JPS62176441A - 核磁気共鳴断層撮影装置用スキヤンコントロ−ラ - Google Patents
核磁気共鳴断層撮影装置用スキヤンコントロ−ラInfo
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- JPS62176441A JPS62176441A JP61017372A JP1737286A JPS62176441A JP S62176441 A JPS62176441 A JP S62176441A JP 61017372 A JP61017372 A JP 61017372A JP 1737286 A JP1737286 A JP 1737286A JP S62176441 A JPS62176441 A JP S62176441A
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Landscapes
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は核磁気共鳴断層日影装置(以下NMR−CTと
いう)の勾配磁場及びRFパルス波形を制御する信号を
作るためのNMR−CT用ススキャンコントローラ関づ
る。
いう)の勾配磁場及びRFパルス波形を制御する信号を
作るためのNMR−CT用ススキャンコントローラ関づ
る。
(従来の技術)
核磁気共鳴(以下NMRという)現象を用いて特定原子
核に注目した被検体の断層像を得るNMR−GTは従来
から知られている。このNMR−CTの原理の概要を簡
単に説明する。
核に注目した被検体の断層像を得るNMR−GTは従来
から知られている。このNMR−CTの原理の概要を簡
単に説明する。
原子核は磁気を帯び1=回転している独楽と見ることが
できるが、それを例えば2@方向の静taJAHoの中
におくと、前記の原子核は次式で示1角速度ω0でR差
運動をする。これをラモアの歳差運動という。
できるが、それを例えば2@方向の静taJAHoの中
におくと、前記の原子核は次式で示1角速度ω0でR差
運動をする。これをラモアの歳差運動という。
ω0−γl」o 但し、γ:核磁気回転比今、静磁
場のあるl軸に垂直な軸、例えばX軸に高周波コイルを
配置し、xy面内で回転する前記−の角周波数ω0の高
周波回転磁場を印加りると國気共鳴が起り、静磁場1・
1oのムとでぜ−マン分裂をしていIζ原子核の集団は
共鳴条件を満足りる高周波磁場によって準位間の遷移を
生じ、エネルギ−準位の高い方の準位に遷移する。ここ
で、核磁気回転比γは原子核の種類によって異なるので
共鳴周波数によって当該原子核を特定することかできる
。史にその共鳴の強さを測定すれば、その原子核の存在
6を知ることができる。共鳴後緩和時間と呼ばれる時定
数で定まる時間の間に高いQli位l\励起された原子
核は低い準位へ戻ってエネルギーの放射を行う。NMR
の現客の観測には大きく分1って定常法とパルス法があ
って、前当は前述のように共鳴条件を満足する連続的に
加えられた高周波エネルギーが縦核磁気緩和時間T1を
通じて格子系に吸収されていく過程を検出するものであ
る。後者は横核磁気緩和時間T2に比べて十分短い時間
に断熱的に高周波パルスを印加し、その後に起こるスピ
ン系の運動を直接観測しようとするもので、現tEN
M Rの技術は主としてこのパルス法に基づいている。
場のあるl軸に垂直な軸、例えばX軸に高周波コイルを
配置し、xy面内で回転する前記−の角周波数ω0の高
周波回転磁場を印加りると國気共鳴が起り、静磁場1・
1oのムとでぜ−マン分裂をしていIζ原子核の集団は
共鳴条件を満足りる高周波磁場によって準位間の遷移を
生じ、エネルギ−準位の高い方の準位に遷移する。ここ
で、核磁気回転比γは原子核の種類によって異なるので
共鳴周波数によって当該原子核を特定することかできる
。史にその共鳴の強さを測定すれば、その原子核の存在
6を知ることができる。共鳴後緩和時間と呼ばれる時定
数で定まる時間の間に高いQli位l\励起された原子
核は低い準位へ戻ってエネルギーの放射を行う。NMR
の現客の観測には大きく分1って定常法とパルス法があ
って、前当は前述のように共鳴条件を満足する連続的に
加えられた高周波エネルギーが縦核磁気緩和時間T1を
通じて格子系に吸収されていく過程を検出するものであ
る。後者は横核磁気緩和時間T2に比べて十分短い時間
に断熱的に高周波パルスを印加し、その後に起こるスピ
ン系の運動を直接観測しようとするもので、現tEN
M Rの技術は主としてこのパルス法に基づいている。
このパルス法について第2図を参照しながら説明する。
、ii、 3aiのように共鳴条件を満足する高周波パ
