JPS62203010A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPS62203010A JPS62203010A JP4417586A JP4417586A JPS62203010A JP S62203010 A JPS62203010 A JP S62203010A JP 4417586 A JP4417586 A JP 4417586A JP 4417586 A JP4417586 A JP 4417586A JP S62203010 A JPS62203010 A JP S62203010A
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- Japan
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- resistor
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- measuring device
- light receiving
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、測距装置に関し、特に自動焦点式カメラに使
用して好適な測距装置に関する。
用して好適な測距装置に関する。
［従来の技術］
従来、この種の装置として、発光素子から発せられた光
を測距対象に向けて投射し、その反射光を隣接先買され
た２つの受光素子で受光する三角測距方式の測距装置が
知られている。
を測距対象に向けて投射し、その反射光を隣接先買され
た２つの受光素子で受光する三角測距方式の測距装置が
知られている。
第５図は、従来の自動焦点式カメラに使用されている測
距装置の受光回路部分を示す。同図の回路は、フォトダ
イオード等の受光素子Ｓ １．Ｓ ２、受光素子Ｓ １
．Ｓ ２のそれぞれに直列接続された光信号検出用抵抗
Ｒ１，Ｒ２、受光素子Ｓｔ、Ｓ２と抵抗Ｒ１，Ｒ２との
各直列回路に直流電圧Ｖｃｃを供給するバッテリ（図示
せず）、受光素子Ｓｌ、Ｓ２と抵抗Ｒ１，Ｒ２との接続
点に一端を接続されたコンデンサＣ１，Ｃ２、このコン
デンサＣ１，Ｃ２の他端に入力端を接続された増幅器Ａ
Ｉ、Ａ２、増幅器Ａ Ｉ、Ａ ２の出力端とバッテリの
負側端子との間に順方向接続された対数圧縮ダイオード
Ｄｉ、Ｄ２、差動増幅器Ａ３、そしてコンパレータＣＰ
Ｉ〜ＣＰ４等を備えている。
距装置の受光回路部分を示す。同図の回路は、フォトダ
イオード等の受光素子Ｓ １．Ｓ ２、受光素子Ｓ １
．Ｓ ２のそれぞれに直列接続された光信号検出用抵抗
Ｒ１，Ｒ２、受光素子Ｓｔ、Ｓ２と抵抗Ｒ１，Ｒ２との
各直列回路に直流電圧Ｖｃｃを供給するバッテリ（図示
せず）、受光素子Ｓｌ、Ｓ２と抵抗Ｒ１，Ｒ２との接続
点に一端を接続されたコンデンサＣ１，Ｃ２、このコン
デンサＣ１，Ｃ２の他端に入力端を接続された増幅器Ａ
Ｉ、Ａ２、増幅器Ａ Ｉ、Ａ ２の出力端とバッテリの
負側端子との間に順方向接続された対数圧縮ダイオード
Ｄｉ、Ｄ２、差動増幅器Ａ３、そしてコンパレータＣＰ
Ｉ〜ＣＰ４等を備えている。
次に、第５図の回路の動作を説明する。測距時は、図示
しない発光素子がパルス的に駆動され、単数または複数
のパルス光を出射する。この光は図示しない被写体に照
射され、該被写体で反射される。被写体からの反射光は
図示しないレンズを介して受光素子Ｓｌ、Ｓ２に入射し
、各受光素子５１、Ｓ２の抵抗値が変化して抵抗Ｒ１，
Ｒ２の端子間に被写体の距離に応じたパルス信号ＶＰＩ
