推定するもので、従来
はブラウン管にエコーパルスの波形を現わして上
述の観測を行つていた。しかし欠陥の位置、大き
さ等を自動的にデイジタル量で表示あるいは記録
しようとすると、正確な測定が困難で、特に2つ
のエコーパルスが極めて接近している場合等は誤
観測を生ずる欠点があつた。本発明は上述の欠点
を除去して自動測定を正確に行うことのできる超
音波探傷器を提供しようとするものである。
第1図は本発明実施例のブロツク構成図で、パ
ルス発生器Tは高周波パルスを一定の周期で送出
して超音波探触子Pに加える。従つて探触子Pか
ら鋼板のような試料Sの内部に向つて超音波ビー
ムが発射され、そのビームは試料の底面および該
試料の内部における空洞のような欠陥で反射し
て、これらのエコーパルスが上記探触子Pによつ
て再び電気信号に変換される。タイミング回路B
は上記パルス発生器Tの送信パルスを検出して、
あらかじめ手動調節された測定範囲の零点で計数
器Nおよび切換器K1,K2をリセツトすると共
にタイミングゲート信号発生器Fに起動パルスを
加える。またビデオ増幅器A1はパルス発生器T
および超音波探触子Pから送出される信号を検波
増幅して、ゲートG2,G4および比較器Cに加
える。第2図はこの増幅器A1の出力波形の一例
で、送信パルスt、複合欠陥エコーパルスe,
f、欠陥エコーパルスgおよび底面エコーパルス
r並びに多数の雑音成分nが含まれている。タイ
ミング回路Bは前述のように測定範囲の零点sに
おいて信号パルスを送出し、タイミングゲート信
号発生器Fはこの点sから所望の時間遅れをもつ
て所望の時間幅のゲート信号hをゲートG1に加
える。従つてゲートG1は欠陥エコーパルスe,
f,g等を観測しようとする期間だけ開放する。
また比較器Cは可変基準電圧源Eの出力電圧とビ
デオ増幅器A1の出力とを比較して後者が前者よ
り大きいとき、ゲートG1に入力信号を加える。
従つて電圧源Eの出力基準電圧レベルを例えば鎖
線kのように選定すると、ゲートG2は増幅器A
1から欠陥エコーパルスe,f,gの加えられる
期間だけ開放して、送信パルスt、底面エコーパ
ルスrおよび雑音成分nが消去される。第3図a
はこのようにしてゲートG2を通過した信号波形
であつて、この信号が第1微分回路D1に加わる
から、該回路D1からbのように立上りおよび極
大の点で振幅が零となる微分出力が送出される。
この微分出力bは飽和増幅器A2およびダイオー
ドd1により、第3図cのように整形されて第2
微分回路D2に加わるから、該微分回路D2は同
図dのようなパルス列を送出する。上記パルス列
における奇数番目の正パルスはエコーパルスe,
f,gの立上り点で発生し、偶数番目の負パルス
はその極大点で発生している。
ルス発生器Tは高周波パルスを一定の周期で送出
して超音波探触子Pに加える。従つて探触子Pか
ら鋼板のような試料Sの内部に向つて超音波ビー
ムが発射され、そのビームは試料の底面および該
試料の内部における空洞のような欠陥で反射し
て、これらのエコーパルスが上記探触子Pによつ
て再び電気信号に変換される。タイミング回路B
は上記パルス発生器Tの送信パルスを検出して、
あらかじめ手動調節された測定範囲の零点で計数
器Nおよび切換器K1,K2をリセツトすると共
にタイミングゲート信号発生器Fに起動パルスを
加える。またビデオ増幅器A1はパルス発生器T
および超音波探触子Pから送出される信号を検波
増幅して、ゲートG2,G4および比較器Cに加
える。第2図はこの増幅器A1の出力波形の一例
で、送信パルスt、複合欠陥エコーパルスe,
f、欠陥エコーパルスgおよび底面エコーパルス
r並びに多数の雑音成分nが含まれている。タイ
ミング回路Bは前述のように測定範囲の零点sに
おいて信号パルスを送出し、タイミングゲート信
号発生器Fはこの点sから所望の時間遅れをもつ
て所望の時間幅のゲート信号hをゲートG1に加
える。従つてゲートG1は欠陥エコーパルスe,
f,g等を観測しようとする期間だけ開放する。
また比較器Cは可変基準電圧源Eの出力電圧とビ
デオ増幅器A1の出力とを比較して後者が前者よ
り大きいとき、ゲートG1に入力信号を加える。
従つて電圧源Eの出力基準電圧レベルを例えば鎖
線kのように選定すると、ゲートG2は増幅器A
1から欠陥エコーパルスe,f,gの加えられる
期間だけ開放して、送信パルスt、底面エコーパ
ルスrおよび雑音成分nが消去される。第3図a
はこのようにしてゲートG2を通過した信号波形
であつて、この信号が第1微分回路D1に加わる
から、該回路D1からbのように立上りおよび極
大の点で振幅が零となる微分出力が送出される。
この微分出力bは飽和増幅器A2およびダイオー
ドd1により、第3図cのように整形されて第2
