JPS62219094A - 読取り−および測定装置を校正および検査するための検定および検査用標準部材およびその製造法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、読取り−および測定装置を校正および検査す
るだめの検定および検査用標準部材およびその製造法に
関する。

従来の技術 商品、とくに種々の形状および材料で包装された食料品
、書籍および他の量産製品の機械的に読取り可能な表示
のために、国際的に制定された、一般にバーコードであ
るコードがますます普及するに至っているが、これらバ
ーコーＶは、種々のバー太さ、−長さ、−間隔その他等
により、原産国、物品番号、表示価格並びに他のデータ
に関する符号化された表示を包含する。

とりわけ書籍、例えばポケットブックを標識するコード
の場合、発行所、価格、表題、発行年次、版数、言語等
が符号化される。

このコードを、例えばいわゆるスキャナ・テイル（Ｓｃ
ａｎｎｅｒ　ｔｉｌｌ）で読取った場合、これら表示が
解読されかつ平文で領収証にプリントアウトされ、かつ
これが大ていの場合同時に、全商品在庫を管理する中央
コンピュータへも転送される。データ・テイルに組込み
固定されたスキャナのほか、ペン形の読取シ装置もバー
コードの解読に使用され、その場合このペン形の読取装
置がフレキシブルケーブルを経てデータ・テイルに、お
よびまた付加的にモニターにも接続されることができる
。

種々のコードの印刷に関する規格が暗色のストリップま
たはバーおよび明色のギャップを規定しているが、但し
その場合コントラストの規定は、解読に使用される光源
が作動する波長範囲につき適用されるにすぎない。デー
タ・テイル中に組込まれたスキャナがレーず光束で作動
する、このことから、明暗のカラー表示がレーザの発生
する波長の価と当然に関連することは明白である。この
ことは、バーコードの場合レーザにより走査されるヤヤ
ツゾが、これがレーザ波長に相応するカラーを有する場
合は”明”であることを表わす。この場合バーコードの
他の範囲、例えばバーが、レーザ光束に対し”暗”を表
わす。これらの配慮から、例えば包装材料がガラスの場
合、ガラス材料が、レーザ光束を反射せずに非印刷位置
で透過させるものとしてストリップ−ないしはバーの機
能を引受けることになる。この場合、明色のギャップが
、レーザ光束に相応するカラーでガラス材料に印刷され
る。

折たたみポール箱を製造する包装工業で、バーコードが
一般に印刷業者から購入される。わずかな開数のバーコ
ードのために、紙、金属、プラスチックより成るバーコ
ーーラペル用の、サーモプリンタ、マトリクスプリンタ
、レーザプリンタとして作動するラベルプリンタが市販
されている。印刷されたバーコードを測定および検査す
るため、カラーコントラスト測定ヲモ可能にする相応す
る測定−および検査装置が使用可能である。

物品分類番号については、アメリカ合衆国を除き、十分
類似に構成されたＦＡＮ−およびＪＡＮバーコードが世
界的に実施されているが、これらはヨー口ぎアン・アー
ティクル・ナンバリング（ＥｕｒｏｐｅａｎΔｒｔｉｃ
ｌｅ　Ｎｕｍｂｅｒｉｎｇ）およびジャパニーズ・アー
ティクル・ナンバリング（Ｊａｐａｎｅｓｅ△ｒｔｉｃ
ｌｅ　Ｎｕｍｂｅｒｉｎｇ）の根底をなしかつインタナ
ショナル・アーティクル・ナンバ’）　ンク・７７　シ
ェ−ショ：／　（ＩｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌＡｒｔｉ
ｃｌｅ　Ｎｕｍｂｅｒｉｎｇ　Ａｓ５ｏｃｉａｔｉｏｎ
）により制定されている。

バーコード表示を印刷により製造する場合、バーコード
特性の分散諷は、不可避ではあるが但し、バーコード表
示の機械によるできるだけ大きい平文化読取シ率を得る
ため、できるだけ低く維持されなげればならない。しか
しながら機械による読取りの効果は、バーコード特性だ
けでなく、使用されるバーコーＶ用読取り装置にも依存
し、この装置において例えば、レーザ、電源電圧安定化
装置のような個々の部品の疲労による出力変動が生じる
ことがある。さらに実際に、例えばバーコードの範囲内
の包装材料の汚染による外的影響もバーコードに作用し
、これがバーコードの被読取り能を制限する。

