JPS62203460A - 画像読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、被写体原稿を走査して読み取る画像読取装置
に関するものである。

更に詳述すれば、本発明は、被写体原稿上に付着した°
゛ごみ°′や°゛きず′°等の欠陥を検出する機能を備
えた新規な画像読取装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来から知られている画像読取装置のひとつとしてイメ
ージスキャナ（撮像装置）があるが、この種の撮像装置
には、°゛ごみ°゛や゛きず”を自動的に識別し、その
旨を警告する装置が付いていなかった。

従って、撮像を開始するのに先立って目視検査を行うこ
とが行われていた。

［発明が解決しようとする問題点コ しかしながら、原稿に付着している“ごみ゛や゛きず°
′などの大きさが微小な場合には目視検査によっても見
侶としか生じてしまい、それら欠陥に気付かす撮像をし
てしまうということが多々みられた。すなわち、撮像後
の再生段階において初めて欠陥が多いのに気が付き、再
度取り直すといった不都合がみられた。特に、撮像に比
較的長い時間を要する場合には、その時間的損失は無視
し得ないものであった。

よって本発明の目的は、上述の点に鑑み、原稿画像上に
存在する°゛ごみ′や°°きず”などの欠陥を適切に自
動判別する画像読取装置を提供することにある。

［問題点を解決するための手段］ 本発明に係る画像読取装置は、原稿画像を複数の画素領
域に分割して当該画素領域に対応する出力信号を送出す
る読取手段と、前記出力信号と所定の基準信号とを比較
し、当該画素領域に画情報以外の欠陥情報が含まれてい
るか否かを判別する判定手段とを具備するものである。

また、本発明を適用した一実施例によれば、被写体原稿
を走査して撮像する装置において、光源と、光７原の光
を被写体に照射するための照明光学系と、被写体原稿の
種度信号を得る光電変換手段と、被写体上の欠陥を検出
する手段と、該欠陥の出現頻度が所定値を越えた時に警
告を発する手段とを備えるのが好適である。

［実施例］ 以下、実施例に基づいて本発明の詳細な説明する。

第１図は、本発明を適用した撮像装置の全体構成図であ
る。本図において、 １は原稿、 ２は照明光学系、　・ ３は光学フィルタ用ホルダ、 ３−１〜３−４は光学フィルタ、 ４は被写体となる。！ｉ過原稿、 ５は原稿４を保持するホルダ、 ６は原稿ホルダ５を載置するためのステージ、７は原稿
４の像をラインセンサ８上に投影する１俵像レンズ、 ８は主走査方向の読み取りを行うラインセンサ、 Ｃは撮像レンズ７の光軸、 ９はラインセンサ出力を増幅する増幅器、ｌＯは本撮像
装置のシーケンス制御回路、１１は光学フィルタ３−１
〜３−４を交換するための光学フィルタ駆動源、 １２はホルダ５を載置しているステニジ６を駆動し、副
走査を行わしめるためのステージ駆動源、 １３は光学フィルタ駆動源１１を制御し、所望の光学フ
ィルタを選択するための光学フィルタ選択制御回路、 １４はステージ駆動源１２を制御して副走査を行う副走
査制御回路、 １５はラインセンサ８を駆動して主走査を行わせるライ
ンセンサ駆動回路、 １６は増幅器９の出力（ＶＯＳ）を導入し、°ごみ”や
°°きず°等の欠陥があるか否かを検出する欠陥検出回
路、 １７は欠陥検出回路１６により検出された欠陥を後に詳
述する所定の規則に従ってカウントする欠陥カウント回
路、 １８は欠陥検出回路１６により検出された欠陥が存在す
る位置を記憶するための欠陥マツプ回路、ｌ！１は増幅
器９の出力Ｖｏｓをアナログ・ディジタル変換するＡ／
Ｄ変換器、 ２０はΔ１０変換器１９によりディジタル化された画像
信号を一時的に記憶するバッフ７メモリ、２１は欠陥マ
ツプ回路１８の出力内容に基づいてバッファメモリ２０
の記憶内容を修正する欠陥修正回路、 ２２はバッファメモリ２０の記憶内容を外部機器やホス
トコンピュータに申方送するためのインターフェース回
路、 ２３は、欠陥カウント回路１７が測定した欠陥の量に基
づいてシーケンス制御回路ｌＯから警告発生命令が送出
されるとき、その命令に応答して警告を発する警告発生
回路である。

