JPS62180988A - 薄膜el素子 - Google Patents
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- JPS62180988A JPS62180988A JP61022477A JP2247786A JPS62180988A JP S62180988 A JPS62180988 A JP S62180988A JP 61022477 A JP61022477 A JP 61022477A JP 2247786 A JP2247786 A JP 2247786A JP S62180988 A JPS62180988 A JP S62180988A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は薄III E L素子に関し、特に透明電極の
保護手段の改良に関する。
保護手段の改良に関する。
第5図は従来の一般的な薄膜Eし素子の構成を示す断面
図である。第5図に示すように、この簿膜EL素子は、
基板1の上に電極2.絶縁体@3゜Eし発光層4.II
!!縁体唐5.電痩6を積層したものとなっている。つ
まり、EL発光層4の両側を二層の絶縁体層3.5で挟
み、この絶縁体ff3゜5の外側に電極2.6を取付け
たものを、基板1に固定したものとなっている。なお上
記EL発光層4を絶縁体層3.5で挟み込んだ部分をE
ヒ素子構成膜と呼ぶ。かくして、二つの電極2.6間に
電圧を印加すると、EL発光層4が発光する構造になっ
ている。
図である。第5図に示すように、この簿膜EL素子は、
基板1の上に電極2.絶縁体@3゜Eし発光層4.II
!!縁体唐5.電痩6を積層したものとなっている。つ
まり、EL発光層4の両側を二層の絶縁体層3.5で挟
み、この絶縁体ff3゜5の外側に電極2.6を取付け
たものを、基板1に固定したものとなっている。なお上
記EL発光層4を絶縁体層3.5で挟み込んだ部分をE
ヒ素子構成膜と呼ぶ。かくして、二つの電極2.6間に
電圧を印加すると、EL発光層4が発光する構造になっ
ている。
上記111EL素子におけるEL発光11f4は、0.
1〜2.0重量%程度のMnあるいはCu。
1〜2.0重量%程度のMnあるいはCu。
Aj2.Br、Tb、Eu、希土類フッ化物等をドープ
したZnS、Zn5e等の半導体(以下これらをZnS
:Mnと記す)である。このEL発光層4に1×10
8■/Cm程度の電界が印加されると、EL発光層4と
絶縁体層3.5との界面にある界面単位から電子がEL
発光層4の伝導帯にトンネル注入される。この点に関す
る基本的技術に関しては、文献rG、O,MUI l
er、Physica 3tatus 3olid
i (a)81.597 (1984)Jに記載さ
れている。
したZnS、Zn5e等の半導体(以下これらをZnS
:Mnと記す)である。このEL発光層4に1×10
8■/Cm程度の電界が印加されると、EL発光層4と
絶縁体層3.5との界面にある界面単位から電子がEL
発光層4の伝導帯にトンネル注入される。この点に関す
る基本的技術に関しては、文献rG、O,MUI l
er、Physica 3tatus 3olid
i (a)81.597 (1984)Jに記載さ
れている。
上記注入された電子はさらに伝導帯中で加速され、十分
なエネルギーを得た電子が、直接Mnなどの発光センタ
ーを励起し、励起された発光センターが基底状態に戻る
際に発光する。
なエネルギーを得た電子が、直接Mnなどの発光センタ
ーを励起し、励起された発光センターが基底状態に戻る
際に発光する。
絶縁体層3,5の形成の材料としては、一般にSin、