印刷−および複写技術において、検定−および品質検査
目的のため、バー−またはストリップコードと類似に形
成された格子目盛シ、露光試験用楔等の基準が使用され
る。

ガラスキャリヤをペースとし、多色光、すなわち白色光
に対し光透過性−および光不透過性の区間より成る標準
プレート、バー−および検査プレートが公知である。特
定の波長を放射するレーザは、標準−、バー−および検
査プレートを読取るだめの光源として一般に殆んど不適
当である、それというのもプレートの、白色光に対し透
明なガラスと白色光に対し不透過性の格子目盛シおよび
ラインーないしは２ぐ一パターンとの間のコントラスト
差がレーず光に対し不十分であるからである。

白色光源の多色光またはレーザの単色光で作動する、バ
ーニー２表示用の読取り−および検査装置の場合、バー
コード表示を機械的に識別する際に装置部品の出力変動
により誤差を生じることがある。さらに、バーコードの
機械的な平文化読取シに際し、異なるメーカーの機種で
特定の差異が生じることがある、それというのもそれぞ
れのメーカーがその装置をメーカー独自のバーコードモ
デルにより検査、試験および調節するからである。この
場合、検査モデルが、ガラス、フィルム、透明紙、厚紙
等のような、熱的、機械的、光学的特性の相互に異なる
種々の材料に施こされていることがある。これら特定の
材料特性が、全く同じバーコード表示を異なるメーカー
の検査−および読取り装置により平文化読取りせる際に
わずかな偏差を生じる原因となることがある。

発明が解決しようとする問題点 本発明の課題は、読取り−および測定装置を校正および
検査するだめの形状安定な高コントラストのバーコード
表示を有する検定−および検査用標準部材、並びにこの
標準部材を安価にておいて、セラミック基板が、Ａｌ２
Ｏ３分量９６〜９７％、厚さ１６３５〜１．２７ｍｍ、
級長２０ミリメートルからサイズ１０１００Ｘ１０Ｄに
までの寸法を有する酸化アルミニウムセラミックであり
、かつ表面にパターンを有する部材により解決される。

本発明による検定−および検査用標準部材の有利な実施
例が、特許請求の範囲第２項〜第６項から明白である。

また本発明によれば、前記標準部材の製造法は、セラミ
ック基板に金属層を施こし、この金属層を脱脂し、これ
てフォトレジスト層ヲ施コしかつ、パターンの転写すべ
き光透過および光不透過部の像を有するマスクを通して
露光し、このマスクを除去した後フォトレジスト層を現
像し、溶液中で金属層の露呈部分をエツチングしかつ残
存するフォトレジスト層を除去し、かつ露呈せるエツチ
ング部分を金属浴中で艶消し黒色に着色することを特徴
とする。

本発明による方法の実施例において、セラミック基板が
、乾式圧縮、セラミック中実ブロックからの打抜き、ま
たはレーザ加工により製造される。

本発明による方法の他の有利な操作工程が、特許請求の
範囲第１０項〜第１８項から明白である。

本発明によれば、安価な方法で、バーコード表示ないし
は格子目盛シまたは露光試験楔用の読取り−および測定
装置を校正および検査する検定−および検査標準部材が
製造されることができ、このものは測定精度に関する全
ての機械的および光学的条部および、元透過部および光
不透過部間のコントラスト差が十分である。

実施例 以下に、本発明を図面実施例につき詳説する。

第１図に略示したヨー口ぎアン・アーテイクル・ナンバ
リングのＥＡＮバーコートハ、例工ば、国別表示、商品
−および数量表示、価格表示並びに他の、例えば製造日
付、最終可使日付等のようなデータのだめの多数の表示
区分を包含する。それぞれの表示区分中の種々のバー太
さ、−間隔および−長さが、符号化された形の前記情報
を表わし、かつライトベンまたはレーザを使用し読取ら
れた際に解読されかつ平文として再生される。第１図に
略示せるＥＡＮバーコードは、他の国際的に制定された
バーコード表示、例えば、ジャパニーズ・アーテイクル
・ナンバリングに該当しかつアジア地域で広く普及して
いるＪＡＮバーコードのようなバーコード表示を代表す
る。これら物品ナンバリングコードのほか、例えば、書
籍を発行所、価格、記事、版数、言語、発行年次等の事
項につき表示するインタナショナル・スタンダード・ブ
ック・アーテイクル・ナンバリング（ＩＮＴＥＲＮＡＴ
ＩＯＮＡＬＳＴＡＮＤＡＲＤ　ＢＯＯＫ　ＡＲＴ工ＣＩ
Ｊ　ＮＵＭ北ＲＩＮＣ））すなわちｌ５ＢＮコードのよ
うな国際規格化された他の多数のコードがある。

