JPS63285483A - 磁気記録デ−タの分析方法 - Google Patents

磁気記録デ−タの分析方法

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JPS63285483A
JPS63285483A JP12027887A JP12027887A JPS63285483A JP S63285483 A JPS63285483 A JP S63285483A JP 12027887 A JP12027887 A JP 12027887A JP 12027887 A JP12027887 A JP 12027887A JP S63285483 A JPS63285483 A JP S63285483A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気カードの磁気ストライプに記録された磁
気記録データの記録状態を磁界強度の強弱に基づいて分
析してその良否を判定する磁気記録データの分析方法に
関する。
〔従来の技術〕
キャッシュカード、タレジットカード、各種会員カード
、身分証明用IDカードあるいはタイムカード等として
使用される磁気カードの磁気ストライプには、使用者の
氏名2名称、登録番号、暗証番号等の重要なデータが周
波数変調方式によって磁気記録されている。
この磁気記録データは、2准将号の「O」又は「1」を
表す各データビットの組み合わせによって構成されてい
るが、これら「0」及び「1」を磁気カードリーグによ
って正確に読み取るためには、各データビットのの磁界
強度が一定のレベルに達していることが必要である。
即ち、磁気記録データを磁気カードリーグによって読み
取る場合、磁気ストライプ上の磁界強度は、前記カード
リーグの磁気ヘッドからの再生電圧信号として出力され
ることとなるが、その磁界強度が弱い場合には再生電圧
がOに近付き、当該再生電圧信号によってはrOJ  
rlJO別を判断することができなくなる。
そこで、従来より、磁気記録データの磁界強度を各デー
タビットごとに実測し、実測した値と適正な値とを比較
して偏差を選定し、その算定結果を、各データビットの
記録位置と磁界強度を夫々X軸方向成分及びY軸方向成
分とするxy座標上に関数表示する分析方法を行って磁
気カードの良否を判定する方法が知られている。
この場合において、磁界強度はすべてのデータについて
一定のレベルで等しく記録されているのが理想的がある
が、実測した結果、磁界強度が一定レベルに達していな
かったり、あるいはデータ記録位置によって強弱の差が
著しい場合には、特開昭に弱い部分が存在する場合には
、データネ良を生ずることとなる。
このデータネ良の原因としては、磁気カードの磁気記録
部を形成する磁気ストライプの品質不良や、当該磁気ス
トライブの損傷、磁気カードエンコーダの性能不良など
が考えられる。
また、このような原因以外にも、例えば静電気の影響を
受けて、記録データの書込中に磁気カードエンコーダが
誤動作したり、さらに分析中に分析装置が誤動作するな
どの諸原因が考えられ、これらが複合的に合わさって、
一つの分析結果が得られる。
したがって、一回の分析結果だけでは磁気記録データの
良否を判定することは困難であり、同一のカード又は同
種のカードについて複数回のデータ分析を行って、その
分析結果全体の傾向から総合的に判断することが望まし
い。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上述した従来の方法は、磁気カードの磁
気記録部から読み取った磁気記録データの分析結果を一
回ごとに個別にグラフィック表示するものであるから、
磁気記録データの不良が突発出来な原因で発生したもの
か、あるいは恒常的に発生するものであるか否かを判断
することが非常に困難である。
また、一回の分析結果だけに基づいて判断すると、磁界
強度が一定レベルで等しく記録されている場合であって
も、外部からのノイズ等に起因する分析装置の一時的な
測定誤差による誤った分析結果が表示されて、磁気記録
データの不良であると誤認させるおそれがある。
さらに、従来は、CRTディスプレイやプリンタにグラ
フツク表示される分析結果が、各回ごとに更新されるか
ら、分析結果の総合的判断が非常に困難であった。つま
り、CRTディスプレイの表示画面は各回ごとに切り替
わるから、グラフィク表示された磁気記録データの内容
