JPS62185364A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
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- JPS62185364A JPS62185364A JP61025900A JP2590086A JPS62185364A JP S62185364 A JPS62185364 A JP S62185364A JP 61025900 A JP61025900 A JP 61025900A JP 2590086 A JP2590086 A JP 2590086A JP S62185364 A JPS62185364 A JP S62185364A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0555—Shape
- H01L2224/05552—Shape in top view
- H01L2224/05554—Shape in top view being square
Landscapes
- Dram (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野〕
本発明は、半導体集積回路装置に関し、特に。
基準電圧用配線又は電源電圧用配線を有する半導体集積
回路装置に適用して有効な技術に関するものである。
回路装置に適用して有効な技術に関するものである。
半導体集積回路装置には、基準電圧用配線及び電源電圧
用配線が延在している。基準電圧用配線には例えば回路
の接地な位Vss=O[V]、電源電圧用配線には例え
ば回路の動作電圧Vcc=5[■]が夫々印加されてい
る。
用配線が延在している。基準電圧用配線には例えば回路
の接地な位Vss=O[V]、電源電圧用配線には例え
ば回路の動作電圧Vcc=5[■]が夫々印加されてい
る。
半導体集積回路装置において、異なる2つの基卆電圧用
外部端子(ボンディングバット)から2つのノ、(準電
圧用配線を別々に引き出すことが知られている(例えば
、実開昭54−99576号)。一方の基準電圧用配線
は消費電力の大きい回路用の配線、他方の基準電圧用配
線は消費電力の小さい回路用の配線として用いられてい
る。
外部端子(ボンディングバット)から2つのノ、(準電
圧用配線を別々に引き出すことが知られている(例えば
、実開昭54−99576号)。一方の基準電圧用配線
は消費電力の大きい回路用の配線、他方の基準電圧用配
線は消費電力の小さい回路用の配線として用いられてい
る。
本発明者は、かかる技術における電気的特性試験ならび
にその検討の結果1次のような問題点が生じることを見
出した。
にその検討の結果1次のような問題点が生じることを見
出した。
例えば、マスクROM(リードオンリーメモリ)のよう
に、その機能の一つとしてマルチビット出力が求められ
る半導体集積回路装置においては、情報の出力数すなわ
ち外部出力段回路数が増加する傾向にある。例えば、数
[Mbijlの大容量マスクROMでは、16 [bi
t;]の情報を出力する16個の外部出力段回路が必要
とされる。このため、一度に複数の外部出力段回路が動
作すると、基準電圧用配線に電位変動(ノイズ)が生じ
る。
に、その機能の一つとしてマルチビット出力が求められ
る半導体集積回路装置においては、情報の出力数すなわ
ち外部出力段回路数が増加する傾向にある。例えば、数
[Mbijlの大容量マスクROMでは、16 [bi
t;]の情報を出力する16個の外部出力段回路が必要
とされる。このため、一度に複数の外部出力段回路が動
作すると、基準電圧用配線に電位変動(ノイズ)が生じ
る。
外部出力段回路用配線で生じたノイズが内部回路用配線
に即座に伝達されないように、両者を交 差させ
ないことが考えられる。しかしながら、内側に引き出し
て延在させた外部出力段回路用配線は、外部入力段回路
から内部回路に引き出した入力信号用配線等と交差する
確率が極めて高い。したがって、それを回避するために
、マスクROMの基41!電圧用配線又は電源電圧用配
線のレイアウトが非常に国是になる。
に即座に伝達されないように、両者を交 差させ
ないことが考えられる。しかしながら、内側に引き出し
て延在させた外部出力段回路用配線は、外部入力段回路
