JPS62202491A - マスク応力除去特性を有するマスク組立体 - Google Patents

マスク応力除去特性を有するマスク組立体

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JPS62202491A
JPS62202491A JP61249795A JP24979586A JPS62202491A JP S62202491 A JPS62202491 A JP S62202491A JP 61249795 A JP61249795 A JP 61249795A JP 24979586 A JP24979586 A JP 24979586A JP S62202491 A JPS62202491 A JP S62202491A
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substrate
slot
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JP61249795A
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ロバート・エイ・ブードロー
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    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C16/042Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、薄膜型表示パネル等の#膜デバイスに関する
ものであシ、特には薄膜デバイスの為の薄膜構造体パタ
ーンの付着方法及びそこで使用されるマスク組立体に関
する。
本件出願人に係る同日出願「シャドウマスクによるBL
@極パターンの自動精密整合用機構」において、イン−
ライン付着システムにおいて操作されている間に基板へ
のシャドウマスクの遠隔制御された完全自動整合を可能
ならしめる機構が開示されている。
更に、本件出願人に係る同日出願「7I!!膜型gLデ
バイスにおいて電極構造体をパターン形成する為のマス
ク」においては、マスク構造体及びそうしたマスク構造
体を使用する!#膜梨型エレクトロルミネセンスEL)
デバイスの為の電極構造体を作成する方法が開示されて
いる。
これらと併せて、本発明は、薄膜デバイスにおける薄膜
構造体パターン形成技術の向上を図るものである。
発明の背景 N脱型表示パネル(LCD或いはエレクトロルミネセン
スのような)は、交差電極を含む薄膜構造体がガラス基
板上に付着できそれにより個々の画素を励起或いは発光
化するべく選択的に付勢されうるマトリックス表示パネ
ルを提供しうるが故に、情報を表示するのに非常に有用
な手段として知られてきた。薄膜型表示パネルの作製に
おいてこれまで遭遇した問題の1つは、薄膜電極構造体
をパターン形成するプロセスの開発である。
大半の薄膜型デバイスは、それらの薄膜構造体をホトリ
ソグラフィ(写真製版、光食刻)として知られる湿式プ
ロセスによシ或いはシャドウマスク法によシバターン形
成してきた。ホトリソグラフィは、パターン形成される
べき付着層が感光性材料で被覆され、その後ネガ或いは
ポジパターンに露光されて現像されそして後様々の腐食
性現像用溶液中で剥離される点で、写真現象に使用され
るプロセスに非常に類似している。
この方法の欠点は、それが時間がかか)、そして労力の
集約を要しそして各段階が薄膜デバイスの破損或いは汚
染の危険性下にある多数の段階と関与することである0 薄g!構造体を付着する為にシャドウマスクを使用する
ことに関しては、例えば米国特許第4,335,161
号「薄膜トランジスタ、薄膜トランジスタアレイ及びそ
の作製方法」全参照されたい。概述すると、この特許は
、単一の開口付きマスクを通して異った要素を真空中で
付着することによシ薄膜トランジスタ或いは薄膜トラン
ジスタのアレイ七作製する方法を開示し、ここでは開口
付きマスクは要素の各々の付着の論所定のパターンにお
いて移動される。この方法において、半導体材料はマス
クを通して付着されそして後マスクがマスクにおける開
口の最長寸法に等しい距離一つの方向に移動される。薄
膜トランジスタ形成プロセス全体全通して、マスクは様
々の方向に何度か移動される。こうして形成される組立
体は真空から取出されそして作製工程はホトリソグラフ
ィのような技術によシ完成される。
この特許によシ示されるように、シャドウマスク技術は
通常、特定の基板との一様な接触を保証するよう手動的