ルス(H+ )を静磁場(7,軸)に垂直な(X軸)方
向に印加すると、第2図くイ)に示づように全磁気モー
メントMは回転座標系でω′=TI−11の角周波数で
zy而面内回転を始める。今パルス幅を(0とするとt
−1oからの回転角はθ=γll+joであり、0−・
90’となるようなtoを6つパルスを90″パルスと
叶ぶ。この90″パルス直後では磁気[−メントMは第
2図(ロ)のようにxy面をω0で回転していることに
なり、例えばX軸においたコイルに誘導起電力を生じる
。しかし、この信号は時間と共に減衰していくのひ、こ
の信号を自由誘導減衰信号(FED)と呼ぶ。FfD信
号をフーリエ変換すれば周波数領域での信号が1qられ
る。次に第2図(ハ)に示すように90°パルスからτ
時間後θ−180°になるようなパルス幅の第2のパル
ス<180’パルス)を加えるとばらばらになっていた
磁気モーメントがτ萌聞役−y方向で再び焦点を合せて
信号が観測される。
ルス(H+ )を静磁場(7,軸)に垂直な(X軸)方
向に印加すると、第2図くイ)に示づように全磁気モー
メントMは回転座標系でω′=TI−11の角周波数で
zy而面内回転を始める。今パルス幅を(0とするとt
−1oからの回転角はθ=γll+joであり、0−・
90’となるようなtoを6つパルスを90″パルスと
叶ぶ。この90″パルス直後では磁気[−メントMは第
2図(ロ)のようにxy面をω0で回転していることに
なり、例えばX軸においたコイルに誘導起電力を生じる
。しかし、この信号は時間と共に減衰していくのひ、こ
の信号を自由誘導減衰信号(FED)と呼ぶ。FfD信
号をフーリエ変換すれば周波数領域での信号が1qられ
る。次に第2図(ハ)に示すように90°パルスからτ
時間後θ−180°になるようなパルス幅の第2のパル
ス<180’パルス)を加えるとばらばらになっていた
磁気モーメントがτ萌聞役−y方向で再び焦点を合せて
信号が観測される。
この信号をスピンエコー(SE)と呼んでいる。
このスピンエコーの強度を測定して所望の像を得ること
ができる。NMRの共鳴条件は シーγHo / 2 π で与えられる。ここで、νは共鳴周波数、Hoは静磁場
の強さである。従って共鳴周波数はIa場の強さに比例
することが分る。このため静Ii場に線形の141場勾
配を重畳させて、位置によって異なる強さの磁場を与え
、共鳴周波数を変化させて位置情報を1qるNMRイメ
ージングの方法がある。この内スピンワーブ法について
説明する。この手法に用いる高周波磁場及び勾配磁場印
加のパルスシーケンスを第3図に示す。(イ)図におい
て、×。
ができる。NMRの共鳴条件は シーγHo / 2 π で与えられる。ここで、νは共鳴周波数、Hoは静磁場
の強さである。従って共鳴周波数はIa場の強さに比例
することが分る。このため静Ii場に線形の141場勾
配を重畳させて、位置によって異なる強さの磁場を与え
、共鳴周波数を変化させて位置情報を1qるNMRイメ
ージングの方法がある。この内スピンワーブ法について
説明する。この手法に用いる高周波磁場及び勾配磁場印
加のパルスシーケンスを第3図に示す。(イ)図におい
て、×。
y、z軸に夫々Gx 、Gy 、Gzの磁場を与え、高
周波磁場をz軸に印加する状態を示している。
周波磁場をz軸に印加する状態を示している。
(ロ)図は夫々の磁場を印加するタイミングを示寸図で
ある。図においてRFは高周波の回転磁場で90’パル
スと180°パルスをX軸に印加する。Gxはz軸に印
加する固定の勾配vA場、Gyはz軸に印加づる時間に
にっで振幅を変化させる勾配磁場、Gzはz軸に印加す
る固定の勾配磁場である。信号は90°パルス後の1:
ID信号と180”パルス後のSE倍信号示している。
ある。図においてRFは高周波の回転磁場で90’パル
スと180°パルスをX軸に印加する。Gxはz軸に印
加する固定の勾配vA場、Gyはz軸に印加づる時間に
にっで振幅を変化させる勾配磁場、Gzはz軸に印加す
る固定の勾配磁場である。信号は90°パルス後の1:
ID信号と180”パルス後のSE倍信号示している。
期間は各軸に与える勾配磁場の信号の時期を示すために
設けである。期間1において90°パルスと勾装置1f
ljJ2Gz+によってZ=Qを中心とするz軸に垂直
な断層囮影におけるスライス面内のスピンが選択的に励
起される。期間2のQz−はQz+によって乱れたスピ
ンの位相を元に戻すためのものである。期間2ではGy
nも印加する。これはy方向の位置に比例してスピンの
位相をずらしてやる所謂ワーブと称せられる勾配磁場の
ためのもので、その強度は毎因明?シなるように制御さ