SiO2,GeO2,Y2O3゜TiO2,Aρ20a
、Si3N4.シリコン酸化窒化物などが用いられる。
SiO2,GeO2,Y2O3゜TiO2,Aρ20a
、Si3N4.シリコン酸化窒化物などが用いられる。
そしてこれらの材料を用いて電子ビーム蒸着法やスパッ
タリング法等による膜形成手段を講じることにより、絶
縁体層3.5が得られる。
タリング法等による膜形成手段を講じることにより、絶
縁体層3.5が得られる。
電極2は、通常は透明の電極になっている。すなわち実
際のt[EL素子は第6図に示したような構造になって
おり、61発光をガラス基板1側から見れるように、ガ
ラス基板1上に形成する電(盃2は透明のものが用いら
れる。この透明電極2としては一般に、ITO膜やSn
O2膜等が用いられる。また透明電極2の端部は、外部
電源リード線との接続を行なうために、EL素子構成膜
の!a層領域外まで引出され、この引出し領域2aにて
行なうものとなっている。したがってこの引出し領域2
aは外気に直接さらされる状態になっている。
際のt[EL素子は第6図に示したような構造になって
おり、61発光をガラス基板1側から見れるように、ガ
ラス基板1上に形成する電(盃2は透明のものが用いら
れる。この透明電極2としては一般に、ITO膜やSn
O2膜等が用いられる。また透明電極2の端部は、外部
電源リード線との接続を行なうために、EL素子構成膜
の!a層領域外まで引出され、この引出し領域2aにて
行なうものとなっている。したがってこの引出し領域2
aは外気に直接さらされる状態になっている。
ところで、上記絶縁体層3.5の間にあるEL発光層4
は、熱処理を施すことにより、高輝度特性を有するもの
となる。
は、熱処理を施すことにより、高輝度特性を有するもの
となる。
その第1の理由は、EL発光層母体の結晶化を促すため
である。前記したE「発光層の発光メカニズムからも明
らかなように、高効率、高輝度で61発光を行なわせる
ためには、EL発光層4中により多くの伝導電子を存在
させ、かつ十分な運動エネルギーを与えることが必要で
ある。この際、EL発光層母体半導体が十分に結晶化し
ていなかったり、非晶質であったりすると、結晶欠陥が
伝導電子に対するトラップとして働き、発光センターを
励起できる伝導電子の数を減少させてしまうことになる
。また多結晶質の各々の結晶粒が小さいと、発光中心を
励起せずに結晶粒の境界に達してしまう伝導電子の数が
多くなり、励起の効率が悪い。
である。前記したE「発光層の発光メカニズムからも明
らかなように、高効率、高輝度で61発光を行なわせる
ためには、EL発光層4中により多くの伝導電子を存在
させ、かつ十分な運動エネルギーを与えることが必要で
ある。この際、EL発光層母体半導体が十分に結晶化し
ていなかったり、非晶質であったりすると、結晶欠陥が
伝導電子に対するトラップとして働き、発光センターを
励起できる伝導電子の数を減少させてしまうことになる
。また多結晶質の各々の結晶粒が小さいと、発光中心を
励起せずに結晶粒の境界に達してしまう伝導電子の数が
多くなり、励起の効率が悪い。
第2の理由は、発光中心が活性化するためである。例え
ばZnS半導体中にMnをドーピングしたE[発光層中
では、M nZ+がznの空格子点に置き換わることに
なり、発光中心として活性化される。
ばZnS半導体中にMnをドーピングしたE[発光層中
では、M nZ+がznの空格子点に置き換わることに
なり、発光中心として活性化される。
上記熱処理温度は、高ければ商い程、より高い輝度がt
lられることが判っている。しかるに、この熱処理温度
が高過ぎると、熱によるガラス基板1の反りの発生を招
くために、最高熱処理温度は自ずから制限を受ける。例