を複数同時に照合して判断することが不可能であり、ま
た、プリンタは分析結果のグラフィック表示を各回ごと
に個別に印字するから、同一の磁気カードについて例え
ば10回繰り返して分析した場合には10通りに印字表
示されたグラフを個々に照合しなければならず、総合的
な判断を下す作業が非常に面倒で且つ困難であった。
〔問題点を解決するための手段〕 そこで、本発明は、磁気カードの磁気記録部に磁気記録
された磁気記録データの磁気強度の強弱に基づくデータ
ネ良を正確且つ容易に判断することができる磁気記録デ
ータの分析方法を提供することを目的とする。
この目的を達成するために、本発明は、周波数変調方式
によって磁気カードの磁気記S、A部に書き込まれた磁
気記録データの磁界強度を読み取り、読み取った各磁界
強度を基準となる磁界強度と比較してその偏差を算定し
、算定した結果を前記磁気記録データの記録位置がX軸
、算定した結果がY軸となるグラフ上にドツト表示する
磁気記録データの分析方法において、磁気カードの磁気
記録部に書き込まれた磁気記録データの磁界強度を複数
回読み取り、各回ごとに読み取られた各磁界強度を基準
となる前記磁界強度と比較して夫々その偏差を算出し、
算定した結果を順次記憶装置に記憶させ、記憶した各算
定結果を前記グラフ上に重ね合わせて表示することを特
徴としている。
〔発明の作用〕
本発明によれば、磁気カードの磁気記録部に書き込まれ
た磁気記録データの磁界強度を複数回読み取って、各回
ごとに算定される偏差が一つのグラフ上に重複して表示
されるから、各回ごとの算定結果を容易に比較検討する
ことができ、磁気記録データの記録状態を誤りなく的確
に把握できると共に、磁気記録データの不良原因が突発
的なものか恒常的に発生するものであるか否かを総合的
に判断することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて具体的に説明す
る。
第1図は、本発明方法を実施する分析装置の一8例構成
を示すブロック図である。
分析装置には、少なくともインターフェイス回路1.演
算処理装置2及び記憶装置3を有するマイクロコンピュ
ータ3でなる制御装置4が設けられている。
インターフェイス回路1の入力側には、キーボード5と
、磁気カードCの磁気記録部となる磁気ストライプ6に
摺接して当該磁気ストライプ6に書き込まれた磁気記録
データを形成する磁界の向き及び強さに応じて正負の再
生電圧を出力する磁気ヘッド7と、当該磁気へラド7に
磁気カードCが摺接されているか否かを検出する光学セ
ンダ8等が接続されている。
また、インターフェイス回路1の出力側には、磁気カー
ドCを一定の速度で搬送させるカード搬送装置9と、C
RTディスプレイ10及びプリンタ11等の表示装置が
接続されている。
演算処理装置2は、磁気ヘッド7から出力される再生電
圧に基づいて磁界強度を例えば電圧値で検出し、所定の
演算処理を実行して、読み取った各磁界強度を予め設定
された基準となる磁界強度と比較してその偏差を算定す
る。
記憶装置3は、演算処理装置2の演算処理に必要な処理
プログラムと演算処理過程で必要な処理データを記憶す
ると共に、演算処理装置2の演算結果を所定の記憶領域
に一時記憶する。
次に、第2図は磁気ストライプ6に凹き込んで記録され
た磁気記録データの信号波形を示す図であって、磁界強
度は磁気ヘッド7から出力される再生電圧の電圧値とし
て表される。
この場合において、磁界強度を表す電圧値は、磁束反転
があるたびにプラス−マイナスの値をとるので、磁界強
度を示す値としてはその絶対値を用いる。
なお、2准将号「1」の記録されたデータビットD +
は、2准将号「0」の記録されたデータビットD0の半
分の間隔で磁束反転が形成されているので、隣接して形
成される反対方向の磁界の影響を強く受け、その磁界強
度E、は、データビットDoの磁界強度E0よりも、1
0%程度弱く記録されることとなる。
そして、各磁界強度E0及びElの偏差ρ。及びρ、は
、基準となる磁界強度をeとすれば、例えば、 ρo ”” (Eo/e)xloo     (%〕ρ
t = (El /e)xtoo     (%〕で求
められる。
以下、第3図に示すフローチャートに基づいて演算処理
装置2の処理手順を説明する。
まず、キーボード5の電源スィッチをオンすると、第3
図のフローチャートに示す処理が実行開始され、ステッ
プ■で磁気ヘッド7が磁気記録データの読取を行う読取