第２図は、期待される印刷特性を検査および評価しうる
ため、露光および現像される印刷版用のテストチャート
の線図を略示する。またこのようなテストチャートは、
印刷−および複写技術で濃度測定に使用されるような段
階的な露光段を有する露元試験楔であってもよい。

第６（ａ）図〜第６（ｇ）図に略示した図面につき、本
発明による検定−および検査用標準部材を製造するそれ
ぞれの操作工程を詳説する。第３（ａ）図による操作工
程において、酸化アルミニウム分量９６％と同等まだは
それ以上を有するセラミック基板が、これを例えば銅浴
のような化学的に析出する金属洛中へ装入することによ
り無電流で銅メッキされる。同じ（この金属層は、スパ
ッタリングまたは真空蒸着することにより施こされるこ
とができる。セラミック基板の表面に、銅導電層が、厚
さ３μｍにまでを有する金属層として無電流で析出され
る。有利にセラミック材料は、ヘキスト・セラム・チッ
ク社（ＨＯＥＣＨ８Ｔ　Ｃｅｒａｍ　Ｔｅｃ）により厚
膜−および薄膜回路用に製造された電子工業用の標準的
セラミック材料である。このようなセラミック基板は、
原料および製造工程を清潔な室内条沖下に不変に極めて
正確に制御することにより、微粒子状の均質な組織を有
する極めて精細な表面に製造される。セラミック基板の
製造は、乾式圧縮、セラミック中実体からの打抜き、ま
たはレーザ加工により行なわれる。

第３（ｂ）図による操作工程において、銅導電層として
セラミック基板表面に析出せる金属層が、ポジチプまた
はネガチブのフォトレジスト層で被覆される。有利にこ
の場合、光作用によりその溶解度が照射部分で高められ
るポジチブフォトレジストが使用される。

第６（ｃ）図による操作工程において、このフォトレジ
スト層が、フォト−ないしは照射マスクで被覆されるが
、このマスクは、パターンの転写すべき光透過性および
光不透過性の部分の像を有する。このパターンは、例え
ば第１図によるバーコードのような国際的に制定された
バーコードであるが、但しその場合このコードの個々の
表示区分が所定の規格に相応する。とシわけこの規格は
、バーコードのそれぞれの表示区分中にＯ〜９の数が増
大または低減する順序で包含されているか、またはそれ
ぞれの表示区分中に口の数または他の１〜９の１つの数
だけが包含されように形成されることができる。

照射マスクによる照射が、マスクの透明区間下のフォト
レジスト層の溶解度を変動させ、従つてポジチブフォト
レジスト層の場合、露光マスクの透明区間下のレジスト
層の溶解度を増大させ、すなわちフォトレジスト層が引
続き相応する現像液で現像された際に選択的に除去さ九
そこで基板面が露呈しかつこれにより基板面に引続く選
択的加工が実施可能になる。この現像工程を第３（ｄ）
図に略示する。もしフォトレジスト層がネガチブのフォ
トレジストである場合、照射マスクの透明区間下のレジ
スト層が硬化し、その結果マスクを除去することにより
、現像剤が、露光中に照射マスクの不透過区間下方に配
置されたフォトレジスト区間を選択的に除去する。従っ
て、ポジチブフォトレジストの場合、露呈せる不保護の
基板面が照射マスクの透明区間に相応し、ネカチブフォ
トレジストの場合、マスク構造の光不透過区間に相応す
る。

第３（ｅ）図は次の操作工程を表わし、この工程におい
て溶液中で銅導電層の露呈区間がエツチングされる。こ
のため、例えば常温の塩化鉄（ＩＩＩ）溶液が使用され
、これが現像されたフオトレジスト層中に露呈せる銅条
導体をエツチングする。同じくこのエツチングが、酸性
またはアンモニア性の銅溶液中で行なわれることができ
る。これに引続き、第３（ｆ）図に示しだように、残存
するフォトレジスト層が剥離することにより除去される
。第６（ｇ）図による最後の操作工程で、露呈せるエツ
チングされた銅条導体が、例えばこの部材をニッケルと
、ニッケルを微粒子化する添加剤とよシ成る金属浴中で
電気メッキすることにより、着色、とくに黒化される。

この場合、露呈せるエツチングされた銅条導体に、微粒
子状の黒色艶消しのニッケルが析出される。また着色は
、この部材を、燐酸三ナトリウムおよび水酸化ナトリウ
ムが含有されている亜塩素酸ナトリウム溶液中へ装入す
ることにより無電流で実施されることもできる。

露呈せるエツチングされた銅条導体は、このような溶液
中で厚さ１〜２μｍに無電流で黒色酸化される。銅条導
体が着色された後、これが、例えば珪酸塩保護層を施こ
すことにより保護塗装される。

