JP2001069354A

JP2001069354A - 画像読取装置

Info

Publication number: JP2001069354A
Application number: JP24388799A
Authority: JP
Inventors: Yoichi Nakamura; 洋一中村
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1999-08-30
Filing date: 1999-08-30
Publication date: 2001-03-16

Abstract

(57)【要約】【課題】可視光と非可視光をＣＣＤによって読み取っ
て高精度の画像データを得るときの画像処理の簡略化を
図る。【解決手段】画像読取補正部８０では、エリアＣＣＤ
３０によって読み取ったＲ、Ｇ、Ｂの各色成分の画像デ
ータをフレームメモリ８８に記憶すると共に、赤外線成
分の画像データをフレーム９０に記憶する。欠陥画素検
出回路９４は、フレームメモリ９０に記憶された赤外線
成分の画像データと、欠陥素子メモリ９２に記憶されて
いるエリアＣＣＤの中の欠陥素子の位置データから、欠
陥画素を設定する。補完補正部９６は、欠陥画素検出回
路によって設定された全ての欠陥画素に基づいてフレー
ムメモリ８８に記憶しているＲ、Ｇ、Ｂの各色成分の画
像データを補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、写真フィルム等の
透過原稿を透過した光によって、透過原稿に記録された
画像を読み取る画像読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年では、写真フィルム等の原稿に記録
された画像をＣＣＤ等の光電変換素子を用いて光電的に
読み取り、デジタル画像データとして保存したり、この
デジタル画像データに対して画像の拡縮や各種補正等の
画像処理を施し、画像処理したデータに基づいて変調し
た光ビーム等によって印画紙等の記録材料に画像を形成
する技術が一般化している。

【０００３】このような画像読取装置では、透過原稿で
ある写真フィルムに傷が生じていたり塵が付着している
と、ＣＣＤ等の光電変換手段を用いて画像読み取りを行
うときに、画像データに少なからず影響を及ぼし、この
画像データに基づいて記録材料に画像を形成するとき
に、傷や塵が現われてしまい、記録材料に形成した画像
の仕上がりに影響を与えてしまう。

【０００４】写真フィルムの傷や写真フィルムに付着し
ている塵の影響を防止するために、画像読取装置には、
写真フィルムと透過した可視光の画像と、写真フィルム
を透過した赤外線などの非可視光の画像を読み込み、非
可視光の画像に基づいて可視光の画像を補正する機能を
備えたものがある。

【０００５】ところで、画像読み取りに用いられるＣＣ
Ｄには、多数の受光素子が設けられている。特にエリア
ＣＣＤには、多数の受光素子が設けられているために、
中には、欠陥素子が存在することがある。高解像度で画
像読み込みを行った場合、ＣＣＤの欠陥素子が読み込ん
だ画像に影響を与えてしまう。

【０００６】このために、画像読取装置では、予め欠陥
素子の位置を記憶しておき、ＣＣＤによって画像を読み
込んだときに、欠陥素子に該当する画素のデータを周囲
の画素のデータによって補完し、欠陥素子が読み込んだ
画像データに影響を与えることがないようにしている。

【０００７】しかしながら、高精度の画像データを得る
ためには、ＣＣＤの欠陥素子の影響を防止するための補
正処理を行うと共に、非可視光の画像データに基づいて
さらに可視光の画像データの補正を行う必要が生じる。
このために、複雑な画像処理を繰り返し行う必要があ
り、画像読み込みを行ってから読み込んだ画像データを
出力するまでに時間がかかるという問題が生じている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記事実に鑑
みてなされたものであり、光電変換手段によって高精度
の画像データを得るときに、画像処理の簡略化が図られ
る画像読取装置を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、透過原稿を透過した可視光及び非可視光に
基づいて透過原稿に記録されている画像に応じた画像デ
ータを出力する画像読取装置であって、多数の受光素子
によって形成され前記透過原稿を透過した可視光及び非
可視光を受光し、それぞれの受光量に応じた電気信号を
出力する光電変換手段と、前記光電変換手段によって受
光される可視光に基づいた画像データを記憶する第１の
記憶手段と、前記光電変換手段によって受光される非可
視光に基づいた画像データを記憶する第２の記憶手段
と、前記光電変換手段の受光素子の中の欠陥素子の位置
を記憶する第３の記憶手段と、前記第２の記憶手段に記
憶されている非可視光の画像データと前記第３の記憶手
段に記憶される位置データに基づいて、前記第１の記憶
手段に記憶される画像データの中の欠陥画素を設定する
欠陥画素設定手段と、前記欠陥画素設定手段の設定結果
に基づいて前記第１の記憶手段に記憶された画像データ
を補正する補正手段と、を含むことを特徴とする。

