JPS62232187A - セラミツク基板の製造方法 - Google Patents
セラミツク基板の製造方法Info
- Publication number
- JPS62232187A JPS62232187A JP61075713A JP7571386A JPS62232187A JP S62232187 A JPS62232187 A JP S62232187A JP 61075713 A JP61075713 A JP 61075713A JP 7571386 A JP7571386 A JP 7571386A JP S62232187 A JPS62232187 A JP S62232187A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- ceramic
- green sheet
- ceramic substrate
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 43
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 31
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 7
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 claims description 2
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 claims 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 13
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 8
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 6
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 4
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 2
- DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N dibutyl phthalate Chemical compound CCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCC DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008642 heat stress Effects 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/362—Laser etching
- B23K26/364—Laser etching for making a groove or trench, e.g. for scribing a break initiation groove
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/40—Removing material taking account of the properties of the material involved
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0044—Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching
- H05K3/0052—Depaneling, i.e. dividing a panel into circuit boards; Working of the edges of circuit boards
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/50—Inorganic material, e.g. metals, not provided for in B23K2103/02 – B23K2103/26
- B23K2103/52—Ceramics
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09009—Substrate related
- H05K2201/0909—Preformed cutting or breaking line
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/10—Using electric, magnetic and electromagnetic fields; Using laser light
- H05K2203/107—Using laser light
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0011—Working of insulating substrates or insulating layers
