JPS62203461A

JPS62203461A - 画像読取方式

Info

Publication number: JPS62203461A
Application number: JP61046873A
Authority: JP
Inventors: Yuichi Sato; 雄一佐藤; Tokuichi Tsunekawa; 恒川　十九一; Akira Hiramatsu; 平松　明; Takeshi Kobayashi; 剛小林; Shigeki Yamada; 茂樹山田; Makoto Katsuma; 眞勝間
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1986-03-04
Filing date: 1986-03-04
Publication date: 1987-09-08

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野コ本発明は、原稿画像を複数の画素領域に分割して画像信
号を得る画像読取方式に関するものである。

［従来の技術］従来から知られている画像読取装置のひとつとしてイメ
ージスキャナ（撮像装置）があるが、この種の撮像装置
には、°ごみ”や゛きず°゛を自動的に識別し、その旨
を警告する装置が付いていなかった。

従って、撮像を開始するのに先立って目視検査を行うこ
とが行われていた。

［発明が解決しようとする問題点］しかしながら、原稿に付着している“ごみ°′や°きず
゛などの大きさが微小な場合には目視検査によっても見
落としが生じてしまい、それら欠陥に気付かず撮像をし
てしまうということが多々みられた。すなわち、撮像後
の再生段階において初めて欠陥が多いのに気が付き、再
度取り直すといった不都合がみられた。特に、撮像に比
較的長い時間を要する場合には、その時間的損失は無視
し得ないものであった。

このように、この種の撮像装置では、画像を全部走査し
てしまってから欠陥に気づいたり、途中まで走査して大
きな欠陥に気付き再度原稿のセツティングからやり直す
ことが多かった。

また、画像人力と同時に欠陥検出を行うよう装置を構成
することも考えられているが、欠陥検出用のセンサが余
分に必要とされるうえ、光学的に光線を分割して欠陥検
出用センサに像を導く必要があることから、装置が複雑
化するという欠点がある。しかも、この場合には、欠陥
検出用センサと画像入力用センサとの位置あわせは困難
なものとなる。

よって本発明の目的は、上述の点に鑑み、特殊なセンサ
を別途用いることなく、画像の読み取りに先行して°”
ごみ′や°°きず°′等の欠陥を自動検出するようにし
た画像読取方式を提供することにある。

［問題点を解法するための手段］本発明によれば、原稿画像を複数の画素領域に分割し、
画像信号を得るのに先立って、所定のフィルタを介して
得た前記画素領域毎の画像信号を基準信号と比較し、当
該画素領域に含まれる欠陥情報を検出するものである。

また、本発明を適用した一実施例によれば、被写体原稿
を走査して撮像する装置において、光源と、光源の光を
被写体原稿上に照射するための照明光学系と、被写体原
稿の輝度信号を得る光電変換手段と、所定の光学フィル
タを使って画像データを人力するのに先行して当該原稿
上の欠陥を検出する欠陥検出手段とを備える。

［実施例］以下、実施例に基づいて本発明の詳細な説明する。

第１図は、本発明を適用した撮像装置の全体構成図であ
る。本図において、１は原稿、２は照明光学系、３は光学フィルタ用ホルダ、３−１〜３−４は光学フィルタ、４は被写体となる透過原稿、５は原稿４を保持するホルダ、６は原稿ホルダ５を載置するためのステージ、７は原稿
４の像をラインセンサ８上に投影する撮像レンズ、８は主走査方向の読み取りを行うラインセンサ、Ｃは撮像レンズ７の光軸、９はラインセンサ出力を増幅する増幅器、ｌＯは本撮像
装置のシーケンス制御回路、１１は光学フィルタ３−１
〜３−４を交換するための光学フィルタ駆動源、１２はホルダ５を載置しているステージ６を駆動し、副
走査を行わしめるためのステージ駆動源、１３は光学フィルタ駆動源１１を制御し、所望の光学フ
ィルタを選択するための光学フィルタ選択制御回路、１４はステージ駆動源１２を制御して副走査を行う副走
査制御回路、１５はラインセンサ８を駆動して主走査を行わせるライ
ンセンサ駆動回路、１６は増幅器９の出力Ｖｏｓを導入し、゛ごみ°や°°
きず”等の欠陥があるか否かを検出する欠陥検出回路、１７は欠陥検出回路１６により検出された欠陥を後に詳
述する所定の規則に従ってカウントする欠陥カウント回
路、１８は欠陥検出回路１６により検出された欠陥が存在す
る位置を記憶するための欠陥マツプ回路、１９は増幅器
９の出力Ｖｏｓをアナログ・ディジタル変換するＡ／Ｄ
変換器、２０はＡ／Ｄ変換器１９によりディジタル化された画像
信号を一時的に記憶するバッファメモリ、２１は欠陥マ
ツプ回路１８の出力内容に基づいてバッファメモリ２０
の記憶内容を修正する欠陥修正回路、２２はバッファメモリ２０の記憶内容を外部機器やホス
トコンピュータに転送するためのインターフェース回路
、２３は、欠陥カウント回路１７が測定した欠陥の量に基
づいてシーケンス制御回路１０から警告発生命令が送出
されるとき、その命令に応答して警告を発する警告発生
回路である。