【００１０】この発明によれば、光電変換手段によって
可視光及び非可視光を受光し、受光した可視光に基づい
た画像データを第１の記憶手段に記憶すると共に、非可
視光に基づいた画像データを第２の記憶手段に記憶し、
第３の記憶手段には、光電変換手段の受光素子の中で不
良素子である欠陥素子があれば、この欠陥素子の位置デ
ータを記憶している。また、補正手段は、欠陥画素設定
手段によって設定された欠陥画素に基づいて、第１の記
憶手段に記憶されている可視光の画像データを補正す
る。

【００１１】このとき、欠陥画素設定手段は、第２の記
憶手段に記憶されている非可視光の画像データと、第３
の記憶手段に記憶された位置データに基づいて欠陥画素
を設定するので、非可視光に基づいた可視光の画像デー
タの補正と、光電変換手段に存在する欠陥素子に対する
画像データの補正を合わせて行うことができる。

【００１２】したがって、可視光の画像データの補正処
理が一度ですみ、透過原稿に記録された画像を読み込む
時の画像処理が簡略になる。

【００１３】このような本発明では、前記欠陥画素設定
手段が、前記第２の記憶手段に記憶された非可視光の画
像データから得られる画素と、前記第３の記憶手段に記
憶される受光素子の位置データから得られる画素と、を
含めて欠陥画素を設定する。

【００１４】この発明によれば、非可視光から得られる
不良画素に対する可視光の画像データの補正と、欠陥素
子に対する可視光の画像データの補正を、同じ処理内容
で行うことができるので、非可視光から得られる不良画
素と、欠陥素子に対する画像とを区別せずに欠陥画素と
している。

【００１５】また、請求項３に係る発明は、前記欠陥画
素設定手段が、前記光電変換手段によって所定の可視光
及び非可視光を受光したときに、前記第１及び第２の記
憶手段に記憶される画像データに基づいて前記光電変換
手段の欠陥素子を設定し、前記第３の記憶手段に記憶す
ることを特徴とする。

【００１６】この発明によれば、所定の可視光及び非可
視光を光電変換手段によって受光したときに、第１及び
第２の記憶手段に記憶された画像データから欠陥画素を
検出し、検出した欠陥画素に基づいて光電変換手段内の
欠陥素子を設定し、この設定結果を第３の記憶手段に記
憶する。

【００１７】例えば、透過原稿を透過させずに均一な可
視光及び非可視光をそれぞれ光電変換手段に照射するこ
とにより、光電変換手段に欠陥素子がなければ、第１及
び第２の記憶手段に記憶される可視光及び非可視光のそ
れぞれにおいて、画像データの画素ごとの濃度はほぼ一
定になる。ここから、濃度が異なる画素があれば、その
画素が欠陥画素と判断できる。

【００１８】欠陥画素設定手段は、このようにして検出
した画素を欠陥画素として設定し、この欠陥画素に対応
する光電変換手段内の受光素子の位置を欠陥素子の位置
として記憶する。

【００１９】このように欠陥画素検出手段によって欠陥
素子を検出することにより、任意のタイミングで欠陥素
子の検出を行い、常に第３の記憶手段に適正なデータを
記憶させることができるので、透過原稿に記録された画
像に応じた正確な画像データを出力することができる。

【００２０】このような本発明では、非可視光として、
赤外線は勿論、紫外線等を用いることができ、可視光に
対する光源に加えて、使用する非可視光に応じた光源を
用いれば良い。

【００２１】このような本発明では、光電変換手段とし
てＣＣＤを用いることができる。また、光電変換手段と
しては、ＭＯＳセンサ（ＭＯＳイメージセンサ：Metal
Oxide Semiconductor image sensor）や受光素子として
フォトダイオード（photodiode）を用いたフォトダイオ
ードアレイを適用することができる。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図１及び図２には、本実施
の形態に係るデジタルラボシステム１０の概略構成を示
している。

【００２３】このデジタルラボシステム１０は、画像処
理部１６、レーザープリンタ部１８及びプロセッサ部２
０と共に、画像読取装置として設けられているＣＣＤス
キャナ１４によって構成されている。なお、図２に示さ
れるように、ＣＣＤスキャナ１４と画像処理部１６は、
入力装置２６として一体化されており、レーザープリン
タ部１８とプロセッサ部２０は、出力装置２８として一
体化されている。

