JPS62237318A - 製品計測検査装置 - Google Patents
製品計測検査装置Info
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- JPS62237318A JPS62237318A JP7909786A JP7909786A JPS62237318A JP S62237318 A JPS62237318 A JP S62237318A JP 7909786 A JP7909786 A JP 7909786A JP 7909786 A JP7909786 A JP 7909786A JP S62237318 A JPS62237318 A JP S62237318A
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- measurement
- product
- memory unit
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- unit
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 74
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 39
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 241000234671 Ananas Species 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明はラインの製品検査に用いて有用な製品み１測
検査装置に関Ｊる。
検査装置に関Ｊる。
［従来の技術］
製品検査は、ライン上を流れてくる製品を所定の検査用
データに基づいて手動又は自動で計測し、計測結果に基
づいて製品の良否を判定づるが如く行われるものである
。ここに、検査用データは、製品のム１測位昭、該位置
における寸法、色その他の８１測情報が含まれるもので
ある。
データに基づいて手動又は自動で計測し、計測結果に基
づいて製品の良否を判定づるが如く行われるものである
。ここに、検査用データは、製品のム１測位昭、該位置
における寸法、色その他の８１測情報が含まれるもので
ある。
従来より、これら計測情報は、いわゆる作業票に書込ま
れ、或いはコンピュータに予め入力され、検査者ないし
検査器具に提供されている。
れ、或いはコンピュータに予め入力され、検査者ないし
検査器具に提供されている。
しかしながら、昨今のＦＭＳ化の進展化にあっては、前
記６１測情報は、製品毎に異なることが多く、又、判定
基準についても製品毎に責なることが多く、製品毎の作
業票を作るのは困難である。
記６１測情報は、製品毎に異なることが多く、又、判定
基準についても製品毎に責なることが多く、製品毎の作
業票を作るのは困難である。
又、］ンピコー夕に入力するにしてもその情報量か大で
あり、かつ、繁雑にすぎ、情報入力及び情報の使用の而
において、その改宮が望まれている。
あり、かつ、繁雑にすぎ、情報入力及び情報の使用の而
において、その改宮が望まれている。
一方、ラインに３次元測定器具など用いて製品を自動計
測する手法が確立されつつあるが、従来、これら自動計
測装置は検査装置の一部として利用されるのみで、検査
装置に十分に融合していないのが実情である。
測する手法が確立されつつあるが、従来、これら自動計
測装置は検査装置の一部として利用されるのみで、検査
装置に十分に融合していないのが実情である。
［発明の目的］
上記に鑑みて、この発明は、計測情報の流れを毎然化づ
ると共に３次元測定装置等自動計測装置を検査装置に融
合させ、ラインの製品検査に用いて有用な製品計測検査
位置を提供することを目的とりる。
ると共に３次元測定装置等自動計測装置を検査装置に融
合させ、ラインの製品検査に用いて有用な製品計測検査
位置を提供することを目的とりる。
［発明の概要］
上記目的を達成するため、この発明では、ライン上の各
製品にそれぞれ取付けられ外部と無線交信することで当
該製品の計測位置及び計測寸法等８１測情報を読み書き
可能のメモリユニットと、前記ラインの検査部１νｌに