- H05K3/0017—Etching of the substrate by chemical or physical means
- H05K3/0026—Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation
- H05K3/0029—Etching of the substrate by chemical or physical means by laser ablation of inorganic insulating material
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオ、テレビなどの民生用電子機器や、コ
ンピュータ、通信4!1器などを構成する電子回路基板
用として利用されるセラミック基板の製造方法に関する
ものである。
ンピュータ、通信4!1器などを構成する電子回路基板
用として利用されるセラミック基板の製造方法に関する
ものである。
従来の技術
近年、電子機器の小型・薄型化を図るための手段として
、配線密度や多層化が比較的簡単に実現できるセラミッ
ク基板の用途が、民生、情報、通信、産業上の利用分野
に拡大しつつある。セラミック配線基板は、通常膜状に
成型されたセラミックグリーンシート(以降グリーンシ
ートと略記す、)を金型を用いて、所定形状に打ち抜き
加工した後、焼結を行いその後、それらのセラミノり基
板に対し、ペースト状の絶縁、導体、抵抗の各材料を用
い、スクリーン印刷手法の繰り返しによって、絶縁層、
導体層、および抵抗層などの各厚膜層を形成し焼成の後
前られるものである。基本的な形成技術をスクリーン印
刷技術に依存していることから、l印刷ストローク内に
いかに多数個の必要最小単位のセラミック基板を配直し
、厚膜層を同時形成処理するかが、生産性を向上させる
最大のポイントとなるものである。したがって、必要最
小単位のセラミック基板を多数個連結させて、回路基板
の実質的な大面積化をはかり、厚膜形成および焼成工程
を完了させて後、i終的に必要最小単位のセラミック配
vA基板に個片分割して利用する方法が1.?!され、
その一方法はすでに実用に供されており、生産性の図上
に寄与しているものである。
、配線密度や多層化が比較的簡単に実現できるセラミッ
ク基板の用途が、民生、情報、通信、産業上の利用分野
に拡大しつつある。セラミック配線基板は、通常膜状に
成型されたセラミックグリーンシート(以降グリーンシ
ートと略記す、)を金型を用いて、所定形状に打ち抜き
加工した後、焼結を行いその後、それらのセラミノり基
板に対し、ペースト状の絶縁、導体、抵抗の各材料を用
い、スクリーン印刷手法の繰り返しによって、絶縁層、
導体層、および抵抗層などの各厚膜層を形成し焼成の後
前られるものである。基本的な形成技術をスクリーン印
刷技術に依存していることから、l印刷ストローク内に
いかに多数個の必要最小単位のセラミック基板を配直し
、厚膜層を同時形成処理するかが、生産性を向上させる
最大のポイントとなるものである。したがって、必要最
小単位のセラミック基板を多数個連結させて、回路基板
の実質的な大面積化をはかり、厚膜形成および焼成工程
を完了させて後、i終的に必要最小単位のセラミック配
vA基板に個片分割して利用する方法が1.?!され、
その一方法はすでに実用に供されており、生産性の図上
に寄与しているものである。
以下、図面を参照しながら、上述した従来のセラミック
基板の製造方法の一例について説明する。
基板の製造方法の一例について説明する。
第4図に示すように、lはグリーンシートであり、A1
20.、S i02などのセラミクス系無機組成物とポ
リビニールブチラール、ジブチルフタレート、イソプロ
ピルアルコールなどの結合剤、可塑剤、溶剤などを含む
成膜用有機組成物とからなる。これらの原材料は、ボー
ルミルなどを用いて分散混合されスリップ化される。ス
リップ化された原材料は、カレンダー法やドクターブレ
ード法などによって膜状に成型され、乾燥後グリーンシ
ートlとなるものである。このグリーンシートlの一方
の面la上の所定のスクライブレイクライン形成部位3
(一点鎖点で表示)によって押圧する。上記所定の形
成部位3には、局部拡大断面図(第3図)に示されるよ
うなブレード2の刃先2aの形状に従った溝深さ:D、
溝幅:Wおよび溝角度:0を有する切り欠き溝4が形成
される。その後、約1600℃の温度での焼結過程をj
)で第6図に示すようなスクライブブレイクライン5を
有するセラミック基板6を得るものである。これらのセ
ラミック基板6は導体層7の形成、抵抗層8の形成、絶
縁層9の形成など、必要に応じた厚膜印刷、焼成工程を
経て後、必要最小単位のセラミンク配線基板lOが多数
個(図示は3個)連結したワークサイズ配線基板11と
なる。これらのセラミック配線基板10は、所定の電気
部品12がそれぞれのセラミック配線基板に実装された
後、スクライブブレイクライン5に沿って外圧を加える
ことにより、このスクライブブレイクライン5の深奥部
5aに沿った形状で個片に破断分割され、最終的に回路