【００２４】ＣＣＤスキャナ１４は、ネガフィルムやリ
バーサルフィルム等の透過原稿である写真フィルムに記
録されているコマ画像を読み取るためのものであり、例
えば１３５サイズの写真フィルム、１１０サイズの写真
フィルム、透明な磁気層が形成された写真フィルム（２
４０サイズの写真フィルム：所謂ＡＰＳフィルム）、１
２０サイズ及び２２０サイズ（ブローニサイズ）の写真
フィルムなどのコマ画像を読み取り対象とすることがで
きる。

【００２５】ＣＣＤスキャナ１４には、上記の読み取り
対象の写真フィルムのコマ画像を読み取る光電変換手段
としてエリアＣＣＤ３０を備えており、このエリアＣＣ
Ｄ３０で読み取ったデータをＡ／Ｄ変換した後、読み取
った１画像分（１フレーム分）の画像データ（スキャン
画像データ）として画像処理部１６へ出力する。なお、
以下では、デジタルラボシステム１０で１３５サイズの
写真フィルム２２（図１参照）を例に説明する。

【００２６】画像処理部１６では、ＣＣＤスキャナ１４
から出力されたスキャン画像データが入力される。ま
た、図１に示されるように、画像処理部１６には、デジ
タルカメラ３４等での撮影によって得られた画像データ
が入力可能であり、透過原稿に限らず反射原稿等をスキ
ャナ３６（フラットベット型）で読み取ることで得られ
た画像データ、コンピュータ等で生成された後、記録媒
体に記録されることによりフロッピディスクドライブ３
８、ＭＯドライブ又はＣＤドライブ４０等を介して入力
される画像データ、及びモデム４２を介して通信によっ
て入力される画像データ（画像ファイルデータ）等の読
み込みも可能となっている。

【００２７】画像処理部１６は、入力された画像データ
を画像メモリ４４に記憶し、色階調処理部４６、ハイパ
ー処理部４８、ハイパーシャープネス処理部５０等で各
種の補正等の画像処理を行って、記録用画像データとし
てレーザープリンタ部１８へ出力する。また、画像処理
部１６では、画像処理を行った画像データを画像ファイ
ルデータとして記憶媒体（例えばＦＤ、ＭＯ、ＣＤな
ど）に記録して外部へ出力したり、通信回線を介して外
部へ出力することも可能となっている。

【００２８】なお、入力装置２６は、画像処理部１６に
キーボード１６Ｋ及びモニタ１６Ｍを備えており、モニ
タ１６Ｍの表示を見ながら、キーボード１６Ｋのキー操
作によって画像の取り込み、種々の画像処理が可能とな
っている。

【００２９】レーザープリンタ部１８は、画像処理部１
６から入力される記録用画像データを、一旦、画像メモ
リ５６に記憶する。また、レーザープリンタ部１８は、
Ｒ、Ｇ、Ｂのレーザー光源５２と共に、例えばポリゴン
ミラー５８、ｆθレンズ６０などを用いた光学系を備え
ており、レーザードライバ５４を制御し、画像メモリ５
６に記憶している記録用画像データに応じて変調したレ
ーザー光を印画紙６２に照射して印画紙６２を走査露光
する。これにより、画像メモリ５６に記憶された記録用
画像データに応じた画像を印画紙６２に記録する。

【００３０】プロセッサ部２０は、レーザープリンタ部
１８で走査露光により画像が記録された印画紙６２に対
し、発色現像、漂白定着、水洗、乾燥などの各処理（現
像処理）を施す。これにより、印画紙６２に画像が形成
される。

【００３１】一方、図１に示されるように、ＣＣＤスキ
ャナ１４は、フィルムキャリア７８を備えており、この
フィルムキャリア７８に画像読み込みを行う写真フィル
ム２２が装着される。写真フィルム２２は、このフィル
ムキャリア７８によってこま送り搬送される。

【００３２】ＣＣＤスキャナ１４に設けられているエリ
アＣＣＤ３０には、多数の受光素子が縦横（写真フィル
ム２２の搬送方向及び搬送方向と直交する方向）に緊密
に配列されており、それぞれの受光素子で写真フィルム
２２を透過した光を受光し、受光した光量に応じた電気
信号を出力する。

【００３３】また、図１及び図３に示されるように、Ｃ
ＣＤスキャナ１４には、メタルハライドランプや、ハロ
ゲンランプを用いた光源６４を備えており、この光源６
４が焦点位置に位置するようにリフレクタ６６が配設さ
れている。この光源６４は、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色成分を含
む可視光と共に非可視光である赤外線を発するようにな
っている。

【００３４】光源６４の光射出側には、光源６４から射
出される赤外光成分を除去するＩＲカットフィルタ７６
が設けられている。また、光源６４とフィルムキャリア
７８の間には、色分解フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂ
が光源６４からの光軸上に出没可能に配置されている。

