JPS5940241A - 印刷物の絵柄を検査する方法および装置 - Google Patents
印刷物の絵柄を検査する方法および装置Info
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- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は印刷物の絵柄を検査する方法および装置に関す
る。
る。
従来の印刷物絵柄検査装置は、第７図に示すように印刷
物／をラインセンサカメラコによシ幅方向に走査しつつ
画像情報を取出し、一方搬送系のシリンダ３に取付けた
ロータリーエンコーダグの出力によってカメラ−〇走介
を同期化することによシ試料絵柄ｊ（第一図）をマトリ
クス状の多数の小画素に分割する。
物／をラインセンサカメラコによシ幅方向に走査しつつ
画像情報を取出し、一方搬送系のシリンダ３に取付けた
ロータリーエンコーダグの出力によってカメラ−〇走介
を同期化することによシ試料絵柄ｊ（第一図）をマトリ
クス状の多数の小画素に分割する。
これら各画素は、同様に分割してメモリに記録した標本
絵柄２（第２図）の対応する小画素とを順次濃度比較さ
れて欠陥有無が検出される。
絵柄２（第２図）の対応する小画素とを順次濃度比較さ
れて欠陥有無が検出される。
このような絵柄検査において、第３図に示すように搬送
系の幅方向位置ずれがあると試料から得られた階調７の
うちのＱ印を付した３画素につき標本から得られた階Ｈ
ｚの該当する３画素分と比較した場合、試料絵柄に欠陥
がなくても欠陥ありとの誤判定が行われる。
系の幅方向位置ずれがあると試料から得られた階調７の
うちのＱ印を付した３画素につき標本から得られた階Ｈ
ｚの該当する３画素分と比較した場合、試料絵柄に欠陥
がなくても欠陥ありとの誤判定が行われる。
これを防ぐ一法として、試料と標本との階調差に対して
大きな許容値を設定することが考えられる。
大きな許容値を設定することが考えられる。
たらすもので対策としては必ずしも良好なものではない
。
。
このような問題のない方法としては、標本絵柄に対する
試料絵柄の位置ずれを補正するものということになり、
各種の方法が考案されている。
試料絵柄の位置ずれを補正するものということになり、
各種の方法が考案されている。
その／は本願出願人による特願！Ｊ−／グｚ３夕！号に
示すような、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかなる位置
にあるかを検出し、この位ｔｉｔ、変化が標本絵柄のデ
ータを基準値メモリに書込むときと試料絵柄のデータを
検出値メモリに書込むときとで所定値以上異なるときは
、そのときの試料絵柄データを基準値メモリに書込むも
のである。
示すような、印刷物の絵柄が幅方向に関しいかなる位置
にあるかを検出し、この位ｔｉｔ、変化が標本絵柄のデ
ータを基準値メモリに書込むときと試料絵柄のデータを
検出値メモリに書込むときとで所定値以上異なるときは
、そのときの試料絵柄データを基準値メモリに書込むも
のである。
しかしながら、この方法によると、印刷物の幅方向の位
置変化検出、および位置変化情報にしたがって位置ずれ
補正のための装置が必要となり、ハードウェアの複雑化
、コスト高等の問題を生じる。
置変化検出、および位置変化情報にしたがって位置ずれ
補正のための装置が必要となり、ハードウェアの複雑化
、コスト高等の問題を生じる。
そのλは特公昭３３−４Ｚｉ４９号等に示すもので、試
料画素とこれに対応する標本両系の近＠数点の画素とを
比較する方法である。
料画素とこれに対応する標本両系の近＠数点の画素とを
比較する方法である。
しかしながら、この方法では検査精度の低下を避は得な
い膚でｌ３ｊｉ題がある。
い膚でｌ３ｊｉ題がある。
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、印刷物搬送
系に位置ずれがあっても高精度で絵柄検査でき、しかも
