JPH06105537B2

JPH06105537B2 - 磁気記録デ−タの分析方法

Info

Publication number: JPH06105537B2
Application number: JP6520487A
Authority: JP
Inventors: 研治園田
Original assignee: 株式会社プライム
Priority date: 1987-03-19
Filing date: 1987-03-19
Publication date: 1994-12-21
Anticipated expiration: 2009-12-21
Also published as: JPS63231704A

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、周波数変調方式によって磁気カードの磁気記
録部に書き込まれた磁気記録データが所定の規格で書き
込まれているか否かを分析する磁気記録データの分析装
置に関する。

〔従来の技術〕

近年、磁気カードの普及はめざましく、キャッシュカー
ド，身分証明用のIDカード，タイムカード，クレジット
カード等として広く用いられており、この磁気カードの
磁気記録部には磁気カードエンコーダによって社名，個
人名あるいは登録番号，暗唱番号等の磁気記録データが
書き込まれ、書き込まれた磁気記録データを磁気カード
リーダで読み取って所定のデータ処理を行うようになさ
れている。

ところで、磁気カードの磁気記録部に書き込む磁気記録
データは所定の規格に基づいて記録しなければならず、
規格どおりに記録されていない場合には磁気記録データ
の内容を磁気カードリーダで読み取ることができない。

このため、本出願人は、磁気カードに所定の規格でデー
タが記録されているか否かを確実に判定することのでき
る磁気記録データの分析方法を提案した（特開昭61−29
6578号）。

この分析方法は、磁気カードの磁気記録部となる磁気ス
トライプに記録された磁気記録データの磁束反転間隔を
読み取り、読み取った各磁束反転間隔を基準となる磁束
反転間隔と比較してその偏差を算定し、算定した結果を
磁気記録データの記録位置がＸ軸，偏差がＹ軸となるグ
ラフ上に表示することとしているので、磁気記録データ
の分析結果を一目で判断できると同時に、グラフィック
表示された全体の偏差の傾向に基づいて磁気記録データ
の不良原因をおおよそ推測することができる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、磁気記録データを規格どおりに記録でき
ない原因としては、磁気カードの磁気記録部を形成する
磁気ストライプの品質不良や当該磁気ストライプの損
傷、磁気カードエンコーダの性能不良、あるいは当該エ
ンコーダの磁気ヘッドに埃が付着している場合や磁気カ
ード搬送用ローラが摩耗変形している場合などが考えら
れる。

また、このような原因以外にも、例えば電圧の変化によ
り磁気カードエンコーダの磁気カード搬送用モータが一
時的なうねりを生じて磁束反転間隔に狂いを生じさせる
場合など外的な原因に基づく場合があり、その他にも分
析装置自身の測定誤差などに依存する諸原因が複合的に
含まれている。

したがって、一回の分析結果だけで磁気記録データの良
否及び不良原因を特定することは非常に困難であり、同
一のカード又は同種のカードについて複数回のデータ分
析を行って、その分析結果全体の傾向から総合的に磁気
記録データの良否及び不良原因を判断することが望まし
い。

しかし、上記した従来の方法は、磁気カードの磁気記録
部から読み取った磁気記録データの分析結果を一回ごと
に個別にグラフィック表示する分析装置を使用している
から、磁気記録データの不良が突発的な原因で発生した
ものか、あるいは恒常的に発生するものであるか否かを
判断したり、不良原因が磁気カードの品質不良によるも
のか、あるいは磁気カードエンコーダの性能不良による
ものか否かを判断することが非常に困難である。

また、一回の分析結果だけに基づいて判断すると、磁気
記録データが規格どおり正確に記録されているにも拘ら
ず、例えば電圧変化等に起因する分析装置の一時的な測
定誤差による誤った分析結果がグラフィック表示されて
磁気記録データの不良であると誤認させるおそれがあ
る。

また、CRTディスプレイやプリンタにグラフィック表示
される分析結果が各回ごとに更新されるから、分析結果
の総合的判断が非常に困難であった。つまり、CRTディ
スプレイの画面表示は各回ごとに切り替わるから、グラ
フィック表示された磁気記録データの内容を複数同時に
照合して判断することが不可能であり、また、プリンタ
は分析結果のグラフィック表示を各回ごとに個別に印字
するから、同一の磁気カードについて例えば10回分析し
た場合には10通りに印字表示されたグラフを個々に照合
しなければならないから、総合的な判断を下す作業が非
常に面倒で且つ困難であった。