、ＶＦ６が発生する。これらのパルス信号ＶＰＩ 、
ＶＦ６はコンデンサＣ１，Ｃ２によって被写体等からの
外光による直流電圧成分ＶＤＩ 、ＶＤ２から分離され
、増幅器Ａ ｌ、Ａ ２によって増幅され、ダイオード
Ｄ１゜Ｄ２によって対数圧縮された後、差動増幅器Ａ３
に入力される。これにより、差動増幅器Ａ３は上記２つ
のパルス信号電圧の比ＶＰ２／ＶＰＩ、すなわち被写体
までの距離に応じた電圧■、を出力する。コンパレータ
ＣＰＩ〜ＣＰ４ではこの出力電圧ＶＡをそれぞれ異なる
参照電圧ＶＳＩ〜ＶＳ４と比較する。各コンパレータＣ
ＰＩ〜ＣＰ４の出力は図示しないレンズ駆動回路に供給
される。レンズ駆動回路においてはこれらのコンパレー
タＣＰＩ〜ＣＰ４の出力の論理演算を行ない、その演算
結果に応じて撮影レンズを駆動し、自動焦点合せ（ＡＦ
）を実行する。
しない発光素子がパルス的に駆動され、単数または複数
のパルス光を出射する。この光は図示しない被写体に照
射され、該被写体で反射される。被写体からの反射光は
図示しないレンズを介して受光素子Ｓｌ、Ｓ２に入射し
、各受光素子５１、Ｓ２の抵抗値が変化して抵抗Ｒ１，
Ｒ２の端子間に被写体の距離に応じたパルス信号ＶＰＩ
、ＶＦ６が発生する。これらのパルス信号ＶＰＩ 、
ＶＦ６はコンデンサＣ１，Ｃ２によって被写体等からの
外光による直流電圧成分ＶＤＩ 、ＶＤ２から分離され
、増幅器Ａ ｌ、Ａ ２によって増幅され、ダイオード
Ｄ１゜Ｄ２によって対数圧縮された後、差動増幅器Ａ３
に入力される。これにより、差動増幅器Ａ３は上記２つ
のパルス信号電圧の比ＶＰ２／ＶＰＩ、すなわち被写体
までの距離に応じた電圧■、を出力する。コンパレータ
ＣＰＩ〜ＣＰ４ではこの出力電圧ＶＡをそれぞれ異なる
参照電圧ＶＳＩ〜ＶＳ４と比較する。各コンパレータＣ
ＰＩ〜ＣＰ４の出力は図示しないレンズ駆動回路に供給
される。レンズ駆動回路においてはこれらのコンパレー
タＣＰＩ〜ＣＰ４の出力の論理演算を行ない、その演算
結果に応じて撮影レンズを駆動し、自動焦点合せ（ＡＦ
）を実行する。
［発明が解決しようとする問題点］
ところで、上記構成において、ＡＦの精度を上げるため
には、 ０発光パワーを上げ被写体からの距離信号光を大きくす
る ■受光素子Ｓ１およびＳ２の光電変換効率を上げる ■系全体、特に入力側のノイズ成分を下げる等の対策が
考えられる。しかし、■、■は原理的に、■は物理的に
限界がある。
には、 ０発光パワーを上げ被写体からの距離信号光を大きくす
る ■受光素子Ｓ１およびＳ２の光電変換効率を上げる ■系全体、特に入力側のノイズ成分を下げる等の対策が
考えられる。しかし、■、■は原理的に、■は物理的に
限界がある。
また、■の代替手段として、Ｒ１，Ｒ２の抵抗値を大き
くして距離信号光を見掛上大きくする方法もしばしば採
られる。しかし、この方法にも限界がある。つまり、三
角測距を行なう２個の受光素子Ｓｔ、Ｓ２には外光によ
る電流Ｉ０と被写体距離信号光による電流ＩＰＩ＋ＩＰ
２が発生し、信号検出抵抗Ｒ１，Ｒ２の端子間にはそれ
ぞれＶｌ ＝ （Ｉｎ ＋ Ｉｐ＋）およびＶ２ ＝
（ＩＱ ＋ＩＰ□）なる電圧か発生する。
くして距離信号光を見掛上大きくする方法もしばしば採
られる。しかし、この方法にも限界がある。つまり、三
角測距を行なう２個の受光素子Ｓｔ、Ｓ２には外光によ
る電流Ｉ０と被写体距離信号光による電流ＩＰＩ＋ＩＰ
２が発生し、信号検出抵抗Ｒ１，Ｒ２の端子間にはそれ
ぞれＶｌ ＝ （Ｉｎ ＋ Ｉｐ＋）およびＶ２ ＝
（ＩＱ ＋ＩＰ□）なる電圧か発生する。
しかしながら、この抵抗Ｒ１に流れる電流は最大でもＶ