装置を安価に構成し得る印刷物の絵柄検査方法を提供す
ることを目的とする。
系に位置ずれがあっても高精度で絵柄検査でき、しかも
装置を安価に構成し得る印刷物の絵柄検査方法を提供す
ることを目的とする。
この目的達成のため、本発明では、試料の幅方向絵柄階
調データ（以下試料行データという）を、標本の対応す
る幅方向絵柄階調データ（以下標本行データという）と
比較し欠陥検出するにつき、各試料行毎に許容する位置
ずれ分だけシフトした被数の標本行を参照し、試料性と
最も位相の近い標本行と試料性とによって絵柄検査を行
う方法を提供するものである。
調データ（以下試料行データという）を、標本の対応す
る幅方向絵柄階調データ（以下標本行データという）と
比較し欠陥検出するにつき、各試料行毎に許容する位置
ずれ分だけシフトした被数の標本行を参照し、試料性と
最も位相の近い標本行と試料性とによって絵柄検査を行
う方法を提供するものである。
以下第≠図乃至第１／図を参照して本発明の詳細な説明
する。
する。
第ｊ図（、Ｌ（ｂ）は試料行データと標本行データとを
示したもので、同図（、）は本発明方法において取扱わ
れる試料行データと標本行データとの基本的な関係を示
し、同図（ｂ）は印刷物の絵柄エツジを特徴とする特殊
な部分における試料行データと標本行データとの関係を
示したものである。
示したもので、同図（、）は本発明方法において取扱わ
れる試料行データと標本行データとの基本的な関係を示
し、同図（ｂ）は印刷物の絵柄エツジを特徴とする特殊
な部分における試料行データと標本行データとの関係を
示したものである。
まず同図（、）によれば、７つの試料行データタに対し
複数の標本行データ７０〜／ｌを参照する。これら標本
行データ１０〜／Ａは基本となる標本行データ／３を予
想される位置ずれ分だけ７画素分ずつ左右にシフトして
得たものである。
複数の標本行データ７０〜／ｌを参照する。これら標本
行データ１０〜／Ａは基本となる標本行データ／３を予
想される位置ずれ分だけ７画素分ずつ左右にシフトして
得たものである。
そして、試料行データタを標本行データ７０〜／Ａの中
で最も試料行データタと位相が近いもの／２と濃度比較
するができ、これによって欠陥検出が行われる。
で最も試料行データタと位相が近いもの／２と濃度比較
するができ、これによって欠陥検出が行われる。
これによシ試料行データタが印刷物の幅方向に位置ずれ
していてもデータ同士を内容的に比較することができる
から精度よく欠陥検出することができる。
していてもデータ同士を内容的に比較することができる
から精度よく欠陥検出することができる。
次に同図（ｂ）によれば、試料行データ１７に対し最も
位相の近い標本行データ７ｇを対比すると共に、階調差
許容値を大きくとったものである。これにより絵柄エツ
ジ部分のように階調差が極めて太きな場合に適した欠陥
検査を行い得る。すなわち、標本行データ／ざは試料行
データ／７に最も位相の近いものであるため、両者の位
相差は汐画素幅分である。従ってＪｈ画素幅分の位置ず
れが生じた場合のエツジに相当する画素における試料と
標本との階調差をその画素に対する許容値とすればよい
。
位相の近い標本行データ７ｇを対比すると共に、階調差
許容値を大きくとったものである。これにより絵柄エツ
ジ部分のように階調差が極めて太きな場合に適した欠陥
検査を行い得る。すなわち、標本行データ／ざは試料行
データ／７に最も位相の近いものであるため、両者の位
相差は汐画素幅分である。従ってＪｈ画素幅分の位置ず
れが生じた場合のエツジに相当する画素における試料と
標本との階調差をその画素に対する許容値とすればよい
。
この各画素毎の許容値設定については柚々の方法を採る
ことができ（特願昭Ｓｔ −／ ７り１２７号参照）、
あるいはエツジに相当する画素をマスキングすることに
より判定対象外としてもよい。
ことができ（特願昭Ｓｔ −／ ７り１２７号参照）、
あるいはエツジに相当する画素をマスキングすることに
より判定対象外としてもよい。
第５図は第グ図に示した思想に基づき構成した本発明方