から内部回路に引き出した入力信号用配線等と交差する
確率が極めて高い。したがって、それを回避するために
、マスクROMの基41!電圧用配線又は電源電圧用配
線のレイアウトが非常に国是になる。
本発明の目的は、外部出力段回路で発生するノイズによ
り内部回路等が誤動作することを低減し、半導体集積回
路装置の電気的信頼性を向上することが可能な技術を提
供することにある。
り内部回路等が誤動作することを低減し、半導体集積回
路装置の電気的信頼性を向上することが可能な技術を提
供することにある。
本発明の他の目的は、半導体集積回路装置の基準電圧用
配線又は電源電圧用配線のレイアウトを容易に行うこと
が可能な技術を提供することにある。
配線又は電源電圧用配線のレイアウトを容易に行うこと
が可能な技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は1本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を説明すれば、下記のとおりである。
要を説明すれば、下記のとおりである。
半導体集積回路装置の基準電圧用配線又は電源電圧用配
線を、外部端子から内側に引き出し延在させた内部回路
専用配線と、それと異なる外部端子から引き出し外部出
力段回路の外側に延在させた外部出力段回路専用配線と
に分割する。
線を、外部端子から内側に引き出し延在させた内部回路
専用配線と、それと異なる外部端子から引き出し外部出
力段回路の外側に延在させた外部出力段回路専用配線と
に分割する。
上記した手段によれば、外部出力段回路の動作で外部出
力段回路専用配線に発生したノイズが内部回路専用配線
に伝達されないので、内部回路の誤動作を防止し、半導
体集積回路装置の電気的信頼性を向上することができる
。
力段回路専用配線に発生したノイズが内部回路専用配線
に伝達されないので、内部回路の誤動作を防止し、半導
体集積回路装置の電気的信頼性を向上することができる
。
また、外部出力段回路専用配線を外部出力段回路の外周
に延在させたので、他の配線との交差をなくしてノイズ
の伝達を防止し、かつ基準電圧用配線又は電源電圧用配
線のレイアウトを容易に行うことができる。
に延在させたので、他の配線との交差をなくしてノイズ
の伝達を防止し、かつ基準電圧用配線又は電源電圧用配
線のレイアウトを容易に行うことができる。
以下、本発明の構成について、本発明をマスクROMに
適用した一実施例とともに説明する。
適用した一実施例とともに説明する。
なお、全図において、同一の機能を有するものは同一の
符号を付け、その緑り返しの説明は省略する。
符号を付け、その緑り返しの説明は省略する。
本発明の一実施例であるマスクROMの概略構成を第1
図(平面図)で示す。
図(平面図)で示す。
マスクROMは、第1図に示すように、単結晶シリコン
からなるp−型の半導体基板(チップ)1で構成されて
いる。図示していないが、半導体基板1には、に型のウ
ェル領域が設けられている。ウェル領域は、pチャネル
MISFETが設けられ。
からなるp−型の半導体基板(チップ)1で構成されて
いる。図示していないが、半導体基板1には、に型のウ
ェル領域が設けられている。ウェル領域は、pチャネル
MISFETが設けられ。
半導体基板lに設けられるnチャネルMISFETとで
相補型M I S FE’r(CuO2)を構成する。
相補型M I S FE’r(CuO2)を構成する。
Aa=Anは外部入力端子(アドレス信号用パッド)で
あり、半導体基板1の周辺部に複数(例えば18[個コ
)配置されている。外部入力端子Aa −A nは、情
報の読出し又は書込み動作において、所定のメモリセル
を選択するための信号が外部から入力する。外部入力端
子A a −A nに入力した信号は、夫々に接続され
た外部入力段回路(入カハッフ7回路又はアドレスバッ
ファ)2を介して内部回路に伝達される。外部入力段回
路2は、第1図においてインバータを示す記号で代表さ
れているが、例えば、アドレス信号とセレクト信号とで
動作する2人力NOR回路で構成する。
あり、半導体基板1の周辺部に複数(例えば18[個コ
)配置されている。外部入力端子Aa −A nは、情
報の読出し又は書込み動作において、所定のメモリセル
を選択するための信号が外部から入力する。外部入力端