微分回路D2に加わるから、該微分回路D2は同
図dのようなパルス列を送出する。上記パルス列
における奇数番目の正パルスはエコーパルスe,
f,gの立上り点で発生し、偶数番目の負パルス
はその極大点で発生している。
上述のような第3図dのパルスがダイオードd
2またはd3を介してゲートG3またはG4に加
わる。すなわち奇数番目の正パルスによつてゲー
トG3が開放し、偶数番目の負パルスによつてゲ
ートG4が開放する。かつクロツクパルス発生器
Oの出力パルスを常時計数している計数器Nは前
述のように測定範囲の零点sにおいてリセツトさ
れるから、その計数値が常に上記点sからの時間
に対応する。従つて測定範囲の零点sからエコー
パルスe,f,g等の立り点までの時間に相当す
る計数値がゲートG3を介して計数器Nから切換
器K1に順次加えられる。またゲートG4の開放
によつてエコーパルスe,f,gの極大振幅が保
持回路Hによつて保持され、アナログ・デイジタ
ル変換器Jからこの振幅に相当するデイジタル信
号が切換器K2に順次加えられる。更に第2微分
回路D2の出力パルス列dのうち偶数番目の負パ
ルスがダイオードd3および遅延回路Lを介して
切換器K1,K2の歩進信号発生器Qに加わると
共に該切換器は前述のように測定範囲の零点sに
おいてリセツトされる。従つて切換器K1,K2
は第3図dにおける偶数番目の負パルスが送出さ
れる毎に適当な時間遅れをもつて順次歩進する。
このため前述の入力デイジタル信号がメモリM
1,M2………およびR1,R2………に順次分
配されて記憶され、その記憶信号が表示器V1,
V2………およびW1,W2………で表示され
る。すなわち表示器V1,V2………によつて測
定範囲の零点sから欠陥エコーパルスe,f,g
等の立上り点までの時間を示すデイジタル値が表
示され、また表示器W1,W2………によつて上
記パルスe,f,g等の振幅に相当するデイジタ
ル値が表示される。なお探触子Pを試料Sの表面
に沿つて移動させるときは、その各位置における
欠陥エコーパルスの立上り点および振幅を上記表
示器によつて直読し得ると共にメモリM1,M2
………R1,R2………の出力をプリンタに加え
ることによつてこれを記録することができる。
2またはd3を介してゲートG3またはG4に加
わる。すなわち奇数番目の正パルスによつてゲー
トG3が開放し、偶数番目の負パルスによつてゲ
ートG4が開放する。かつクロツクパルス発生器
Oの出力パルスを常時計数している計数器Nは前
述のように測定範囲の零点sにおいてリセツトさ
れるから、その計数値が常に上記点sからの時間
に対応する。従つて測定範囲の零点sからエコー
パルスe,f,g等の立り点までの時間に相当す
る計数値がゲートG3を介して計数器Nから切換
器K1に順次加えられる。またゲートG4の開放
によつてエコーパルスe,f,gの極大振幅が保
持回路Hによつて保持され、アナログ・デイジタ
ル変換器Jからこの振幅に相当するデイジタル信
号が切換器K2に順次加えられる。更に第2微分
回路D2の出力パルス列dのうち偶数番目の負パ
ルスがダイオードd3および遅延回路Lを介して
切換器K1,K2の歩進信号発生器Qに加わると
共に該切換器は前述のように測定範囲の零点sに
おいてリセツトされる。従つて切換器K1,K2
は第3図dにおける偶数番目の負パルスが送出さ
れる毎に適当な時間遅れをもつて順次歩進する。
このため前述の入力デイジタル信号がメモリM
1,M2………およびR1,R2………に順次分
配されて記憶され、その記憶信号が表示器V1,
V2………およびW1,W2………で表示され
る。すなわち表示器V1,V2………によつて測
定範囲の零点sから欠陥エコーパルスe,f,g
等の立上り点までの時間を示すデイジタル値が表
示され、また表示器W1,W2………によつて上
記パルスe,f,g等の振幅に相当するデイジタ
ル値が表示される。なお探触子Pを試料Sの表面
に沿つて移動させるときは、その各位置における
欠陥エコーパルスの立上り点および振幅を上記表
示器によつて直読し得ると共にメモリM1,M2
………R1,R2………の出力をプリンタに加え
ることによつてこれを記録することができる。
以上実施例について説明したように本発明の超
音波探傷器は欠陥の位置と大きさとを知るための
重要な情報である欠陥エコーパルスの立上り点お
よび振幅を自動的に検出して、正確な測定を行う
ことができる。しかも特に複数個の欠陥エコーパ
ルスの一部が重畳しているような場合でも、それ
らが混合して誤観測を生ずるおそれがない等の極
めて優れた作用効果がある。
音波探傷器は欠陥の位置と大きさとを知るための
重要な情報である欠陥エコーパルスの立上り点お
よび振幅を自動的に検出して、正確な測定を行う