取付＋ｊられ前記メモリユニットと無線交信づ−ること
で前記メモリに前記計測情報を、Ｊｃみ占きづるアンテ
ナユニットと、該アン−７ナユニツトと接続され＋ｉＱ
記計測情報を読み取って前記製品の５１側を行うと共に
計測結果を判定基準と比較りることにより前記製品の良
否を判定し所定の判定処理を行う計測検査手段と、を猫
えて製品ム１測検査装冒を構成し、メモリユニットを用
いて計測情報を製品ごとに分散保持させると共に、計測
、検査を融合させるようにした。
製品にそれぞれ取付けられ外部と無線交信することで当
該製品の計測位置及び計測寸法等８１測情報を読み書き
可能のメモリユニットと、前記ラインの検査部１νｌに
取付＋ｊられ前記メモリユニットと無線交信づ−ること
で前記メモリに前記計測情報を、Ｊｃみ占きづるアンテ
ナユニットと、該アン−７ナユニツトと接続され＋ｉＱ
記計測情報を読み取って前記製品の５１側を行うと共に
計測結果を判定基準と比較りることにより前記製品の良
否を判定し所定の判定処理を行う計測検査手段と、を猫
えて製品ム１測検査装冒を構成し、メモリユニットを用
いて計測情報を製品ごとに分散保持させると共に、計測
、検査を融合させるようにした。
［発明の実施例］
以下、添付図面を用いてこの発明の一実施例を説明する
。
。
第１図はラインの計測検査部の平面図、第２図は第１図
のＩｒ−ＩＩ矢視線で示す正面図、第３図は制御長［１
りのブロック図である。
のＩｒ−ＩＩ矢視線で示す正面図、第３図は制御長［１
りのブロック図である。
第１図及び第２図に示すように、ライン１の計測検査部
３には、３次元測定装置５が配置されでいる。
３には、３次元測定装置５が配置されでいる。
ライン１はコンベ〜７７をイｉし、」ンベＡ７７は製品
Ｗ （Ｗ＋ 、 Ｗ２ 、 Ｗ３ 、 Ｗ４ ）を方向
９ａから受（プ入れで方向９ｂ又は９ｃに流すようにな
っている。製品Ｗ＋ は計測検査部３に入る手前の製品
を、製品Ｗ２は計測検査部３に入った製品を、製品Ｗ３
、Ｗ４は計測検査後の製品を示している。
Ｗ （Ｗ＋ 、 Ｗ２ 、 Ｗ３ 、 Ｗ４ ）を方向
９ａから受（プ入れで方向９ｂ又は９ｃに流すようにな
っている。製品Ｗ＋ は計測検査部３に入る手前の製品
を、製品Ｗ２は計測検査部３に入った製品を、製品Ｗ３
、Ｗ４は計測検査後の製品を示している。
製品Ｗ３及びＷ４の仕分けは計測検査結果に基づいて製
品良否に応じて仕分けされるものである。
品良否に応じて仕分けされるものである。
各製品Ｗ （Ｗ＋ 、 Ｗ２ 、 Ｗ３ 、 Ｗ４ ）
には、メモリユニットＭ （Ｍ＋ 、 Ｍ２ 、 Ｍ３
、 Ｍ４ ）が設りられている。メモリユニットＭは
、その内部に所定ピッ［〜の記憶素子（シフトレジスタ
）を有し、該素子に、外部と交信しその内部を読み書き
自在のｒフ様で計測情報を記憶している。計測情報とは
、ここでは、製品番号、計測位置、該位置に対応する寸
法、該寸法の許容値、並びに計測結果（寸法１直）を怠
味するものとする。計測結果は、計測検査部３に入るま
での製品についてはブランクであり、計測検査の終了侵
害ぎ込まれるものである。
には、メモリユニットＭ （Ｍ＋ 、 Ｍ２ 、 Ｍ３
、 Ｍ４ ）が設りられている。メモリユニットＭは
、その内部に所定ピッ［〜の記憶素子（シフトレジスタ
）を有し、該素子に、外部と交信しその内部を読み書き
自在のｒフ様で計測情報を記憶している。計測情報とは
、ここでは、製品番号、計測位置、該位置に対応する寸
法、該寸法の許容値、並びに計測結果（寸法１直）を怠
味するものとする。計測結果は、計測検査部３に入るま
での製品についてはブランクであり、計測検査の終了侵
害ぎ込まれるものである。
３次元測定装置５は、３次元（ＸＹＺ＞動作可能の軸１
３ｘ 、 １３ｙ 、 １３ｚと、ＩＰＩＩ１１３ｙの
先りｉ：に猫えたプローグ１５とを有し、プローグ１５
の先端を被計測体たる製品に通接ＪることにＪ、す、適
宜演咋処理して製品のＸＪ法を測定する。
３ｘ 、 １３ｙ 、 １３ｚと、ＩＰＩＩ１１３ｙの
先りｉ：に猫えたプローグ１５とを有し、プローグ１５
の先端を被計測体たる製品に通接ＪることにＪ、す、適
宜演咋処理して製品のＸＪ法を測定する。
計測検査部３には、製品Ｗ２のメモリユニットＭ２に対
応して、当該メモリユニットと無線交信するためのアン