次に、本実施例の動作を説明する。

本実施例による撮像装置は、ラインセンサ８を用いて主
走査すると共に、原稿ホルダ５を載置しているステージ
６を駆動源１２にて駆動することにより副走査を行い、
以って２次元走査を行うものである。

まず、ハロゲンランプ等の光源１および照明光学系２に
より、写真用３５ミリフイルムなどの透過原稿４を均一
に照明し、撮像レンズ７を介して原稿４の像をラインセ
ンサ８上に結像する。このとき、第２〜第４の光学フィ
ルター３−２〜３−４を例えばＩｔ、Ｇ、Ｂまたはシア
ン、マゼンタ、イエロー透過型のフィルタとすることに
より、原稿画像を３色に色分解することができる。次い
で、ラインセンサ８上に投影された像を主走査すると共
に、原稿４の投影像がラインセンサ８の主走査方向と直
角の方向に動くようステージ６を動かして副走査するこ
とにより、２次元走査を実現する。

フィルタの交換を行うに際しては、フィルタ番号ならび
にフィルタ選択命令をシーケンス制御回路１０からフィ
ルタ選択制御回路１３に送出し、これによりフィルタ選
択動作を行わせ、もって光学フィルタ駆動源１１を制御
して所望の光学フィルタ３−１〜３−４を選択する。

ここで、第１の光学フィルタ３−１には例えば赤外透過
型フィルタを用いる。従って、写真フィルムの各発色層
は赤外光を殆んど透過してしまうことから、ラインセン
サ８の出力信号はほぼ一定レベルになる。しかし、フィ
ルム上に°°ごみ“が付着していたり°“きず”が有る
ときには透過光量が大幅に変動するので、増幅した信号
Ｖｏｓをチェックすることにより、フィルム上の欠陥を
容易に検出することができる。更に詳述すれば、この光
学フィルタを適切に配置することにより、当該光学フィ
ルタ自体に付着している“°ごみ”や°きず°。

がラインセンサ８上に投影される像に影響を及ぼさない
ようにすることができる。

次に、シーケンス制御回路１０が実行すべき手順につい
て説明する。

シーケンス制御回路１０は、まず欠陥検知用の第１のフ
ィルタ３−１を選択し、次に副走査制御回路１４に対し
、ステージ６の位置を副走査スタート位置に戻すよう命
令を発する。そして、第１のフィルタ選択が終了すると
共にステージ６がスタート位置に戻ると、原稿４の欠陥
検出モードに入る。

この欠陥検出モードでは、原稿４を赤外光で走査して得
た信号Ｖｏｓに基づいて、原稿４上に有る゛ごみ″や“
°ぎず°゛などの欠陥を欠陥検出回路１６により検出し
、欠陥の存在する走査位置の情報を欠陥マツプ回路１８
に逐次記憶していくと共に、欠陥カウント回路１７にお
いて欠陥の量を所定規則（後に詳述する）に従って数え
、その欠陥の程度をシーケンス制御回路１０に伝える。

シーケンス制御回路１０は、伝達された欠陥の程度が所
定値以上であるとき、警告発生回路２３に対して警告発
生命令を送出する。警告発生回路２３は、この警告発生
命令を受けて警告を発する。

その後、シーケンス制御回路ｌＯは次の処理に移行する
。なお、警告は欠陥の程度に応じて段階的に発するよう
にすることも可能である。また、欠陥カウント回路１７
は、欠陥が一定の程度を越えた時のみ、シーケンス制御
回路１０に通報を行うよう構成することも可能である。