次に、木実流側の動作を説明する。

木実流側による撮像装置は、ラインセンサ８を用いて主
走査すると共に、原稿ホルダ５を載置しているステージ
６を駆動源１２にて駆動することにより副走査を行い、
以って２次元走査を行うものである。

まず、ハロゲンランプ等の光源１および照明光学系２に
より、写真用３５ミリフイルムなどの透過原稿４を均一
に照明し、撮像レンズ７を介して原稿４の像をラインセ
ンサ８上に結像する。このとき、第２〜第４の光学フィ
ルター３−２〜３−４を例えばＲ，Ｇ、［１またはシア
ン、マゼンタ、イエロー透過型のフィルタとすることに
より、原稿画像を３色に色分解することができる。次い
で、ラインセンサ８上に投影された像を主走査すると共
に、原稿４の投影像がラインセンサ８の主走査方向と直
角の方向に動くようステージ６を動かして副走査するこ
とにより、２次元走査を実現する。

フィルタの交換を行うに際しては、フィルタ番号ならび
にフィルタ選択命令をシーケンス制御回路１０からフィ
ルタ選択制御回路１３に送出し、これによりフィルタ選
択動作を行わせ、もって光学フィルタ駆動源１１を制御
して所望の光学フィルタ３−１〜３−４を選択する。

ここで、第１の光学フィルタ３−１には例えば赤外透過
型フィルタを用いる。従って、写真フィルムの各発色層
は赤外光を殆んど透過してしまうことから、ラインセン
サ８の出力信号はほぼ一定レベルになる。しかし、フィ
ルム上に°゛ごみ”が付着していたり゛きず”が有ると
きには透過光量が大幅に変動するので、増幅した信号Ｖ
ｏｓをチェックすることにより、フィルム上の欠陥を容
易に検出することができる。更に詳述すれば、この光学
フィルタを適切に配置することにより、当該光学フィル
タ自体に付着している゛ごみ”や゛きず“がラインセン
サ８上に投影される像に影響を及ぼさないようにするこ
とができる。

次に、シーケンス制御回路ｌＯが実行すべき手順につい
て説明する。

シーケンス制御回路１０は、まず欠陥検知用の第１のフ
ィルタ３−１を選択し、次に副走査制御回路１４に対し
、ステージ６の位置を副走査スタート位置に戻すよう命
令を発する。そして、第１のフィルタ選択が終了すると
共にステージ６がスタート位置に戻ると、原稿４の欠陥
検出モードに入る。

この欠陥検出モードでは、原稿４を赤外光で走査して得
た信号Ｖｏｓに基づいて、原稿４上に有る゛ごみ”や°
きずパなとの欠陥を欠陥検出回路１６により検出し、欠
陥の存在する走査位置の情報を欠陥マツプ回路１８に逐
次記憶していくと共に、欠陥カウント回路１７において
欠陥の量を所定規則（後に詳述する）に従って数え、そ
の欠陥の程度をシーケンス制御回路ｌＯに伝える。

シーケンス制御回路１０は、伝達された欠陥の程度が所
定値以上であるとき、警告発生回路２３に対して警告発
生命令を送出する。警告発生回路２３は、この警告発生
命令を受けて警告を発する。

その後、シーケンス制御回路１０は次の処理に移行する
。なお、警告は欠陥の程度に応じて段階的に発するよう
にすることも可能である。また、欠陥カウント回路１７
は、欠陥が一定の程度を越えた時のみ、シーケンス制御
回路１０に通報を行うよう構成することも可能である。

更に、シーケンス制御回路１０を介することなく、カウ
ント回路１７から警告発生回路２３に直接警告発生依頼
を行うよう構成することも可能である。

欠陥検出モードの終了後、シーケンス制御が中断されな
い場合には、色分解走査モートに入る。

この色分解走査モードでは、３色の透過フィルタ３−２
〜３−４を次々に選択して３回の２次元走査を行う。

まず初めに、第２の光学フィルタ３−２を選択する命令
をシーケンス制御回路ｌＯから光学フィルタ選択制御回
路１３に送り、光学フィルタ駆動源１１を駆動して第２
のフィルタ３−２を選択する。また、シーケンス制御回
路ｌＯはステージ６をスタート位置に戻すよう、副走査
制御回路１４に命令を発する。これによりステージ駆動
源１２を駆動して、ステージ６をスタート位置に戻す。