テナユニット１７が設けられでいる。釡照符号１９は計
測検査装置の制御装置を示ず。
応して、当該メモリユニットと無線交信するためのアン
テナユニット１７が設けられでいる。釡照符号１９は計
測検査装置の制御装置を示ず。
第３図に示−４ように、制御装置１９は、情報読取部２
１と、計測指令部２３と、ＮＣ装置２５と、８１測デ一
タ比較部２７と、判定処理部２９どをイ１し、又、ＮＣ
装置２５と接続されるｘ＠ｌｌ駆動部３１、Ｙ軸駆動部
３３、Ｚ軸駆動部３５、入出力装置（デジタルインプッ
トアウトプット）３７を有しで構成されでいる。
１と、計測指令部２３と、ＮＣ装置２５と、８１測デ一
タ比較部２７と、判定処理部２９どをイ１し、又、ＮＣ
装置２５と接続されるｘ＠ｌｌ駆動部３１、Ｙ軸駆動部
３３、Ｚ軸駆動部３５、入出力装置（デジタルインプッ
トアウトプット）３７を有しで構成されでいる。
情報読取部２１は前記アンテナＪニツ（〜１７と接続さ
れ、メモリユニットＭ（Ｍ＋ 、Ｍ２ 、ｆＶｈ 。
れ、メモリユニットＭ（Ｍ＋ 、Ｍ２ 、ｆＶｈ 。
Ｍ４）内の計測情報を読取るものＣある。
計測指令６１ｔ ２３は、ＮＣ装置２５に５１側位′？
ＪＰを指定して、当該位置Ｐを３次元測定装置５で計測
すべく指令を出力すると共に、前記計測データ比較部２
７に製品寸法Ω０及びその許容値ΔΩ０を提供するもの
である。ＮＣ装置２５に指令する位置Ｐは複数であるこ
と勿論である。
ＪＰを指定して、当該位置Ｐを３次元測定装置５で計測
すべく指令を出力すると共に、前記計測データ比較部２
７に製品寸法Ω０及びその許容値ΔΩ０を提供するもの
である。ＮＣ装置２５に指令する位置Ｐは複数であるこ
と勿論である。
ＮＣ装置２５は、前記計測指令部２３からの指令に基づ
いて、前記軸１３ｘ、１３ｙ、１３ｚを駆動ずべく各駆
動部３１．３３．３５に位置決め指令信号を出力すると
共に、プローグ１５の作動信号を入出力装置３７から入
力し、製品Ｗを計測する。
いて、前記軸１３ｘ、１３ｙ、１３ｚを駆動ずべく各駆
動部３１．３３．３５に位置決め指令信号を出力すると
共に、プローグ１５の作動信号を入出力装置３７から入
力し、製品Ｗを計測する。
計測データ比較部２７は、前記計測指令部２３から入力
した寸法ｐＯとＮＣ装置２５から入力される計測値との
差ΔΩを求め、この差△Ωを前記許容値Δｆｌｏと比較
し、製品良否を判定する。
した寸法ｐＯとＮＣ装置２５から入力される計測値との
差ΔΩを求め、この差△Ωを前記許容値Δｆｌｏと比較
し、製品良否を判定する。
判定処理部２９は、前記Ｓ１測デ一タ比較部２７の判定
結果に基づいて、ＣＲＴ３９、コンベヤ駆動装置４１、
記４！１装首４３、並びに前記アンテナユニットを適宜
駆動する。
結果に基づいて、ＣＲＴ３９、コンベヤ駆動装置４１、
記４！１装首４３、並びに前記アンテナユニットを適宜
駆動する。
ＣＲ−「はｒす定結果を表示するものである。コンベヤ
駆動部４１は前記コンベヤ７を駆動するもので、製品の
良否に応じ、製品Ｗ３、Ｗ４を仕分Ｃノするしのである
。記憶装置４３は、製品の、′１１測ないし検査結果に
ついて統田処理を行なうために、その結果を記憶づるも
のである。破線て示したアンテナユニツ（−への信号線
は、計測値を前記メモリュニツｌ−Ｍに書込むためのも
のである。
駆動部４１は前記コンベヤ７を駆動するもので、製品の
良否に応じ、製品Ｗ３、Ｗ４を仕分Ｃノするしのである
。記憶装置４３は、製品の、′１１測ないし検査結果に
ついて統田処理を行なうために、その結果を記憶づるも
のである。破線て示したアンテナユニツ（−への信号線
は、計測値を前記メモリュニツｌ−Ｍに書込むためのも
のである。
以上の構成により、製品計測検査装置１は、コンペｔ７
７上を流れてくる製品Ｗを順次自動的に計測検査するこ
とができ、検査結果に阜づいて製品仕分番）をすること
ができる。このとき、計測情報はメモリユニットＭが媒
体とされるので、情報の流れに無理がなく、計測に誤り
を生ずる可能性が皆無である。
７上を流れてくる製品Ｗを順次自動的に計測検査するこ
とができ、検査結果に阜づいて製品仕分番）をすること
ができる。このとき、計測情報はメモリユニットＭが媒
体とされるので、情報の流れに無理がなく、計測に誤り
を生ずる可能性が皆無である。