れる。期間3において180°パルスを与えて再び磁気
モーメントを11σえ、その後に現われるS E (g
Hを観察する。
設けである。期間1において90°パルスと勾装置1f
ljJ2Gz+によってZ=Qを中心とするz軸に垂直
な断層囮影におけるスライス面内のスピンが選択的に励
起される。期間2のQz−はQz+によって乱れたスピ
ンの位相を元に戻すためのものである。期間2ではGy
nも印加する。これはy方向の位置に比例してスピンの
位相をずらしてやる所謂ワーブと称せられる勾配磁場の
ためのもので、その強度は毎因明?シなるように制御さ
れる。期間3において180°パルスを与えて再び磁気
モーメントを11σえ、その後に現われるS E (g
Hを観察する。
以上がNMR−CTの原理であって特にスピンワーブ法
について説明した。前述の説明では各勾配磁場の信号等
はコイル設置の座標系による所謂マシン系といわれる直
交座標系を用いていたが、実際の診断においては診断部
位によって断層像の断層面(スライス而)を各種の角度
に設定づる必要がある。その状態を第4図に承り。第4
図(イ)はマシン系の×、y、z軸を夫々スライス軸、
ワープ軸、リード軸としてスライス信号O9,ワーブ信
号GW 、リード信号Gt+を印加している状1ぷを示
しており、第4図(ロ)はx軸回りの回転をα、y@回
りの回転をβ、Z軸回りの回転をγとする角度だけティ
ルトしてマシン系の3軸が新しい座標系であるスライス
軸S、ワープ軸W及びリード軸Rのスキャン系に変換さ
れた状態を示している。変換された各軸部らスライス軸
S、ワーブ@W及びリード軸Rに印加するG5.Gv
及びGkのパルスシーケンスを第5図に示す。第5図に
おいてその波形は第3図のQx 、 GV 、 Gz
カG*、Gy、Gsに置き換えられているだけである。
について説明した。前述の説明では各勾配磁場の信号等
はコイル設置の座標系による所謂マシン系といわれる直
交座標系を用いていたが、実際の診断においては診断部
位によって断層像の断層面(スライス而)を各種の角度
に設定づる必要がある。その状態を第4図に承り。第4
図(イ)はマシン系の×、y、z軸を夫々スライス軸、
ワープ軸、リード軸としてスライス信号O9,ワーブ信
号GW 、リード信号Gt+を印加している状1ぷを示
しており、第4図(ロ)はx軸回りの回転をα、y@回
りの回転をβ、Z軸回りの回転をγとする角度だけティ
ルトしてマシン系の3軸が新しい座標系であるスライス
軸S、ワープ軸W及びリード軸Rのスキャン系に変換さ
れた状態を示している。変換された各軸部らスライス軸
S、ワーブ@W及びリード軸Rに印加するG5.Gv
及びGkのパルスシーケンスを第5図に示す。第5図に
おいてその波形は第3図のQx 、 GV 、 Gz
カG*、Gy、Gsに置き換えられているだけである。
N M R−C−r装置αでは3軸のコイルはマシン系
で配置されてJ3す、ディル1−シた座標系の3軸に信
号を与えるためにマシン系の各軸に与える(g Qの合
成ベクトルがスキャン系の要求される3軸に与える(f
fi Qに合致−4る必要があり、各軸の回転角度から
x、y、z軸に印加づる信号Gx 、 Gy 、 G2
を計C)で求めていた。
で配置されてJ3す、ディル1−シた座標系の3軸に信
号を与えるためにマシン系の各軸に与える(g Qの合
成ベクトルがスキャン系の要求される3軸に与える(f
fi Qに合致−4る必要があり、各軸の回転角度から
x、y、z軸に印加づる信号Gx 、 Gy 、 G2
を計C)で求めていた。
(発明が解決しようとする問題点)
前述のように座標軸を空間において自由にティルトさせ
て信号のベク]〜ル合成によりマシン系の3軸に与える
信号をスキャン系に変更するためには?!J雑で多数の
演口を必要としていた。
て信号のベク]〜ル合成によりマシン系の3軸に与える
信号をスキャン系に変更するためには?!J雑で多数の
演口を必要としていた。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は
座標軸をティルトするための3軸の回転角度を入力する
と早い計算時間で、ティルトした新しい座標軸に所望の
勾配出力波形を与えることのできる、マシン系の3+l
lに印加する信号を計算し出力するNMR−CT用スス
キャンコントローラ実現することである。
座標軸をティルトするための3軸の回転角度を入力する
と早い計算時間で、ティルトした新しい座標軸に所望の
勾配出力波形を与えることのできる、マシン系の3+l
lに印加する信号を計算し出力するNMR−CT用スス
キャンコントローラ実現することである。
(問題点を解決するための手段)
前記の問題点を解決する本発明は、核磁気共鳴断層lI
