JPS62194408A - 複数のピンをもつ物品のピン曲がり検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、複数のピンをもつ電子部品の如き物品を適
宜に照明し、物品からの反射光をしかるべき方法にて集
光し、信号処理手段によりピンが曲がっている（ピン曲
がりとも云う。）か否かを判別して良否検査を行なう検
査装置に関する。

〔従来の技術〕

最近の電子部品製造技術の進歩に伴い、プリント基板に
電子部品を表面実装する手法が広く用いられている。中
でも第６図に示すようなピングリッドアレイ型のＬＳｌ
ｌｏは、高密度実装を実現する上で画期的な形状を有す
るものである。なお、同図（イ）はピングリッドアレイ
型ＬＳＩの正面図、（ロ）は同じく側面図、（ハ）は同
じく裏面図である。

ところで、このようなピングリッドアレイ型のＬＳＩ　
１０を実装する場合、その前提として該ＬＳＩの外観は
所定の規準を満足するものでなければならない。殊に、
ＬＳＩパッケージに植えつけられている多数のピン１１
が該パッケージの面に対し垂直の状態にあり曲がってい
ないという条件は、正しく実装する上で非常に重要であ
る。

第７図は、このようなピン曲がりの検査を行なうだめに
出願人が先に提案した検査装置（特願昭６０−２３５３
０１号；単に提案済装置ともいう。）を示す概念図であ
る。

すなわち、ＬＳｌｌｏは保持手段１５により吸着保持さ
れており、矢印で示すようにＬＳＩパッケージの正方形
面が一定平面内に存在するような形で、１回転回転する
ことができる。その平面と平行な方向に、照明手段１か
ら入射光６がＬＳｌｌｏのピンの側部に当たるように投
光される。集光手段２（こ〜では、例えばテレビカメラ
）は入射光乙の方向に対し、一定の角度αをなす反射光
７を集光するように配置されている。集光手段２で得ら
れた信号は、信号処理手段乙により処理され、ピンの曲
がりの有無が判別される。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところが、この提案済装置ではＬＳＩｌ０を機械的に１
回転させる必要があるだめ、機構が複雑となるばかりで
なく、１回転させるだけの判別時間を最低限必要とする
ので、高速処理の点でも問題があった。

したがって、この発明はより簡単な構成で、しかも高速
な良否判別が可能な検査装置を提供することを目的とす
る。

〔問題点を解決するための手段〕

被検査対象物を照明する照明手段と、対象物からの反射
光を受光する受光（集光）手段と、受光した反射光から
ピン曲がりの有無を判別する判別手段（信号処理手段）
とを設ける。

〔作用〕

提案済装置では照明手段および集光手段が各１つであっ
たため、被検査対象物をあらゆる角度から検査するのに
、該対象物を１回転させなければならなかった。これに
対し、この発明では該対象物の鉛直軸を中心軸とするあ
らゆる角度（１周３６０°分）から投光することができ
る照明手段と、同じくあらゆる角度において反射光を受
光することができる集光手段とを用いることにより、回
転機構を不要ならしめ、−瞬にして該対象物に関する情
報を得ようとするものである。要するに、従来１か所だ
けにあった照明・集光手段を、該対象物の周囲すべてに
すき間なく配置したものと云うことができる。

〔発明の実施例〕

第１図はこの発明の実施例を示す概要図である。

こ〜では照明手段１．集光手段２はいずれもリング状に
構成されており、第２図で模式的に示すように、その内
周１周にわたってすき間なく光ファイバー５の端Ａが配
置されている。光ファイバー５の他方の端Ｂけ一束にま
とめられ、照明手段１は光源４に接続され、集光手段２
け信号処理手段乙に接続されている。従って、端Ｂに光
源４を設置した場合、端Ａｆｆｌあらゆる角度（１周３
６ｏ。

分）から投光することができる照明系となる。また、端
Ｂに信号処理手段３を設置した場合、端Ａにおいてあら
ゆる角度からの光が集められ、それをひとまとめにした
端Ｂにおいて、信号処理手段３に光信号を伝達すること
ができる。こうして、互いに同じような形式の光フアイ
バー系が照明手段１にも集光手段２にも適用されている
。