モジュールとしての機能を発揮するものである。
20.、S i02などのセラミクス系無機組成物とポ
リビニールブチラール、ジブチルフタレート、イソプロ
ピルアルコールなどの結合剤、可塑剤、溶剤などを含む
成膜用有機組成物とからなる。これらの原材料は、ボー
ルミルなどを用いて分散混合されスリップ化される。ス
リップ化された原材料は、カレンダー法やドクターブレ
ード法などによって膜状に成型され、乾燥後グリーンシ
ートlとなるものである。このグリーンシートlの一方
の面la上の所定のスクライブレイクライン形成部位3
(一点鎖点で表示)によって押圧する。上記所定の形
成部位3には、局部拡大断面図(第3図)に示されるよ
うなブレード2の刃先2aの形状に従った溝深さ:D、
溝幅:Wおよび溝角度:0を有する切り欠き溝4が形成
される。その後、約1600℃の温度での焼結過程をj
)で第6図に示すようなスクライブブレイクライン5を
有するセラミック基板6を得るものである。これらのセ
ラミック基板6は導体層7の形成、抵抗層8の形成、絶
縁層9の形成など、必要に応じた厚膜印刷、焼成工程を
経て後、必要最小単位のセラミンク配線基板lOが多数
個(図示は3個)連結したワークサイズ配線基板11と
なる。これらのセラミック配線基板10は、所定の電気
部品12がそれぞれのセラミック配線基板に実装された
後、スクライブブレイクライン5に沿って外圧を加える
ことにより、このスクライブブレイクライン5の深奥部
5aに沿った形状で個片に破断分割され、最終的に回路
モジュールとしての機能を発揮するものである。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記のような従来の方法でグリーンシー
トl上に切り欠きtR4を形成する際には、ブレード2
の気質、刃先2aの寸法形状や表面状!、ブレード2が
グリーンシートlを押圧する時の圧カレヘル、そしてそ
のくい込み量によって切り欠き溝4の形状状態が変動し
易く、切り欠き溝4を溝成する/I$深さ=D、溝幅:
W、溝角度=θなど極めて精密な制御を必要とするもの
である。
トl上に切り欠きtR4を形成する際には、ブレード2
の気質、刃先2aの寸法形状や表面状!、ブレード2が
グリーンシートlを押圧する時の圧カレヘル、そしてそ
のくい込み量によって切り欠き溝4の形状状態が変動し
易く、切り欠き溝4を溝成する/I$深さ=D、溝幅:
W、溝角度=θなど極めて精密な制御を必要とするもの
である。
これら制御パラメータの管理不適切な場合には、プレー
ト2の押圧時に切り欠き溝4の深奥部4aより微少なり
ラックが発生成長し、グリーンシー1−1の焼結時には
それらが原因となって、グリーンシー)1の焼結収縮バ
ランスが崩れ、その結果反り量の大きい基板となったり
、著しくはセラミックyIE仮6に割れが発生したりす
るものである。
ト2の押圧時に切り欠き溝4の深奥部4aより微少なり
ラックが発生成長し、グリーンシー1−1の焼結時には
それらが原因となって、グリーンシー)1の焼結収縮バ
ランスが崩れ、その結果反り量の大きい基板となったり
、著しくはセラミックyIE仮6に割れが発生したりす
るものである。
また、導体Ji17や抵抗層8や絶縁層9などの厚膜形
成時の印刷スキージ圧による応力や焼結時の熱ストレス
などによって、上記微少クラックが要因となり、スクラ
イブブレイクライン5に沿ってクラックが成長し、最終
的にはセラミック基板6が破断されてしまうという問題
点をも有しているものである。
成時の印刷スキージ圧による応力や焼結時の熱ストレス
などによって、上記微少クラックが要因となり、スクラ
イブブレイクライン5に沿ってクラックが成長し、最終
的にはセラミック基板6が破断されてしまうという問題
点をも有しているものである。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために、本発明のセラミック基板
の製造方法はスクラ・イブブレイクラインを形成するに
際し、従来のブレードによる押圧法から、レーザの照射
という方法によってグリーンシートの融解蒸発を促し、
切り欠き溝や連続間欠貫通孔などの形状のスクライブブ
レイクラインを形成するという特徴を備えたものである
。
の製造方法はスクラ・イブブレイクラインを形成するに
際し、従来のブレードによる押圧法から、レーザの照射
という方法によってグリーンシートの融解蒸発を促し、
切り欠き溝や連続間欠貫通孔などの形状のスクライブブ
レイクラインを形成するという特徴を備えたものである
。
作用
本発明は、上記の方法に従ってスクライブブレイクライ
ンを形成することにより、従来問題点となっていたブレ
ードの物理的な押圧作用に起因する切り欠き溝の深奥部
に発生する微少クラックを防止し、その結果、厚膜形成
時の印圧や焼成熱ストレスに耐えうるような均質で高安
定なセラミック基板を得ようとするものである。
ンを形成することにより、従来問題点となっていたブレ
ードの物理的な押圧作用に起因する切り欠き溝の深奥部
に発生する微少クラックを防止し、その結果、厚膜形成
時の印圧や焼成熱ストレスに耐えうるような均質で高安
定なセラミック基板を得ようとするものである。
実施例
以下、本発明のセラミック基板の製造方法についての一