えばガラス基板として通常用いられるコーニング社の7
059ガラスでは、最高熱処理温度は590℃であり、
これ以上のmO!になると、ガラス基板1に反りが発生
して品質が低下する。したがって上記熱処理温度は59
0℃以下に設定されるのが普通である。
lられることが判っている。しかるに、この熱処理温度
が高過ぎると、熱によるガラス基板1の反りの発生を招
くために、最高熱処理温度は自ずから制限を受ける。例
えばガラス基板として通常用いられるコーニング社の7
059ガラスでは、最高熱処理温度は590℃であり、
これ以上のmO!になると、ガラス基板1に反りが発生
して品質が低下する。したがって上記熱処理温度は59
0℃以下に設定されるのが普通である。
(発明が解決しようとする問題点〕
しかるに、上記熱処理温度を590°C以下に設定して
も、薄1]lEL素子を真空中で熱処理すると、IT○
や5n02などからなる透明電(距2の品質が低下する
という問題があった。
も、薄1]lEL素子を真空中で熱処理すると、IT○
や5n02などからなる透明電(距2の品質が低下する
という問題があった。
すなわち透明電極2の形成材料であるIT○や5n02
などは、比較的蒸発温度が低い上、引出し領域2aが外
気に直接さらされる状態になっているために、前述した
よう・に真空中で高温処理を行なうと蒸発してしまい、
膜厚が薄くなる。その結果、電気抵抗が増加しなり、導
電性を失ったりすることがある。さらに高温処理時の雰
囲気中に酸素が残留していると、透!!+1電極、2の
膜表面が酸化してしまい、やはり電気抵抗の増加や導電
性喪失等を生じることになる。件のような事態になると
、たとえ電極間に電圧を印加しても、十分な電界がE1
発光層4に印加されず、EL発光輝度が不十分となった
り、21発光効率が低下したりする。
などは、比較的蒸発温度が低い上、引出し領域2aが外
気に直接さらされる状態になっているために、前述した
よう・に真空中で高温処理を行なうと蒸発してしまい、
膜厚が薄くなる。その結果、電気抵抗が増加しなり、導
電性を失ったりすることがある。さらに高温処理時の雰
囲気中に酸素が残留していると、透!!+1電極、2の
膜表面が酸化してしまい、やはり電気抵抗の増加や導電
性喪失等を生じることになる。件のような事態になると
、たとえ電極間に電圧を印加しても、十分な電界がE1
発光層4に印加されず、EL発光輝度が不十分となった
り、21発光効率が低下したりする。
そこで本発明は、EL発光層の熱処理工程において、透
明電極がダメージを受けるおそれがなく、電気抵抗が変
化する等のおそれのない@吸E L m子を提供するこ
とを目的とする。。
明電極がダメージを受けるおそれがなく、電気抵抗が変
化する等のおそれのない@吸E L m子を提供するこ
とを目的とする。。
本発明は上記問題点を解決し、目的を達成するために次
のような手段を講じた。
のような手段を講じた。
透明N極を絶縁体層等によって完全に被覆した状態とな
し、かつ電源リード線と接続するための引出し電極は比
較的蒸発しにくい難蒸発性物質たとえばAffi、AU
、Ag、Cu、N iなどの導電部材によって作製する
。
し、かつ電源リード線と接続するための引出し電極は比
較的蒸発しにくい難蒸発性物質たとえばAffi、AU
、Ag、Cu、N iなどの導電部材によって作製する
。
このような手段を請じたことにより、比較的蒸発し易い
ITOやSnOり等からなる透明電極部材が、真空中で
高温下に直接さらされるのを回避でき、熱処理の際に透
明電極膜がダメージを受けずに済む。
ITOやSnOり等からなる透明電極部材が、真空中で
高温下に直接さらされるのを回避でき、熱処理の際に透