第４図は、前述の方法により製造された検定および検査
用標準部材の斜視図である。セラミック基板１は、Ａｌ
２Ｏ３分量９６〜９７％を有する酸化アルミニウムセラ
ミックよシ成る。セラミック基板１の厚さが０．６３５
＋ｕ＋である。さらに選択されるのが、厚さ１．０１６
ｍｍ〜１，２７０ｍｍ　ｋ有するセラミック基板である
。明白に、前記以外の厚さを有するセラミック基板も製
造されることができる。セラミック基板１の寸法は、級
長２０關からサイズ１０１００Ｘ１００にまで達しかつ
とくに５０Ｘ５０ｍｍの範囲内にある。

セラミック基板の表面に、多数の表示区分３゜４．５．
６・・・・・を包含し、そのそれぞれが１つの符号を有
する艶消し黒色のバーパターンの形のパターンが配置さ
れている。例えば、表示区分の配列および順序が、ヨー
口ぎアン・アーテイクル・ナンバリングのコードないし
は論コードまたはジャパニーズ・アーテイクル・ナンバ
リングのコードないしはＪＡＮバーコードに相応するが
、これは国別表示を除き大体においてＥＡＮバーコード
と一致する。また明白に、表示区分の配列および順序が
他の標準化されたバーコードに相応する。検定および検
査用標準部材が前述のバーコード用に形成された場合、
個々の表示区分中の符号は、例えば、個々の表示区分中
に増大まだは低減する順序でＯ〜９の数を包含するよう
な方法で標準化されているが、しかし力からまた、それ
ぞれの表示区分中に０の数かまたは他の１〜９の１つの
数を配置することも考慮可能である。

検定−および検査用標準部材のセラミック基板１は、十
分に温度に依存しない機械的および光学的特性を有し、
その結果部材の寸法が大きい温度範囲にわたり不変であ
る。部材表面にパターンを施こす方法により、バーコー
Ｖの測定精度、光学的特性、バーないしはストリップの
太さ、それぞれのバー間の距離がはるかに長期間にわた
り不変に維持され、かつそれとともに標準部材に対する
全ての要求を満たすことが保証される。

同じくこの検定および検査用標準部材は、印刷−および
複写技術における濃度測定にも使用されることができる
。この場合、セラミック基板表面のパターンが、格子群
、格子−、スター−、バー目盛り、線群、角度目盛シ、
網点またはこのような検査目盛シの組合せより成るが、
その若干が第２図によるチーストチャートのセクション
に略示されている。

例えば、バーコード用のこのような検定−および検査用
標準部材の使用は、スキャナが組込まれているかまたは
ライトペンが接続されているそれぞれの検査装置ないし
はデータテイルの日常の作動開始時に、差当りその読取
り精度を調べるような方法で行なわれ、そのため検定お
よび検査用標準部材を走査しかつ、スキャナないしはラ
イトペンが標準゛部材に刻印された基準を正しく再現す
るか否かの試験を行なう。それぞれのデータテイルない
しは検査装置は、これらのいわゆる検定工程後にはじめ
て作動準備ができる。データテイルおよび検査装置を相
応にプログラミングすることにより、これら装置が標準
部材による検査の実施された後にだけ作動準備されると
いうことが達成されることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は本発明による標準部材に使用され
るそれぞれＥＡＮコードおよびテストチャートのパター
ンの１実施例を示す図表、第３図は本発明による方法の
各工程をそれぞれ略示する斜視図、および第４図は本発
明による標準部材の１実施例を略示する斜視図である。 １・・・セラミック基板、２・・・バーパターン、３゜
４．５．６・・・表示区分 ：　（ヨーロピアン） ＝（アーティクル） ＝（ナンバリング） ＦＩＧ、１