法を実施するだめの装置構成を示したものである。この
構成では、印刷物／上の絵柄がカメラコによって走査さ
れて画像情報が取出される。
法を実施するだめの装置構成を示したものである。この
構成では、印刷物／上の絵柄がカメラコによって走査さ
れて画像情報が取出される。
この際、搬送系シリンダ３の回転量がロータリエンコー
ダ≠により取出され同期回路２／に与えられる。同期回
路ユｌは、カメラλ、Ａ／ｌ）変換回路２２およびアド
レス回路Ｊにその出力を与え、カメラ−の走査同期化、
カメラコにより取出した画像情報のＡ／ｂ変換同期化、
ならびに標本画素データメ七す２！；および画素制御デ
ータメモリ、２乙のアドレス割当てを行う。
ダ≠により取出され同期回路２／に与えられる。同期回
路ユｌは、カメラλ、Ａ／ｌ）変換回路２２およびアド
レス回路Ｊにその出力を与え、カメラ−の走査同期化、
カメラコにより取出した画像情報のＡ／ｂ変換同期化、
ならびに標本画素データメ七す２！；および画素制御デ
ータメモリ、２乙のアドレス割当てを行う。
したがって標本画素データメモリ２３；への標本行デー
タの簀込みにしても、また試料行データの検出時に判定
回路２３における判定動作のための標本画素データメモ
リおおよび画素制御データメモリＪからのデータ読出し
にしても正確なデータ対応が得られる。画素制御データ
メモリ。？乙には、各画素毎に許容値を与えるためのデ
ータが予めデータ設定されており、判定回路２３は試料
行データと標本行データとを対比するにつき画素制御デ
ータによる許容値を参酌する。
タの簀込みにしても、また試料行データの検出時に判定
回路２３における判定動作のための標本画素データメモ
リおおよび画素制御データメモリＪからのデータ読出し
にしても正確なデータ対応が得られる。画素制御データ
メモリ。？乙には、各画素毎に許容値を与えるためのデ
ータが予めデータ設定されており、判定回路２３は試料
行データと標本行データとを対比するにつき画素制御デ
ータによる許容値を参酌する。
第２図は第１図の装置における判定回路、２３のよシ具
体的構成を示したもので、標本行データＳＤおよび画素
制御データＭＤを７画素分ずつシフトするためのラッチ
Ｌ１〜Ｌ５によるシフト回路と、試料行データＴＤを１
画素分ずつシフトするためのラッチＬＬ１〜Ｌ６による
シフト回路とをそれぞれ判定要素ＪＥＩ〜ＪＥ５および
ＪＥｑ−ＪＥ７による判定要素群と組合わせてなるもの
である。
体的構成を示したもので、標本行データＳＤおよび画素
制御データＭＤを７画素分ずつシフトするためのラッチ
Ｌ１〜Ｌ５によるシフト回路と、試料行データＴＤを１
画素分ずつシフトするためのラッチＬＬ１〜Ｌ６による
シフト回路とをそれぞれ判定要素ＪＥＩ〜ＪＥ５および
ＪＥｑ−ＪＥ７による判定要素群と組合わせてなるもの
である。
各シフト回路は何れもカメラ２（第１図）の走査に用い
たクロックＣＬＫがラッチ回路に与えられることにより
シフト動作を行うもので、クロックＣＬＫが／画素毎に
与えられるようにすればよい。
たクロックＣＬＫがラッチ回路に与えられることにより
シフト動作を行うもので、クロックＣＬＫが／画素毎に
与えられるようにすればよい。
例えば試料行データＴＤ／はラッチＬＬＩ、Ｌ５、Ｌ６
によりカメラの走査に同期して順次シフトされＴＤＪ、
ＴＤＪ、ＴＤＪとなる。同様に標本行データＳＤ／およ
び画素制御データＭＤ／はラッチＬ１、Ｌ２、Ｌ３によ
如カメラの走査に同期して順次シフトされＭｎ２ 、Ｍ
ｎ５ 、ＭＤｑおよびＳｎ２、Ｓｎ５．５ＤＩ４となる
。
によりカメラの走査に同期して順次シフトされＴＤＪ、
ＴＤＪ、ＴＤＪとなる。同様に標本行データＳＤ／およ
び画素制御データＭＤ／はラッチＬ１、Ｌ２、Ｌ３によ
如カメラの走査に同期して順次シフトされＭｎ２ 、Ｍ
ｎ５ 、ＭＤｑおよびＳｎ２、Ｓｎ５．５ＤＩ４となる
。
そして試料行データＴＤ／は判定エレメントＪＥ１、Ｊ
Ｅ２、ＪＥ５、ＪＥ’ｌ に与えられ、標本行データ
および画素制御データと比較判定される。すなわち判定
