JPH06105490B2

JPH06105490B2 - 磁気記録デ−タの分析方法

Info

Publication number: JPH06105490B2
Application number: JP12027887A
Authority: JP
Inventors: 研治園田
Original assignee: 株式会社プライム
Priority date: 1987-05-19
Filing date: 1987-05-19
Publication date: 1994-12-21
Anticipated expiration: 2009-12-21
Also published as: JPS63285483A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、磁気カードの磁気ストライプに記録された磁
気記録データの記録状態を磁界強度の強弱に基づいて分
析してその良否を判定する磁気記録データの分析方法に
関する。

〔従来の技術〕

キャッシュカード，クレジットカード，各種会員カー
ド，身分証明用IDカードあるいはタイムカード等として
使用される磁気カードの磁気ストライプには、使用者の
氏名，名称，登録番号，暗証番号等の重要なデータが周
波数変調方式によって磁気記録されている。

この磁気記録データは、２進符号の「０」又は「１」を
表す各データビットの組み合わせによって構成されてい
るが、これら「０」及び「１」を磁気カードリーダによ
って正確に読み取るためには、各データビットのの磁界
強度が一定のレベルに達していることが必要である。

即ち、磁気記録データを磁気カードリーダによって読み
取る場合、磁気ストライプ上の磁界強度は、前記カード
リーダの磁気ヘッドからの再生電圧信号として出力され
ることとなるが、その磁界強度が弱い場合には再生電圧
が０に近付き、当該再生電圧信号によっては「０」
「１」の別を判断することができなくなる。

そこで、従来より、磁気記録データの磁界強度を各デー
タビットごとに実測し、実測した値と適正な値とを比較
して偏差を選定し、その算定結果を、各データビットの
記録位置と磁界強度を夫々Ｘ軸方向成分及びＹ軸方向成
分とするXY座標上に関数表示する分析方法を行って磁気
カードの良否を判定する方法が知られている。

この場合において、磁界強度はすべてのデータについて
一定のレベルで等しく記録されているのが理想的がある
が、実測した結果、磁界強度が一定レベルに達していな
かったり、あるいはデータ記録位置によって強弱の差が
著しい場合には、特開昭に弱い部分が存在する場合に
は、データ不良を生ずることとなる。

このデータ不良の原因としては、磁気カードの磁気記録
部を形成する磁気ストライプの品質不良や、当該磁気ス
トライプの損傷、磁気カードエンコーダの性能不良など
が考えられる。

また、このような原因以外にも、例えば静電気の影響を
受けて、記録データの書込中に磁気カードエンコーダが
誤動作したり、さらに分析中に分析装置が誤動作するな
どの諸原因が考えられ、これらが複合的に合わさって、
一つの分析結果が得られる。

したがって、一回の分析結果だけでは磁気記録データの
良否を判定することは困難であり、同一のカード又は同
種のカードについて複数回のデータ分析を行って、その
分析結果全体の傾向から総合的に判断することが望まし
い。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、上述した従来の方法は、磁気カードの磁
気記録部から読み取った磁気記録データの分析結果を一
回ごとに個別にグラフィック表示するものであるから、
磁気記録データの不良が突発出来な原因で発生したもの
か、あるいは恒常的に発生するものであるか否かを判断
することが非常に困難である。

また、一回の分析結果だけに基づいて判断すると、磁界
強度が一定レベルで等しく記録されている場合であって
も、外部からのノイズ等に起因する分析装置の一時的な
測定誤差による誤った分析結果が表示されて、磁気記録
データの不良であると誤認させるおそれがある。

さらに、従来は、CRTディスプレイやプリンタにグラフ
ック表示される分析結果が、各回ごとに更新されるか
ら、分析結果の総合的判断が非常に困難であった。つま
り、CRTディスプレイの表示画面は各回ごとに切り替わ
るから、グラフィク表示された磁気記録データの内容を
複数同時に照合して判断することが不可能であり、ま
た、プリンタは分析結果のグラフィック表示を各回ごと
に個別に印字するから、同一の磁気カードについて例え
ば10回繰り返して分析した場合には10通りに印字表示さ
れたグラフを個々に照合しなければならず、総合的な判
断を下す作業が非常に面倒で且つ困難であった。