【００３５】色分解フィルタ７０Ｒは、可視光のうちの
Ｒ成分を透過するようになっており、色分解フィルタ７
０Ｇ、７０Ｂは、それぞれＧ成分、Ｂ成分の光を透過す
るようになっている。また、色分解フィルタ７０Ｒ、７
０Ｇ、７０Ｂは、図示しない駆動手段によって、光源６
４からの光軸上に個別に進退される。

【００３６】これにより、色分解フィルタ７０Ｒ、７０
Ｇ、７０Ｂが光源６４からの光軸上に突出されることに
より、フィルムキャリア７８に装着された写真フィルム
２２にＲ成分の光、Ｇ成分の光、Ｂ成分の光が個別に照
射される。

【００３７】また、ＩＲカットフィルタ７６と色分解フ
ィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂの間には、ダイクロイッ
クミラー７４が光源６４からの光軸に対して所定の角度
で傾斜されて配置され、このダイクロイックミラー７４
に対向してＩＲ−ＬＥＤ６８が配置されている。ＩＲ−
ＬＥＤ６８は、非可視光として赤外線を発するようにな
っており、また、ダイクロイックミラー７４は、可視光
であるＲ、Ｇ、Ｂ成分の透過率が高く、非可視光である
赤外線の透過率が低くなっている（反射率が高くなって
いる）。

【００３８】これにより、ＩＲ−ＬＥＤ６８から赤外線
を発すると、この赤外線が光源６４からの光軸と一致す
るように反射されて、写真フィルム２２に照射される。

【００３９】ＣＣＤスキャナ１４では、写真フィルム２
２をコマ送り搬送し、コマ画像をフィルムキャリア７８
の所定の位置に配置すると、色分解フィルタ７０Ｒ、７
０Ｇ、７０Ｂを順に光軸上に突出させ、Ｒ、Ｇ、Ｂの各
色成分の光を順に写真フィルム２２のコマ画像に照射す
る。この後に、色分解フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂ
を光軸上から退避させて、ＩＲ−ＬＥＤ６８を点灯させ
ることにより、写真フィルム２２のコマ画像に赤外線を
照射する。

【００４０】フィルムキャリア７８を挟んで光源６４と
反対側には、レンズユニット７２及びエリアＣＣＤ３０
が順に配置されており、写真フィルム２２を透過した光
がレンズユニット７２によってエリアＣＣＤ３０に結像
される。写真フィルム２２にＲ、Ｇ、Ｂの各色成分の光
及び赤外線が順に照射されることにより、エリアＣＣＤ
３０には、写真フィルム２２のコマ画像のＲ、Ｇ、Ｂ成
分の各画像と写真フィルム２２を透過した赤外線画像が
結像される。これにより、ＣＣＤスキャナ１４では、写
真フィルム２２のコマ画像ごとのＲ、Ｇ、Ｂ成分の画像
データと共に赤外線画像データを読み込むようになって
いる。

【００４１】ところで、図１に示されるように、ＣＣＤ
スキャナ１４には、画像読取補正部８０が設けられてい
る。この画像読取補正部８０は、光源６４、ＩＲ−ＬＥ
Ｄ６８の点灯、色分解フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂ
の進退、写真フィルム２２の搬送を制御しながらエリア
ＣＣＤ３０によって写真フィルム２２のコマ画像を読み
込み、画像処理部１６へ出力する。

【００４２】図４に示されるように、この画像読取補正
部８０は、エリアＣＣＤ３０から順に出力されるＲ、
Ｇ、Ｂの各色成分及び赤外線成分の電気信号がアンプ８
２を介してＡ／Ｄ変換器３２に入力される。また、Ａ／
Ｄ変換器３２の出力側には、明暗補正部８４が設けられ
ている。この明暗補正部８４には、予め測定されて設定
されている光源６４のシェーディング補正値及びＩＲ−
ＬＥＤ６８のシェーディング補正値を記憶する補正値メ
モリ８６が接続されている。

【００４３】明暗補正部８４では、Ａ／Ｄ変換器３２か
ら出力されるＲ、Ｇ、Ｂの各色成分の画像データを補正
値メモリ８６に記憶されている光源６４のシェーディン
グ補正値に基づいて明暗補正を施すと共に、赤外線成分
の画像データを補正値メモリ８６に記憶されているＩＲ
−ＬＥＤ６８のシェーディング補正値に基づいて明暗補
正を施して出力する。

【００４４】画像読取補正部８０には、Ｒ、Ｇ、Ｂの各
色成分の画像データを記憶するフレームメモリ８８と赤
外線成分の画像データを記憶するフレームメモリ９０が
設けられており、明暗補正部８４から出力されるＲ、
Ｇ、Ｂの各色成分の画像データがフレームメモリ８８に
入力され、赤外線成分の画像データがフレームメモリ９
０に入力されて記憶される。