子A a −A nに入力した信号は、夫々に接続され
た外部入力段回路(入カハッフ7回路又はアドレスバッ
ファ)2を介して内部回路に伝達される。外部入力段回
路2は、第1図においてインバータを示す記号で代表さ
れているが、例えば、アドレス信号とセレクト信号とで
動作する2人力NOR回路で構成する。
セレクト信号(制御信号)は、図示していないが。
セレン1へ信号用外部端子を介して入力する。
内部回路は、メモリセルアレイ(MA)3、Xデコーダ
回路(XDEC)4.Yデコーダ回路(YDEC)5、
図示していないがセンスアンプ等で構成されている。−
メモリセルアレイ3は、nチャネルM I S FET
からなるメモリセルを行列状に配置して構成されている
。
回路(XDEC)4.Yデコーダ回路(YDEC)5、
図示していないがセンスアンプ等で構成されている。−
メモリセルアレイ3は、nチャネルM I S FET
からなるメモリセルを行列状に配置して構成されている
。
Da−Diは外部出力端子(データ出力用パッド)であ
り、半導体1占仮1の周辺部に複数(例えば16[個コ
)配置さ、!シ”Cいる。外部入力端子Da〜Dlは、
センスアンプで読出されたメモリセルの情報(出力信号
)を外部に出力するように構成されている。外部出力端
子Da”Dlから出力される出力信号は、夫々に接続さ
れた外部出力段回路(出力バッファ回路又はデータ出力
バッファ)6を介して内部回路から伝達される。外部出
力段回路6は、第1図ではインバータ記号で示している
が、例えば、センスアンプからの出力信号とアウトプッ
トイネーブル信号とで動作する2人力NOR回路の出力
信号で制御されるCMOSインバータ回路で構成する。
り、半導体1占仮1の周辺部に複数(例えば16[個コ
)配置さ、!シ”Cいる。外部入力端子Da〜Dlは、
センスアンプで読出されたメモリセルの情報(出力信号
)を外部に出力するように構成されている。外部出力端
子Da”Dlから出力される出力信号は、夫々に接続さ
れた外部出力段回路(出力バッファ回路又はデータ出力
バッファ)6を介して内部回路から伝達される。外部出
力段回路6は、第1図ではインバータ記号で示している
が、例えば、センスアンプからの出力信号とアウトプッ
トイネーブル信号とで動作する2人力NOR回路の出力
信号で制御されるCMOSインバータ回路で構成する。
また、外部出力段回路6は、前記2人力NOR回路で制
御されるnチャネルMISFETで構成してもよい、ア
ウトプットイネーブル信号(制御信号)は、図示してい
ないが、アウトプットイネーブル信号用外部端子を介し
て入力される。
御されるnチャネルMISFETで構成してもよい、ア
ウトプットイネーブル信号(制御信号)は、図示してい
ないが、アウトプットイネーブル信号用外部端子を介し
て入力される。
7A〜7Dは基準電圧(Vs s=o [:VI )用
外部端子(ボンディングバット)であり、半導体基板1
の所定の周辺部に複数(例えば4[個])配置されてい
る。パット7A〜7Dからは、夫々、別々の回路に基準
電圧を供給するための基準電圧用配線7a〜7dが延在
されている。
外部端子(ボンディングバット)であり、半導体基板1
の所定の周辺部に複数(例えば4[個])配置されてい
る。パット7A〜7Dからは、夫々、別々の回路に基準
電圧を供給するための基準電圧用配線7a〜7dが延在
されている。
基準電圧用外部端子7Aからは、その外周又は外部入力
段回路2の外周(半導体基板1の周辺部)に延在する外
部入力段回路専用配線7aが引き出されている。外部入
力段回路専用配線7aは、夫夫の外部入力段回路2と電
気的に接続されている6基準電圧用外部端子7Bからは
、内部回路内に(すなわち、外部入力及び出力段回路2
及び6の内側に沿って)延在する内部回路専用配、I!
7bが引き出されている。内部回路専用配線7bは、X
デコーダ回路4、Yデコーダ回路5.センスアンプ等の
制御回路と電気的に接続されている。
段回路2の外周(半導体基板1の周辺部)に延在する外
部入力段回路専用配線7aが引き出されている。外部入
力段回路専用配線7aは、夫夫の外部入力段回路2と電
気的に接続されている6基準電圧用外部端子7Bからは
、内部回路内に(すなわち、外部入力及び出力段回路2
及び6の内側に沿って)延在する内部回路専用配、I!