実施例について図面を参照しながら説明する。第1図は
、本発明の一実施例におけるセラミック基板の製造方法
を示すもので、lはグリーンシート、4はスクライブブ
レイクラインを為す切り欠き溝、13はレーザ装置のレ
ーザビームヘッドであり、14はレーザビームである。
実施例について図面を参照しながら説明する。第1図は
、本発明の一実施例におけるセラミック基板の製造方法
を示すもので、lはグリーンシート、4はスクライブブ
レイクラインを為す切り欠き溝、13はレーザ装置のレ
ーザビームヘッドであり、14はレーザビームである。
lのグリーンシートは従来の技術の中で説明したと同様
に、セラミックス系無機物と成膜用有機物とからなり、
その一方の面1aの所定のスクライブプレイクライン形
成部位3に沿ってレーザ装置の一構成部であるレーザヘ
ッド13より、光学的に集束されたレーザビーム14を
照射する。レーザビーム14の走査、またはグリーンシ
ート1の移動によって、グリーンシート1の一方の面1
a上のレーザビーム14を照射された形成部位3の表層
部のセラミクス系無機物および成膜用有機物は、レーザ
ビーム14の有する熱エネルギー受けて順次融解蒸発し
、その填敗痕跡として連続的な凹部が残り、それが切り
欠き溝4を形成し、これらがグリーンシートlの焼成後
、個片分割用のスクライブブレイクライン5として機能
するものである。
に、セラミックス系無機物と成膜用有機物とからなり、
その一方の面1aの所定のスクライブプレイクライン形
成部位3に沿ってレーザ装置の一構成部であるレーザヘ
ッド13より、光学的に集束されたレーザビーム14を
照射する。レーザビーム14の走査、またはグリーンシ
ート1の移動によって、グリーンシート1の一方の面1
a上のレーザビーム14を照射された形成部位3の表層
部のセラミクス系無機物および成膜用有機物は、レーザ
ビーム14の有する熱エネルギー受けて順次融解蒸発し
、その填敗痕跡として連続的な凹部が残り、それが切り
欠き溝4を形成し、これらがグリーンシートlの焼成後
、個片分割用のスクライブブレイクライン5として機能
するものである。
第2図に示すこれら切り欠きfI4の輻:W、と深さ:
D2は、レーザの発振出力(パワー密度)とスポット径
と走査速度によって決定づけられ、それらを可変調整す
ることによって容易に適切な切り欠き溝形状を形成する
ことができる。それらの切り欠き溝形状は、上記以外に
レーザの発生エネルギー状態などの加工条件を選択する
ことによって、第3図に示すように、形成部位に沿って
間欠的に形成された貫通長孔15や貫通短孔16の組合
せ、さらには上記貫通孔15および16間のグリーンシ
ート1の一方のシート面la上に切り欠き溝4を形成し
た複合スクライブブレイクラインとしても、同様な個片
分割効果が得られるものである。
D2は、レーザの発振出力(パワー密度)とスポット径
と走査速度によって決定づけられ、それらを可変調整す
ることによって容易に適切な切り欠き溝形状を形成する
ことができる。それらの切り欠き溝形状は、上記以外に
レーザの発生エネルギー状態などの加工条件を選択する
ことによって、第3図に示すように、形成部位に沿って
間欠的に形成された貫通長孔15や貫通短孔16の組合
せ、さらには上記貫通孔15および16間のグリーンシ
ート1の一方のシート面la上に切り欠き溝4を形成し
た複合スクライブブレイクラインとしても、同様な個片
分割効果が得られるものである。
グリーンシートlの成分であるセラミクス系無機物と成
膜用有機物を融解蒸発させるレーザビームの発生光源と
しては、気体レーザ、固体レーザいずれであっても何等
差異はなく、実用的には気体レーザの場合には炭酸ガス
レーザ、固体レーザの場合には、Y A C(Yhri
um−Aluainus+−Garnet)レーザを用
いるのが効率的である。さらに、レーザビーム14のグ
リーンシート面1aへの照射時に、グリーンシート1の
組成の一つである可塑剤で決定される温度領域、たとえ
ば50〜60℃で加熱しておくことにより、加工反力の
少ないスクライブブレイクラインが形成され、これらは
グリーンの厚みが厚い程その効果が著しいことが発明者
の実験によって確認された。本発明のレーザ加工によっ
て形成されたこれらスクライブブレイクラインを有する
グリーンシートlは加工歪や熱変形が少く、それを焼成
して得られるセラミック基板は、従来のブレードによる
押圧法と比較して反り量が極めて軽減されるとともに、
厚膜形成時の印刷スキージ圧力や焼成熱応力に対する耐
破壊性も高く、非常に均質で高安定な基板であることが
判明した。
膜用有機物を融解蒸発させるレーザビームの発生光源と
しては、気体レーザ、固体レーザいずれであっても何等
差異はなく、実用的には気体レーザの場合には炭酸ガス
レーザ、固体レーザの場合には、Y A C(Yhri
um−Aluainus+−Garnet)レーザを用
いるのが効率的である。さらに、レーザビーム14のグ
リーンシート面1aへの照射時に、グリーンシート1の
組成の一つである可塑剤で決定される温度領域、たとえ
ば50〜60℃で加熱しておくことにより、加工反力の
少ないスクライブブレイクラインが形成され、これらは
グリーンの厚みが厚い程その効果が著しいことが発明者