【００４５】一方、画像読取補正部８０には、エリアＣ
ＣＤ３０内の受光素子のうち不良素子の位置を記憶する
欠陥素子メモリ９２と、欠陥画素検出回路９４と、が設
けられている。フレームメモリ９０と欠陥素子メモリ９
２は、欠陥画素検出回路９４に接続されており、画像読
取補正部８０では、この欠陥画素検出回路９４によっ
て、フレームメモリ９０に記憶された赤外線成分の画像
データと欠陥素子メモリ９２に記憶されているエリアＣ
ＣＤ３０内の欠陥素子の位置データに基づいて欠陥画素
を検出する。

【００４６】欠陥画素検出回路９４の出力は、フレーム
メモリ８８の画像データと共に、補完補正部９６に入力
される。この補完補正部９６では、欠陥画素検出回路に
よって検出した欠陥画素の画像データ上の画素を周囲の
画素によって補完することにより、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色成
分の画像データを補正する。補完補正部９６によって補
正されたＲ、Ｇ、Ｂの各色成分の画像データは、画像処
理部１６へ出力されることにより、画像処理部１６内の
画像メモリ４４に記憶される。

【００４７】一方、画像読取補正部８０では、欠陥素子
メモリ９２のデータの更新が可能となっている。この欠
陥素子メモリ９２のデータの更新は、例えば、フィルム
キャリア７８に写真フィルム２２を装着していない状態
で、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色の光及び赤外線を受光し、画像デ
ータとしてフレームメモリ８８、９０に記憶する。この
後に、フレームメモリ８８、９０に記憶した画像データ
から、欠陥画素検出回路９４によって欠陥画素を検出す
る。

【００４８】すなわち、写真フィルム２２を装填してい
ない状態では、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色及び赤外線のそれぞれ
で、エリアＣＣＤ３０の各受光素子の光量は一定とな
る。ここから、周囲と異なる濃度の画素があれば、その
画素が欠陥画素となっており、この欠陥画素に対応する
受光素子が欠陥素子となる。

【００４９】画像読取補正部８０では、欠陥画素検出回
路９４によって欠陥画素を検出すると、この欠陥画素に
対応する受光素子の位置データを欠陥素子メモリ９２に
記憶する。

【００５０】ＣＣＤスキャナ１４では、エリアＣＣＤ３
０の欠陥素子の検出を装置の設置時に行うことは勿論、
１日の稼動開始時や、所定の時間を経過するごとなどの
予め設定されたタイミングや任意のタイミングで行われ
るようになっている。

【００５１】以下に、本実施の形態の作用として、ＣＣ
Ｄスキャナ１４による画像読込みを説明する。

【００５２】デジタルラボシステム１０では、ＣＣＤス
キャナ１４で写真フィルム２２に記録されている画像を
読み込むときには、先ず、写真フィルム２２をフィルム
キャリア７８に挿入して装填する。この後に、画像処理
部１６のキーボード１６Ｋのキー操作などによって画像
読み込みの開始を指示する。これにより、ＣＣＤスキャ
ナ１４では、写真フィルム２２をコマ送り搬送し、各コ
マ画像のプレスキャンを実行する。このプレスキャンで
は、各コマ毎に、写真フィルム２２を透過した光を低解
像度でエリアＣＣＤ３０によって読み込む。これによ
り、コマ毎のＲ、Ｇ、Ｂのプレスキャン画像データが読
み込まれる。

【００５３】ＣＣＤスキャナ１４では、プレスキャンに
よって読み込んだ画像データに基づいて、ファンスキャ
ンを行う時の読取条件をコマ毎に設定する。また、プレ
スキャンによって読み込まれた画像データは、例えば、
モニタ１６Ｍに表示される。

【００５４】フィルムキャリア７８に装填された写真フ
ィルム２２の全コマに対してプレスキャンが終了する
と、次にファインスキャンを開始する。このファインス
キャン時には、例えば、プレスキャンと逆方向へ写真フ
ィルム２２をコマ送り搬送し、写真フィルム２２の各コ
マを透過した光をエリアＣＣＤ３０によって読み込む。

【００５５】このときＣＣＤスキャナ１４では、写真フ
ィルム２２の画像コマを所定の位置に停止させると、先
ず、色分解フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂを順に光源
６４からの光軸上に突出させ、写真フィルム２２にＲ、
Ｇ、Ｂの各色成分の光を照射し、写真フィルム２２を透
過した各色成分の光を順にエリアＣＣＤ３０によって読
み込む。