明電極膜がダメージを受けずに済む。
第1図は本発明の薄111EL素子の第1実施例を示す
断面図である。第1図において11はガラス基板、12
は透明電極、13は絶縁体層、14はEL発光層、15
は絶縁体層、16は背面N極、17は引出し電極である
。第1図に示すように、この薄膜EL素子は、基本的に
は第6図に示したものと同様な二重絶縁構造を有する薄
11EL素子であるが、透明電極12の引出し端部に例
えばAQ、、Au、Ag、Cu、N iなどの比較的蒸
発しにくい金属からなる引出し電極17を接続し、その
接続部Aが外気にざらされないように絶縁体層13の端
部13aにより被覆する構造とした点が特徴点である。
断面図である。第1図において11はガラス基板、12
は透明電極、13は絶縁体層、14はEL発光層、15
は絶縁体層、16は背面N極、17は引出し電極である
。第1図に示すように、この薄膜EL素子は、基本的に
は第6図に示したものと同様な二重絶縁構造を有する薄
11EL素子であるが、透明電極12の引出し端部に例
えばAQ、、Au、Ag、Cu、N iなどの比較的蒸
発しにくい金属からなる引出し電極17を接続し、その
接続部Aが外気にざらされないように絶縁体層13の端
部13aにより被覆する構造とした点が特徴点である。
上記薄膜EL素子の作製法としては、透明1!極12を
形成した後、その端部に一部が重なり合うように、引出
し電極17を蒸着などの手段により形成する。そしてこ
の上に絶縁体層13を、その一部13aで接続部Aを覆
うように形成し、ざらにE1発光層14を形成する。こ
の状態で熱処理を行ない、しかるのち絶縁体層15を形
成し、電極16を形成する。
形成した後、その端部に一部が重なり合うように、引出
し電極17を蒸着などの手段により形成する。そしてこ
の上に絶縁体層13を、その一部13aで接続部Aを覆
うように形成し、ざらにE1発光層14を形成する。こ
の状態で熱処理を行ない、しかるのち絶縁体層15を形
成し、電極16を形成する。
このように本実施例によれば、透明N極12が外気にさ
らされない状態に保護されるので、この状態で熱処理が
行なわれても、透明N極12の蒸発が阻止される。この
ため、透明電極12は、電気抵抗の増加あるいは導電性
喪失といったダメージを受けずに済む。また引出し電極
17は蒸発しにくい材料で形成されているので、真空中
で高温下にさらされても、電気抵抗が変化するおそれは
ない。
らされない状態に保護されるので、この状態で熱処理が
行なわれても、透明N極12の蒸発が阻止される。この
ため、透明電極12は、電気抵抗の増加あるいは導電性
喪失といったダメージを受けずに済む。また引出し電極
17は蒸発しにくい材料で形成されているので、真空中
で高温下にさらされても、電気抵抗が変化するおそれは
ない。
次に上記第1実施例に対応した実験例■、■について説
明する。
明する。
(実験例■)
ガラス基板11として7059ガラスを用い、十分に洗
浄したその表面に、ITO透明電極12を電子ビーム蒸
着法により膜厚が1000人となるように形成した。さ
らにフォトエツチング法により上記ITO透明電極12
を適当な表示パターン例えば第2図に示すように幅0.
2nrm、ピッチ0.35mの縞状にエツチング加工し
た。しかるのら、上記IT○透明電極12の端部に対し
て1履程度重なるようにAl1からなる引出し電極17
を真空蒸着し、ITO透明電極12と同様の幅およびピ
ッチを有する縞錠にエツチング加工した。
浄したその表面に、ITO透明電極12を電子ビーム蒸
着法により膜厚が1000人となるように形成した。さ
らにフォトエツチング法により上記ITO透明電極12
を適当な表示パターン例えば第2図に示すように幅0.