に把持しうる剛性マスクを使用して小さな基板上で実施
された。これは、比較的時間を要するプロセスであシ、
そして通常付着室内で真空を解除するとと全必要とし、
成る種の薄膜汚染をもたらす。大表面積マスクを通して
付着する時には、基板はその周囲基板ホルダに対して完
全に平坦でないか或いは同水準になしえないのが一般的
である。
本発明は、イン−ライン付着システムにおいて広表面積
シャドウマスクの遠隔自動取扱いの困難さから生ずるこ
うした問題や他の問題に対処する。
ホトリソグラフィの使用なく薄膜構造体を生成しうるよ
うな方法が開発、されれば、それは薄膜構られる。加え
て、付着操作中マスクにおける応力を除去しつつマスク
を支持する機構は斯界の有意餞なる進展に寄与すると信
ぜられるO 発明の目的 従って、本発明の主たる目的は、薄膜構造体付着技術特
に薄膜型表示パネルに関与する技#iを向上することで
ある。
本発明のまた別の目的は、薄膜デノ(イスにおける薄膜
構造体、特に表示パネルにおける電極構造体をパターン
形成する為のマスク組立体を提供することである。
本発明の更に別の目的は、付層操作中マスクにおける応
力を除去しつつマスクを支持する手段を具備するマスク
組立体の使用と関与する、電極構造体パターン付着方法
を提供することである。
発明の概要 本発明の一様相に従えば、少くとも基板上具備する薄膜
デバイスに対して薄膜構造体の)くターン形成の為のマ
スク組立体が提供される。このマス〃鉗立体け、所宗の
開口パターンを具備しそして該開口を取巻いて配置され
る縁取部分を備える金属質インナーシャドウマスク部分
を含む。加えて、金属質アウターマスク部分がインナー
マスク部分の周囲に且つ同一平面で位置づけられる。更
に、このマスク組立体は、薄膜構造体の付着操作中イン
ナーマスク部分における応力を除去しつつインナーマス
ク部分を支持する為の手段を含んでいる。
この支持手段はインナー及びアウターマスク部分間にそ
れらと作用接触状態で配置される。
本発明のまた別の様相に従えば、少くとも基板を具備す
る薄膜デバイスに対して薄膜構造体パターンを付着する
方法が提供される。この方法は、所定の冊ロバターンを
有しそして該開口を取巻いて配置される縁取部分を備え
る金属質インナーシャドウマスク部分と、該インナーシ
ャドウマスク部分の周囲に同一平面で位置づけられる金
属質アウターマスク部分と、薄膜構造体の付着操作中前
記インナーシャドウマスク部分における応力を除去しつ
つ該インナーシャドウマスク部分を支持する手段とを備
え、該支持手段を前記インナー及びアウターマスク部分
間にそれらの接触状態に配置して成るマスク組立体を用
意する段階から始まる0本方法はまた、基板の一方側に
マスク組立体を位置決めしそしてインナーシャドウマス
ク部分をそこに応力を惹起することなく基板と作用上接
触状態に保持するよう基板のマスク組立体とは反対側に
ibあって磁石を位置決めすることを含んでいる。本方
法は更に、インナーマスク部分の開口を通して薄膜構造
体材料を真空下で付着し、それにより基板上に薄膜構造
体を形成することを含む。
発明の詳細な説明 本発明の教示は、イン−ライン真空付着プロセスにおい
て広面積のシャドウマスクの遠隔自動取扱いの困難さか
ら生じた新たな問題に対処するものである。本発明は、
マスク組立体を2つの要素、即ちシャドウマスクを保持
するものとパターン形成を行うもの(即ちシャドウマス
ク)とに分ける。
パターン形成を行う部分はマスクを保持する要素から構
造的に解放されるので、マスクは基板に沿って自在に載
置され、本来意図された通シのパターンを生成する。こ
の分離なくしては、マスク及び基板のマスク形成@構に
よる非常に骨の折れるそして注意深い整合をたとえ行っ
ても、ぶれたシぼやけたパターンが生じる。この分離を
行うことによって、機械的整合はもはや主因子ではなく
なシそして再現性のある、良好な分解能のパターンが付
着されうる。僅か数十分の1インチのマスク組立体のパ
ターン形成部分におけるしわ寄)でも、許容しえないぶ
れ等を発生しそして電極として機能する薄膜構造体間の
短絡をもたらす。薄膜デバイス用の薄膜電極はまたそれ
らの寸法形状特性によシバターン化困難である。即ち、
電極は一つのパターンにおいて通常非常に多数存在しく
代表的に約500〜1000)そして数十分の1インチ
しか雅量せず、それぞれに異った電位を有しそして5〜
10インチ(12,7〜25.41)の電極長さを有し
ている。本発明者は、マスク組立体の中央パターン形成
部分をその外側の機械的取付帯域から構造的に解放する
ことによって、良好なパター−7ちフ月1九ムーマブ力