更に、シーケンス制御回路ＩＯを介することなく、カウ
ント回ｖｆ１１７から警告発生回路２３に直接警告発生
依頼を行うよう構成することも可能である。

欠陥検出モートの終了後、シーケンス制御が中断されな
い場合には、色分解走査モートに入る。

この色分解走査モードでは、３色のＡ　Ａフィルタ３−
２〜３−４を次々に選択して３回の２次元走査を行う。

まず初めに、第２の光学フィルタ３−２を選択する命令
をシーケンス制御回路１０から光学フィルタ選択制御回
路１３に送り、光学フィルタ駆動源１１を駆動して第２
のフィルタ３−２を選択する。また、シーケンス制御回
路１０はステージ６をスタート位置に戻すよう、副走査
制御回路１４に命令を発する。これによりステージ駆動
源１２を駆動して、ステージ６をスタート位置に戻す。

フィルタ選択が完了してステージ６がスタート位置に戻
ると、ラインセンサ８は第２の光学フィルタ３−２が色
分解した像の走査を開始する。そして、増幅器９により
増幅された信号ＶｏｓはＡ／Ｄ変換器１９においてディ
ジタル信号に変換され、バッファメモリ２０に一時記憶
される。

バッファメモリ２０に一時的に記憶された画像信号は、
欠陥修正回路２１により、欠陥マツプ回路１８から送出
される欠陥位置情報に基づいて修正（補修）がなされる
。主走査ライン内における欠陥の量が少ないときには、
副走査を行っている間にマイクロプロセッサ等を用いて
、バッファメモリ２０の記憶内容を修正することができ
る。また、特に高速性が要求される場合には欠陥修正回
路２１の一ハ１りをハードウェア化することにより、小
さい欠陥についてはリアルタイムで修正を行うことがで
きる。

修正された画像データは、インターフェース回路２２を
介して外部機器（例えはディスク、スキャナライタ、フ
レームメモリ等）やホストコンピュータに転送される。

データ転送の頻度は、バッファメモリや外部機器の処理
スピード等に依存するが、例えば１ライン主走査を行う
毎に転送してもよいし、あるいは、１画面分のデータを
一括して転送してもよい。

さて、第２の光学フィルター３−２で色分解した色分解
画像の走査が終了すると、次に第３の光学フィルタ３−
３の選択制御およびステージ６をスタート位置に戻すた
めの制御に移り、先に述べた第２の光学フィルタ３−２
での走査と同様のシーケンスを繰り返す。

第４の光学フィルタ３−４を用いて色分解した色分解画
像の走査も同様に行い、もって３色の色分解画像の撮像
を終了する。

第２図は、第１図に示した欠陥検出回路１６．欠陥カウ
ント１回路１７および欠陥マツプ回路１８のより詳しい
構成例を示したものである。本図において、Ｒ１，Ｒ２は抵抗、２４は増幅器９の出力信号Ｖｏｓと参照電圧Ｖｒｅｆを
比較する比較器、Ｄｅは出力信号Ｖｏｓに基づいて検出された欠陥信号（
比較器気２４の出力）、ＩＡＩは欠陥検出モードであることを示す欠陥検出モー
ド信号、 φｃｌｏｃｋは有効走査領域内にあるとき、１画素ごと
に１回発生されるタイミングクロック、２５は欠陥が存
在するときに欠陥パルスＩｐを発生するＡＮＤ　ゲート
、１７は欠陥パルスＩｐをカウントする欠陥カウント回路
、 φＲ，は欠陥カウント回路１７をリセットするリセット
信号、Ｏｎは欠陥が検出された画素数を表す欠陥カウント信号
、２６は現在の走査位置を表す走査アドレスカウンタ、八〇は現在の走査位置を表す走査アドレス信号、２７は信号Ｏｎをアドレスとして、　ＡＯを入力データ
とするメモリ回路であり、欠陥パルスＩｐに同期して信
号Ｏｎが表すメモリアドレス゛’Ｄｎ”にデータ＾０を
格納する。

次に、第２図の動作を説明する。

走査開始時において、欠陥カウント回路１７はリセット
信号φＲ１によりリセットされ、欠陥カウント値Ｄｎは
°“０゛となる。一方、走査アドレスカウンタ２６も信
号φＩｔｓによりリセットされ、走査アドレス八ｏは°
°０”に初期化される。