モードに設定されたか否かを判定し、読取モードに設定
されるとステップ■に移行して、読取回数に=1と設定
する。
次に、ステップ■に移行して、磁気ヘッド7で読取可能
な位置まで磁気カードCが搬送されてきたか否かを判定
し、磁気カードCがカード搬送装置9により磁気ヘッド
7と摺接する位置まで搬送されて光学センサ8から磁気
カードCの到来を検出した信号が出力されると、ステッ
プ■に移行する。
このステップ■では、カード搬送装置9によって搬送さ
れる磁気カードCの磁気ストライプ6に書き込まれた磁
気記録データの磁界強度E0・−・及びE、−・−を磁
気ヘッド7で読み取り、読み取った磁界強度E0−・−
及びE、・−を記憶装置3の所定の記憶領域に一時記憶
する。
次いで、ステップ■に移行してステップ■で読み取った
各データビットの磁界強度E0−及びEl−・−を記憶
語W3から読み出し、予め設定された基準となる磁界強
度eと比較して夫々その偏差を算出し、ステップ■に移
行する。
ステップ■では、ステップ■の算定結果を、例えば読取
回数に=1のときは記憶領域M1に、読取回数に−2の
ときは記憶領域M2に、というように記憶領域M+、 
Mt、 !’/I1. M4.・−・MKに順次一時記
憶して、ステップ■に移行する。
ステップ■では、前記の如く各記憶領域M1〜Mkに記
憶された総ての算定結果を読み出してステップ■に移行
し、ステップ■では読み出された各算定結果をCRTデ
ィスプレイ1oやプリンタ11等の表示装置により、磁
気記録データの記録位置がX軸、偏差がY軸となるグラ
フ上に重ね合わせて表示しtステップ■に移行する。
ステップ■では、読取回数に=に+1として、ステップ
■に戻る。
そして、同−又は同一種類の磁気カードCにっいて上記
の手順を繰り返せば、CRTディスプレイ10に画面表
示されるグラフ上やプリンタ11に印字表示されるグラ
フ上に、各回ごとの算定結果が先の算定結果の上から重
なり合って表示される。
ここで、第4図(a)及び(blは、上記の如くして得
られた算定結果をドツト表示したグラフであって、X軸
が磁気カードCに記録された磁気記録データの記録位置
を示し、Y軸が基準となる磁界強度eに対する当該磁気
記録データの磁界強度Eo=−・及びEl−・の偏差ρ
。及びρ1を示す。
このグラフにおいては、「0」が記録されたデータビッ
トD oの磁界強度E0の偏差ρ。と、「1」が記録さ
れたデータピントD+の磁界強度Elの偏差ρ1とが、
一枚のグラフ上にドント表示されている。
第4図(alは、前記偏差が一部のデータビットについ
て許容範囲外(例えば60%以下)に存在すること、即
ち磁界強度が一定のレベルに達していないデータピント
が存在することを示すバーストが表れたグラフである。
ここで、バーストP、は単一のドツトでなり、バースト
P2は複数のドツトで形成されている。
この表示から、パース) P + は、例えば静電気等
の影響による分析装置の一時的な誤動作による誤りだ分
析結果がグラフィック表示されたものと判断することが
できる。一方、バーストP2は、複数回にわたって略同
一箇所に繰り返しドツト表示されているから、間違いな
く不良箇所がありその部分の磁界強度が一定のレベルに
達していないと判断することができる。
第4図Tblは、同一の磁気カードCを複数回読み取っ
て分析した際に、各回ごとの算定結果がまちまちに表れ
たグラフである。    ゛これは、各回ごとに求めら
れた算定結果が著しく異なるために、本来ならば大部分
が略同一箇所で重なり合うべき各回のドツト表示が、互
いに雌諦して表れた状態であって、分析装置自体に不良
原因があることを示している。
なお、実施例の説明では、一枚の磁気カードを複数回読
み取って磁気記録データの分析を行う場合について説明
したが、本発明はこれに限らず、例えば同一の磁気カー
ドエンコーダで磁気記録データが書き込まれた複数枚の
磁気カードを一回ずつ読み取ることにより、特定種類の
磁気カードについてその品質、特性をチェックすること
ができると共に、磁気カードエンコーダの性能もチェッ
クすることができる。
例えば、偏差の分布状態が第5図に示すように表れた場
合は、磁気カードCの入力の際に、必ずデータ書込用の
磁気ヘッドに供給される信号電圧が低下しており、磁気
カードエンコーダに不良原因があると推測できる。
また、特定の会社から納入された複数の磁気カードにつ
いて、異なる磁気カードエンコーダにより磁気記録デー
タを入力した場合において、これらを分析した結果、偏