l影装置の勾配磁場及びRFパルス波形を制御する信号
を作るためのNMR−CT用ススキャンコントローラお
いて、スキャン系座標で記述した3軸の波形源と、該波
形源とは独立に任意の角度に設定したスライス面に適用
するためにスキャン系3直交座標軸のマシン系3直交座
標軸に対づる回転角を格納する角rfI信号メモリを備
え、前記波形源と、前記角度信号メモリからの信号によ
り装置に固定された直交座標軸X、V、Zに座標変換す
るハードウェアを有することを特徴とするものである。
l影装置の勾配磁場及びRFパルス波形を制御する信号
を作るためのNMR−CT用ススキャンコントローラお
いて、スキャン系座標で記述した3軸の波形源と、該波
形源とは独立に任意の角度に設定したスライス面に適用
するためにスキャン系3直交座標軸のマシン系3直交座
標軸に対づる回転角を格納する角rfI信号メモリを備
え、前記波形源と、前記角度信号メモリからの信号によ
り装置に固定された直交座標軸X、V、Zに座標変換す
るハードウェアを有することを特徴とするものである。
く作用)
スライス軸を任意の角度にティルトさせたスキャン系3
百交座標軸のマシン系3直交座標軸からの回転角の信号
と、前記スキャン系座標軸にちえる勾配磁場の波形の信
号とを受けてハード1クエアでマトリクス計算を行い、
マシン系座標軸に印加する勾配la場倍信号求める。
百交座標軸のマシン系3直交座標軸からの回転角の信号
と、前記スキャン系座標軸にちえる勾配磁場の波形の信
号とを受けてハード1クエアでマトリクス計算を行い、
マシン系座標軸に印加する勾配la場倍信号求める。
(実施例)
以下に図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示リブロック図である。図
においで、1は被検体の断層面に直交するスライス軸に
勺える仏ZGsを格納するG s (=mmツメモリ2
はワーブ軸に与える信号Gwを格納りるGW メ[りで
、3はリード軸Rに与える(g号GRを格納するGR信
信号モリである。Gs信信号メジ1.G、信号メモリ2
及びGR信号メモリ3に格納されている勾配磁場信号は
座標軸が如何なる回転をしても第4図に示すS軸、W軸
及びR軸に印加する、回転によっては変化しむい信号で
ある。4は角度信号メモリで、第4図に示づようにαは
X軸からR軸への回転角、βはy軸からW軸、γはz軸
からS軸への回転角の角1q信号を格納しており、上記
Gsメモリ1.Gu メモリ2゜GRメモリ3及びrf
t度信号メモリ4でシーケンスメモリを構成している。
においで、1は被検体の断層面に直交するスライス軸に
勺える仏ZGsを格納するG s (=mmツメモリ2
はワーブ軸に与える信号Gwを格納りるGW メ[りで
、3はリード軸Rに与える(g号GRを格納するGR信
信号モリである。Gs信信号メジ1.G、信号メモリ2
及びGR信号メモリ3に格納されている勾配磁場信号は
座標軸が如何なる回転をしても第4図に示すS軸、W軸
及びR軸に印加する、回転によっては変化しむい信号で
ある。4は角度信号メモリで、第4図に示づようにαは
X軸からR軸への回転角、βはy軸からW軸、γはz軸
からS軸への回転角の角1q信号を格納しており、上記
Gsメモリ1.Gu メモリ2゜GRメモリ3及びrf
t度信号メモリ4でシーケンスメモリを構成している。
5tよ演亦器で前記各メモリからの信号を演c)シてX
、V、Zの各軸に与える勾配磁場イエ号Gx 、GV
、Gzを求めるものである。
、V、Zの各軸に与える勾配磁場イエ号Gx 、GV
、Gzを求めるものである。
次に上記実施例の1PIJ作について第1図を用いて説
明する。スライス軸8.1ノーブ軸W及びリード軸Rに
与える信号の波形を人々Gs信号メ七り1゜Gw 信号
メモリ2及びGR信目メしり3に格納する。そして被検
1本のスライス面の傾きに基づき、スライス軸S、ワー
ブ軸W及びリード軸RのX。
明する。スライス軸8.1ノーブ軸W及びリード軸Rに
与える信号の波形を人々Gs信号メ七り1゜Gw 信号
メモリ2及びGR信目メしり3に格納する。そして被検
1本のスライス面の傾きに基づき、スライス軸S、ワー
ブ軸W及びリード軸RのX。
y、Z軸に対する回転角度、β、γを角度信号メモリ4
に格納する。これらのメモリから夫々の信号を逐次読出
し演算器5において演咋を行わせる。
に格納する。これらのメモリから夫々の信号を逐次読出
し演算器5において演咋を行わせる。
座標軸変換に必要な計算は次の通りである。
・・・(′1)
ここで上記マ[・リクスPの第1項はX軸の回転、第2
項はy軸の回転、第3項はZ軸の回転を表わづ項である
。
項はy軸の回転、第3項はZ軸の回転を表わづ項である