7bが引き出されている。内部回路専用配線7bは、X
デコーダ回路4、Yデコーダ回路5.センスアンプ等の
制御回路と電気的に接続されている。
基$電圧用外部端子7Cからは、外部入力端子A a
−A n及び外部出力端子D a −D lの外周であ
って、後述する外部出力段回路専用配線7dよりもさら
に外周を延在する基板電位専用配A!(ガートバンド)
7cが引き出されている。基板電位専用配線7cは、半
導体基板1と電気的に接続されており(図示していない
)、その電位を安定に保持するように構成されている。
−A n及び外部出力端子D a −D lの外周であ
って、後述する外部出力段回路専用配線7dよりもさら
に外周を延在する基板電位専用配A!(ガートバンド)
7cが引き出されている。基板電位専用配線7cは、半
導体基板1と電気的に接続されており(図示していない
)、その電位を安定に保持するように構成されている。
基準電圧用外部端子7Dからは、その外周又は外部出力
段回路6の外周を延在する外部出力段回路専用配線7d
が引き出されている。外部出力段回路専用配線7dは、
夫々の外部出力段回路6と電気的に接続されている。
段回路6の外周を延在する外部出力段回路専用配線7d
が引き出されている。外部出力段回路専用配線7dは、
夫々の外部出力段回路6と電気的に接続されている。
回路2,6は、内部回路3,4.5の周囲に沿って(チ
ップ1の外周に沿って)配置されている。
ップ1の外周に沿って)配置されている。
したがって、配線7bと7dとが交差しないようにする
ために、配線7dは回路2,6の外側に沿って、配線7
bは回路2,6の内側に沿って(内部回路の外側に沿っ
て又は内部回路内を)、夫々。
ために、配線7dは回路2,6の外側に沿って、配線7
bは回路2,6の内側に沿って(内部回路の外側に沿っ
て又は内部回路内を)、夫々。
延在させられる。換言すれば、配線7bと7dとの間の
領域に、外部端子及びこれに接続される回路が形成され
る。
領域に、外部端子及びこれに接続される回路が形成され
る。
なお、配線7aと7d及びパッド7Aと7Dとを一体番
こしてもよい。また、配線7aのノイズを配a7dに伝
えないため、配、!!7aは配線7dと同じく、回路2
,6の外側に配線するのが好ましい。また、基板1の電
位を安定にするため、配線7Cも、配線7dさらには配
線7aと交差させないことが好ましい。このため、配線
7Cはチップの最外周を延在させる。
こしてもよい。また、配線7aのノイズを配a7dに伝
えないため、配、!!7aは配線7dと同じく、回路2
,6の外側に配線するのが好ましい。また、基板1の電
位を安定にするため、配線7Cも、配線7dさらには配
線7aと交差させないことが好ましい。このため、配線
7Cはチップの最外周を延在させる。
8A〜8Cは電源電圧(Vc c=5 [V] )用外
部端子であり、半導体基板1の所定の周辺部に複数(例
えば3[個])配置されている。端子8A〜8Cからは
、夫々、別々の回路に電源電圧を供給するための電源電
圧用配線8a〜8dが延在されている。
部端子であり、半導体基板1の所定の周辺部に複数(例
えば3[個])配置されている。端子8A〜8Cからは
、夫々、別々の回路に電源電圧を供給するための電源電
圧用配線8a〜8dが延在されている。
電源電圧用外部端子8Aからは、内部回路内に延在する
内部回路専用配線8a又は外部入力段回路2の近接した
位置でその内側を延在する外部入力段回路専用配線8a
が引き出されている。内部回路専用配線8aは、Xデコ
ーダ回路4−Yデコーダ回路5、センスアンプ等の制御
回路と電気的に接続されている。外部入力段回路専用配
線8aは、外部入力段回路2と電気的に接続されている
。
内部回路専用配線8a又は外部入力段回路2の近接した
位置でその内側を延在する外部入力段回路専用配線8a
が引き出されている。内部回路専用配線8aは、Xデコ
ーダ回路4−Yデコーダ回路5、センスアンプ等の制御
回路と電気的に接続されている。外部入力段回路専用配
線8aは、外部入力段回路2と電気的に接続されている
。
電源電圧用外部端子8B及び8Cからは、その近接した
位置又は外部出力段回路6の近接した位置の内側を延在
する外部出力段回路専用配線8b及び8cの夫々がり1
き出されている。外部出力段回路専用配線8bは、図中
上部の複数(全出力段回路の半分、例えば8[個コ)の
外部出力段回路6に接続され、外部出力段回路専用配線
8cは、図中下部の複数(例えば8[個])の外部出力
段回路6に接続されている。なお、配線8bを外部入力
段回路2の専用配線とし、配線8cを外部出力段回路6
の専用配線としてもよい。
位置又は外部出力段回路6の近接した位置の内側を延在
する外部出力段回路専用配線8b及び8cの夫々がり1
き出されている。外部出力段回路専用配線8bは、図中
上部の複数(全出力段回路の半分、例えば8[個コ)の
外部出力段回路6に接続され、外部出力段回路専用配線
8cは、図中下部の複数(例えば8[個])の外部出力
段回路6に接続されている。なお、配線8bを外部入力