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、読取り−および測定装置を校正および検査するため
   の標準部材において、セラミック基板（１）が、Ａｌ＿
   ２Ｏ＿３分量９６〜９７％、厚さ０．６３５〜１．２７
   ｍｍ、縁長２０ミリメートルからサイズ１００×１００
   ｍｍにまでの寸法を有する酸化アルミニウムセラミック
   であり、かつ表面にパターン（２）を有することを特徴
   とする読取り−および測定装置を校正および検査するた
   めの検定および検査用標準部材。 ２、パターンが、艶消し黒色のバーパターン（２）の形
   に配置され、このバーパターンが多数のコード区分（３
   、４、５および６）に分割され、かつそれぞれのコード
   区分が所定のコードを包含することを特徴とする、特許
   請求の範囲第１項記載の検定および検査用標準部材。 ３、コード区分の配列および順序が、ヨーロピアン・ア
   ーテイクル・ナンバリングのコードないしはＥＡＮバー
   コードに相応することを特徴とする、特許請求の範囲第
   ２項記載の検定および検査用標準部材。 ４、コード区分の配列および順序がジャパニーズ・アー
   テイクル・ナンバリングのコードないしはＪＡＮバーコ
   ードに相応することを特徴とする、特許請求の範囲第２
   項記載の検定および検査用標準部材。 ５、コード区分の配列および順序が標準化されたバーコ
   ードに相応することを特徴とする、特許請求の範囲第２
   項記載の検定および検査用標準部材。 ６、パターンが、格子群、格子目盛り、スター目盛り、
   バー目盛り、ライン群、角度目盛り、網点またはこのよ
   うな検査目盛りの組合せより成ることを特徴とする、特
   許請求の範囲第１項記載の検定および検査用標準部材。 ７、読取り−および測定装置を校正および検査するため
   の、セラミック基板（１）が、Ａｌ＿２Ｏ＿３分量９６
   〜９７％、厚さ０．６３５〜１．２７ｍｍ、縁長２０ミ
   リメートルからサイズ１００× １００ｍｍにまでの寸法を有する酸化アルミニウムセラ
   ミックであり、かつ表面にパターン（２）を有する標準
   部材を製造するに当り、セラミック基板（１）に金属層
   を施こし、この金属層を脱脂し、これにフォトレジスト
   層を施こしかつ、パターンの転写すべき光透 過および光不透過部の像を有するマスクを通して露光し
   、このマスクを除去した後フォトレジスト層を現像し、
   溶液中で金属層の露呈部分をエッチングしかつ残存する
   フォトレジスト層を除去し、かつ露呈せるエッチング部
   分を金属浴中で艶消し黒色に着色することを特徴とする
   読取り−および測定装置を校正および検査するための検
   定および検査用標準部材の製造法。 ８、セラミック基板（１）が、９６％と同等かまたはそ
   れ以上の分量の酸化アルミニウムを含有することを特徴
   とする、特許請求の範囲第７項記載の検定および検査用
   標準部材の製造法。 ９、セラミック基板（１）が、乾式圧縮、固体セラミッ
   クブロックからの打抜き、またはレーザ加工により製造
   されることを特徴とする、特許請求の範囲第８項記載の
   検定および検査用標準部材の製造法。 １０、金属層が化学的な金属メッキ浴中で施こされるこ
   とを特徴とする、特許請求の範囲第７項記載の検定およ
   び検査用標準部材の製造法。 １１、金属層がスパッタリングまたは真空蒸着により施
   こされることを特徴とする、特許請求の範囲第７項記載
   の検定および検査用標準部材の製造法。 １２、化学的な金属メッキ浴が銅浴であり、この浴中で
   銅導電層が、厚さ５μｍにまで、とくに３μｍを有する
   金属層としてセラミック基板の表面に無電解メッキされ
   ることを特徴とする、特許請求の範囲第１０項記載の検
   定および検査用標準部材の製造法。 １３、金属層部分をエッチングしかつ露呈させるため、
   金属塩化物溶液が使用されることを特徴とする、特許請
   求の範囲第７項記載の検定および検査用標準部材の製造
   法。 １４、フォトレジスト層がポジチブフォトレジストより
   成り、かつ現像されたフォトレジスト層の露呈せる銅条
   導体が常温の塩化鉄（III）溶液を使用しエッチングさ
   れることを特徴とする、特許請求の範囲第１３項記載の
   検定および検査用標準部材の製造法。 １５、金属層部分をエッチングおよび露呈させるため、
   アンモニア性の銅溶液が使用されることを特徴とする、
   特許請求の範囲第７項記載の検定および検査用標準部材
   の製造法。 １６、ニッケルと、ニッケルの微粒子化用の化学添加物
   質とより成る金属浴中で、露呈せる銅条導体に艶消しの
   微粒子状ニッケルが電気メッキされることを特徴とする
   、特許請求の範囲第１４項記載の検定および検査用標準
   部材の製造法。 １７、露呈せる銅条導体が、燐酸三ナトリウムおよび水
   酸化ナトリウムを含有する亜塩素酸ナトリウム溶液中で
   厚さ１〜２μｍに無電流で黒色酸化されることを特徴と
   する、特許請求の範囲第１４項記載の検定および検査用
   標準部材の製造法。 １８、銅条導体に珪酸塩保護層が施こされることを特徴
   とする、特許請求の範囲第１６項または第１７項のいず
   れかに記載の検定および検査用標準部材の製造法。