ｃｃ／Ｒ１であるから、外光量が１ ｏ １ ＝Ｖ ｃ
ｃ／ Ｒ１以上になると、抵抗Ｒ１の端子間電圧はＶ１
＝Ｖｃｃで飽和してしまい、信号光ＩＰ＋が流れようと
しても電圧ｖ１は変化せず、信号光ＩＰＩは検出されな
くなってしまう。これは、もう一方の受光素子Ｓ２およ
び抵抗Ｒ２についても同様である。つまり、このような
測距装置において、抵抗Ｒ１は、外光耐力（ダイナミッ
ク方が良いという相反する条件がある。このため、従来
の測距装置においてはこれらの外光耐力と信号光検出能
力との両立を図ることは困難であるという不都合があっ
た。
ｃｃ／Ｒ１であるから、外光量が１ ｏ １ ＝Ｖ ｃ
ｃ／ Ｒ１以上になると、抵抗Ｒ１の端子間電圧はＶ１
＝Ｖｃｃで飽和してしまい、信号光ＩＰ＋が流れようと
しても電圧ｖ１は変化せず、信号光ＩＰＩは検出されな
くなってしまう。これは、もう一方の受光素子Ｓ２およ
び抵抗Ｒ２についても同様である。つまり、このような
測距装置において、抵抗Ｒ１は、外光耐力（ダイナミッ
ク方が良いという相反する条件がある。このため、従来
の測距装置においてはこれらの外光耐力と信号光検出能
力との両立を図ることは困難であるという不都合があっ
た。
本発明の目的は、上記従来形における問題点に鑑み、測
距装置において、外光耐力と信号光検出能力とを両立し
て向上させることにある。
距装置において、外光耐力と信号光検出能力とを両立し
て向上させることにある。
［問題点を解決するための手段］
上記目的を達成するため本発明では、発光素子から発せ
られた光を測距対象に向けて投射し、その反射光を受光
素子で受光し、この受光素子の電流をこの受光素子と直
列に接続した抵抗の端子間電圧に変換して検出する測距
装置において、上記抵抗の抵抗値を外光レベルに応じて
可変することを特徴とする。
られた光を測距対象に向けて投射し、その反射光を受光
素子で受光し、この受光素子の電流をこの受光素子と直
列に接続した抵抗の端子間電圧に変換して検出する測距
装置において、上記抵抗の抵抗値を外光レベルに応じて
可変することを特徴とする。
［発明の作用および効果］
上記構成によれば、通常時は抵抗値を高くして信号光検
出能力を向上させることができるとともに、外光のレベ
ルが高くなったときは抵抗値を低くすることにより、距
離信号光を検出することができないという事態を避ける
ことができる。すなわち、外光耐力も併せて向上させる
ことができる。
出能力を向上させることができるとともに、外光のレベ
ルが高くなったときは抵抗値を低くすることにより、距
離信号光を検出することができないという事態を避ける
ことができる。すなわち、外光耐力も併せて向上させる
ことができる。
［実施例ゴ
以下、図面により本発明の詳細な説明する。
第１図は、本発明の一実施例に係る測距装置の要部の構
成を示す。同図においては受光部として第５図の回路の
左上部に対応するもののみを図示しているが、回路全体
としては第５図の回路の左下部に対応して第１図のもの
と同様の受光部がもう１つ設けられている。なお、第１
図において第５図と共通または対応する部分については
同一の符号で表わす。第１図の回路は、第５図の回路に
対し、抵抗Ｒ１を抵抗Ｒ１ＡとＲＩＢとに分割し、一方
の抵抗ＲＩＢを光導電素子（Ｃｄ Ｓ）で置き換えたも
のである。
成を示す。同図においては受光部として第５図の回路の
左上部に対応するもののみを図示しているが、回路全体
としては第５図の回路の左下部に対応して第１図のもの
と同様の受光部がもう１つ設けられている。なお、第１
図において第５図と共通または対応する部分については
