JPS6220338A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JPS6220338A JPS6220338A JP15827785A JP15827785A JPS6220338A JP S6220338 A JPS6220338 A JP S6220338A JP 15827785 A JP15827785 A JP 15827785A JP 15827785 A JP15827785 A JP 15827785A JP S6220338 A JPS6220338 A JP S6220338A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- laminated
- gaas
- approx
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/04026—Bonding areas specifically adapted for layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/102—Material of the semiconductor or solid state bodies
- H01L2924/1025—Semiconducting materials
- H01L2924/1026—Compound semiconductors
- H01L2924/1032—III-V
- H01L2924/10329—Gallium arsenide [GaAs]
Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体装置の製造方法(足間[Ti、特にGa
As 学導体素子のいわゆるダイスポンド技術に用いる
裏側メタルに関するものである。
As 学導体素子のいわゆるダイスポンド技術に用いる
裏側メタルに関するものである。
(従来の技術)
従来の、コレクタリードまたけステム等の基台に、Ga
As半導体素子等のダイスを貼り付けるダイスポンド技
術は、文献特開昭5’1−71066号公報に記載され
ている。そこでは、ダイスボンド技術に用いる半導体基
板の裏側メタルをA+、+G e合金等で構成1〜、さ
らにG a A、sとAuGeとの密着力を向上させる
ためにAuGeの蒸着を行ったのち、350℃程度の温
度で熱処理を行っている。次にとのATi Ge合金膜
上に融点の低い金属膜を蒸着し、加熱により金属基台に
接着17ている。このように、一般のダイスボンド技術
では、基台と半導体基板との密着力を向上さぜるため3
00℃程度以上の熱処理を行っている。
As半導体素子等のダイスを貼り付けるダイスポンド技
術は、文献特開昭5’1−71066号公報に記載され
ている。そこでは、ダイスボンド技術に用いる半導体基
板の裏側メタルをA+、+G e合金等で構成1〜、さ
らにG a A、sとAuGeとの密着力を向上させる
ためにAuGeの蒸着を行ったのち、350℃程度の温
度で熱処理を行っている。次にとのATi Ge合金膜
上に融点の低い金属膜を蒸着し、加熱により金属基台に
接着17ている。このように、一般のダイスボンド技術
では、基台と半導体基板との密着力を向上さぜるため3
00℃程度以上の熱処理を行っている。
(発明が解決I〜ようとする問題点)
この熱処理において温度が低い場合AuGeとQ、aA
sとの密着力は弱く、温度が高い場合、表面に形成され
た素子が劣化する欠点があった。寸だ、本発明者らは半
導体基板の裏側メタルとしてAuGeを使用した場合、
長時間にわたる耐湿試験をかけた時にAuGe0中のG
eがデバイス表面に析出し、半導体装置の信頼性を低化
させるという欠点を見い出した。
sとの密着力は弱く、温度が高い場合、表面に形成され
た素子が劣化する欠点があった。寸だ、本発明者らは半
導体基板の裏側メタルとしてAuGeを使用した場合、
長時間にわたる耐湿試験をかけた時にAuGe0中のG
eがデバイス表面に析出し、半導体装置の信頼性を低化
させるという欠点を見い出した。
この発明の目的は、以上述べた熱処理の不安定さを除去
し、信頼性の高い半導体装置を提供することにある。
し、信頼性の高い半導体装置を提供することにある。
(問題点を解決するだめの手段)
本発明は半導体装置の製造方法において、素子が形成さ
れたGaAs半導体基板の裏面上に、熱処理を行なわす
ともGaAsとの密着力が強いTiを最初に蒸着し、そ
の後Tiの酸化防止のためのAuを蒸着し、さらにグイ
ポンド時に使用されるAu/Snノ・ンダ材を不用にす
るため例えばSn等のノ・ンダ材を蒸着することによp
、GaAs半導体素子のオーミック接続を行なわない裏
側メタルを形成するものである。
れたGaAs半導体基板の裏面上に、熱処理を行なわす
ともGaAsとの密着力が強いTiを最初に蒸着し、そ
の後Tiの酸化防止のためのAuを蒸着し、さらにグイ
ポンド時に使用されるAu/Snノ・ンダ材を不用にす
るため例えばSn等のノ・ンダ材を蒸着することによp
、GaAs半導体素子のオーミック接続を行なわない裏
側メタルを形成するものである。
(作用)
本発明は、素子が形成されだGaAs半導体基板の裏側
メタルの形成において、熱処理を行わなくともGaAs
と密着力が強いTiを最初に蒸着し、連続的に、とのT
iの酸化防止のだめのAuを蒸着しているので、熱処理
に対して劣化し易い素子が形成されたウェハの裏側メタ
ルの形成に適している。
メタルの形成において、熱処理を行わなくともGaAs
と密着力が強いTiを最初に蒸着し、連続的に、とのT
iの酸化防止のだめのAuを蒸着しているので、熱処理
に対して劣化し易い素子が形成されたウェハの裏側メタ
ルの形成に適している。
さらに裏側メタルにGeを含んでいないため、長時間の
耐湿試験を行ってもGeの素子表面への析出は無く、素
子の高信頼性化が期待できる。
耐湿試験を行ってもGeの素子表面への析出は無く、素
子の高信頼性化が期待できる。
(実施例)
図面は本発明の詳細な説明するだめの断面図であり、以
下図面に沿って説明する。
下図面に沿って説明する。
図面に示すように、通常の方法により素子が形成された
GaAs半絶縁性半導体基板1の裏面を機械研摩および
エツチング処理し、基板1を所定の厚さに形成する。次
に電子ビーム蒸着法によp、Ti層2を500X程度の
厚さに積層し、連続的に、電子ビーム蒸着法によjsl
Au層3を2500X程度の厚さに積層し、次に抵抗加
熱蒸着法によpsnSn層42〜3μmの厚さに積層す
る。
GaAs半絶縁性半導体基板1の裏面を機械研摩および
エツチング処理し、基板1を所定の厚さに形成する。次
に電子ビーム蒸着法によp、Ti層2を500X程度の
厚さに積層し、連続的に、電子ビーム蒸着法によjsl
Au層3を2500X程度の厚さに積層し、次に抵抗加
熱蒸着法によpsnSn層42〜3μmの厚さに積層す
る。
しかる後、Ti層2、Au層3及びSn層4が積層され
た基板1を通常の方法により、個々の半導体片に分離し
、図示し々い所定の基台に接着を行う。
た基板1を通常の方法により、個々の半導体片に分離し