フィルタ選択が完了してステージ６がスタート位置に戻
ると、ラインセンサ８は第２の光学フィルタ３−２が色
分解した像の走査を開始する。そして、増幅器９により
増幅された信号ＶｏｓはＡ／Ｄ変換器１９においてディ
ジタル信号に変換され、バッファメモリ２０に一時記憶
される。

バッファメモリ２０に一時的に記憶された画像信号は、
欠陥修正回路２１により、欠陥マツプ回路１８から送出
される欠陥位置情報に基づいて修正（補修）がなされる
。主走査ライン内における欠陥の量が少ないときには、
副走査を行っている間にマイクロプロセッサ等を用いて
、バッファメモリ２０の記憶内容を修正することができ
る。また、特に高速性が要求される場合には欠陥修正回
路２１の一部をハードウェア化することにより、小さい
欠陥についてはリアルタイムで修正を行うことができる
。

修正された画像データは、インターフェース回路２２を
介して外部機器（例えばディスク、スキャナライタ、フ
レームメモリ等）やホストコンピュータに転送される。

データ転送の頻度は、バッファメモリや外部機器の処理
スピード等に依存するが、例えば１ライン主走査を行う
毎に転送してもよいし、あるいは、１画面分のデータを
一括して転送してもよい。

さて、第２の光学フィルター３−２で色分解した色分解
画像の走査が終了すると、次に第３の光学フィルタ３−
３の選択制御およびステージ６をスタート位置に戻すた
めの制御に移り、先に述べた第２の光学フィルタ３−２
での走査と同様のシーケンスを繰り返す。

第４の光学フィルタ３−４を用いて色分解した色分解画
像の走査も同様に行い、もって３色の色分解画像の撮像
を終了する。

第２図は、第１図に示した欠陥検出回路１６．欠陥カウ
ント１回路１７および欠陥マツプ回路１８のより詳しい
構成例を示したものである。本図において、 Ｒ１，Ｒ２は抵抗、 ２４は増幅器９の出力信号Ｖｏｓと参照電圧Ｖｒｅｆを
比較する比較器、 Ｄｅは出力信号Ｖｏｓに基づいて検出された欠陥４３号
（比較器２４の出力）、 Ｍｌは欠陥検出モードであることを示す欠陥検出モード
信号、 φｃｌｏｃｋは有効走査領域内にあるとき、１画素ごと
に１回発生されるタイミングクロック、２５は欠陥が存
在するときに欠陥パルスＩｐを発生するへＮＤゲート、 １７は欠陥パルスＩｐをカウントする欠陥カウント回路
、 φＲ１は欠陥カウント回路１７をリセットするリセット
信号、 Ｏｎは欠陥が検出された画素数を表す欠陥カウント信号
、 ２６は現在の走査位置を表す走査アドレスカウンタ、 八。は現在の走査位置を表す走査アドレス信号、 ２７は信号Ｄｎをアドレスとして、篩を入力データとす
るメモリ回路であり、欠陥パルスＩｐに同期して信号Ｏ
ｎが表すメモリアドレス゛’Ｄｎ”にデータＡｏを格納
する。

次に、第２図の動作を説明する。

走査開始時において、欠陥カウント回路１７はリセット
信号φ８．によりリセットされ、欠陥カウント値Ｏｎは
°０“となる。一方、走査アドレスカウンタ２６も信号
φＩＩＡによりリセットされ、走査アドレスＡＯは“°
０′°に初期化される。

欠陥検出モードに入ると、欠陥検出モード信号Ｍｌは“
°１”になると共に信号φ８．は解除され、欠陥カウン
ト回路１７はカウント可能な状態となる。そして、走査
有効領域内では、センサ出力の増幅信号Ｖｏｓに同期し
て、タイミングクロックφｃｌｏｋが出力される。この
とき欠陥が存在すると、ＶｏｓがＶｒｅｆより小さくな
り、信号Ｄａは°°ハイレベル”となる。すると、タイ
ミングクロックφｃｌｏｃｋに同期してへＮＯゲート２
５は開き（Ｄｅ＝°°ハイ”、　ＭＩ＝　’“ハイ°’
　）　、　ＡＮＤゲート２５から送出される欠陥パルス
Ｉｐが欠陥カウント回路１７をカウントアツプする。