ル立がムーるつプム待者訃スことに伴う困難さの大半は
排除されることを見出したものである。
第1図を参照すると、′IJi模型デバイスにおいて薄
膜構造体を形成する為の付着プロセスにおいて代表的に
使用されるシャドウマスク10が例示される。本発明の
教示を利用するマスク型式は代表的に所定の開口パター
ンを有する薄い金属シートから成シ、これら開口を通し
て薄膜構造体材料が付着される。本発明において使用さ
れるシャドウマスクの例は、エレクトロルミネセンス(
EL)デバイスにおける薄膜電極構造体を形成する目的
の開口パターンを具備するマスクである。シャドウマス
ク10は、縁取部分12、電極形成部分14及び電極パ
ッド形成部分16から成る。シャドウマスク10は、ホ
トリックラフイ技法を使用してエツチングされた金属素
材の均質片から作製される。
第2図を参照すると、シャドウマスクをその一部として
具備するマスク組立体20が例示されている。マスク組
立体20は、所定の開口パターン及び該開口周囲に配置
される縁取部分を有する金属質インナーシャドウマスク
部分22(例えばマスク10);インナーマスク部分2
2の周圧に且つそれと同一平面で位置づけられる金属質
アウターマスク部分24;及び薄膜構造体の付着操作中
インナーマスク部分22における応力を除去しつつイン
ナーマスク部分22合支持する手段であって、インナー
及びアウターマスク部分間にそれらと作用接触状態に配
置される支持手段から構成される。マスク組立体20の
支持手段はスロット手段26と連結手段28とを含み、
スロット手段26はインナーマスク部分22の周囲に沿
って延びそして連結手段28はインナーマスク部分22
とアウターマスク部分24との間にそれらと接触して配
置される。マスク組立体20は、シャドウマスクを、パ
ターン全基板上に付着するべき時基板に14D6つてど
のように支持するかの一例である。第2図はまた、付着
プロセスにおいて付着装置と共に使用するに際しマスク
組立体20を支持するのを助成する取付孔50會も例示
する。
マスク組立体20の支持手段に関連して、スロット手段
26は、インナーマスク部分22の縁取部分12とアウ
ターマスク部分24との間でマスク組立体20にエツチ
ングされた少くとも1つの薄く狭いスロットを含み、こ
のスロットはインナーマスク部分22の実質上はぼ周辺
に沿って延在する。第2図において、連結手段28は、
インナー及びアウターマスク部分に隣接する2つの金属
質部片を含み、これら金属質部片の各々はスロット手段
26内で且つインナーマスク部分の対向側で配置される
。連結手段28のまた別の具体例において、インナー及
びアウターマスク部分に隣接する少くとも1つの単一金
属片を備えるよりにすることも可能であシ、この金属片
はスロット手段26内に配置される。インナーマスク部
分の自由度を更に一層増大する為にマスク組立体にエツ
チングされうるスロットの寸法と数を変更することが可
能である。恒久的なアウターマスク形状の治具を使用し
て、別々のインナーマスクを2つの小さな点においての
みそこに結合するようにも為しえ、それによ)インナー
マスクを取巻くマスク組立体の金属部分にスロットヲエ
ッチングする必要性を排除することが出来る。しかし、
すべての具体例において、インナーマスクを付層設備に
jl!II着されるそのアウターマスク部分から機械的
に解放状態に独立させるととが基本要件として存在する
ここで第3〜5囚t″参照すると、マスク10の構造の
詳細を例示する目的の為マスク10の一部の拡大図が例
示されている。第3図は、縁取部分12、電極形成部分
14及び電極パッド形成部分16を詳細に示す。マスク
10は構造的に複数の金属質ストリップ32と一連の相
互連結用アーチ式ブリッジ34とから成シ、これらは所
定のパターンの細長開口56を画成する。縁取部分12
は金属ストリップ32の周囲にそれらと接触して配置さ
れる。第4図はそうしたストリップ32を相互連結用ブ
リッジ34及び細長開口36と共に拡大して示す。第5
図はシャドウマスク10が基板38)−性用)−IBM
状部に位置・決めされふ時ストリする。加えて、ブリッ
ジ34は基板44の表面から離間された状態でス) I
Jツブ32に対する支持を提供する。第5図はまた、シ
ャドウマスクがアウターマスク部分に対して可撓性があ
るならそれが基板に密接して平坦に載置しりる様相をも
例示する。
マスク組立体20を形成するに当って、金属素材の均質
片が、第1及び2図に例示されるマスク組立体を形成す
るべくホトリソグラフィック技法を使用してエツチング
される。インナー及びアウターマスク部分は共に同詩に