同一の符号で表わす。第１図の回路は、第５図の回路に
対し、抵抗Ｒ１を抵抗Ｒ１ＡとＲＩＢとに分割し、一方
の抵抗ＲＩＢを光導電素子（Ｃｄ Ｓ）で置き換えたも
のである。
第１図の回路においては、受光素子Ｓ１に入射する外光
が少ないときは、光導電素子Ｒ０Ｂに入射する光量（外
光）も少ない。従って、この場合は抵抗値ＲＩＡ＋ Ｒ
＋ａ （＝ Ｒ１）が大きいため、信号光検出能力が高
い。一方、受光素子Ｓ１に入射する外光が多いときは、
光導電素子ＲＩＢに入射する光量（外光）も多い。従っ
て、この場合は抵抗値ＲＩＡ＋ ａｌｌｌ （＝ Ｒ１
）が小さいため、外光耐力が高い。すなわち、第１図の
回路によれば、外光輝度に対する抵抗Ｒ１の端子電圧■
１特性は第２図に示すようになり、信号光検出能力と外
光耐力との両立を図ることができる。
が少ないときは、光導電素子Ｒ０Ｂに入射する光量（外
光）も少ない。従って、この場合は抵抗値ＲＩＡ＋ Ｒ
＋ａ （＝ Ｒ１）が大きいため、信号光検出能力が高
い。一方、受光素子Ｓ１に入射する外光が多いときは、
光導電素子ＲＩＢに入射する光量（外光）も多い。従っ
て、この場合は抵抗値ＲＩＡ＋ ａｌｌｌ （＝ Ｒ１
）が小さいため、外光耐力が高い。すなわち、第１図の
回路によれば、外光輝度に対する抵抗Ｒ１の端子電圧■
１特性は第２図に示すようになり、信号光検出能力と外
光耐力との両立を図ることができる。
第３図は、本発明の他の実施例に係る第１図と同様の回
路図である。同図の回路は、第１図の回路に対し、光導
電素子ＲＩＢの代わりに固定抵抗Ｒ１ｃを接続し、この
固定抵抗ＲＩＣの両端子間にトランジスタＴＲＩのコレ
クタおよびエミッタを接続し、このトランジスタＴＲＩ
のベースには図示しない自動露出回路の明るさ検出信号
を印加するようにしている。さらに、増幅器Ａ１の増幅
率を決定する帰還抵抗Ｒｇｌと並列に抵抗Ｒｇ２とトラ
ンジスタＴＲ２のコレクタ・エミッタとの直列回路を接
糸充し、トランジスタＴＲ２のベースにもトランジスタ
ＴＲＩ と同様に明るさ検出信号を印加するようにして
いる。
路図である。同図の回路は、第１図の回路に対し、光導
電素子ＲＩＢの代わりに固定抵抗Ｒ１ｃを接続し、この
固定抵抗ＲＩＣの両端子間にトランジスタＴＲＩのコレ
クタおよびエミッタを接続し、このトランジスタＴＲＩ
のベースには図示しない自動露出回路の明るさ検出信号
を印加するようにしている。さらに、増幅器Ａ１の増幅
率を決定する帰還抵抗Ｒｇｌと並列に抵抗Ｒｇ２とトラ
ンジスタＴＲ２のコレクタ・エミッタとの直列回路を接
糸充し、トランジスタＴＲ２のベースにもトランジスタ
ＴＲＩ と同様に明るさ検出信号を印加するようにして
いる。
次に、第４図の外光輝度に対する光信号検出用抵抗Ｒ１
の端子間電圧■１で表わした人出力特性図を参照しなが
ら第３図の回路の作用を説明する。この回路においては
、受光素子ＳＮに人ｎすする外光輝度が低いときは、ト
ランジスタＴＲＩがオフする。従って受光素子Ｓ１の電
流を検出するための抵抗値Ｒｌ （＝ ＲＩＡ ＋
Ｒ＋ｃ）が大きくなり、入出力特性が信号光検出能力の
高い側（第４図の実線）に切り換わる。一方、受光素子
Ｓ１に入射する外光輝度が高いときは、トランジスタＴ
ＲＩかオンして抵抗ＲＩＣを短絡する。このため、受光
素子Ｓ１の電流を検出するための抵抗値Ｒ１（＝Ｒ＋Ａ
）が低くなり、入出力特性は外光耐力の高い側（第４図
の破線）に切り換わる。すなわち、通常時の信号光検出
能力を高く設定することができ、かつ高輝度時の外光耐
力を確保することができる。
の端子間電圧■１で表わした人出力特性図を参照しなが