段回路2の専用配線とし、配線8cを外部出力段回路6
の専用配線としてもよい。
このように、基準電圧(Vss)用配線を、基準電圧用
外部端子7Bから内側に引き出し延在させた内部回路専
用配線7bと、それと異なる基準電圧用外部端子7Dか
ら引き出し外部出力段回路6の外側に延在させた外部出
力段回路専用配線7dとに分割することにより、外部出
力段回路6の動作で外部出力段回路専用配線7dに発生
したノイズが内部回路専用配1s7bに伝達されないの
で、内部回路の誤動作を防止し、マスクROMの電気的
信頼性を向上することができる。
外部端子7Bから内側に引き出し延在させた内部回路専
用配線7bと、それと異なる基準電圧用外部端子7Dか
ら引き出し外部出力段回路6の外側に延在させた外部出
力段回路専用配線7dとに分割することにより、外部出
力段回路6の動作で外部出力段回路専用配線7dに発生
したノイズが内部回路専用配1s7bに伝達されないの
で、内部回路の誤動作を防止し、マスクROMの電気的
信頼性を向上することができる。
また、外部出力段回路専用配線7dを外部出力段回路6
の外周に延在させたので、外部出力段回路専用配線7d
と、外部入力段回路2と内部回路とを接続する配線等信
の配線との交差をなくすことができる。すなわち、外部
出方段回路専用配線7dに発生したノイズがその他の配
線に伝達されることを防止することができる。また、内
部回路専用配線7b等の基準電圧用配線、電源電圧用配
線配線及び他の信号配線のレイアラ1−を容易に行うこ
とができる。
の外周に延在させたので、外部出力段回路専用配線7d
と、外部入力段回路2と内部回路とを接続する配線等信
の配線との交差をなくすことができる。すなわち、外部
出方段回路専用配線7dに発生したノイズがその他の配
線に伝達されることを防止することができる。また、内
部回路専用配線7b等の基準電圧用配線、電源電圧用配
線配線及び他の信号配線のレイアラ1−を容易に行うこ
とができる。
また、外部出力段回路専用配線7dと基板電位専用配線
(ガートバンド)7cとを、夫々異なる基準電圧用外部
端子7Dと7cとから引き出して構成することにより、
外部出力段回路専用配線7dに発生したノイズが基板電
位専用配線7cに伝達されにくいので、半導体基板1の
電位を安定に保持することができる。しかも、基板を位
専用配線7cは、外部出力段回路専用配線7dと同様に
、基準電圧用外部端子7A〜7D等よりも外周に延在さ
せているので、他の配線のレイアラ!−の妨たげにはな
らない。
(ガートバンド)7cとを、夫々異なる基準電圧用外部
端子7Dと7cとから引き出して構成することにより、
外部出力段回路専用配線7dに発生したノイズが基板電
位専用配線7cに伝達されにくいので、半導体基板1の
電位を安定に保持することができる。しかも、基板を位
専用配線7cは、外部出力段回路専用配線7dと同様に
、基準電圧用外部端子7A〜7D等よりも外周に延在さ
せているので、他の配線のレイアラ!−の妨たげにはな
らない。
また、外部出力段回路専用配線8b及び8cを夫々異な
る電源電圧用外部端子8B及び8Cから引き出し、2分
された外部出力段回路6に夫々接続することにより、外
部出力段回路専用配線8b又は8cに発生するノイズの
ピーク値を俄滅することができる。
る電源電圧用外部端子8B及び8Cから引き出し、2分
された外部出力段回路6に夫々接続することにより、外
部出力段回路専用配線8b又は8cに発生するノイズの
ピーク値を俄滅することができる。
このマスクROMは、第2図(平面図)に示すように、
ダブ9に塔載され、ボンディングワイヤ10を介して、
外部端子A、D、7.8のいずれがと所定のリード11
とが接続される。基準電圧用外部端子7A〜7C又は電
源電圧用外部端子8A〜8Cの夫々は、1つのリード1
1と接続する所謂トリプルボンディングが行われている
。1−リプルボンディングは、基準電圧用外部端子7A
〜7C又は電源電圧用外部端子8A〜8Cの夫々を短い
距離で接続することができるので、インピーダンスを小
さくシ、外部出力段回路専用配!7d等の基準電圧用配
線又は外部出力段回路専用配線8b、8c等の電源電圧
用配線に生じるノイズを低減することができる。
ダブ9に塔載され、ボンディングワイヤ10を介して、
外部端子A、D、7.8のいずれがと所定のリード11
とが接続される。基準電圧用外部端子7A〜7C又は電
源電圧用外部端子8A〜8Cの夫々は、1つのリード1
1と接続する所謂トリプルボンディングが行われている
。1−リプルボンディングは、基準電圧用外部端子7A
〜7C又は電源電圧用外部端子8A〜8Cの夫々を短い
距離で接続することができるので、インピーダンスを小
さくシ、外部出力段回路専用配!7d等の基準電圧用配
線又は外部出力段回路専用配線8b、8c等の電源電圧
用配線に生じるノイズを低減することができる。
なお、この後、マスクROMは、封止部材(例えばレジ
ン)で封止される。また、前記トリプルボンデインに代
えてダブルボンディングを行ってもよい。