エレメントＪＥＩｌでは試料行データＴＤ１と標本行デ
ータＳＤＩ、画素制御データＭＤＩによる判定を行い、
判定エレメントＪＥ１ではＴＤｌと８Ｄ２、Ｍｎ２によ
る判定、同じ（ＪＥ２ではＴＤＩとＳｎ３、Ｍｎ３によ
る判定、ＪＥ３ではＴ旧と５Ｄｔｔ、ＭＤｑによる判定
を行う。これによシ標本行データおよび画素制御データ
を試料行データに対し遅れさせたときの判定が行われる
。
Ｅ２、ＪＥ５、ＪＥ’ｌ に与えられ、標本行データ
および画素制御データと比較判定される。すなわち判定
エレメントＪＥＩｌでは試料行データＴＤ１と標本行デ
ータＳＤＩ、画素制御データＭＤＩによる判定を行い、
判定エレメントＪＥ１ではＴＤｌと８Ｄ２、Ｍｎ２によ
る判定、同じ（ＪＥ２ではＴＤＩとＳｎ３、Ｍｎ３によ
る判定、ＪＥ３ではＴ旧と５Ｄｔｔ、ＭＤｑによる判定
を行う。これによシ標本行データおよび画素制御データ
を試料行データに対し遅れさせたときの判定が行われる
。
一方、これとは反対に試料行データを標本性デタおよび
画素制御データに対し遅れさせたときの判定は判定エレ
メントＪＥ５、ＪＥ６、ＪＥＴにより行われる。
画素制御データに対し遅れさせたときの判定は判定エレ
メントＪＥ５、ＪＥ６、ＪＥＴにより行われる。
これにより判定エレメントＪＥＩ〜ＪＥ７の各々によシ
第１図（、）における試料行データタと標本行データ１
０〜／６との比較判定が行われる。判定ニレメン） Ｊ
ＥＩ〜ＪＥ７の各出力は総合判定回路ＴＪＵに与えられ
る。総合判定回路ＴＪＵは各エレメントの出力中の最小
値を選び出し、その値が閾値を超えているか否かによっ
て良否判定を行う。
第１図（、）における試料行データタと標本行データ１
０〜／６との比較判定が行われる。判定ニレメン） Ｊ
ＥＩ〜ＪＥ７の各出力は総合判定回路ＴＪＵに与えられ
る。総合判定回路ＴＪＵは各エレメントの出力中の最小
値を選び出し、その値が閾値を超えているか否かによっ
て良否判定を行う。
第７図は第を図の判定回路に用いられる判定ニレメン）
ＪＥのよシ具体的構成を示したもので、差の絶対値検出
回路ＤＡ、コンパレータＣＰ、およびカウンタＣＴによ
υ構成されている。そして、差の絶対値検出回路ＤＡは
、試料行データＴＤと標べ行データＳＤとの差の絶対値
ｌ ＴＤ−８Ｄ ｌを出力する。このｌ ＴＤ−８Ｄ
ｌとＩＴＤ−８ＤＩに対する許容値である両歯制御デー
タＭＤはコンパレータＣＰによって大小比較され、その
出力がカウンタＣＴに与えられることによｐｌＴＤ−８
ＤＩ＞ＭＤなる画素数の計数が行われる。
ＪＥのよシ具体的構成を示したもので、差の絶対値検出
回路ＤＡ、コンパレータＣＰ、およびカウンタＣＴによ
υ構成されている。そして、差の絶対値検出回路ＤＡは
、試料行データＴＤと標べ行データＳＤとの差の絶対値
ｌ ＴＤ−８Ｄ ｌを出力する。このｌ ＴＤ−８Ｄ
ｌとＩＴＤ−８ＤＩに対する許容値である両歯制御デー
タＭＤはコンパレータＣＰによって大小比較され、その
出力がカウンタＣＴに与えられることによｐｌＴＤ−８
ＤＩ＞ＭＤなる画素数の計数が行われる。
第ｒ図は第７図の判定エレメントにおける差の絶対値回
路のよシ具体的構成を示したもので、一つの加算器ＡＤ
Ｉ 、ＡＤ２ 、エクスクル−シブオア回路ＥＸおよび
インバータＩＮＶによ多構成され、入力としてＴＤ、Ｓ
Ｄが与えられることによりＴＤ−８Ｄなる出力を形成す
る。この回路は周知であるため詳細説明は省略する。
路のよシ具体的構成を示したもので、一つの加算器ＡＤ
Ｉ 、ＡＤ２ 、エクスクル−シブオア回路ＥＸおよび
インバータＩＮＶによ多構成され、入力としてＴＤ、Ｓ
Ｄが与えられることによりＴＤ−８Ｄなる出力を形成す
る。この回路は周知であるため詳細説明は省略する。
第り図は第を図の判定回路における総合判定（ｇｌ回路
ＪＵの構成をよシ詳細に示したもので、ｔつの低値検出
回路ＭＩＮＩ〜ＭＩＮ６により判定エレメントＪＥＩ〜
ＪＥ７ （第を図）からの各出力Ｊ１〜Ｊ７の最低値を
検出するものである。
ＪＵの構成をよシ詳細に示したもので、ｔつの低値検出