【００５６】この後に、ＣＣＤスキャナ１４では、色分
解フィルム７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂを光源６４からの光
軸上から退避させ、ＩＲ−ＬＥＤ６８を点灯することに
より、写真フィルム２２に赤外線を照射し、写真フィル
ム２２を透過した赤外線をエリアＣＣＤ３０によって受
光する。

【００５７】これにより、エリアＣＣＤ３０からＲ、
Ｇ、Ｂの各色成分及び赤外線成分に応じた電気信号が順
に出力され、Ａ／Ｄ変換器３２によってＡ／Ｄ変換さ
れ、１画像コマ分の画像データとして出力される。

【００５８】ＣＣＤスキャナ１４は、Ｒ、Ｇ、Ｂ及び赤
外線の画像データを明暗補正部８４で、補正値メモリ８
６に記録されているシェーディング補正値に基づいて補
正すると、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色成分の画像データをフレー
ムメモリ８８に記憶し、赤外線成分の画像データをフレ
ームメモリ９０に記憶する。

【００５９】ところで、写真フィルム２２に傷が生じて
いたり、塵や埃が付着すると、Ｒ、Ｇ、Ｂの何れか少な
くとも１色の光の透過量が変わってしまい、対応する画
素が実際の濃度と異なる欠陥画素となる。

【００６０】一方、エリアＣＣＤ３０には、多数の受光
素子が緊密に配置されており、それぞれの受光素子がエ
リアＣＣＤ３０によって画像データを読み込んだときに
何れかの画素に対応する。エリアＣＣＤ３０の受光素子
の中には、全ての波長に光に対して又は特定の波長の光
に対して適切な受光量が得られなかったり、受光量に応
じた適切な電気信号が出力されない受光素子が欠陥素子
として存在することがある。この欠陥素子は、Ｒ、Ｇ、
Ｂの各色成分の画像データないし全ての画像データに対
して欠陥画素を生じさせる。

【００６１】ＣＣＤスキャナ１４では、このような欠陥
画素が画像データに含まれるのを防止するために、エリ
アＣＣＤ３０に読み込んだ画像データに欠陥画素がエリ
アＣＣＤ３０を形成する多数の受光素子の中で欠陥素子
があると、欠陥素子に対応する画素のデータ（濃度デー
タ）を補正する。これと共に、ＣＣＤスキャナ１４で
は、赤外線成分の画像データに基づいて、Ｒ、Ｇ、Ｂの
各色成分の画像データを補正する。

【００６２】以下に、ＣＣＤスキャナ１４の画像読取補
正部８０での欠陥画素の補正を説明する。なお、エリア
ＣＣＤ３０の受光素子の中に欠陥素子があると、例えば
この欠陥素子の位置データを欠陥素子メモリ９２に記憶
している。

【００６３】画像読取補正部８０に設けられている欠陥
画素検出回路９４では、フレームメモリ９０に赤外線成
分の画像データが記憶されると、このフレームメモリ９
０に記憶された赤外線の画像データを読み出すと共に、
欠陥素子メモリ９２に記憶されているデータを読み出
し、欠陥画素の検出を行う。

【００６４】写真フィルム２２に傷が生じていたり塵や
埃が付着していない状態では、写真フィルム２２を透過
する赤外線は一定となる。このために、フレームメモリ
９０に記憶している赤外線の画像データも一定のデータ
となる。これに対して、写真フィルム２２に傷が生じて
いたり塵や埃等が付着していると、赤外線の透過量は変
化し、対応する画素のデータが変化する。

【００６５】欠陥画素検出回路９４では、赤外線成分の
画像データを読み込むと、例えば濃度の異なる画素を検
出し、この画素を欠陥画素として設定する。例えば、図
５（Ａ）に示されるように、赤外線の画像データから画
素Ｐ_m2,n2の濃度が周囲の画素の濃度と異なるときに
は、この画素Ｐ_m2,n2を赤外線成分の画像データに基づ
いた欠陥画素として設定する。

【００６６】一方、画像読取補正部８０の欠陥素子メモ
リ９２には、エリアＣＣＤ３０の受光素子の中に欠陥素
子が存在していると、この欠陥素子の位置データが欠陥
画素として記憶されており、欠陥画素検出回路９４で
は、この欠陥素子に対応した画素を、欠陥素子に基づい
た欠陥画素として設定する。例えば図５（Ｂ）に示され
るように、画素Ｐ_m4,n4に対応する受光素子が欠陥素子
として記憶されていると、画素Ｐ_m4,n4が欠陥画素とし
て設定される。