欠陥カウント回路１７の出力である欠陥カウント信号Ｏ
ｎはシーケンス制御回路１０へ送られると共に、メモリ
回路２７のアドレス入力となる。すなわち、この欠陥カ
ウント信号ＤＯは°’Ｄｎ番目の欠陥”であることを表
す。

一方、タイミングクロックφｃｌｏｃｋは走査アドレス
カウンタ２６にも導入されており、このカウンタ２６は
現在走査している位置が走査開始位習から何画素目であ
るかをカウントしている。走査アドレスカウンタ２６の
出力である走査アドレス信号へ〇はメモリ回路２７のデ
ータ入力端に供給され、欠陥パルス■ｐに同期して、メ
モリ回路２７のアドレス゛’Ｄｎ”に書き込まれる。そ
の結果、＋＋００”番目の欠陥が発見された時の走査ア
ドレス１ｌＡＱ”が順次メモリ回路２７に記憶される。

メモリ回路２７の初期化回路については図示していない
が、例えは全てのアドレスに°゛１”または°０”を書
き込んだり、あるいは、欠陥検出モードの前（欠陥カウ
ント回路１７と走査アドレスカウンタ２６をリセットす
る前）に走査範囲外のアドレスを書き込めばよい。そし
て、シーケンス制御回路ＩＯは、欠陥カウント回路１７
がオーバーフローしたことを検知して、警告命令を発す
ることができる。

第３図は、欠陥マツプ回路１８の別実流側１８′　を示
すブロック図である。図示した別実流側では、走査アド
レスカウンタ２６′　により主走査方向のみのアドレス
Ａｏ′　をカウントする。一方、副走査方向のアドレス
Ａｊ２については、メモリ回路２７′のアドレス入力端
子に対し、欠陥カウント信号Ｄｎとは独立に印加する。

そして、このカウント値Ａｏ′　を欠陥パルス■ｐに同
期してメモリ回路に記憶させている。この実施例によれ
ば、主走査１ライン毎に一定のメモリ領域を必要とする
が、シーケンス制御回路ｌＯは主走査線上の欠陥画素数
が所定値を越えたことを検知して警告命令を発すること
ができる。

［発明の効果］ 以上述べたとおり本発明によれば、原稿画像上にみられ
る°′ごみ”や“°きず”等の欠陥を自動釣に検出する
構成としであるので、品質の良い原稿画像のみを判別し
て読み取る画像読取装置を得ることができる。

更に、本発明を適用した一実施例によれば、欠陥の出現
頻度が一定値を越えた場合に警告を発し、大きな欠陥が
存在することを知らせることができるので、その時点で
原稿上の°゛ごみ”を除去するなど適切な処置を迅速に
行うことができるといった、格別な効果を得ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す全体構成図、 第２図は第１図に示した構成要素の一部を詳細に示すブ
ロック図、 第３図はその他の一実施例を示すブロック図である。 １・・・原稿、 ２・・・照明光学系、 ３・・・光学フィルタ用ホルダ、 ３−１〜３−４　・・・光学フィルタ、４・・・透過原
稿、 ５・・・ホルダ、 ６・・・ステージ、 ７・・・撮像レンズ、 ８・・・ラインセンサ、 ９・・・増幅器、 ＩＯ・・・シーケンス制御回路、 １１・・・光学フィルタ駆動源、 １２・・・ステージ駆動源、 １３・・・光学フィルタ選択制御回路、１４・・・副走
査制御回路、 １５・・・ラインセンサ駆動回路、 １６・・・欠陥検出回路、 １７・・・欠陥カウント回路、 １８・・・欠陥マツプ回路、 １９・・−Ａ／Ｄ変換器、 ２０・・・バッファメモリ、 ２１・・・欠陥修正回路、 ２２・・・インターフェース回路、 ２３・・・警告発生回路。 ｌσ 第２図 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）原稿画像を複数の画素領域に分割して当該画素領域
   に対応する出力信号を送出する読取手段と、 前記出力信号と所定の基準信号とを比較し、当該画素領
   域に画情報以外の欠陥情報が含まれているか否かを判別
   する判定手段 とを具備したことを特徴とする画像読取装 置。