一回のエツチング段階で形成される。第3〜5図に例示
される特定マスクを形成するに当シ、−側からブリッジ
パターンを有する金属シートを通して途中までエツチン
グ(ハーフエッチ)しそして他側からブリッジのない金
属パターンを有する金属シー)k通して途中までエツチ
ング(八−7エツチ)することから成るディファレンシ
ャル(差異)エツチングが使用される。これは、構造的
に丸味のついた輪郭を除する(第4及び5図)。八−フ
ェッチされたアーチ状ブリッジはブリッジの下側に付着
が生じることを可能とするので、速読した切れのない電
極が一回の付着操作でパターン形成されうる。マスク1
0は単−金屑シート製であるから、マスクは離層せずそ
してマスクは薄膜構造体が付着されるべき基板の膨張性
質に熱的にマツチする材料製とされうる。加えて、この
単一金属製マスクは化学的に耐性がちシまた磁気的に吸
引性のあるものとされる。
シャドウマスク10は基板上に付着されるべき材料の形
状に丸みのある輪郭を与えることが出来、そしてホトリ
ソグラフィプロセスに較べる時車一段ですも簡単なパタ
ーン形成プロセスを可能ならしめる。
ここで第6A及び6B図全参照すると、第6A図には、
第2図で例示されたマスク組立体2oを支持する為の、
そして特に薄膜構造体が付着されるべき基板に騎°夛あ
って且つそれと作用上接触状態にインナーマスク部分2
2t−維持する為のマスク整合機構40が例示されてい
る。機構40は、との場合2つの基板44を担持する基
板キャリヤ42、マスクフレームホルダ46及びマスク
フレーム48から成る。第6B図において、基板44及
びマスク10を収納する機構40を含めて付着装置系が
例示される。機構40は、基板44の一方側において真
空付着装置50に露呈される。機構40の反対側には、
インナーマスク1分22t−基板44に密接して保持す
る為に機構40の一部に隣りあって位置決めされそして
それと作用上接触状態にあるものとされる磁石52が示
されている。装置50の詳細は米国特許第4.437.
966号に記載されている。
薄膜構造体として電極が形成される場合、好ましくは、
電極材料としては、透明電導性即ち金属酸化物材料及び
金属質材料が使用されうる。透明金属酸化物材料として
はインジウム・錫酸化物或いは酸化錫が挙げられ他方金
属材料としてはアル1ニウム或いはニッケルが挙げられ
る。
本発明の教示に従って、少くとも基板を有する薄膜デバ
イスに対して電極構造体のパターンを付着する方法につ
いて説明する。本方法は、所定の開口パターン及び該開
口周囲に配置される縁取部分を有する金属質インナーシ
ャドウマスク部分22(例えばマスク1o);インナー
マスク部分22の周囲に且つそれと同一平面で位置づけ
られる金属質アウターマスク部分24;及び薄膜構造体
の付着操作中インナーマスク部分22における応力を除
去しつつインナーマスク部分22を支持する手段であっ
て、インナー及びアウターマスク部分間にそれらと作用
接触状態に配置される支持手段から構成されるマスク組
立体2o含用意する段階から始まる。次の段階において
、マスク1゜は基板44の一方側に位置づけられる(第
6A図)。
次の段階において、磁石52が、インナーシャドウマス
ク部分22t−そこに応力全惹起することなく基板44
と接触状態に保持するよう(第5図参照)基板44のマ
スク組立体とは反対側にibあって位置決めされる。最
後に、第6B図に部分的に例示玄れふよりに、付差儒苦
5n外稲田ナスととによ)インナーマスク部分10C1
Nロ56全通して付着材料54が真空スパッタリング、
蒸着等され、それにより基板上に薄膜構造体を形成する
(例えば第7A図)。薄膜構造体は一回のポンプσ[き
段階により完全に付着され、従ってマスク組立体特にマ
スクは再整合の必要はない。
付着プロセスにおいて使用される時、マスク組立体は、
マスクフレームホルダ46の移動にょ)ガラス基板の表
面に機械的に持ちきたされ、磁石52がガラス基板44
にインナーマスクt−密s状独に保持するべく付勢され
るのでインナーマスク部分22は自ら自在に撓んでガラ
ス基板44の表面に沿って合致せしめられる。従って、
マスクフレーム及び7レームホルダへのマスクの不完全
ft付設から生じる応力からの干渉は最小限しか存在せ
ずまたこれまで存在した基板及びキャリヤの反シも存在
しない。マスク中に存在しうるしわは、アウターマスク
に拘束されることなくインナーマスクの縁辺まで自然に
伸びる。本発明の追加的利点は操作具の取扱いにおいて
本また白動馨を肺着での使用においてもマスク及びマス
ク組立体が物理的損傷から保護されることである。イン