〔問題点を解決するための手段〕

そこで本発明は、磁気カードの磁気記録部に記録された
磁気記録データの良否や不良原因を極めて容易に且つ正
確に判断することができる磁気記録データの分析方法を
提供することを目的とする。

この目的を達成するために、本発明は、周波数変調方式
によって磁気カードの磁気記録部に書き込まれた磁気記
録データの磁束反転間隔を読み取り、読み取った各磁束
反転間隔を基準となる磁束反転間隔（以下「基準磁束反
転間隔」という。）と比較してその偏差を算定し、算定
した結果を前記磁気記録データの記録位置がＸ軸，前記
偏差がＹ軸となるグラフ上に表示する磁気記録データの
分析方法において、磁気カードの磁気記録部に書き込ま
れた磁気記録データの磁束反転間隔を複数回読み取り、
各回ごとに読み取られた各磁束反転間隔を基準となる磁
束反転間隔と比較して夫々その偏差を算定し、算定した
結果を順次記憶装置に記憶させ、記憶した各算定結果を
前記グラフ上に重ね合わせて表示することを特徴として
いる。

〔発明の作用〕

本発明によれば、磁気カードの磁気記録部に書き込まれ
た磁気記録データの磁束反転間隔を複数回読み取って各
回ごとに算定される偏差が一つのグラフに重複して表示
されるから、磁気記録データの記録状態を誤りなく的確
に把握できると同時に、磁気記録データの不良原因が突
発的なものか、恒常的に発生するものである否か、ある
いは不良原因が磁気カードの品質不良によるものか、あ
るいは磁気カードエンコーダの性能不良によるものか否
かなどについて総合的に判断することができる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面に基づいて具体的に説明す
る。

第１図は本発明方法を実施する分析装置の一例構成を示
すブロック図である。

分析装置には、少なくともインターフェイス回路1,演算
処理装置２及び記憶装置３を有するマイクロコンピュー
タで成る制御装置４が設けられている。

インターフェイス回路１の入力側には、キーボード５
と、磁気カードＣの磁気記録部となる磁気ストライプ６
に摺接して当該磁気ストライプ６に書き込まれた磁束反
転間隔を読み取る磁気ヘッド７と、当該磁気ヘッド７に
磁気カードＣが摺接されているか否かを検出する光学セ
ンサ８が接続されている。

また、インターフェイス回路１の出力側には、磁気カー
ドＣを一定の速度で搬送させるカード搬送装置９と、CR
Tディスプレイ10及びプリンタ11等の表示装置が接続さ
れている。

演算処理装置２は、磁気ストライプ６に記録された磁気
記録データの磁束反転間隔が読み取られるたびに所定の
演算処理を実行して、読み取った各磁束反転間隔を規格
に従って予め設定された基準磁束反転間隔と比較してそ
の偏差を算定する。

記憶装置３は、演算処理装置２の演算処理に必要な処理
プログラムと演算処理過程で必要な処理データを記憶す
ると共に、演算処理装置２の演算結果を所定の記憶領域
に一時記憶する。

次に、第２図は磁気ストライプ６に書き込んで記録され
た磁気記録データの信号波形を示す図であって、磁気ヘ
ッド７で読み取られる磁束反転間隔には、例えば各デー
タビットを形成する刻時信号の磁束転間隔Ｄと、「０」
を記録するデータビットの磁束反転間隔Ｚと、「１」を
記録するデータビットの磁束反転間隔Ｈの３種類があ
る。

したがって、読み取られた磁束反転間隔の偏差を算定す
るために比較される基準磁束反転間隔は、前記各磁束反
転間隔D,Z及びＨに対応して夫々設定され、各データビ
ットを形成する刻時信号の基準磁束反転間隔D₀は、
「０」を記録したデータビットの基準磁束反転間隔Z₀と
等しく、「１」が記録されたデータビットの基準磁束反
転間隔H₀はデータビットを形成する基準磁束反転間隔D₀
の1/2となっている。