の実験によって確認された。本発明のレーザ加工によっ
て形成されたこれらスクライブブレイクラインを有する
グリーンシートlは加工歪や熱変形が少く、それを焼成
して得られるセラミック基板は、従来のブレードによる
押圧法と比較して反り量が極めて軽減されるとともに、
厚膜形成時の印刷スキージ圧力や焼成熱応力に対する耐
破壊性も高く、非常に均質で高安定な基板であることが
判明した。
以上のように本実施例によれば、グリーンシート上にス
クライブブレイクラインを形成する方法として、レーザ
ビームを照射してそれを形成することにより、焼成後の
セラミック基板の反り量を軽減し、クラック発生を抑制
したセラミック基板を提供することができるものである
。
クライブブレイクラインを形成する方法として、レーザ
ビームを照射してそれを形成することにより、焼成後の
セラミック基板の反り量を軽減し、クラック発生を抑制
したセラミック基板を提供することができるものである
。
発明の効果
以上のように本発明は、グリーンシート上へのレーザビ
ームの照射によってスクライブラインを形成することに
より、割れの少い非常に高安定なセラミック基板を得る
ことができるものである。
ームの照射によってスクライブラインを形成することに
より、割れの少い非常に高安定なセラミック基板を得る
ことができるものである。
また非接触の高密度熱エネルギー加工であるため、自由
曲線加工ができ、異形形状のセラミック)!、仮に月し
て通用できるとともに、加工金型が不要であるため、従
来加エコスI・の占める割合が高かった多品種少量生産
への対応の場合には特に有利であり、価格の安価のセラ
ミック基板を実現できるものである。
曲線加工ができ、異形形状のセラミック)!、仮に月し
て通用できるとともに、加工金型が不要であるため、従
来加エコスI・の占める割合が高かった多品種少量生産
への対応の場合には特に有利であり、価格の安価のセラ
ミック基板を実現できるものである。
第1図は本発明の一実施例のセラミック基板の製造方法
を示す要部断面斜視図、第2図は同製造方法を示す要部
拡大断面図、第3図は本発明の他の実施例のセラミック
基板の製造方法を示す要部断面斜視図、第4図は従来の
セラミック基板の製造方法を示す要部断面斜視図、第5
図は、同製造方法を示す要部拡大断面図、第6図はセラ
ミック配線基板の構造を示す要部断面斜視図である。 l・・・・・・グリーンシート、la・・・・・・グリ
ーンシートの一方の面、2・・・・・・ブレード、2a
・・・・・・刃先、3・・・・・・スクライブブレイク
ライン形成部位、4・・・・・・切り欠き溝、4a・・
・・・・深奥部、5・・・・・・スクライププレイクラ
イン、5a・・・・・・深奥部、6・・・・・・セラミ
ック基板、7・・・・・・導体層、8・・・・・・抵抗
層、9・・・・・・絶縁層、10・・・・・・セラミッ
ク配線基板、11・・・・・・ワークサイズ配線基板、
2・・・・・・電気部品、13・・・・・・レーザビー
ムヘッド、14・・・・・・レーザビーム。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第2図
を示す要部断面斜視図、第2図は同製造方法を示す要部
拡大断面図、第3図は本発明の他の実施例のセラミック
基板の製造方法を示す要部断面斜視図、第4図は従来の
セラミック基板の製造方法を示す要部断面斜視図、第5
図は、同製造方法を示す要部拡大断面図、第6図はセラ
ミック配線基板の構造を示す要部断面斜視図である。 l・・・・・・グリーンシート、la・・・・・・グリ
ーンシートの一方の面、2・・・・・・ブレード、2a
・・・・・・刃先、3・・・・・・スクライブブレイク
ライン形成部位、4・・・・・・切り欠き溝、4a・・
・・・・深奥部、5・・・・・・スクライププレイクラ
イン、5a・・・・・・深奥部、6・・・・・・セラミ
ック基板、7・・・・・・導体層、8・・・・・・抵抗
層、9・・・・・・絶縁層、10・・・・・・セラミッ
ク配線基板、11・・・・・・ワークサイズ配線基板、
2・・・・・・電気部品、13・・・・・・レーザビー
ムヘッド、14・・・・・・レーザビーム。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名第2図
Claims (4)
- (1)セラミックグリーンシート上に個片基板に分割す
るためのスクライブブレイクラインを形成するに際し、
レーザビームを上記セラミックグリーンシート面に照射
して、スクライブブレイクラインを形成することを特徴
としたセラミック基板の製造方法。 - (2)レーザビーム発生光源として、気体レーザの場合
には、炭酸ガスレーザを、団体レーザの場合には、YA
Gレーザを用いることを特徴とした特許請求の範囲第(
1)項記載のセラミック基板の製造方法。 - (3)スクライブブレイクライン形状として、切り欠き
溝、連続間欠長短孔、もしくはその組合わせを用いるこ
とを特徴とした特許請求の範囲第(1)項記載のセラミ
ック基板の製造方法。 - (4)個片基板に分割するためのスクライブブレイクラ
インを、レーザビームの照射によって形成するに際し、
セラミックグリーンシートを熱可塑領域の温度範囲で加