、図示し々い所定の基台に接着を行う。
尚、本発明の実施例では、Ti層2は電子ビーム蒸着法
、Au層3も電子ビーム蒸着法、そしてSn層4は抵抗
加熱蒸着法を用いて積層したが、他の蒸着法によシ積層
してもよい。また、Sn層4は他のノ・ンダ材を用いて
もよい。
、Au層3も電子ビーム蒸着法、そしてSn層4は抵抗
加熱蒸着法を用いて積層したが、他の蒸着法によシ積層
してもよい。また、Sn層4は他のノ・ンダ材を用いて
もよい。
本発明の実施例によれば、室温程度の温度下で、GaA
s半絶縁性半導体基板1と密着力が強いTi層2を積層
できるので、基板1に形成された素子の特性劣化を防止
することができる。さらに、この71層2の酸化を防止
するAu層3を積層した後、あらかじめこのAu層3と
低温度で合金化するSn層4を積層しているので、ダイ
プント時のノ1ンダ材が不用となる。
s半絶縁性半導体基板1と密着力が強いTi層2を積層
できるので、基板1に形成された素子の特性劣化を防止
することができる。さらに、この71層2の酸化を防止
するAu層3を積層した後、あらかじめこのAu層3と
低温度で合金化するSn層4を積層しているので、ダイ
プント時のノ1ンダ材が不用となる。
(発明の効果)
以上、詳細に説明したように本発明によれば、素子が形
成されたGaAs半導体基板の裏面側に、室温程度の温
度下で、蒸着法により、GaA s半導体基板と密着力
が強いTi層を積層し、連続的にこのTi層の酸化防止
のだめのAu層を積層しているので、熱処理に対して劣
化し易い素子が形成されたウェハであっても、素子の劣
化を来たすことなく裏側メタルを形成することができ、
且つ、裏側メタルにはGeを含んでいないため、Geの
素子表面への析出はなく、素子の高信頼性化が期待でき
る。
成されたGaAs半導体基板の裏面側に、室温程度の温
度下で、蒸着法により、GaA s半導体基板と密着力
が強いTi層を積層し、連続的にこのTi層の酸化防止
のだめのAu層を積層しているので、熱処理に対して劣
化し易い素子が形成されたウェハであっても、素子の劣
化を来たすことなく裏側メタルを形成することができ、
且つ、裏側メタルにはGeを含んでいないため、Geの
素子表面への析出はなく、素子の高信頼性化が期待でき
る。
図面は本発明の詳細な説明するだめの断面図である。
1・・・GaAs半絶縁性半導体基板、2・・・Ti層
、3・・・Au層、4・・・Sn層。
、3・・・Au層、4・・・Sn層。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 素子が形成されたGaAs半導体基板の裏面上にTi層
を蒸着法により積層する工程と、 該Ti層上にAu層を連続的に蒸着法により積層する工
程と、 しかる後該基板の該裏面側表面上にハンダ材を積層する
工程と、 しかる後該基板の該裏面側を基台に接着する工程とを備
えてなることを特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15827785A JPS6220338A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15827785A JPS6220338A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6220338A true JPS6220338A (ja) | 1987-01-28 |
Family
ID=15668085
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15827785A Pending JPS6220338A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6220338A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01149428A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-12 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPH02138753A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-05-28 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体ペレットと半導体装置の製造方法 |
JP2001053025A (ja) * | 1999-08-11 | 2001-02-23 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | p型化合物半導体のオーミック電極構造およびその形成方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5654047A (en) * | 1979-10-08 | 1981-05-13 | Nec Corp | Compound semiconductor device |
JPS5829851B2 (ja) * | 1977-08-31 | 1983-06-25 | 株式会社東芝 | 電磁流量計 |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP15827785A patent/JPS6220338A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5829851B2 (ja) * | 1977-08-31 | 1983-06-25 | 株式会社東芝 | 電磁流量計 |
JPS5654047A (en) * | 1979-10-08 | 1981-05-13 | Nec Corp | Compound semiconductor device |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01149428A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-12 | Nec Corp | 半導体装置 |
JPH02138753A (ja) * | 1988-11-18 | 1990-05-28 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体ペレットと半導体装置の製造方法 |
JP2001053025A (ja) * | 1999-08-11 | 2001-02-23 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | p型化合物半導体のオーミック電極構造およびその形成方法 |
JP4572430B2 (ja) * | 1999-08-11 | 2010-11-04 | 富士ゼロックス株式会社 | オーミック電極の形成方法 |
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