2nrm、ピッチ0.35mの縞状にエツチング加工し
た。しかるのら、上記IT○透明電極12の端部に対し
て1履程度重なるようにAl1からなる引出し電極17
を真空蒸着し、ITO透明電極12と同様の幅およびピ
ッチを有する縞錠にエツチング加工した。
その上に絶縁体層13としてA(120*を高周波反応
性スパッタリング法により膜厚が約5000人となるよ
うに形成した。ざらにその上にEL発光層14として、
ZnSとMnからなる焼結ベレットをターゲットとして
電子ビーム蒸着法により、膜厚が約1岬となるようにZ
nS :Mn層を作製した。
性スパッタリング法により膜厚が約5000人となるよ
うに形成した。ざらにその上にEL発光層14として、
ZnSとMnからなる焼結ベレットをターゲットとして
電子ビーム蒸着法により、膜厚が約1岬となるようにZ
nS :Mn層を作製した。
第2図は上記状態における上面図である。第2図に示す
ようにITO透明電極12は絶縁層13により完全に覆
われており、外気に直接触れるところはない。
ようにITO透明電極12は絶縁層13により完全に覆
われており、外気に直接触れるところはない。
この状態で上記素子を真空中で590℃、2時間の熱処
理を行なった。この熱処理の後で透明電極12および引
出し電極17の電気抵抗を測定したところ、何等変化が
なかった。
理を行なった。この熱処理の後で透明電極12および引
出し電極17の電気抵抗を測定したところ、何等変化が
なかった。
さらにその上に絶縁体層15としてAQ203を高周波
反応性スパッタリング法により膜厚が約5000人とな
るように形成した。さらにその上に背面電極16として
へλ電極を真空蒸着し、前記ITO透明電極22と同様
に、縞状の表示パターンにフォトエツチング加工した。
反応性スパッタリング法により膜厚が約5000人とな
るように形成した。さらにその上に背面電極16として
へλ電極を真空蒸着し、前記ITO透明電極22と同様
に、縞状の表示パターンにフォトエツチング加工した。
この場合の縞の方向は、前記IT○透明電極の縞の方向
とは直交する方向であり、これによりドツトマトリクス
駆動を可能ならしめた。
とは直交する方向であり、これによりドツトマトリクス
駆動を可能ならしめた。
このようにして作製した薄11i2EL素子について、
EL発光輝度および発光効率を計測したところ、発光輝
度の場所によるバラツキや発光不能画素の発生がなく、
均一で十分な発光輝度かえられると共に、効率のよい発
光表示を行なえることが確認できた。
EL発光輝度および発光効率を計測したところ、発光輝
度の場所によるバラツキや発光不能画素の発生がなく、
均一で十分な発光輝度かえられると共に、効率のよい発
光表示を行なえることが確認できた。
く実験例■)
薄膜EL素子の基本的構成は前記実験例■と同様である
が、本実験例■においては、EL発光パターンを「7」
セグメントとした。
が、本実験例■においては、EL発光パターンを「7」
セグメントとした。
すなわち、ガラス基板11上に「7」セグメントの表示
パターンを有するITO透明電極12を形成し、これに
接続される引出し電極17を形成し、’E L発光層1
4を形成した。
パターンを有するITO透明電極12を形成し、これに
接続される引出し電極17を形成し、’E L発光層1
4を形成した。
第3図はこの状態を示す上面図である。図示の如く、本
例においても透明電極12は絶縁体層13により完全に
覆われた状態となっている。
例においても透明電極12は絶縁体層13により完全に
覆われた状態となっている。
上記の如く構成した素子を、前記実験例■と同法に簀空
中で590℃、2時間の熱tJ8理を行なったのち電気
抵抗を測定した。その結果、透明電極12および引出し
電極17のいずれにおいても、電気抵抗の変化はなかっ
た。
中で590℃、2時間の熱tJ8理を行なったのち電気
抵抗を測定した。その結果、透明電極12および引出し
電極17のいずれにおいても、電気抵抗の変化はなかっ
た。
また絶縁層15および背面電極16を形成したのち、E
L発光輝度および発光効率を計測したところ、十分な発
光輝度および発光効率が得られることが判明した。
L発光輝度および発光効率を計測したところ、十分な発
光輝度および発光効率が得られることが判明した。
次に本発明の第2実施例について説明する。第4図は本