熱しながら、上記レーザ加工を施すことを特徴とする特
許請求の範囲第(1)項記載のセラミック基板の製造方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61075713A JPS62232187A (ja) | 1986-04-02 | 1986-04-02 | セラミツク基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61075713A JPS62232187A (ja) | 1986-04-02 | 1986-04-02 | セラミツク基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62232187A true JPS62232187A (ja) | 1987-10-12 |
Family
ID=13584159
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61075713A Pending JPS62232187A (ja) | 1986-04-02 | 1986-04-02 | セラミツク基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62232187A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08197267A (ja) * | 1995-01-18 | 1996-08-06 | Taiyo Yuden Co Ltd | レーザ加工装置及びこれを用いた電子部品の製造方法 |
JP2008024294A (ja) * | 1994-10-31 | 2008-02-07 | Tip Engineering Group Inc | エアバッグ展開用開口部のための自動車用内装カバーを予め脆弱化する方法 |
JP2010073711A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-04-02 | Ngk Spark Plug Co Ltd | セラミック部品の製造方法 |
JP2011088191A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Tdk Corp | 電子部品の製造方法 |
JP5136710B1 (ja) * | 2012-04-26 | 2013-02-06 | パナソニック株式会社 | 磁性シートの製造方法 |
JP2014503367A (ja) * | 2010-11-01 | 2014-02-13 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 成形セラミック研磨粒子を製造するためのレーザー方法、成形セラミック研磨粒子、及び研磨物品 |
JP2014150209A (ja) * | 2013-02-04 | 2014-08-21 | Nippon Steel & Sumikin Electronics Devices Inc | セラミックパッケージ及びその製造方法 |
US9049793B2 (en) | 2010-10-08 | 2015-06-02 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Multi-piece-array and method of manufacturing the same |
WO2015163249A1 (ja) * | 2014-04-23 | 2015-10-29 | 日本碍子株式会社 | 多孔質板状フィラー、その製造方法、及び断熱膜 |
WO2017010185A1 (ja) * | 2015-07-16 | 2017-01-19 | 日本碍子株式会社 | 多孔質セラミック構造体 |
-
1986
- 1986-04-02 JP JP61075713A patent/JPS62232187A/ja active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008024294A (ja) * | 1994-10-31 | 2008-02-07 | Tip Engineering Group Inc | エアバッグ展開用開口部のための自動車用内装カバーを予め脆弱化する方法 |
JPH08197267A (ja) * | 1995-01-18 | 1996-08-06 | Taiyo Yuden Co Ltd | レーザ加工装置及びこれを用いた電子部品の製造方法 |
JP2010073711A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-04-02 | Ngk Spark Plug Co Ltd | セラミック部品の製造方法 |
JP2011088191A (ja) * | 2009-10-23 | 2011-05-06 | Tdk Corp | 電子部品の製造方法 |