第３図に照明手段１と集光手段２の断面図を示す。照明
手段１では光ファイバー５が水平に配置されており、図
のように水平に置かれたＬＳＩｌ０のピン１１に対し、
入射光６が水平に投光される。一方、集光手段２では、
光ファイバー５が水平に対し所定の角度αをなすように
配置されており、入射光乙のピン１１における反射光の
うち、仰角がαとなる反射光７が集光手段２の光ファイ
バー５に達する。

仰角がαとなる反射光７が生ずる過程の詳細を第４図に
示す。こ〜で、ピン１１はその鉛直軸Ｖから角度ψたけ
曲がっているものとして、とのビて傾いている。ピンの
側部１１ａは円柱状であるから第５図に示すように、入
射光６に対し仰角２θをなす反射光７が得られる。この
２０が第３図の集光手段２の光ファイバー５の配置角度
αに等しければ、この反射光７は集光手段２により集光
されるととＫなる。ところで、第４図からψ〉θである
。よって、上述のα＝２θという条件から、ψ〉豆であ
ればとのような接平面ｐは必ず存在する。このｐの鉛直
軸Ｖからの傾き方向と一致する方向をなす入射光６は、
あらゆる角度から投光可能な照明手段１（第１図ないし
第６図）を用いているので、必ず存在する。

α こうして、ピン１１０曲り角度ψが一以上であれば、集
光手段２に達する反射光７がピン１１の曲がりを示す情
報として得られる。従って、これを光フアイバー５経由
で第１図の信号処理手段３に伝達し、得られた光信号の
レベルが所定の基準値（理論的にけゼ四レベル）を越え
ればピン曲がり不良、さもなければ良品であるという簡
単な信号処理を施すことにより、ＬＳｌｌｏの良否判別
を行なうことができる。この種の処理は、光電変換素子
とアナログ比較器等を用いれば高速かつ容易に実施する
ことができるが、テレビカメラを備えた汎用画像処理装
置を適用することもできる。

なお、以上では照明手段および集光手段に光ファイバー
を用いるようにしたが、微小な発、受光素子を複数個用
いてリング状に形成することによっても上記と同等の機
能を持たせることができる。

〔発明の効果〕

この発明によれば、あらゆる角度から投光することがで
きる照明手段と、あらゆる角度において受光することが
できる集光手段とを用いたので何らの移動機構も必要と
せず、また信号処理手段としても簡単なものを用いるこ
とができ、従って電子部品の良否判別を高速かつ簡便に
実施できる利点がもたらされるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例を示す概要図、第２図は第１
図の光フアイバー系を示す模式図、第３図は第１図にお
ける照明手段と集光手段との関係を示す断面図、第４図
は第１図における入射光と反射光との関係を説明するだ
めの説明図、第５図は第４図における特別な場合を示す
側面図、第６図はピングリッドアレイ型ＬＳＩを示す構
造図、第７図は提案済装置を示す概念図である。 符号説明 １・・・・・・照明手段、２・・・・・・集光手段、３
・・・・・・信号処理手段、４・・・・・・光源、訃・
開光ファイバー、６・・・・・・入射光、７・・曲尺射
光、１ｏ・・・・・・ＬＳＩ。 １１・・・・・・ピン、１１ａ・・・・・・ピンの側部
、１５・曲・保持手段。 代理人　弁理士　並　木　昭　夫 代理人　弁理士　松　崎　　　　清 第４図 第６図 □６ 第５図 １０（ロ）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 複数のピンをもつ物品のピン曲がりを検査する検査装置
   であつて、 該物品をその鉛直軸を中心軸とするあらゆる角度から照
   明することが可能な照明手段と、 該鉛直軸を中心軸とするあらゆる角度において該物品か
   らの反射光を受光することが可能な受光手段と、 該受光手段から所定レベル以上の反射光が受光されるか
   否かによりピン曲がりの有無を判別する判別手段と、 を備えてなることを特徴とする複数のピンをもつ物品の
   ピン曲がり検査装置。