以下、第３図に示すフローチャートに基づいて演算処理
装置２の処理手順を説明する。

まず、キーボード５の電源がオンされると第３図に示す
処理が実行開始され、ステップで磁気ヘッド７が磁気
記録データの読取を行う読取モードに設定されたか否か
を判定し、読取モードに設定されるとステップに移行
して、読込回数Ｋ＝１と設定する。次に、ステップに
移行して、磁気カードＣが磁気ヘッド７で読取可能な位
置に搬送されて来たか否かを判定し、磁気カードＣがカ
ード搬送装置９により磁気ヘッド７と摺接する位置まで
搬送されて光学センサ８から磁気カードＣの到来を検出
した信号が出力されると、ステップに移行する。

このステップでは、カード搬送装置９によって搬送さ
れる磁気カードＣの磁気ストライプ６に書き込まれた磁
気記録データの磁束反転間隔Ｄ……,Z……及びＨ……を
磁気ヘッド７で読み取り、そのデータを記憶装置３の所
定の記憶領域に一時記憶する。

次いで、ステップに移行してステップで読み取った
各磁束反転間隔Ｄ……,Z……及びＨ……を読み出し、予
め設定された基準磁束反転間隔D₀，Z₀及びH₀と比較して
夫々その偏差を算定し、ステップに移行する。

ステップでは、ステップの算定結果を、例えば読取
回数Ｋ＝１のときは記憶領域M₁に、読取回数Ｋ＝２のと
きは記憶領域M₂に、というように記憶装置３の所定の記
憶領域M₁，M₂，M₃，M₄……M_Kに順次一時記憶して、ステ
ップに移行する。

ステップでは、前記の如く各記憶領域M₁〜M_Kに記憶さ
れた総ての算定結果を読み出してステップに移行し、
ステップではCRTディスプレイ10やプリンタ11等の表
示装置により、読み出された各算定結果を磁気記録デー
タの記録位置がＸ軸，偏差がＹ軸となるグラフ上に重ね
合わせて表示してステップに移行する。

ステップでは、読取回数Ｋ＝Ｋ＋１として、ステップ
に戻る。

そして、同一又は同一種類の磁気カードＣについて上記
の手順を繰り返せば、CRTディスプレイ10に画面表示さ
れるグラフ上やプリンタ11に印字表示されるグラフ上
に、各回ごとの算定結果が先の算定結果の上から重なり
合って表示される。

ここで、第４図（ａ）及び（ｂ）は、上記の如くして得
られた算定結果をドット表示したグラフであって、Ｘ軸
が磁気カードＣに記録された磁気記録データの記録位
置、Ｙ軸が当該磁気記録データの磁束反転間隔と基準磁
束反転間隔との偏差を示す。

第４図（ａ）は、前記偏差が一定の許容範囲を超えてい
ることを表示するバーストが表れたグラフである。

ここで、バーストP₁は単一のドットで成り、バーストP₂
は多数のドットで形成されている。

この表示から、バーストP₁は、例えば電圧変化等に起因
する分析装置の一時的な誤動作による誤った分析結果が
グラフィック表示されたものと看過することができる。
一方、バーストP₂は、複数回にわたって略同一箇所に繰
り返しドット表示されているから、間違いなく不良箇所
があると判断することができる。したがって、不良箇所
のない磁気カードＣを不良カードであると誤認すること
がない。

また、第４図（ｂ）は、同一の磁気カードＣを複数回読
み取って分析した際に、各回ごとの算定結果がまちまち
に表れたグラフである。

これは、各回ごとに求められた算定結果が著しく異なる
ために、本来ならば大部分が略同一箇所で重なり合うべ
き各回ごとのドット表示が、互いに齟齬して表れた状態
であって、磁気カードＣではなく分析装置自体に不良原
因があることを示している。

なお、実施例の説明では、一枚のカードを複数回読み取
って磁気記録データの分析を行う場合についてのみ説明
したが、本発明はこれに限らず、例えば同一の磁気カー
ドエンコーダで磁気記録データが書き込まれた複数枚の
磁気カードを一回ずつ読み取ることにより、特定種類の
磁気カードについてその品質，特性をチェックできると
共に、磁気カードエンコーダの性能もチェックできる。