【００６７】この後、欠陥画素検出回路９４は、赤外線
成分の画像データに基づいた欠陥画素に、欠陥素子メモ
リ９２に記憶されている欠陥素子に位置に基づいた欠陥
画素を含めて、フレームメモリ８８に記録しているＲ、
Ｇ、Ｂの各色成分の画像データの欠陥画素として設定す
る。すなわち、図５（Ａ）及び図５（Ｂ）に示される画
素Ｐ_m2,n2及び画素Ｐ_m4,n4が欠陥画素として設定され
る。

【００６８】補完補正部９６は、欠陥画素検出回路９４
によって欠陥画素が設定されると、設定された欠陥画素
と共にフレームメモリ８８に記憶されているＲ、Ｇ、Ｂ
の各色成分の画像データを読み出し、欠陥画素を周囲の
画素のデータで補完する。

【００６９】例えば、画素Ｐ_m2,n2及び画素Ｐ_m4,n4が欠
陥画素として設定されているときに、この画素Ｐ_m2,n2
及び画素Ｐ_m4,n4を周囲の画素によって補完することに
より、図５（Ｃ）に示されるように、画素Ｐ_m2,n2及び
画素Ｐ_m4,n4が周囲の画素に応じた濃度に設定される。
なお、この欠陥画素の補完処理は従来公知の方法を適用
でき詳細な説明は省略する。

【００７０】これにより、補完補正部９６からは、欠陥
画素を含まないＲ、Ｇ、Ｂの各色成分の画像データがス
キャン画像データとして出力される。すなわち、ＣＣＤ
スキャナ１４から出力される画像データ（Ｒ、Ｇ、Ｂの
各色成分の画像データ）は、写真フィルム２２に生じて
いる傷や、写真フィルム２２に付着している塵等の影響
は勿論、エリアＣＣＤ３０の受光素子の中の欠陥素子の
影響を受けない、適切な画像データとなる。

【００７１】このように、ＣＣＤスキャナ１４では、写
真フィルム２２の傷や写真フィルム２２に付着している
塵や埃によって生じる欠陥画素と、エリアＣＣＤ３０の
欠陥素子によって生じる欠陥画素を除去した画像データ
を得るときに、先ず欠陥画素に該当する画素の検出を行
って、この検出結果に基づいて画像データを補正するの
で、欠陥画素を補完するための画像データの処理が一度
で済み、データ処理の簡略化を図ることができる。

【００７２】また、画像データの補完処理を複数回繰り
返すのに比べて、画像読込を開始してから、画像データ
を画像処理部１６に出力するまでの時間を短縮すること
ができる。

【００７３】一方、画像読取補正部８０では、欠陥素子
メモリ９２のデータの更新を行うようになっている。こ
の欠陥素子メモリ９２のデータの更新は、光源６４を点
灯させ、色分解フィルタ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂを順に
出し入れして、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色の光をエリアＣＣＤ３
０で受光し、次に、ＩＲ−ＬＥＤ６８を点灯させ、赤外
線をエリアＣＣＤ３０によって受光する。この受光によ
って得られたＲ、Ｇ、Ｂの各色成分の画像データ及び赤
外線成分の画像データは、シェーディング補正を施して
フレームメモリ８８、９０に記憶する。

【００７４】欠陥画素検出回路９６は、フレームメモリ
８８、９０に記憶されているＲ、Ｇ、Ｂの各色成分の画
像データ及び赤外線成分の画像データを読み込んで、欠
陥画素を検出する。

【００７５】すなわち、写真フィルム２２を透過してい
ない光をエリアＣＣＤ３０に受光した時に、各受光素子
の光量はほぼ一定となるが、欠陥素子で受光量または出
力される電気信号が周囲と異なる。したがって、周囲の
画素と濃度の異なる画素があれば、この画素が欠陥画素
と判断でき、この欠陥画素に対応する受光素子が欠陥素
子となる。

【００７６】欠陥画素検出回路９４は、欠陥画素を検出
すると、この欠陥画素に対応する受光素子の位置データ
を、欠陥素子の位置データとして欠陥素子メモリ９２に
書き込む。

【００７７】画像読取補正部８０では、このようにして
所定のタイミングで欠陥素子メモリ９２に記憶するデー
タを更新することにより、常にエリアＣＣＤ３０の欠陥
素子を正確に把握することになるので、エリアＣＣＤ３
０によって読み込んだ画像データを適切に補正すること
ができ、写真フィルム２２に記録されている画像に応じ
た正確な画像データを出力することができる。

