JPS5811096B2 - ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ - Google Patents
ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウInfo
- Publication number
- JPS5811096B2 JPS5811096B2 JP10983875A JP10983875A JPS5811096B2 JP S5811096 B2 JPS5811096 B2 JP S5811096B2 JP 10983875 A JP10983875 A JP 10983875A JP 10983875 A JP10983875 A JP 10983875A JP S5811096 B2 JPS5811096 B2 JP S5811096B2
- Authority
- JP
- Japan
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- gold
- silver
- zinc
- molybdenum
- package
- Prior art date
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- Expired
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- Die Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えばP−N接合型GaAsインパットダイ
オードなどの、P型GaAsを表面に有する半導体素子
のパッケージへの接着方法に関するものである。
オードなどの、P型GaAsを表面に有する半導体素子
のパッケージへの接着方法に関するものである。
従来、P形GaAsに対するオーム性電極は、例えば金
−亜鉛合金などが用いられていたが、銀−亜鉛合金を使
用することにより、さらに良好なオーム性電極ができる
ことが、実験の結果判明した。
−亜鉛合金などが用いられていたが、銀−亜鉛合金を使
用することにより、さらに良好なオーム性電極ができる
ことが、実験の結果判明した。
ところが、銀−亜鉛合金は、融点が高く、パッケージへ
接着することが困難である。
接着することが困難である。
そこで前記、銀−亜鉛合金上に、金−ゲルマニウム、合
金を被着させ、金−ゲルマニウム合金、をハンダ材とし
て、半導体素子をパッケージに接着することを試みてみ
たが、このようにすると、パッケージへの接着は可能で
あるが、金−ゲルマニウムと銀−亜鉛の両方の合金が融
は合い、半導体素子へのオーム性が失われることがわか
った。
金を被着させ、金−ゲルマニウム合金、をハンダ材とし
て、半導体素子をパッケージに接着することを試みてみ
たが、このようにすると、パッケージへの接着は可能で
あるが、金−ゲルマニウムと銀−亜鉛の両方の合金が融
は合い、半導体素子へのオーム性が失われることがわか
った。
本発明は上記の点にかんがみてなされたものであり、オ
ーム性電極の銀−亜鉛合金と、ハンダ材としての金−ゲ
ルマニウム合金とをモリブデンを間にはさんで分離する
ことを特徴とするものである。
ーム性電極の銀−亜鉛合金と、ハンダ材としての金−ゲ
ルマニウム合金とをモリブデンを間にはさんで分離する
ことを特徴とするものである。
このようにすることにより、オーム性を失うことなく、
パッケージへの接着を完全に行なうことができる。
パッケージへの接着を完全に行なうことができる。
次に、本発明による素子作成法を簡単に述べる。
まず、オーム性電極をつけるべきP形GaAsに、銀、
及び亜鉛を、重量比で9:1の割合で連続的に、あるい
は同時に真空蒸着する。
及び亜鉛を、重量比で9:1の割合で連続的に、あるい
は同時に真空蒸着する。
銀−亜鉛の厚みは約1000Å程度である。
次いでモリブデンを電子ビーム蒸着、またはスパッタ法
により約3000Å蒸着し、さらに連続的にニッケルを
500Å、金−ゲルマニウムの共晶合金を約1μ蒸着す
る。
により約3000Å蒸着し、さらに連続的にニッケルを
500Å、金−ゲルマニウムの共晶合金を約1μ蒸着す
る。
このようにして得られたウェハを、水素雰囲気中で45
0℃で10分間熱処理する。
0℃で10分間熱処理する。
熱処理されたウェハは小さなペレットにへき開し、ペレ
ットをパッケージにマウントする。
ットをパッケージにマウントする。
このとき、モリブデン上に蒸着された金−ゲルマニウム
合金がハンダ材として使われる。
合金がハンダ材として使われる。
なお、上記実施例では、モリブデン上にニッケルを蒸着
したもの、つまり、一般に、モリブデン表面が酸化し易
く、モリブデンの蒸着時の条件や、次の金−ゲルマニウ
ム合金の蒸着時の条件により、モリブデンと金−ゲルマ
ニウム合金の界面に汚れや酸化膜がつき易いため、これ
らの影響で両者間がはがれやすくなるので、モリブデン
と金−ゲルマニウム合金の界面における接着性改善のた
め、両者間にニッケルを介在させたものを示したが、要
は両者間の接着性が問題なきようにすれば良いものであ
り、例えばモリブデンの蒸着時の条件及び金−ゲルマニ
ウム合金の蒸着時の条件を充分注意して行なうことによ
り、界面における汚れや酸化膜をつきにくくでき、その
結果両者の界面におけるはがれも抑制できるものであり
、このものにおいても、この発明の主眼とする銀−亜鉛
と金−ゲルマニウム合金間の相互拡散をモリブデンによ
り防ぐことができるという効果は達成できるものである
。
したもの、つまり、一般に、モリブデン表面が酸化し易
く、モリブデンの蒸着時の条件や、次の金−ゲルマニウ
ム合金の蒸着時の条件により、モリブデンと金−ゲルマ
ニウム合金の界面に汚れや酸化膜がつき易いため、これ
らの影響で両者間がはがれやすくなるので、モリブデン
と金−ゲルマニウム合金の界面における接着性改善のた
め、両者間にニッケルを介在させたものを示したが、要
は両者間の接着性が問題なきようにすれば良いものであ
り、例えばモリブデンの蒸着時の条件及び金−ゲルマニ
ウム合金の蒸着時の条件を充分注意して行なうことによ
り、界面における汚れや酸化膜をつきにくくでき、その
結果両者の界面におけるはがれも抑制できるものであり
、このものにおいても、この発明の主眼とする銀−亜鉛
と金−ゲルマニウム合金間の相互拡散をモリブデンによ
り防ぐことができるという効果は達成できるものである
。
以上の説明では、金属被覆は全て真空蒸着法により形成
しているが、これ以外の方法、例えばメッキ法を併用し
ても良いことは当然である。
しているが、これ以外の方法、例えばメッキ法を併用し
ても良いことは当然である。
また、各金属層の厚みも上記の説明で述べたもの以外で
あってもよい。
あってもよい。
また、熱処理方法についても、例えば、銀−亜鉛を蒸着
した段階で一度熱処理をし、次いで、他の金属をつけて
も良い。
した段階で一度熱処理をし、次いで、他の金属をつけて
も良い。
熱処理温度、時間等についても上記のものに限らない。
Claims (1)
- 1 表面にP形GaAs層を有する半導体素子の前記表
面に銀、及び亜鉛から成る金属被覆を形成し、熱処理を
行ない表面のP形GaAsに対し、オーム性接触を形成
した後、前記銀−亜鉛被膜上に、モリブデン被膜を形成
し、さらにその上に、金−ゲルマニウム合金から成る被
膜を形成し、前記金−ゲルマニウム合金をハンダ材とし
てパッケージに接着することを特徴とする半導体素子の
パッケージへの接着方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10983875A JPS5811096B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10983875A JPS5811096B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5233481A JPS5233481A (en) | 1977-03-14 |
JPS5811096B2 true JPS5811096B2 (ja) | 1983-03-01 |
Family
ID=14520475
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10983875A Expired JPS5811096B2 (ja) | 1975-09-10 | 1975-09-10 | ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5811096B2 (ja) |
-
1975
- 1975-09-10 JP JP10983875A patent/JPS5811096B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5233481A (en) | 1977-03-14 |
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