。
(1)式より
・・・(2)
(1)、(2)式より
Gx=
cosβ CO37GR−C03I3 5ir17G7
+ sinβGs Gy= (5incz sinβ CO37+ C03rx
5in7 ) GR−(sinα sinβ 5t
n7− aosa cosγ) Gw−sinα
cos/3Gs C7,= −(cosa sinβ cos7− 5in(Xs
in7) GR+ (cosa sinβ 5in7
−+−sinαcos7 ) Gw−) cos’
a cos β Gss算器5には(2)式のPが
記憶させである。
+ sinβGs Gy= (5incz sinβ CO37+ C03rx
5in7 ) GR−(sinα sinβ 5t
n7− aosa cosγ) Gw−sinα
cos/3Gs C7,= −(cosa sinβ cos7− 5in(Xs
in7) GR+ (cosa sinβ 5in7
−+−sinαcos7 ) Gw−) cos’
a cos β Gss算器5には(2)式のPが
記憶させである。
スキャン開始に当ってスライス面設定情報である各軸回
転角度信号(α、β、γ)と、時刻と共に変化するスキ
ャン系で定義した磁気勾配信号(GR,GW、Rs)と
を夫々角度信号メモリ4とG111信号メモリ3.G、
信号メモリ2及びGg?信号メモリ1に別々にゼットし
ておいてスキャン開始と同時にこれら6つのパラメータ
から(2)式の回転マトリクスPの演口をリアルタイム
で行いつつ(3)式のマシン系の制御出力であるGX+
Gy、Gzを出力する。前記の演算器5は回転マトリク
スP及び(3)式を演算°するための単能計痺機であっ
てNMR−CTのCPUである汎用計q機で計算するの
に比し計算速度を早くすることができる。又、勾配出力
波形を例えば矩形波、半波の正弦波形等の波形セットと
して持っている場合に波形合成が自由にできる。
転角度信号(α、β、γ)と、時刻と共に変化するスキ
ャン系で定義した磁気勾配信号(GR,GW、Rs)と
を夫々角度信号メモリ4とG111信号メモリ3.G、
信号メモリ2及びGg?信号メモリ1に別々にゼットし
ておいてスキャン開始と同時にこれら6つのパラメータ
から(2)式の回転マトリクスPの演口をリアルタイム
で行いつつ(3)式のマシン系の制御出力であるGX+
Gy、Gzを出力する。前記の演算器5は回転マトリク
スP及び(3)式を演算°するための単能計痺機であっ
てNMR−CTのCPUである汎用計q機で計算するの
に比し計算速度を早くすることができる。又、勾配出力
波形を例えば矩形波、半波の正弦波形等の波形セットと
して持っている場合に波形合成が自由にできる。
尚、本発明はここに挙げたものに限ることはなく、例え
ばスキャン開始の前に予めスライス軸のティル1−の吊
を定めて角度α、β、γによる正弦及び余弦を汎用のC
PUに演咋させて、回転マトリクスPの9個の要素を定
数メモリに格納してJ3いて専用演算器に送って(3)
式を求める演陣をリアルタイムで行わせてもよい。
ばスキャン開始の前に予めスライス軸のティル1−の吊
を定めて角度α、β、γによる正弦及び余弦を汎用のC
PUに演咋させて、回転マトリクスPの9個の要素を定
数メモリに格納してJ3いて専用演算器に送って(3)
式を求める演陣をリアルタイムで行わせてもよい。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、本発明によれば計算が早(
できてスライス軸の変更に即応できる。
できてスライス軸の変更に即応できる。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
NMR−CTのパルス法の原理の説明図、第3図はNM
R−CTの磁場のパルスシーケンスを示す図、第4図は
スライス面とスキ1シン系座標軸及びマシン系座標軸の
関係を示す図で第5図はスキセン系座標軸に印加する磁
場のパルスシーケンスを示す図である。 1・・・Gs信同月メモリ 2・・・G (g号メモ
リ3・・・GR信号メモリ 4・・・角度信号メモリ
5・・・演粋器 S・・・スライス軸W・・
・ワーブ軸 R・・・リード軸特許出願人 横
河メディカルシステム株式会社(イ) S; W: 図 (ロ) スライス軸 ワープ軸
NMR−CTのパルス法の原理の説明図、第3図はNM
R−CTの磁場のパルスシーケンスを示す図、第4図は
スライス面とスキ1シン系座標軸及びマシン系座標軸の
関係を示す図で第5図はスキセン系座標軸に印加する磁
場のパルスシーケンスを示す図である。 1・・・Gs信同月メモリ 2・・・G (g号メモ
リ3・・・GR信号メモリ 4・・・角度信号メモリ