ン)で封止される。また、前記トリプルボンデインに代
えてダブルボンディングを行ってもよい。
以上、本発明者によっCなされた発明を、前記実施例に
基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲にお
いて1種々変形し得ることは勿論である。
基づき具体的に説明したが、本発明は、前記実施例に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲にお
いて1種々変形し得ることは勿論である。
例えば、本発明は、基板電位用配線7Cの電位を負の電
位(例えば、−2,5〜−3,5[Vコ)にし。
位(例えば、−2,5〜−3,5[Vコ)にし。
半導体基板1を負の電位に保持してもよい。負の電位は
、外部端子を介して外部から供給するか。
、外部端子を介して外部から供給するか。
或は同一基板上に内蔵した基板バイアス発生回路で供給
する。
する。
また、本発明は、n−型の半導体基板で構成されるマス
クROMに適用することができる。この場合には、外部
出力段回路の外周を延在する外部出力段回路専用配線及
び基板電位専用配線は、電源電圧(Vcc)が印加され
る。
クROMに適用することができる。この場合には、外部
出力段回路の外周を延在する外部出力段回路専用配線及
び基板電位専用配線は、電源電圧(Vcc)が印加され
る。
また、本発明は、マルチビット出力のダイナミック型R
AM(ランダムアクセスメモリ)、スタティック型RA
M、EPROM、EEPROM等の半導体記憶装置、多
数のデータ出力端子を持つマイクロコンピュータ等の半
導体装置において有効である。
AM(ランダムアクセスメモリ)、スタティック型RA
M、EPROM、EEPROM等の半導体記憶装置、多
数のデータ出力端子を持つマイクロコンピュータ等の半
導体装置において有効である。
また1本発明は、マスクROMに限定されず。
それ以外の記憶機能を有する半導体集積回路装置又は論
理機能を有する半導体集積回路装置に広く適用すること
ができる。
理機能を有する半導体集積回路装置に広く適用すること
ができる。
本願において開示された発明のうち、代表的なものによ
って得られる効果を簡単に説明すれば、次のとおりであ
る。
って得られる効果を簡単に説明すれば、次のとおりであ
る。
半導体集積回路装置の基準電圧用配線又は電源電圧用配
線を、外部端子から内側に引き出し延在させた内部回路
専用配線と、そ九と異なる外部端子から引き出し外部出
力段回路の外側に延在させた外部出力段回路専用配線と
に分割することにより、外部出力段回路の動作で外部出
力段回路専用配線に発生したノイズが内部回路専用配線
に伝達されないので、内部回路の誤動作を防止し、半導
体集積回路装置の電気的信頼性を向上することができる
。
線を、外部端子から内側に引き出し延在させた内部回路
専用配線と、そ九と異なる外部端子から引き出し外部出
力段回路の外側に延在させた外部出力段回路専用配線と
に分割することにより、外部出力段回路の動作で外部出
力段回路専用配線に発生したノイズが内部回路専用配線
に伝達されないので、内部回路の誤動作を防止し、半導
体集積回路装置の電気的信頼性を向上することができる
。
また、外部出力段回路専用配線を外部出力段回路の外周
に延在させたので、他の配線との交差をなくしてノイズ
の伝達を防止し、かつ基準電圧用配線又は電源電圧用配
線のレイアウトを容易に行うことができる。
に延在させたので、他の配線との交差をなくしてノイズ
の伝達を防止し、かつ基準電圧用配線又は電源電圧用配
線のレイアウトを容易に行うことができる。
第1図及び第2図は1本発明の一実施例であるマスクR
OMの概略構成を示す平面図である。 図中、1・・・半導体基板、2・・・外部入力段回路、
6・・・外部出力段回路、7A〜7D・・・基準電圧用
外部端子、7a、8a・・・外部入力段回路専用配線。 7b、8a・・・内部回路専用配線、7C・・・基Fi
電位専用配線、7d、8b、8c・・・外部出力段回路
専用配線、8A〜8C・・・電源電圧用配線、10・・
・ボンディングワイヤ、11・・リード、A a ”
A n・・・外部入力端子、Da−DI・・・外部出力
端子である。
OMの概略構成を示す平面図である。 図中、1・・・半導体基板、2・・・外部入力段回路、
6・・・外部出力段回路、7A〜7D・・・基準電圧用
外部端子、7a、8a・・・外部入力段回路専用配線。 7b、8a・・・内部回路専用配線、7C・・・基Fi
電位専用配線、7d、8b、8c・・・外部出力段回路
専用配線、8A〜8C・・・電源電圧用配線、10・・
・ボンディングワイヤ、11・・リード、A a ”
A n・・・外部入力端子、Da−DI・・・外部出力
端子である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、基準電圧用配線又は電源電圧用配線を有する半導体
集積回路装置であって、前記基準電圧用配線又は電源電
圧用配線を、第1外部端子から引き出して内部回路内を