回路ＭＩＮＩ〜ＭＩＮ６により判定エレメントＪＥＩ〜
ＪＥ７ （第を図）からの各出力Ｊ１〜Ｊ７の最低値を
検出するものである。
第７θ図は第り図における低値検出回路ＭＩＮのより共
体的な構成を示したもので、セレクタＳＥとコンパレー
タＣＰとによ多構成されている。この回路はλつの人力
Ａ、Ｂ中の低値を検出するものの入力を２つずつ組合わ
せて低値検出し、この低値検出結果同士を比較して低値
検出し、さらにもう一段低値検出を行うことによシフ人
力中の最低値を検出するようにしたものである。
体的な構成を示したもので、セレクタＳＥとコンパレー
タＣＰとによ多構成されている。この回路はλつの人力
Ａ、Ｂ中の低値を検出するものの入力を２つずつ組合わ
せて低値検出し、この低値検出結果同士を比較して低値
検出し、さらにもう一段低値検出を行うことによシフ人
力中の最低値を検出するようにしたものである。
以上のような構成によシ印刷物の絵柄がある程度位置ず
れを伴っていても、正確に絵柄の良否判別を行うことが
でき、高速検査が可能で装置の低コスト化ができる。ま
た、標本行データと試料行データとの比較を行うため、
絵柄同士を全体的に比較する場合に比べ格段に高精度の
検査を行うことができる。
れを伴っていても、正確に絵柄の良否判別を行うことが
でき、高速検査が可能で装置の低コスト化ができる。ま
た、標本行データと試料行データとの比較を行うため、
絵柄同士を全体的に比較する場合に比べ格段に高精度の
検査を行うことができる。
第１１図は印刷物の流れ方向の位置ずれについても対応
し得るような構成を示したもので、第を図に示した判定
回路と同様の判定回路ＪＣＩ〜ＪＣ７、シフトレジスタ
ＳＲＩ〜ＳＲ６および総合判定回路ＴＪＵによって構成
されている。シフトレジスタＳＲは、カメラ２（第１図
）のセンサアレイビット数に等しいビット数であり、標
本行データＳＤ、画素制御データＭＤおよび試料行デー
タ’ｒ Ｄを第を図の回路におけるラッチのように／画
素ずつ遅らせて判定回路ＪＣ１〜ＪＣ７に与え、これら
判定回路ＪＣ１〜ＪＣ７の各出力ｊ１〜ｊ７は総合判定
回路ＴＪＵに与えられて最小値が検出される。
し得るような構成を示したもので、第を図に示した判定
回路と同様の判定回路ＪＣＩ〜ＪＣ７、シフトレジスタ
ＳＲＩ〜ＳＲ６および総合判定回路ＴＪＵによって構成
されている。シフトレジスタＳＲは、カメラ２（第１図
）のセンサアレイビット数に等しいビット数であり、標
本行データＳＤ、画素制御データＭＤおよび試料行デー
タ’ｒ Ｄを第を図の回路におけるラッチのように／画
素ずつ遅らせて判定回路ＪＣ１〜ＪＣ７に与え、これら
判定回路ＪＣ１〜ＪＣ７の各出力ｊ１〜ｊ７は総合判定
回路ＴＪＵに与えられて最小値が検出される。
本発明は上述のように、試料印刷物から画素毎に行単位
で取出した画像情、報に対し尚該行を中心とする所定数
行の標本行データを用意し、試料行データが何れかの標
本行データと許容値以内の濃度差であるか否かによって
印刷絵柄の良否判定を行うようにしたため、印刷物の搬
送による位置すれがあっても実用上問題のない精度で絵
柄検査を行うことができる。また、本発明によシ搬送系
としては位置ずれが許容されるから、搬送系のコスト低
減ができる。
で取出した画像情、報に対し尚該行を中心とする所定数
行の標本行データを用意し、試料行データが何れかの標
本行データと許容値以内の濃度差であるか否かによって
印刷絵柄の良否判定を行うようにしたため、印刷物の搬
送による位置すれがあっても実用上問題のない精度で絵
柄検査を行うことができる。また、本発明によシ搬送系
としては位置ずれが許容されるから、搬送系のコスト低
減ができる。
第１図は本発明の対象である絵柄検査装置の画像情報検
出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査のための試料絵
柄データと標本絵柄データの記録方式の模型的説明図、
第３図は印刷物搬送系等に起因して絵柄の位置ずれが生
じた場合の説明用特性図、第弘図（ａ）、（ｂ）は本発