ことができる。しかも特に複数個の欠陥エコーパ
ルスの一部が重畳しているような場合でも、それ
らが混合して誤観測を生ずるおそれがない等の極
めて優れた作用効果がある。
第1図は本発明実施例のブロツク構成図、第2
図および第3図は第1図の装置の動作を説明する
ための波形図である。なお図において、Tは送信
パルス発生器、Pは超音波探触子、A1はビデオ
増幅器、Bはタイミング回路、Fはタイミングゲ
ート信号発生器、Hは信号保持回路、Jはアナロ
グ・デイジタル変換器、Oはクロツクパルス発生
器、Nは計数器、Cは比較器、Eは基準電圧源、
G1,G2,G3,G4はゲート、D1は第1微
分回路、D2は第2微分回路、A2は飽和増幅
器、Lは遅延回路、Qは保進信号発生器、K1,
K2は切換器、M1,M2………およびR1,R
2………はデイジタルメモリ、V1,V2………
およびW1,W2………は表示器、Sは試料であ
る。
図および第3図は第1図の装置の動作を説明する
ための波形図である。なお図において、Tは送信
パルス発生器、Pは超音波探触子、A1はビデオ
増幅器、Bはタイミング回路、Fはタイミングゲ
ート信号発生器、Hは信号保持回路、Jはアナロ
グ・デイジタル変換器、Oはクロツクパルス発生
器、Nは計数器、Cは比較器、Eは基準電圧源、
G1,G2,G3,G4はゲート、D1は第1微
分回路、D2は第2微分回路、A2は飽和増幅
器、Lは遅延回路、Qは保進信号発生器、K1,
K2は切換器、M1,M2………およびR1,R
2………はデイジタルメモリ、V1,V2………
およびW1,W2………は表示器、Sは試料であ
る。
Claims (1)
- 1 試料内部の欠陥で反射した超音波パルスを検
出する探触子と、上記探触子の出力を加えられて
その立上り点および極大の点で振幅が零となる出
力を送出する第1微分回路と、上記第1微分回路
の出力を加えられて矩形波出力を送出する飽和増
幅器と、上記飽和増幅器の出力を加えられて前記
立上り点および極大の点でパルスを発生する第2
微分回路と、上記第2微分回路から送出される奇
数番目のパルス発生時刻を検出することにより前
記立上り点の位置を求める手段と、該第2微分回
路から偶数番目のパルスが送出された時点におけ
る前記探触子の出力を検出することにより前記極
大の値を求める手段と、よりなることを特徴とす
る超音波探傷器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14289078A JPS5569049A (en) | 1978-11-21 | 1978-11-21 | Ultrasonic flaw inspection unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14289078A JPS5569049A (en) | 1978-11-21 | 1978-11-21 | Ultrasonic flaw inspection unit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5569049A JPS5569049A (en) | 1980-05-24 |
JPS627979B2 true JPS627979B2 (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=15325963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14289078A Granted JPS5569049A (en) | 1978-11-21 | 1978-11-21 | Ultrasonic flaw inspection unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5569049A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0248017U (ja) * | 1988-09-22 | 1990-04-03 |
-
1978
- 1978-11-21 JP JP14289078A patent/JPS5569049A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0248017U (ja) * | 1988-09-22 | 1990-04-03 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5569049A (en) | 1980-05-24 |
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