〔問題点を解決するための手段〕

そこで、本発明は、磁気カードの磁気記録部に磁気記録
された磁気記録データの磁気強度の強弱に基づくデータ
不良を正確且つ容易に判断することができる磁気記録デ
ータの分析方法を提供することを目的とする。

この目的を達成するために、本発明は、周波数変調方式
によって磁気カードの磁気記録部に書き込まれた磁気記
録データの磁界強度を読み取り、読み取った各磁界強度
を基準となる磁界強度を比較してその偏差を算定し、算
定した結果を前記磁気記録データの記録位置がＸ軸，算
定した結果がＹ軸となるグラフ上にドット表示する磁気
記録データの分析方法において、磁気カードの磁気記録
部に書き込まれた磁気記録データの磁界強度を複数回読
み取り、各回ごとに読み取られた各磁界強度を基準とな
る前記磁界強度と比較して夫々その偏差を算出し、算定
した結果を順次記憶装置に記憶させ、記憶した各算定結
果を前記グラフ上に重ね合わせて表示することを特徴と
している。

〔発明の作用〕

本発明によれば、磁気カードの磁気記録部に書き込まれ
た磁気記録データの磁界強度を複数回読み取って、各回
ごとに算定される偏差が一つのグラフ上に重複して表示
されるから、各回ごとの算定結果を容易に比較検討する
ことができ、磁気記録データの記録状態を誤りなく的確
に把握できると共に、磁気記録データの不良原因が突発
的なものか恒常的に発生するものであるか否かを総合的
に判断することができる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面に基づいて具体的に説明す
る。

第１図は、本発明方法を実施する分析装置の一例構成を
示すブロック図である。

分析装置には、少なくともインターフェイス回路1,演算
処理装置２及び記憶装置３を有するマイクロコンピュー
タ３でなる制御装置４が設けられている。

インターフェイス回路１の入力側には、キーボード５
と、磁気カードＣの磁気記録部となる磁気ストライプ６
に摺接して当該磁気ストライプ６に書き込まれた磁気記
録データを形成する磁界の向き及び強さに応じて正負の
再生電圧を出力する磁気ヘッド７と、当該磁気ヘッド７
に磁気カードＣが摺接されているか否かを検出する光学
センサ８等が接続されている。

また、インターフェイス回路１の出力側には、磁気カー
ドＣを一定の速度で搬送させるカード搬送装置９と、CR
Tディスプレイ10及びプリンタ11等の表示装置が接続さ
れている。

演算処理装置２は、磁気ヘッド７から出力される再生電
圧に基づいて磁界強度を例えば電圧値で検出し、所定の
演算処理を実行して、読み取った各磁界強度を予め設定
された基準となる磁界強度と比較してその偏差を算定す
る。

記憶装置３は、演算処理装置２の演算処理に必要な処理
プログラムと演算処理過程で必要な処理データを記憶す
ると共に、演算処理装置２の演算結果を所定の記憶領域
に一時記憶する。

次に、第２図は磁気ストライプ６に書き込んで記録され
た磁気記録データの信号波形を示す図であって、磁界強
度は磁気ヘッド７から出力される再生電圧の電圧値とし
て表される。

この場合において、磁界強度を表す電圧値は、磁束反転
があるたびにプラス−マイナスの値をとるので、磁界強
度を示す値としてはその絶対値を用いる。

なお、２進符号「１」の記録されたデータビットD₁は、
２進符号「０」の記録されたデータビットD₀の半分の間
隔で磁束反転が形成されているので、隣接して形成され
る反対方向の磁界の影響を強く受け、その磁界強度E
₁は、データビットD₀の磁界強度E₀よりも、10％程度弱
く記録されることとなる。

そして、各磁界強度E₀及びE₁の偏差ρ_０及びρ_１は、基
準となる磁界強度をｅとすれば、例えば、 ρ_０＝（E₀/e）×100 〔％〕 ρ_１＝（E₁/e）×100 〔％〕で求められる。