明方法の基本的な検査方法および絵柄エツジの検査方法
を示す特性図、第３図は本発明方法を実施するための装
置構成を示すブロック線図、第を図は第３図の装置にお
ける判定回路のよシ具体的構成を示すブロック線図、第
７図は第を図の判定回路における判定エレメントのより
具体的構成を示すブロック線図、第を図は第７図の判定
エレメントにおける差の絶対値検出回路のよシ具体的構
成を示すブロック線図、第２図は第１図の判定回路にお
ける総合判定回路のよシ具体的構成を示すブロック線図
、第１θ図は第り図の総合判定回路における低値検出回
路のよシ具体的構成を示すブロック線図、第１／図は印
刷物の流れ方向への位置ずれにも対応し得る構成を示す
ブロック線図である。 ／・・・印刷物、 −・・・カメラ、 ３・・・シリン
ダ、μ・・・ロータリーエンコーｆ、 ｊ、７．？、ｎ
・・・試料絵柄（試料性）データ、 ｔ、Ｉ、１０．／
ざ用標本絵柄（標本性）データ。 ＴＤ・・・試料行データ、ＳＤ・・・標本行データ、Ｍ
Ｄ・・・画素制御データ、ＪＣ・・・判定回路、ＪＥ・
・・判定エレメント、 Ｌ用うッチ、ＳＲ・・・シフト
レジスタ、 ＴＪＵ・・・総合判定回路。 出願人代理人 猪 股 清 （／Ｓ） 耕胴
出部の構成を示す図、第２図は絵柄検査のための試料絵
柄データと標本絵柄データの記録方式の模型的説明図、
第３図は印刷物搬送系等に起因して絵柄の位置ずれが生
じた場合の説明用特性図、第弘図（ａ）、（ｂ）は本発
明方法の基本的な検査方法および絵柄エツジの検査方法
を示す特性図、第３図は本発明方法を実施するための装
置構成を示すブロック線図、第を図は第３図の装置にお
ける判定回路のよシ具体的構成を示すブロック線図、第
７図は第を図の判定回路における判定エレメントのより
具体的構成を示すブロック線図、第を図は第７図の判定
エレメントにおける差の絶対値検出回路のよシ具体的構
成を示すブロック線図、第２図は第１図の判定回路にお
ける総合判定回路のよシ具体的構成を示すブロック線図
、第１θ図は第り図の総合判定回路における低値検出回
路のよシ具体的構成を示すブロック線図、第１／図は印
刷物の流れ方向への位置ずれにも対応し得る構成を示す
ブロック線図である。 ／・・・印刷物、 −・・・カメラ、 ３・・・シリン
ダ、μ・・・ロータリーエンコーｆ、 ｊ、７．？、ｎ
・・・試料絵柄（試料性）データ、 ｔ、Ｉ、１０．／
ざ用標本絵柄（標本性）データ。 ＴＤ・・・試料行データ、ＳＤ・・・標本行データ、Ｍ
Ｄ・・・画素制御データ、ＪＣ・・・判定回路、ＪＥ・
・・判定エレメント、 Ｌ用うッチ、ＳＲ・・・シフト
レジスタ、 ＴＪＵ・・・総合判定回路。 出願人代理人 猪 股 清 （／Ｓ） 耕胴
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ／、試料印刷物から取出さｎた絵柄データを標本印刷物
から予め取出されメモリに記録されている絵柄データと
比較し絵柄の良否判定を行う印刷物の絵柄検査装置にお
いて、前記試料から１行毎に検出しに試料データおよび
前記メモリに記録されている標本行データの少なくとも
一方を他方に対し許容し得る範囲で１画素ずつ相対的に
位置ずれさせて複数のデータを形成し、この複数のデー
タによって前記試料行データと標本行データとの対比を
行いそのレベル差の最小値が所定許容値内であるが否か
によって良否判定するようにしたことを特徴とする印刷
物の絵柄検査装置。 コ、ｔｒｊ肝請求の範囲第１項記載の方法にひいて、前
記印刷物のエツジについては特別のレベル許容値を設定
するようにした印刷物の絵柄検査方法０ ３、印刷物の搬送動作に応じて同期信号を形成する装置
と、前記同期信号に基き前記印刷物の絵柄を走査して画
像情報を取出すカメラと、このカメラによシ標本印刷物
から取出した画像情報が書込まれる標本行データメモリ
と、前記カメラからの試料行データと前記標本行データ
メモリと、前記カメラからの試料行データと前記標本行
データメモリからのデータとをこれら両データの少なく