発明の第2実施例の構成を示す断面図である。この第2
実施例が前記第1実施例と異なる点は、ガラス基板11
と透明電極12との間に絶縁体層18を設けた点であり
、その他はすべて前記第1実施例と同一構成である。
発明の第2実施例の構成を示す断面図である。この第2
実施例が前記第1実施例と異なる点は、ガラス基板11
と透明電極12との間に絶縁体層18を設けた点であり
、その他はすべて前記第1実施例と同一構成である。
このように構成された本実施例によれば、絶縁体層18
がガラス基板11上に形成されているので、ガラス基板
11になんらかの欠陥があったとしても、その欠陥がE
L発光素子に悪影響を与えないものとなる。しかもこの
絶縁体層18によりガラス基板11からのアルカリ成分
の溶出を防止できる利点がある。さらに絶縁体層18は
ガラス基板11全面に形成されるので、□透明電極部材
が上記絶縁体層18と前記絶縁体層13および引出し電
極17からなる素子構成膜のみにより、完全に被覆され
た状態を呈する。したがって外気には一切接触しないも
のとなる。したがって第1実施例と画廊以上の透明電極
保護作用が生じる。
がガラス基板11上に形成されているので、ガラス基板
11になんらかの欠陥があったとしても、その欠陥がE
L発光素子に悪影響を与えないものとなる。しかもこの
絶縁体層18によりガラス基板11からのアルカリ成分
の溶出を防止できる利点がある。さらに絶縁体層18は
ガラス基板11全面に形成されるので、□透明電極部材
が上記絶縁体層18と前記絶縁体層13および引出し電
極17からなる素子構成膜のみにより、完全に被覆され
た状態を呈する。したがって外気には一切接触しないも
のとなる。したがって第1実施例と画廊以上の透明電極
保護作用が生じる。
次に下記第2実施例に対応した実験例■について説明す
る。
る。
(実験例■)
分ウス塞板11として7059ガラスを用い、十分に洗
浄したその表面に、絶i体層18としてAl2O2を高
周波反応性スパッタリング法により膜厚が約2000人
となるように形成した。その上に実験例■と同様に、I
TO透明電恢12゜Aρ引出し電KA17.AQ203
’絶縁体層13゜Z n S ”:’ M n E L
発光層14.八R203絶縁体層15.Aa背面電惜1
6を作顧した。
浄したその表面に、絶i体層18としてAl2O2を高
周波反応性スパッタリング法により膜厚が約2000人
となるように形成した。その上に実験例■と同様に、I
TO透明電恢12゜Aρ引出し電KA17.AQ203
’絶縁体層13゜Z n S ”:’ M n E L
発光層14.八R203絶縁体層15.Aa背面電惜1
6を作顧した。
このようにして作製したfllBIEL素子について、
EL発光輝度および発光効率を計測したところ、透明電
極゛12の熱処理工程におけ□るダメージがほとんどな
いために、実験例■、■と同様に、発光輝度の場所によ
るバラツキや発光不能−素の発生がなく、均一で十分な
発光輝度がえられると共に、効率のよい発光表示を行な
えることが確認できた。
EL発光輝度および発光効率を計測したところ、透明電
極゛12の熱処理工程におけ□るダメージがほとんどな
いために、実験例■、■と同様に、発光輝度の場所によ
るバラツキや発光不能−素の発生がなく、均一で十分な
発光輝度がえられると共に、効率のよい発光表示を行な
えることが確認できた。
なお本発明は前記各実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨を逸脱しない範囲も種々変形実部可能であ
るのは勿論である。
本発明の要旨を逸脱しない範囲も種々変形実部可能であ
るのは勿論である。
本発明によれば、透明電極を絶縁体層等にで完全に被覆
した状態となし、かつ電源リード線と接続するための引
出し電極を比較的蒸発しにくい導電部材例えばAl1.
A11.八g、Cu、Niなどの金属によって作製する
ようにしたので、比較的蒸発し易いIT○や5n62等
からなる透明電極部材が、真空中で高温下に直接さらさ
れ葛のを回避でき、EL発光層の熱処理工程においそ、
透明電極がダメージを受けるお≠れがなり、電気抵抗が
変化する等のおそれのない薄IIIEL素子を提供でき
る。
した状態となし、かつ電源リード線と接続するための引
出し電極を比較的蒸発しにくい導電部材例えばAl1.