以下、第３図に示すフローチャートに基づいて演算処理
装置２の処理手順を説明する。

まず、キーボード５の電源スイッチをオンすると、第３
図のフローチャートに示す処理が実行開始され、ステッ
プで磁気ヘッド７が磁気記録データの読取を行う読取
モードに設定されたか否かを判定し、読取モードに設定
されるとステップに移行して、読取回数Ｋ＝１と設定
する。

次に、ステップに移行して、磁気ヘッド７で読取可能
な位置まで磁気カードＣが搬送されてきたか否かを判定
し、磁気カードＣがカード搬送装置９により磁気ヘッド
７と摺接する位置まで搬送されて光学センサ８から磁気
カードＣの到来を検出した信号が出力されると、ステッ
プに移行する。

このステップでは、カード搬送装置９によって搬送さ
れる磁気カードＣの磁気ストライプ６に書き込まれた磁
気記録データの磁界強度E₀…及びE₁…を磁気ヘット７で
読み取り、読み取った磁界強度E₀…及びE₁…を記憶装置
３の所定の記憶領域に一時記憶する。

次いで、ステップに移行してステップで読み取った
各データビットの磁界強度E₀…及びE₁…を記憶装置３か
ら読み出し、予め設定された基準となる磁界強度ｅと比
較して夫々その偏差を算出し、ステップに移行する。

ステップでは、ステップの算定結果を、例えば読取
回数Ｋ＝１のときは記憶領域M₁に、読取回数Ｋ＝２のと
きは記憶領域M₂に、というように記憶領域M₁,M₂,M₃,
M₄，…M_kに順次一時記憶して、ステップに移行する。

ステップでは、前記の如く各記憶領域M₁〜M_kに記憶さ
れた総ての算定結果を読み出してステップに移行し、
ステップでは読み出された各算定結果をCRTディスプ
レイ10やプリンタ11等の表示装置により、磁気記録デー
タの記録位置がＸ軸，偏差がＹ軸となるグラフ上に重ね
合わせて表示してステップに移行する。

ステップでは、読取回数Ｋ＝Ｋ＋１として、ステップ
に戻る。

そして、同一又は同一種類の磁気カードＣについて上記
の手順を繰り返せば、CRTディスプレイ10に画面表示さ
れるグラフ上やプリンタ11に印字表示されるグラフ上
に，各回ごとの算定結果が先の算定結果の上から重なり
合って表示される。

ここで、第４図（ａ）及び（ｂ）は、上記の如くして得
られた算定結果をドット表示したグラフであって、Ｘ軸
が磁気カードＣに記録された磁気記録データの記録位置
を示し、Ｙ軸が基準となる磁界強度ｅに対する当該磁気
記録データの磁界強度E₀…及びE₁の偏差ρ_０及びρ_１を
示す。

このグラフにおいては、「０」が記録されたデータビッ
トD₀の磁界強度E₀の偏差ρ_０と、「１」が記録されたデ
ータビットD₁の磁界強度E₁の偏差ρ_１とが、一枚のグラ
フ上にドット表示されている。

第４図（ａ）は、前記偏差が一部のデータビットについ
て許容範囲外（例えば60％以下）に存在すること、即ち
磁界強度が一定のレベルに達していないデータビットが
存在することを示すバーストが表れたグラフである。

ここで、バーストP₁は単一のドットでなり、バーストP₂
は複数のドットで形成されている。

この表示から、バーストP₁は例えば静電気等の影響によ
る分析装置の一時的な誤動作による誤った分析結果がグ
ラフィック表示されたものと判断することができる。一
方、バーストP₂は、複数回にわたって略同一箇所に繰り
返しドット表示されているから、間違いなく不良箇所が
ありその部分の磁界強度が一定のレベルに達していない
と判断することができる。

第４図（ｂ）は、同一の磁気カードＣを複数回読み取っ
て分析した際に、各回ごとの算定結果がまちまちに表れ
たグラフである。

これは、各回ごとに求められた算定結果が著しく異なる
ために、本来ならば大部分が略同一箇所で重なり合うべ
き各回のドット表示が、互いに齟齬して表れた状態であ
って、分析装置自体に不良原因があることを示してい
る。