ら第３図の回路の作用を説明する。この回路においては
、受光素子ＳＮに人ｎすする外光輝度が低いときは、ト
ランジスタＴＲＩがオフする。従って受光素子Ｓ１の電
流を検出するための抵抗値Ｒｌ （＝ ＲＩＡ ＋
Ｒ＋ｃ）が大きくなり、入出力特性が信号光検出能力の
高い側（第４図の実線）に切り換わる。一方、受光素子
Ｓ１に入射する外光輝度が高いときは、トランジスタＴ
ＲＩかオンして抵抗ＲＩＣを短絡する。このため、受光
素子Ｓ１の電流を検出するための抵抗値Ｒ１（＝Ｒ＋Ａ
）が低くなり、入出力特性は外光耐力の高い側（第４図
の破線）に切り換わる。すなわち、通常時の信号光検出
能力を高く設定することができ、かつ高輝度時の外光耐
力を確保することができる。
また、第３図の回路では、トランジスタＴＲ２によって
増幅器Ａ１の増幅率を切り換えるようにしている。つま
り、外光輝度の高いとぎはこのトランジスタＴＲ２を上
記用るさ検出信号によりオンして増幅器Ａ１の帰還抵抗
Ｒｇｌに抵抗Ｒｇ２を並列接続し、上記光検出用抵抗Ｒ
１を小さくしたことにより光検出能力（利得）が減少し
た分だけ増幅器Ａ１の利得を高くしている。
増幅器Ａ１の増幅率を切り換えるようにしている。つま
り、外光輝度の高いとぎはこのトランジスタＴＲ２を上
記用るさ検出信号によりオンして増幅器Ａ１の帰還抵抗
Ｒｇｌに抵抗Ｒｇ２を並列接続し、上記光検出用抵抗Ｒ
１を小さくしたことにより光検出能力（利得）が減少し
た分だけ増幅器Ａ１の利得を高くしている。
第１図は、本発明の一実施例に係る測距装置の部分回路
図、 第２図は、第１図の回路の外光輝度（Ｉｏ）対光信号検
出用抵抗端子間電圧（Ｖｌ ）で表わした人出力特性図
、 第３図は、本発明の他の実ｇｈ例の部分回路図、第４図
は、第３図の回路の外光輝度（Ｉｏ）対光信号検出用抵
抗端子間電圧（Ｖｌ ）で表わした人出力特性図、 第５図は、従来の測距装置の要部回路構成図である。 Ｓｌ 、 Ｓ２ ：受光素子、 Ｒ１、Ｒ２、ＲＩＡ 、Ｒ，ｃ：光信号検出用抵抗、Ｒ
１，：光導電素子、 ＴＲＩ 、ＴＲ２： トランジスタ、 Ａｌ 、 Ａ２ ：増幅器、 Ｒｇｌ 、Ｊ２：帰還抵抗、 Ｄｉ 、 Ｄ２ ：対数圧縮ダイオード、Ａ３ ：差
動増幅器、 ＣＰＩ〜ＣＰ４：コンパレータ、 Ｖ ＣＣ：直流電源電圧。 し 第３図 第４図
図、 第２図は、第１図の回路の外光輝度（Ｉｏ）対光信号検
出用抵抗端子間電圧（Ｖｌ ）で表わした人出力特性図
、 第３図は、本発明の他の実ｇｈ例の部分回路図、第４図
は、第３図の回路の外光輝度（Ｉｏ）対光信号検出用抵
抗端子間電圧（Ｖｌ ）で表わした人出力特性図、 第５図は、従来の測距装置の要部回路構成図である。 Ｓｌ 、 Ｓ２ ：受光素子、 Ｒ１、Ｒ２、ＲＩＡ 、Ｒ，ｃ：光信号検出用抵抗、Ｒ
１，：光導電素子、 ＴＲＩ 、ＴＲ２： トランジスタ、 Ａｌ 、 Ａ２ ：増幅器、 Ｒｇｌ 、Ｊ２：帰還抵抗、 Ｄｉ 、 Ｄ２ ：対数圧縮ダイオード、Ａ３ ：差
動増幅器、 ＣＰＩ〜ＣＰ４：コンパレータ、 Ｖ ＣＣ：直流電源電圧。 し 第３図 第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、測距対象に向けて光を投射する発光素子と、該測距
対象からの反射光を受光する受光素子と、該受光素子に
直列に接続された第１の抵抗と、該受光素子および抵抗
の直列回路に電圧を印加する直流電源と、該抵抗に生じ
る電圧を検出する測距信号検出回路と、該受光素子への
入射光量に応じて該抵抗の抵抗値を可変する手段とを具
備することを特徴とする測距装置。 ２、前記抵抗値可変手段が、前記第１の抵抗に代えて、