又、本例では、記憶装置４３を設け、計測結果等を記憶
することができるようにしたので、製品の４測検査に関
ザる統計処理が容易に行なわれ得る。
することができるようにしたので、製品の４測検査に関
ザる統計処理が容易に行なわれ得る。
更に本例では、計測結果をアンテナユニット１７を介し
てメモリユニットＭに古込むことかできるのぐ、後で各
製品の杼歴を知ることができ、いわゆるクレーム対策に
容易に応じ得る。 以上示した実施例では、計測装置と
して３次元測定装置の例を示したが、この発明では、計
測装置として、１次元の計測装置、寸法以外の重量、体
積、色彩等各種の計測装置が利用されて良いこと勿論で
ある。
てメモリユニットＭに古込むことかできるのぐ、後で各
製品の杼歴を知ることができ、いわゆるクレーム対策に
容易に応じ得る。 以上示した実施例では、計測装置と
して３次元測定装置の例を示したが、この発明では、計
測装置として、１次元の計測装置、寸法以外の重量、体
積、色彩等各種の計測装置が利用されて良いこと勿論で
ある。
［発明の効果］
以」ニの通り、この発明によれば、計測情報をメモリユ
ニットを媒体としてラインに流すと共に、計測装置と検
査装置とを融合させたので、計測情報の流れを整然化す
ることができ、ＦＭＳに適した製品計測検査を行なうこ
とができる。
ニットを媒体としてラインに流すと共に、計測装置と検
査装置とを融合させたので、計測情報の流れを整然化す
ることができ、ＦＭＳに適した製品計測検査を行なうこ
とができる。
第１図はラインの計測検査部の平面図、第２図は第１図
のＩ−ＩＩ矢視線で示す正面図、第３図は制御装置のブ
ロック図である。 Ｗ （Ｗ＋ 、 Ｗ２ 、 Ｗ３ 、 Ｗ４ ）・・・
製品Ｍ（Ｍ＋ 、Ｍ２ 、Ｍ３ 、Ｍ４ ）・・・メモ
リユニットト・・ライン ３・・・計測検査部 ５・・・３次元測定装置 ７・・・コンベＡ７ １７・・・アンアナユニット １つ・・・制御装置 ２１・・・情報読取部 ２３・・・計測指令部 ２５・・・ＮＧ表装 置７・・・計測データ比較部 ２９・・・判定処理部 代理人 弁理士 三 好 保 刀 ＊１図 カ 第２図 第８図
のＩ−ＩＩ矢視線で示す正面図、第３図は制御装置のブ
ロック図である。 Ｗ （Ｗ＋ 、 Ｗ２ 、 Ｗ３ 、 Ｗ４ ）・・・
製品Ｍ（Ｍ＋ 、Ｍ２ 、Ｍ３ 、Ｍ４ ）・・・メモ
リユニットト・・ライン ３・・・計測検査部 ５・・・３次元測定装置 ７・・・コンベＡ７ １７・・・アンアナユニット １つ・・・制御装置 ２１・・・情報読取部 ２３・・・計測指令部 ２５・・・ＮＧ表装 置７・・・計測データ比較部 ２９・・・判定処理部 代理人 弁理士 三 好 保 刀 ＊１図 カ 第２図 第８図
Claims (3)
- （１）ライン上の各製品にそれぞれ取付けられ外部と無
線交信することで当該製品の計測位置及び計測寸法等計
測情報を読み書き可能のメモリユニットと、前記ライン
の検査位置に取付けられ前記メモリユニットと無線交信
することで前記メモリに前記計測情報を読み書きするア
ンテナユニットと、該アンテナユニットと接続され前記
計測情報を読み取って前記製品の計測を行うと共に計測
結果を判定基準と比較することにより前記製品の良否を
判定し所定の判定処理を行う計測検査手段と、を備えて
構成される製品計測検査装置。 - （２）前記メモリユニットの計測情報には、当該メモリ
ユニットの取付けられている製品の判定基準も記憶され
ている特許請求の範囲第１項記載の製品計測検査装置。 - （３）前記判定処理は、前記メモリユニットに計測結果
ないし判定結果を書込む処理を含んでいる特許請求の範
囲第１項記載の製品計測検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61079097A JPH0643904B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 製品計測検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61079097A JPH0643904B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 製品計測検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62237318A true JPS62237318A (ja) | 1987-10-17 |