なお、実施例の説明では、一枚の磁気カードを複数回読
み取って磁気記録データの分析を行う場合について説明
したが、本発明はこれに限らず、例えば同一の磁気カー
ドエンコーダで磁気記憶データが書き込まれた複数枚の
磁気カードを一回ずつ読み取ることにより、特定種類の
磁気カードについてその品質，特性をチェックすること
ができると共に、磁気カードエンコーダの性能もチェッ
クすることができる。

例えば、偏差の分布状態が第５図に示すように表れた場
合は、磁気カードＣの入力の際に、必ずデータ書込用の
磁気ヘッドに供給される信号電圧が低下しており、磁気
カードエンコーダに不良原因があると推測できる。

また、特定の会社から納入された複数の磁気カードにつ
いて、異なる磁気カードエンコーダにより磁気記録デー
タを入力した場合において、これらを分析した結果、偏
差の分布状態が第５図に示すように表れた場合には、磁
気カードの磁気記録部を形成する磁気ストライプ６の品
質不良と推測することができる。

なお、上記実施例の説明においては、偏差ρ_０及びρ_１
を同一のグラフ上に表した場合について説明したが、従
来通り別々のグラフ上に表しても差し支えない。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明によれば、磁気カードの磁気
記録部に書き込まれた磁気記録データの磁界強度を複数
回読み取って、各回ごとに算定される偏差を一つのグラ
フ上に重ねて表示するように成されているので、分析装
置の一時的な測定誤差等を含んだ分析結果により誤った
判断を下すことがなく、磁気記録データの良否及びその
原因を総合的に且つ容易に判断することができるという
優れた効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を実施するための磁気記録データ分析装
置の基本的構成の例を示すブロック図、第２図は磁気カ
ードの磁気記録部に書き込まれた磁気記録データの信号
波形を示す説明図、第３図は分析装置における演算処理
装置の処理手順を示すフローチャート、第４図（ａ）及
び（ｂ）と第５図は夫々本発明方法により得られた算定
結果を表示するグラフである。符号の説明Ｃ…磁気カード、２…演算処理装置、３…記憶装置、６
…磁気ストライプ（磁気記録部）、７…磁気ヘッド、９
…カード搬送装置、10…CRTディスプレイ、11…プリン
タ、E₀，E₁…磁界強度、ρ_０，ρ_１…偏差。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】周波数変調方式によって磁気カードの磁気
記録部に書き込まれた磁気記録データの磁界強度を読み
取り、読み取った各磁界強度を基準となる磁界強度と比
較してその偏差を算定し、算定した結果を前記磁気記録
データの記録位置がＸ軸，算定した結果がＹ軸となるグ
ラフ上にドット表示する磁気記録データの分析方法にお
いて、ａ）磁気カードの磁気記録部に書き込まれた磁気記録デ
ータの磁界強度を複数回読み取り、ｂ）各回ごとに読み取られた各磁界強度を基準となる前
記磁界強度と比較して夫々その偏差を算出し、ｃ）算定した結果を順次記憶装置に記憶させ、ｄ）記憶した各算定結果を前記グラフ上に重ね合わせて
表示することを特徴とする磁気記録データの分析方法。
【請求項２】一枚の磁気カードの磁気記録部に書き込ま
れた磁気記録データの磁界強度を複数回読み取る前記特
許請求の範囲第１項に記載の磁気記録データの分析方
法。
【請求項３】複数枚の磁気カードの磁気記録部に書き込
まれた同一内容の磁気記録データの磁界強度を夫々一回
ずつ読み取る前記特許請求の範囲第１項記載の磁気記録
データの分析方法。
【請求項４】前記各算定結果を、CRTディスプレイに画
面表示された前記グラフ上に重ね合わせて表示する前記
特許請求の範囲第１項記載の磁気記録データの分析方
法。
【請求項５】前記各算定結果を、プリンタにより印字表
示される前記グラフ上に重ね合わせて表示する前記特許
請求の範囲第１項記載の磁気記録データの分析方法。