5・・・演粋器 S・・・スライス軸W・・
・ワーブ軸 R・・・リード軸特許出願人 横
河メディカルシステム株式会社(イ) S; W: 図 (ロ) スライス軸 ワープ軸
Claims (1)
- 核磁気共鳴断層撮影装置の勾配磁場及びRFパルス波形
を制御する信号を作るための核磁気共鳴断層撮影装置用
スキャンコントローラにおいて、スキャン系座標で記述
した3軸の波形源と、該波形源とは独立に任意の角度に
設定したスライス面に適用するためにスキャン系3直交
座標軸のマシン系3直交座標軸に対する回転角を格納す
る角度信号メモリを備え、前記波形源と、前記角度信号
メモリからの信号により装置に固定された直交座標軸x
、y、zに座標変換するハードウェアを有することを特
徴とする核磁気共鳴断層撮影装置用スキャンコントロー
ラ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61017372A JPS62176441A (ja) | 1986-01-29 | 1986-01-29 | 核磁気共鳴断層撮影装置用スキヤンコントロ−ラ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61017372A JPS62176441A (ja) | 1986-01-29 | 1986-01-29 | 核磁気共鳴断層撮影装置用スキヤンコントロ−ラ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62176441A true JPS62176441A (ja) | 1987-08-03 |
Family
ID=11942188
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61017372A Pending JPS62176441A (ja) | 1986-01-29 | 1986-01-29 | 核磁気共鳴断層撮影装置用スキヤンコントロ−ラ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62176441A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01119238A (ja) * | 1987-10-31 | 1989-05-11 | Shimadzu Corp | Mri装置における傾斜磁場制御装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60242352A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-12-02 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | サンプルのnmr像を発生する方法とnmr作像装置 |
JPS61213758A (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 投影再構成型の核磁気共鳴断層撮像装置の勾配磁場発生方法 |
JPS62117542A (ja) * | 1985-08-27 | 1987-05-29 | レソネツクス インコ−ポレ−テツド | 非直交nmr作像方法 |
-
1986
- 1986-01-29 JP JP61017372A patent/JPS62176441A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60242352A (ja) * | 1984-02-17 | 1985-12-02 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | サンプルのnmr像を発生する方法とnmr作像装置 |
JPS61213758A (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 投影再構成型の核磁気共鳴断層撮像装置の勾配磁場発生方法 |
JPS62117542A (ja) * | 1985-08-27 | 1987-05-29 | レソネツクス インコ−ポレ−テツド | 非直交nmr作像方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01119238A (ja) * | 1987-10-31 | 1989-05-11 | Shimadzu Corp | Mri装置における傾斜磁場制御装置 |
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