US9049793B2 (en) | 2010-10-08 | 2015-06-02 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Multi-piece-array and method of manufacturing the same |
US9657207B2 (en) | 2010-11-01 | 2017-05-23 | 3M Innovative Properties Company | Laser method for making shaped ceramic abrasive particles, shaped ceramic abrasive particles, and abrasive articles |
JP2014503367A (ja) * | 2010-11-01 | 2014-02-13 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 成形セラミック研磨粒子を製造するためのレーザー方法、成形セラミック研磨粒子、及び研磨物品 |
JP5136710B1 (ja) * | 2012-04-26 | 2013-02-06 | パナソニック株式会社 | 磁性シートの製造方法 |
JP2014150209A (ja) * | 2013-02-04 | 2014-08-21 | Nippon Steel & Sumikin Electronics Devices Inc | セラミックパッケージ及びその製造方法 |
WO2015163249A1 (ja) * | 2014-04-23 | 2015-10-29 | 日本碍子株式会社 | 多孔質板状フィラー、その製造方法、及び断熱膜 |
US10464287B2 (en) | 2014-04-23 | 2019-11-05 | Nkg Insulators, Ltd. | Porous plate-shaped filler, method for producing same, and heat insulation film |
WO2017010185A1 (ja) * | 2015-07-16 | 2017-01-19 | 日本碍子株式会社 | 多孔質セラミック構造体 |
JPWO2017010185A1 (ja) * | 2015-07-16 | 2017-07-20 | 日本碍子株式会社 | 多孔質セラミック構造体 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5294567A (en) | Method for forming via holes in multilayer circuits | |
US3770529A (en) | Method of fabricating multilayer circuits | |
JP5528587B2 (ja) | 電解質シートのマイクロ加工方法 | |
JP4764877B2 (ja) | セラミック−金属基板を製作するための方法 | |
JPS62232187A (ja) | セラミツク基板の製造方法 | |
KR100521941B1 (ko) | 다층 세라믹 기판의 제조 방법 | |
JPWO2008018227A1 (ja) | セラミック多層基板の製造方法 | |
KR20070011373A (ko) | 균질 및 비균질 기판에 쓰루 홀을 드릴링하는 방법 | |
WO1997001868A1 (en) | Method of manufacturing multilayer electronic components | |
JP2003110238A (ja) | ガラスセラミック多層基板の製造方法 | |
WO2002081141A1 (en) | Carbon dioxide gas laser machining method of multilayer material | |
JPH11510963A (ja) | セラミック多層基板の製造方法 | |
JP2856045B2 (ja) | セラミック基板の製造方法 | |
KR100887127B1 (ko) | 적층 세라믹 기판의 제조방법 | |
JPS61124197A (ja) | セラミツク多層基板の製造方法 | |
JPH0195588A (ja) | 回路基板の製造方法 | |
US7102097B2 (en) | Method of making hole in ceramic green sheet | |
EP0456293B1 (en) | Method of manufacturing a ceramic multilayer capacitor having a marking | |
JPS61182894A (ja) | アルミナ基板のレ−ザスクライブ法 | |
JPH04225297A (ja) | セラミック基板の製造方法 | |
JP2005039071A (ja) | セラミック積層デバイスの製造方法 | |
JPH0284282A (ja) | 回路基板の溝加工方法 | |
JP2001047399A (ja) | プリント配線基板の外形加工工法 | |
JPS6174792A (ja) | 複合部品の製造方法 | |
JPS63287076A (ja) | 光起電力装置 |