ナー及びアウターマスク部分間の分離帯たるスロットは
am吸収部として作用してインナーマスク部分を保護す
るので、マスクは基板上に平らに載シそして付着操作に
先立って磁気的保持抑え力を適用する時たとえしわが存
在したとしても伸ばされ、もはや恒久的に縮んだシ、し
わが寄ったルしなくなる。この特徴を備える単一マスク
を使用しての多数の反覆的自動化マスク操作が成功裡に
完了された。
マスク組立体20の支持手段の寸法に関連して、スロッ
ト手段26は、インナーマスク部分22がアウターマス
ク部分24に対して自由に動ける限シ厚さを変更しうる
。連結手段28に関しても、インナーマスク部分とアウ
ターマスク部分とt−m互連結する部片の巾は使用され
るべきインナーマスクの寸法に依存して巾変更されうる
。例えば、マスク組立体20は約95インチ(2413
)X5.5インチ(i4x)の寸法金持つインナーマス
ク部分22を有した。使用した部片は約α375インチ
(9,55ml)の最大重を有した。巾はもつと長くな
しうるが、示されたよシ大きな巾はこの寸法のマスクに
対してインナマスク部分をアウターマスク部分に対して
拘束を強くしすぎよう。
もつと小さな或いはもつと大きなマスクはそれぞれ相応
的にもつと小さな或いはもつと大きな部片を必要としよ
うが、いずれの場合も部片中はインナーマスク位置のコ
ントロールを可能とする最小寸法に維持される。
上記方法において使用されるべきマスクは、薄膜デバイ
スにおける薄膜構造体一般の形成目的に対してはマスク
10に示されたもののようなものと為しうるが、そうし
た開口付きマスクはまた電極構造体或いは電極パッド接
点のような薄膜構造体を形成する目的でも形成されりる
。本方法の真空付着段階は主にスパッタリングを対象と
するが、蒸着或いは化学的蒸着(CVD)’iも含みう
る。
本方法は、イン−ラインシステムにおいて実施され従っ
て途中で真空を解除する必要はない。本方法は、インラ
イン方式でないシステムにおいても使用されうるが、そ
のようなシステムにおいては基板上に付着される層の汚
染が生じる危険がある。
発明の効果 本発明は、唯一回の付着段階でもって付着操作中しわ寄
シ或いは縮れによシ惹起される応力下にシャドウマスク
を置くことなく薄膜デバイス内に薄膜構造体を生成する
マスク方式の付着方法及びその為のマスク組立体を提供
する。上記マスク組立体及び方法は、加えて、こうした
薄膜構造体を有する′N膜デバイスの作製を簡易化しそ
して薄膜デバイスにおける汚染の発生率を低減する。
以上、本発明について説明したが、本発明の範囲内で多
くの改変を為しうろことを銘記されたい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のマスク組立体の一部として使用されう
るシャドウマスクの一例ヲ示す。 第2図はマスクを支持する為のマスク組立体の一例を示
す。 第3図は第1図のマスクの一部の拡大図である。 第4図は第3図の一部の拡大図である。 第5図は第1図のマスクの一部と基板とをブリッジに沿
って見た断面図である。 第6A図は、基板にシャドウマスクt−接触状態に支持
する機構の分解図である。 第6B図は、スパッタ装置系において上記機構を配置数
シを示す説明図である。   ′20:マスク組立体 22:インナーマスク部分 10:シャドウマスク 12:縁取部分 14:電極形成部分 16:電極パッド形成部分 24:アウターマスク部分 26:スロット手段 28:連結手段 32ニストリツプ 54ニブリツジ 36:細長開口 42:基板キャリヤ 44:基板 46:マスクフレームホルダ 48:マスクフレーム 50:真空付着装置 54:付着材料 52:磁石 図面の浄書(内容に変更なし) FIG、1 FIG、 5      ” FIG、6B 手続補正書(方式) %式% 事件の表示 昭和61年特願第249795号発明の名
称  マスク応力除去特性を有するマスク組立体補正を
する者

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)少くとも基板を具備する薄膜デバイスに対して薄膜
    構造体をパターン形成する為。マスク組立体であつて、
    所定の開口パターン及び該開口周囲に配置される縁取部
    分を有する金属質インナーシヤドウマスク部分;インナ
    ーマスク部分の周囲に且つそれと同一平面で位置づけら
    れる金属質アウターマスク部分;及び薄膜構造体の付着
    操作中インナーマスク部分における応力を除去しつつ該
    インナーマスク部分を支持する手段であつて、該インナ