A11.八g、Cu、Niなどの金属によって作製する
ようにしたので、比較的蒸発し易いIT○や5n62等
からなる透明電極部材が、真空中で高温下に直接さらさ
れ葛のを回避でき、EL発光層の熱処理工程においそ、
透明電極がダメージを受けるお≠れがなり、電気抵抗が
変化する等のおそれのない薄IIIEL素子を提供でき
る。
第1図〜第3図は本発明の第1の実施例を示す図で、第
1図は構成を示す断面図、第2図および第3図はそれぞ
れ第1実施例に対応する実験例■。 ■を示す平面図である。第4図は本発明の第2実施例の
構成を示す断面図である。第5図および第6図は従来例
の構成を示す断面図である。 1.11・・・ガラス基板、2,72・・・透明電極、
3.13および5.15・・・絶縁体層、4,14・・
・EL発光層、6.16・・・背面電極、17・・・引
出し電極、18・・・絶縁体層。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳 第4図 第5図 第6 図
1図は構成を示す断面図、第2図および第3図はそれぞ
れ第1実施例に対応する実験例■。 ■を示す平面図である。第4図は本発明の第2実施例の
構成を示す断面図である。第5図および第6図は従来例
の構成を示す断面図である。 1.11・・・ガラス基板、2,72・・・透明電極、
3.13および5.15・・・絶縁体層、4,14・・
・EL発光層、6.16・・・背面電極、17・・・引
出し電極、18・・・絶縁体層。 出願人代理人 弁理士 坪井 淳 第4図 第5図 第6 図
Claims (1)
- 基板上に透明電極,絶縁体層,EL発光層,背面電極
等を積層した薄膜EL素子において、前記透明電極に難
蒸発性物質からなる導電部材で形成した引出し電極を接
続し、この引出し電極の引出し端部を残して前記透明電
極全体を前記絶縁体層等により被覆したことを特徴とす
る薄膜EL素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61022477A JPS62180988A (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 | 薄膜el素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61022477A JPS62180988A (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 | 薄膜el素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62180988A true JPS62180988A (ja) | 1987-08-08 |
Family
ID=12083798
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61022477A Pending JPS62180988A (ja) | 1986-02-04 | 1986-02-04 | 薄膜el素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62180988A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04190585A (ja) * | 1990-11-26 | 1992-07-08 | Kenwood Corp | 薄膜el素子の製造方法 |
JP2006032977A (ja) * | 1999-06-04 | 2006-02-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置 |
JP2007048758A (ja) * | 1999-06-04 | 2007-02-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置の作製方法 |
JP2007066912A (ja) * | 1999-06-04 | 2007-03-15 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置の作製方法 |
JP2007188890A (ja) * | 1999-06-04 | 2007-07-26 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置の作製方法 |
WO2014162453A1 (ja) * | 2013-04-01 | 2014-10-09 | パイオニア株式会社 | 接合構造および発光装置 |
US8890172B2 (en) | 1999-06-04 | 2014-11-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing an electro-optical device |
-
1986
- 1986-02-04 JP JP61022477A patent/JPS62180988A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04190585A (ja) * | 1990-11-26 | 1992-07-08 | Kenwood Corp | 薄膜el素子の製造方法 |
JP2006032977A (ja) * | 1999-06-04 | 2006-02-02 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置 |
JP2007048758A (ja) * | 1999-06-04 | 2007-02-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置の作製方法 |
JP2007066912A (ja) * | 1999-06-04 | 2007-03-15 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置の作製方法 |
JP2007188890A (ja) * | 1999-06-04 | 2007-07-26 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置の作製方法 |
JP4515349B2 (ja) * | 1999-06-04 | 2010-07-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 電気光学装置 |
JP4515469B2 (ja) * | 1999-06-04 | 2010-07-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 電気光学装置の作製方法 |
JP4532452B2 (ja) * | 1999-06-04 | 2010-08-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 電気光学装置 |
US8890172B2 (en) | 1999-06-04 | 2014-11-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing an electro-optical device |
US9293726B2 (en) | 1999-06-04 | 2016-03-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing an electro-optical device |
WO2014162453A1 (ja) * | 2013-04-01 | 2014-10-09 | パイオニア株式会社 | 接合構造および発光装置 |
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