差の分布状態が第5図に示すように表れた場合には、磁
気カードの磁気記録部を形成する磁気ストライプ6の品
質不良と推測することができる。
なお、上記実施例の説明においては、偏差ρ。
及びρ、を同一のグラフ上に表した場合について説明し
たが、従来通り別々のグラフ上に表しても差し支えない
〔発明の効果〕
以上述べたように、本発明によれば、磁気カードの磁気
記録部に書き込まれた磁気記録データの磁界強度を複数
回読み取って、各回ごとに算定される偏差を一つのグラ
フ上に重ねて表示するように成されているので、分析装
置の一時的な測定誤差等を含んだ分析結果により誤った
判断を下すことがなく、磁気記録データの良否及びその
原因を総合的に且つ容易に判断することができるという
優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施するための磁気記録データ分析装
置の基本的構成の例を示すブロック図、第2図は磁気カ
ードの磁気記録部に書き込まれた磁気記録データの信号
波形を示す説明図、第3図は分析装置における演算処理
装置の処理手順を示すフローチャート、第4図(al及
び(b)と第5図は夫々本発明方法により得られた算定
結果を表示するグラフである。 符号の説明 C・−・磁気カード、2・−・演算処理装置、3・−記
憶装置、6−磁気ストライプ(磁気記録部)、7−・・
磁気ヘッド、9−・カード搬送装置、10−・CRTデ
ィスプレイ、11・−・プリンタ、E O+ E +−
[異強度、ρ。、ρ1・−・偏差。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)周波数変調方式によって磁気カードの磁気記録部
    に書き込まれた磁気記録データの磁界強度を読み取り、
    読み取った各磁界強度を基準となる磁界強度と比較して
    その偏差を算定し、算定した結果を前記磁気記録データ
    の記録位置がX軸、算定した結果がY軸となるグラフ上
    にドット表示する磁気記録データの分析方法において、 a)磁気カードの磁気記録部に書き込まれた磁気記録デ
    ータの磁界強度を複数回読み取り、b)各回ごとに読み
    取られた各磁界強度を基準となる前記磁界強度と比較し
    て夫々その偏差を算出し、 c)算定した結果を順次記憶装置に記憶させ、d)記憶
    した各算定結果を前記グラフ上に重ね合わせて表示する ことを特徴とする磁気記録データの分析方法。
  2. (2)一枚の磁気カードの磁気記録部に書き込まれた磁
    気記録データの磁界強度を複数回読み取る前記特許請求
    の範囲第1項に記載の磁気記録データの分析方法。
  3. (3)複数枚の磁気カードの磁気記録部に書き込まれた
    同一内容の磁気記録データの磁界強度を夫々一回ずつ読
    み取る前記特許請求の範囲第1項記載の磁気記録データ
    の分析方法。
  4. (4)前記各算定結果を、CRTディスプレイに画面表
    示された前記グラフ上に重ね合わせて表示する前記特許
    請求の範囲第1項記載の磁気記録データの分析方法。
  5. (5)前記各算定結果を、プリンタにより印字表示され
    る前記グラフ上に重ね合わせて表示する前記特許請求の
    範囲第1項記載の磁気記録データの分析方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6243618B1 (en) * 1997-10-30 2001-06-05 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Method of marking number or the like and apparatus for marking the same

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6243618B1 (en) * 1997-10-30 2001-06-05 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Method of marking number or the like and apparatus for marking the same

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