JPS5811096B2 - ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ - Google Patents

ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ

Info

Publication number
JPS5811096B2
JPS5811096B2 JP10983875A JP10983875A JPS5811096B2 JP S5811096 B2 JPS5811096 B2 JP S5811096B2 JP 10983875 A JP10983875 A JP 10983875A JP 10983875 A JP10983875 A JP 10983875A JP S5811096 B2 JPS5811096 B2 JP S5811096B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gold
silver
zinc
molybdenum
package
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP10983875A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5233481A (en
Inventor
三井茂
西谷和雄
石原理
沢野寛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP10983875A priority Critical patent/JPS5811096B2/ja
Publication of JPS5233481A publication Critical patent/JPS5233481A/ja
Publication of JPS5811096B2 publication Critical patent/JPS5811096B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えばP−N接合型GaAsインパットダイ
オードなどの、P型GaAsを表面に有する半導体素子
のパッケージへの接着方法に関するものである。
従来、P形GaAsに対するオーム性電極は、例えば金
−亜鉛合金などが用いられていたが、銀−亜鉛合金を使
用することにより、さらに良好なオーム性電極ができる
ことが、実験の結果判明した。
ところが、銀−亜鉛合金は、融点が高く、パッケージへ
接着することが困難である。
そこで前記、銀−亜鉛合金上に、金−ゲルマニウム、合
金を被着させ、金−ゲルマニウム合金、をハンダ材とし
て、半導体素子をパッケージに接着することを試みてみ
たが、このようにすると、パッケージへの接着は可能で
あるが、金−ゲルマニウムと銀−亜鉛の両方の合金が融
は合い、半導体素子へのオーム性が失われることがわか
った。
本発明は上記の点にかんがみてなされたものであり、オ
ーム性電極の銀−亜鉛合金と、ハンダ材としての金−ゲ
ルマニウム合金とをモリブデンを間にはさんで分離する
ことを特徴とするものである。
このようにすることにより、オーム性を失うことなく、
パッケージへの接着を完全に行なうことができる。
次に、本発明による素子作成法を簡単に述べる。
まず、オーム性電極をつけるべきP形GaAsに、銀、
及び亜鉛を、重量比で9:1の割合で連続的に、あるい
は同時に真空蒸着する。
銀−亜鉛の厚みは約1000Å程度である。
次いでモリブデンを電子ビーム蒸着、またはスパッタ法
により約3000Å蒸着し、さらに連続的にニッケルを
500Å、金−ゲルマニウムの共晶合金を約1μ蒸着す
る。
このようにして得られたウェハを、水素雰囲気中で45
0℃で10分間熱処理する。
熱処理されたウェハは小さなペレットにへき開し、ペレ
ットをパッケージにマウントする。
このとき、モリブデン上に蒸着された金−ゲルマニウム
合金がハンダ材として使われる。
なお、上記実施例では、モリブデン上にニッケルを蒸着
したもの、つまり、一般に、モリブデン表面が酸化し易
く、モリブデンの蒸着時の条件や、次の金−ゲルマニウ
ム合金の蒸着時の条件により、モリブデンと金−ゲルマ
ニウム合金の界面に汚れや酸化膜がつき易いため、これ
らの影響で両者間がはがれやすくなるので、モリブデン
と金−ゲルマニウム合金の界面における接着性改善のた
め、両者間にニッケルを介在させたものを示したが、要
は両者間の接着性が問題なきようにすれば良いものであ
り、例えばモリブデンの蒸着時の条件及び金−ゲルマニ
ウム合金の蒸着時の条件を充分注意して行なうことによ
り、界面における汚れや酸化膜をつきにくくでき、その
結果両者の界面におけるはがれも抑制できるものであり
、このものにおいても、この発明の主眼とする銀−亜鉛
と金−ゲルマニウム合金間の相互拡散をモリブデンによ
り防ぐことができるという効果は達成できるものである
以上の説明では、金属被覆は全て真空蒸着法により形成
しているが、これ以外の方法、例えばメッキ法を併用し
ても良いことは当然である。
また、各金属層の厚みも上記の説明で述べたもの以外で
あってもよい。
また、熱処理方法についても、例えば、銀−亜鉛を蒸着
した段階で一度熱処理をし、次いで、他の金属をつけて
も良い。
熱処理温度、時間等についても上記のものに限らない。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 表面にP形GaAs層を有する半導体素子の前記表
    面に銀、及び亜鉛から成る金属被覆を形成し、熱処理を
    行ない表面のP形GaAsに対し、オーム性接触を形成
    した後、前記銀−亜鉛被膜上に、モリブデン被膜を形成
    し、さらにその上に、金−ゲルマニウム合金から成る被
    膜を形成し、前記金−ゲルマニウム合金をハンダ材とし
    てパッケージに接着することを特徴とする半導体素子の
    パッケージへの接着方法。
JP10983875A 1975-09-10 1975-09-10 ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ Expired JPS5811096B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10983875A JPS5811096B2 (ja) 1975-09-10 1975-09-10 ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10983875A JPS5811096B2 (ja) 1975-09-10 1975-09-10 ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5233481A JPS5233481A (en) 1977-03-14
JPS5811096B2 true JPS5811096B2 (ja) 1983-03-01

Family

ID=14520475

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10983875A Expired JPS5811096B2 (ja) 1975-09-10 1975-09-10 ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5811096B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5233481A (en) 1977-03-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3323956A (en) Method of manufacturing semiconductor devices
JP3144328B2 (ja) 熱電変換素子およびその製造方法
RU98110367A (ru) Термоэлектрический модуль и способ его изготовления
US3141226A (en) Semiconductor electrode attachment
JPS6016096B2 (ja) 半導体装置の製造法
WO1991008582A1 (en) Ohmic electrode of n-type cubic boron nitride and method of forming the same
US3453501A (en) Metallization of silicon semiconductor devices for making ohmic connections thereto
JPH10335259A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPS5811096B2 (ja) ハンドウタイソシノ パツケ−ジヘノセツチヤクホウホウ
US4613890A (en) Alloyed contact for n-conducting GaAlAs-semi-conductor material
JPH0139222B2 (ja)
JPS61256766A (ja) 化合物半導体用電極
US3702787A (en) Method of forming ohmic contact for semiconducting devices
JPS6220338A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS59189625A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS5932890B2 (ja) シヨツトダイオ−ドの電極形成方法
JPS60113954A (ja) 半導体基板とヒ−トシンクとの固着方法
JPH06204513A (ja) 太陽電池用オーミック電極の形成方法
JP4055399B2 (ja) チップ型半導体素子及びその製造方法
JPS5941867A (ja) 貫通穴を有するセラミックス部品の製造方法
JPH0670981B2 (ja) 電極形成方法
JPS5845833B2 (ja) シヨツトキバリヤ半導体装置
JPH0637301A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPS5849023B2 (ja) 半導体装置の製法
JPS63161631A (ja) シリコン半導体素子