【００７８】なお、以上説明した本実施の形態は、本発
明の構成を限定するものではない。例えば、本実施の形
態では、画像読取装置としてエリアＣＣＤ３０を用いて
写真フィルム２２の画像を読み込むＣＣＤスキャナ１４
を用いたが、本発明は、エリアＣＣＤに限らず、ライン
ＣＣＤによって画像読込みを行うＣＣＤスキャナ等に適
用することができる。また、本実施の形態では、透過原
稿として写真フィルム２２を用いたが、本発明の画像読
取装置は、写真フィルムに限らず任意の透過原稿を読み
込む画像読取装置に適用することができる。

【００７９】また、本実施の形態では、色分解フィルタ
と、赤外線を発する光源を設けて、各色成分の可視光と
非可視光とを発するようにしたが、光源の構成はこれに
限定するものではない。また、ＣＣＤによって各色成分
の光と非可視光を分光して読み込むものであっても良
い。

【００８０】さらに、本実施の形態では、光電変換手段
としてＣＣＤを用いて説明したが、光電変換手段は、こ
れに限るものではなく、ＭＯＳセンサやフォトダイオー
ドアレイなど、透過原稿を透過した光を受光し、受光量
に応じた電気信号を出力するものであれば良い。

【００８１】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、非
可視光から得られる画素と、ＣＣＤなどの光電変換手段
の欠陥素子に対応した画素を欠陥画素に設定して、可視
光から得られる画像データを補正するので、可視光の画
像データに対する補正処理が一度ですみ、ＣＣＤの欠陥
素子と透過原稿の傷や塵等の影響のない適性な画像デー
タを出力するときの画像処理の簡略化を図ることができ
ると言う優れた効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施の形態に適用したデジタルラボシステム
と、デジタルラボシステムに設けたＣＣＤスキャナを示
す概略構成図である。

【図２】本実施の形態に適用したデジタルラボシステム
の外観を示す概略図である。

【図３】ＣＣＤスキャナの要部を示す概略斜視図であ
る。

【図４】ＣＣＤスキャナに設けている画像読取補正部の
概略構成を示す機能ブロック図である。

【図５】（Ａ）はフレームメモリに記憶される赤外線の
画像データに基づいた画素の一例を示す概略図、（Ｂ）
は欠陥画素メモリに記憶される位置データに基づいた画
像の一例を示す概略図、（Ｃ）は図５（Ａ）及び図５
（Ｂ）に基づいて補完された画像データに基づいた画像
の一例を示す概略図である。

【符号の説明】

１０デジタルラボシステム１４ＣＣＤスキャナ（画像読取装置）２２写真フィルム（透過原稿）３０エリアＣＣＤ（光電変換手段、ＣＣＤ）６４光源６８ＩＲ−ＬＥＤ７０Ｒ、７０Ｇ、７０Ｂ色分解フィルタ８０画像読取補正部８８フレームメモリ（第１の記憶手段）９０フレームメモリ（第２の記憶手段）９２欠陥素子メモリ（第３の記憶手段）９４欠陥画素検出回路（欠陥画素設定手段）９６補完補正部（補正手段）

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Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】透過原稿を透過した可視光及び非可視光
に基づいて透過原稿に記録されている画像に応じた画像
データを出力する画像読取装置であって、多数の受光素子によって形成され前記透過原稿を透過し
た可視光及び非可視光を受光し、それぞれの受光量に応
じた電気信号を出力する光電変換手段と、前記光電変換手段によって受光される可視光に基づいた
画像データを記憶する第１の記憶手段と、前記光電変換手段によって受光される非可視光に基づい
た画像データを記憶する第２の記憶手段と、前記光電変換手段の受光素子の中の欠陥素子の位置を記
憶する第３の記憶手段と、前記第２の記憶手段に記憶されている非可視光の画像デ
ータと前記第３の記憶手段に記憶される位置データに基
づいて、前記第１の記憶手段に記憶される画像データの
中の欠陥画素を設定する欠陥画素設定手段と、前記欠陥画素設定手段の設定結果に基づいて前記第１の
記憶手段に記憶された画像データを補正する補正手段
と、を含むことを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】前記欠陥画素設定手段が、前記第２の記
憶手段に記憶された非可視光の画像データから得られる
画素と、前記第３の記憶手段に記憶される受光素子の位
置データから得られる画素と、を含めて欠陥画素を設定
することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】前記欠陥画素設定手段が、前記光電変換
手段によって所定の可視光及び非可視光を受光したとき
に、前記第１及び第２の記憶手段に記憶される画像デー
タに基づいて前記光電変換手段の欠陥素子を設定し、前
記第３の記憶手段に記憶することを特徴とする請求項１
または請求項２に記載の画像読取装置。
【請求項４】前記光電変換手段がＣＣＤである請求項
１から請求項３のいずれかに記載の画像読取装置。