とも一方を／画素ずつ位置ずれさせることにより予想さ
れる前記印刷物の位置ずれに対応したずれを伴う複数の
データを形成し、この複数のデータによって前記試料行
データと標本行データとの対比を行う判定回路とをそな
えた印刷物の絵柄検査装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57151118A JPS5940241A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 印刷物の絵柄を検査する方法および装置 |
| EP83108547A EP0104477B1 (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method for inspecting image |
| US06/527,947 US4677680A (en) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Method and device for inspecting image |
| DE8383108547T DE3380997D1 (de) | 1982-08-31 | 1983-08-30 | Verfahren zur bilduntersuchung. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57151118A JPS5940241A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 印刷物の絵柄を検査する方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5940241A true JPS5940241A (ja) | 1984-03-05 |
| JPH0371263B2 JPH0371263B2 (ja) | 1991-11-12 |
Family
ID=15511752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57151118A Granted JPS5940241A (ja) | 1982-08-31 | 1982-08-31 | 印刷物の絵柄を検査する方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5940241A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62221085A (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-29 | Nec Corp | 自己走査型光電変換検出装置 |
| JPS6387238A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-18 | Nec Corp | 印刷物の検査装置 |
-
1982
- 1982-08-31 JP JP57151118A patent/JPS5940241A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62221085A (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-29 | Nec Corp | 自己走査型光電変換検出装置 |
| JPS6387238A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-18 | Nec Corp | 印刷物の検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0371263B2 (ja) | 1991-11-12 |
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