    ー及びアウターマスク部分間にそれらと接触状態に配置
    される支持手段を包含するマスク組立体。 2)支持手段がスロツト手段と連結手段とを含み、該ス
    ロツト手段がインナーマスク部分周囲に沿つて伸延しそ
    して連結手段がインナー及びアウターマスク部分間にそ
    れらと接触状態で配置される特許請求の範囲第1項記載
    のマスク組立体。 3)スロツト手段がインナーマスク部分の縁取部分とア
    ウターマスク部分との間でマスク組立体にエツチングさ
    れた少くとも1つの薄く狭いスロツトを含み、該スロツ
    トが該インナーマスク部分の実質上周辺に沿つて伸延す
    る特許請求の範囲第2項記載のマスク組立体。 4)連結手段がインナー及びアウターマスク部分に近接
    しそしてスロツト手段内に配置される少くとも1つの単
    一金属部片を含む特許請求の範囲第3項記載のマスク組
    立体。 5)連結手段がインナー及びアウターマスク部分の近接
    する2つの金属質部片を含み、該金属部片の各々がスロ
    ツト手段内に且つインナーマスク部分の対向側に配置さ
    れる特許請求の範囲第5項記載のマスク組立体。 6)アウターマスク部分がその周辺に配置される一連の
    取付孔を具備する特許請求の範囲第1項記載のマスク組
    立体。  7)インナーマスク部分が電極構造体をパターン形成
    する為のマスクである特許請求の範囲第1項記載のマス
    ク組立体。  8)電極構造体が透明な金属酸化物から作製される特
    許請求の範囲第7項記載のマスク組立体。  9)電極構造体が金属質材料から作製される特許請求
    の範囲第7項記載のマスク組立体。  10)インナーマスク部分が電極パツド接点をパター
    ン形成する為のマスクである特許請求の範囲第7項記載
    のマスク組立体。  11)少くとも基板を具備する薄膜デバイスの為の薄
    膜構造体パターンを付着する方法であつて、所定の開口
    パターン及び該開口の周囲に配置される縁取部分を有す
    る金属質インナーシヤドウマスク部分;インナーマスク
    部分の周囲に且つそれと同一平面で位置づけられる金属
    質アウターマスク部分;及び薄膜構造体の付着操作中イ
    ンナーマスク部分における応力を除去しつつインナーマ
    スク部分を支持する手段であつて、インナー及びアウタ
    ーマスク部分間にそれらと作用接触状態に配置される支
    持手段を包含するマスク組立体を用意する段諧と、 前記マスク組立体を前記基板の一方側に位置決めする段
    階と、 前記インナーシヤドウマスク部分をそこへの応力を惹起
    することなく基板と接触状態に保持するよう該基板の前
    記マスク組立体とは反対側に隣りあつて磁石を位置決め
    する段階と、 薄膜構造材料を前記インナーマスク部分開口を通して基
    板上に真空下で付着し、それにより基板上に薄膜構造体
    を形成する段諧と を包含する薄膜構造体パターン付着方法。  12)支持手段がスロツト手段と連結手段とを含み、
    該スロツト手段がインナーマスク部分周囲に沿つて伸延
    しそして連結手段がインナー及びアウターマスク部分間
    にそれらと接触状態で配置される特許請求の範囲第11
    項記載の方法。  13)スロツト手段がインナーマスク部分の縁取部分
    とアウターマスク部分との間でマスク組立体にエツチン
    グされた少くとも1つの薄く狭いスロツトを含み、該ス
    ロツトが該インナーマスク部分の実質上周辺に沿つて伸
    延する特許請求の範囲第12項記載の方法。  14)連結手段がインナー及びアウターマスク部分の
    近接する2つの金属質部片を含み、該金属部片の各々が
    スロツト手段内に且つインナーマスク部分の対向側に配
    置される特許請求の範囲第12項記載の方法。  15)インナーマスク部分が電極構造体をパターン形
    成する為のマスクである特許請求の範囲第11項記載の
    方法。  16)インナーマスク部分が電極パツド接点をパター
    ン形成する為のマスクである特許請求の範囲第11項記
    載の方法。  17)薄膜構造体付着段階がイン−ラインシステムに
    おいて実施される特許請求の範囲第11項記載の方法。  18)真空付着段階が、スパツタリング、蒸着或いは
    化学的蒸着(CVD)を含む特許請求の範囲第11項記
    載の方法。
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