欠陥検出モードに入ると、欠陥検出モード信号Ｍｌは１
′°になると共に信号φｎ１は解除され、欠陥カウント
回路１７はカウント可能な状態となる。そして、走査有
効領域内では、センサ出力の増幅信号Ｖｏｓに同期して
、タイミングクロツクφｃｌｏｋが出力される。このと
き欠陥が存在すると、ＶｏｓがＶｒｅｆより小さくなり
、信号Ｄｅは°゛ハイレベルとなる。すると、タイミン
グクロックφｃｌｏｃｋに同期してＡＮＤゲート２５は
開き（Ｄｅ＝°゛ハイ°’　、　ＭＩ＝　”ハイ”）　
、ＡＮＤゲート２５から送出される欠陥パルスＩｐが欠
陥カウント回路１７をカウントアツプする。

欠陥カウント回路１７の出力である欠陥カウント信号Ｄ
ｎはシーケンス制御回路１０へ送られると共に、メモリ
回路２７のアドレス人力となる。すなわち、この欠陥カ
ウント信号Ｏｎは“’Ｏｎ番目の欠陥“であることを表
す。

一方、タイミングクロックφｃｌｏｃｋは走査アドレス
カウンタ２６にも導入されており、このカウンタ２６は
現在走査している位置が走査開始位置から何画素目であ
るかをカウントしている。走査アドレスカウンタ２６の
出力である走査アドレス信号へ〇はメモリ回路２７のデ
ータ入力端に供給され、欠陥パルスＩｐに同期して、メ
モリ回路２７のアドレス°“Ｄｎ”に書き込まれる。そ
の結果、ＩＩ　ｏ　ｎ＝”番目の欠陥か発見された時の
走査ア［・レス°’　ＡＯ”が順次メモリ回路２７に記
憶される。

メモリ回路２７の初期化回路については図示していない
が、例えば全てのアドレスに°°１”°または°°０”
を書き込んだり、あるいは、欠陥検出モードの前（欠陥
カウント回路１７と走査アドレスカウンタ２６をリセッ
トする前）に走査範囲外のアドレスを書き込めばよい。

そして、シーケンス制御回路ｌＯは、欠陥カウント回路
１７がオーバーフローしたことを検知して、警告命令を
発することができる。

第３図は、欠陥マツプ回路１８の別実流側１８’　を示
すブロック図である。図示した別実流側では、走査アド
レスカウンタ２６′　により主走査方向のみのアドレス
八〇′をカウントする。一方、副走査方向のアドレス八
Ｉについては、メモリ回路２７′のアドレス人力端子に
対し、欠陥カウント信号０口とは独立に印加する。そし
て、このカウント値へ〇′　を欠陥パルスｒｐに同期し
てメモリ回路に記憶させている。この実施例によれば、
主走査１ライン毎に一定のメモリ領域を必要とするが、
シーケンス制御回路１０は主走査線上の欠陥画素数が所
定値を越えたことを検知して警告命令を発することがで
きる。

［発明の効果コ以上述べたとおり本発明によれば、所望の画像入力に先
行して被写体原稿に付着している°“ごみ”や°ぎず”
等の欠陥を検出するようにしたので、画像人力を開始す
る前に欠陥の大きさ、量や位置を知ることができる。そ
の結果、欠陥が大きいとぎには画像人力を中止するなど
の対策がとれるようになる。

また、本発明を実施することにより、比較的簡単な光学
系にて原稿上の欠陥を検出することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す全体構成図、第２図は第１図に示した構成要素の一部を詳細に示すブ
ロック図、第３図はその他の一実施例を示すブロック図である。１・・・原稿、２・・・照明光学系、３・・・光学フィルタ用ホルダ、３−１〜３−４・・・光学フィルタ、４・・・透過原稿、５・・・ホルダ、６・・・ステージ、７・・・撮像レンズ、８・・・ラインセンサ、９・・・増幅器、１０・・・シーケンス制御回路、１１・・・光学フィルタ駆動源、１２・・・ステージ駆動源、１３・・・光学フィルタ選択制御回路、１４・・・副走
査制御回路、１５・・・ラインセンサ駆動回路、１６・・・欠陥検出回路、ｌ７・・・欠陥カウント回路、１８・・・欠陥マツプ回路、１９・・・Ａ／Ｄ変換器、２０・・・バッファメモリ、２１・・・欠陥修正回路、２２・・・インターフェース回路、２３・・・警告発生回路。ｌσ 第２図

Claims

【特許請求の範囲】１）原稿画像を複数の画素領域に分割し、画像信号を得
るのに先立って、所定のフィルタを介して得た前記画素領域毎の画像信号
を基準信号と比較し、当該画素領域に含まれる欠陥情報
を検出するようにしたことを特徴とする画像読取方式。