延在する内部回路専用配線と、第1外部端子と異なる第
2外部端子から引き出して外部出力段回路の外周を延在
する外部出力段回路専用配線とに分割したことを特徴と
する半導体集積回路装置。 2、前記基準電圧用配線又は電源電圧用配線は、第1及
び第2外部端子と異なる第3外部端子から引き出して外
部出力段回路専用配線のさらに外周を延在しかつ基板と
接続された基板電位専用配線にも分割されていることを
特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の半導体集積回
路装置。 3、前記基準電圧用配線又は電源電圧用配線は、第1及
び第2外部端子と異なる第3外部端子から引き出して外
部入力段回路の外周に延在させた外部入力段回路専用配
線にも分割されていることを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載の半導体集積回路装置。 4、前記第1、第2及び第3外部端子は、ボンディング
ワイヤを介して1つの基準電圧用リード又は電源電圧用
リードに接続され、封止部材で封止されていることを特
徴とする特許請求の範囲第2項又は第3項に記載の半導
体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61025900A JPS62185364A (ja) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61025900A JPS62185364A (ja) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62185364A true JPS62185364A (ja) | 1987-08-13 |
Family
ID=12178662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61025900A Pending JPS62185364A (ja) | 1986-02-10 | 1986-02-10 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62185364A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03227053A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ回路 |
EP0568808A2 (en) * | 1992-05-08 | 1993-11-10 | Motorola, Inc. | Memory having distributed reference and bias voltages |
US6594170B2 (en) | 2001-06-19 | 2003-07-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit device and semiconductor device system |
WO2013157206A1 (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-24 | 株式会社デンソー | 半導体集積回路 |
-
1986
- 1986-02-10 JP JP61025900A patent/JPS62185364A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03227053A (ja) * | 1990-01-31 | 1991-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ回路 |
EP0568808A2 (en) * | 1992-05-08 | 1993-11-10 | Motorola, Inc. | Memory having distributed reference and bias voltages |
EP0568808A3 (ja) * | 1992-05-08 | 1994-08-31 | Motorola Inc | |
US6594170B2 (en) | 2001-06-19 | 2003-07-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor integrated circuit device and semiconductor device system |
WO2013157206A1 (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-24 | 株式会社デンソー | 半導体集積回路 |
JP2013222851A (ja) * | 2012-04-17 | 2013-10-28 | Denso Corp | 半導体集積回路 |
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