例えば、偏差の分布状態が第５図に示すような波形に表
れた場合には、同一の磁気カードエンコーダから発行さ
れた磁気カードC,C…が具有する共通の不良原因が、デ
ータ入力の際に各磁気カードＣが一定の速度で搬送され
ていないことによると推測される、当該エンコーダのカ
ード搬送機構にカード搬送用ローラの摩耗変形等の問題
があると判断できる。

なお、実施例の説明においては、偏差を求める手段とし
て、規格に従って予め設定された基準磁束反転間隔に基
づいて、偏差を求める場合についてのみ説明したが、本
発明はこれに限られるものではなく、例えば、従来より
行われている通常の偏差の算出方法と同様に、「０」及
び「１」が記録された全データビットの実測値から夫々
の磁束反転間隔の平均値を求め、「０」が記録されたデ
ータビットの磁束反転間隔の平均値を基準磁束反転間隔
D₀及びZ₀とし、「１」が記録されたデータビットの磁束
反転間隔の平均値を基準磁束反転間隔H₀として設定して
偏差を求める場合であってもよい。また、ｎ番目のデー
タビットの偏差を求める際に、磁気カードの挿通方向に
沿って隣接するｎ−１番目のデータビットの刻時信号の
磁束反転間隔をその都度、基準磁束反転間隔D₀及びZ₀と
すると共に、その二分の一の間隔を基準磁束反転間隔H₀
として各データビットごとに基準磁束反転間隔を設定し
直して偏差を求める場合であってもよい。

さらに、複数の算出方法により算出した夫々の偏差を、
同一グラフ上に重ね合わせて表示することも勿論可能で
ある。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明によれば、磁気カードの磁気
記録部に書き込まれた磁気記録データの磁束反転間隔を
複数回読み取って、各回ごと算定される偏差を一つのグ
ラフ上に重ねて表示するように成されているので、分析
装置の一時的な測定誤差等を含んだ分析結果により誤っ
た判断を下すことがなく、磁気記録データの良否及びそ
の原因を総合的に且つ一目で的確に判断することができ
るという優れた効果を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を実施するための磁気記録データ分析装
置の基本的構成を示すブロック図、第２図は磁気カード
の磁気記録部に書き込まれた磁気記録データの磁束反転
間隔を示す説明図、第３図は分析装置における演算処理
装置の処理手順を示すフローチャート、第４図（ａ）及
び（ｂ）と第５図は夫々本発明方法により得られた算定
結果の表示するグラフである。符号の説明Ｃ……磁気カード、２……演算処理装置、３……記憶装
置、６……磁気ストライプ（磁気記録部）、７……磁気
ヘッド、９……カード搬送装置、10……CRTディスプレ
イ、11……プリンタ。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】周波数変調方式によって磁気カードの磁気
記録部に書き込まれた磁気記録データの磁束反転間隔を
読み取り、読み取った各磁束反転間隔を基準となる磁束
反転間隔と比較してその偏差を算定し、算定した結果を
前記磁気記録データの記録位置がＸ軸，前記偏差がＹ軸
となるグラフ上に表示する磁気記録データの分析方法に
おいて、ａ）．磁気カードの磁気記録部に書き込まれた磁気記録
データの磁束反転間隔を複数回読み取り、ｂ）．各回ごとに読み取られた各磁束反転間隔を基準と
なる磁束反転間隔と比較して夫々その偏差を算定し、ｃ）．算定した結果を順次記憶装置に記憶させ、ｄ）．記憶した各算定結果を前記グラフ上に重ね合わせ
て表示することを特徴とする磁気記録データの分析方法。
【請求項２】一枚の磁気カードの磁気記録部に書き込ま
れた磁気記録データの磁束反転間隔を複数回読み取る前
記特許請求の範囲第１項記載の磁気記録データの分析方
法。
【請求項３】複数枚の磁気カードの磁気記録部に書き込
まれた同一内容の磁気記録データの磁束反転間隔を夫々
一回ずつ読み取る前記特許請求の範囲第１項記載の磁気
記録データの分析方法。
【請求項４】前記各算定結果をCRTディスプレイに画面
表示された前記グラフ上に重ね合わせて表示する前記特
許請求の範囲第１項記載の磁気記録データの分析方法。
【請求項５】前記各算定結果をプリンタに印字表示され
る前記グラフ上に重ね合わせて表示する前記特許請求の
範囲第１項記載の磁気記録データの分析方法。