| JPH0643904B2 JPH0643904B2 (ja) | 1994-06-08 |
Family
ID=13680374
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61079097A Expired - Lifetime JPH0643904B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 製品計測検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0643904B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015227794A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-17 | 株式会社キーエンス | 座標測定装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56153214A (en) * | 1980-04-28 | 1981-11-27 | Tokyu Constr Co Ltd | Measuring and processing device for portable type landslide protection wall |
| JPS5890434A (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-30 | Nissan Motor Co Ltd | 補修ラインにおけるワ−ク情報表示方法 |
| JPS5929427A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-02-16 | Nec Corp | 半導体装置の生産装置システム |
| JPS6086418A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-16 | Fujitsu Ltd | 自動試験システム |
-
1986
- 1986-04-08 JP JP61079097A patent/JPH0643904B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56153214A (en) * | 1980-04-28 | 1981-11-27 | Tokyu Constr Co Ltd | Measuring and processing device for portable type landslide protection wall |
| JPS5890434A (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-30 | Nissan Motor Co Ltd | 補修ラインにおけるワ−ク情報表示方法 |
| JPS5929427A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-02-16 | Nec Corp | 半導体装置の生産装置システム |
| JPS6086418A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-16 | Fujitsu Ltd | 自動試験システム |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015227794A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-17 | 株式会社キーエンス | 座標測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0643904B2 (ja) | 1994-06-08 |
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