または該抵抗と直列もしくは並列に接続された光導電素
子である特許請求の範囲第１項記載の測距装置。 ３、前記抵抗値可変手段が、前記受光素子へ入射するの
と同等の外光量を検出する外光量検出回路と、該検出回
路の出力に基づいてオン・オフするスイッチング素子と
、該スイッチング素子を介して前記第１の抵抗と直列も
しくは並列に接続される第２の抵抗とを具備する特許請
求の範囲第１項記載の測距装置。 ４、自動露出装置とともにカメラに取付けられた測距装
置であって、前記外光量検出回路として該自動露出装置
に備えられた検出回路を兼用した特許請求の範囲第３項
記載の測距装置。 ５、前記スイッチング素子のオン・オフによる抵抗値切
換えと連動して前記測距信号検出回路の利得を切換える
特許請求範囲第３または４項記載の測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4417586A JPS62203010A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4417586A JPS62203010A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62203010A true JPS62203010A (ja) | 1987-09-07 |
Family
ID=12684241
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4417586A Pending JPS62203010A (ja) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62203010A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0212215A (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-17 | Seikosha Co Ltd | カメラ用距離検出装置 |
| US11208230B2 (en) | 2019-06-27 | 2021-12-28 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Printing apparatus including optical sensor located at conveying region through which label passes |
-
1986
- 1986-03-03 JP JP4417586A patent/JPS62203010A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0212215A (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-17 | Seikosha Co Ltd | カメラ用距離検出装置 |
| US11208230B2 (en) | 2019-06-27 | 2021-12-28 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Printing apparatus including optical sensor located at conveying region through which label passes |
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