JPS62176186A - プリント基板の製造方法 - Google Patents

プリント基板の製造方法

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JPS62176186A
JPS62176186A JP61018841A JP1884186A JPS62176186A JP S62176186 A JPS62176186 A JP S62176186A JP 61018841 A JP61018841 A JP 61018841A JP 1884186 A JP1884186 A JP 1884186A JP S62176186 A JPS62176186 A JP S62176186A
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JP
Japan
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circuit board
printed circuit
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hole
manufacture
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JP61018841A
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雅登 山田
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Otari Electric Co Ltd
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Otari Electric Co Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、絶縁基板上に導体を印刷したプリント基板を
製造するプリント基板の製造方法に関するもので、特に
プリント基板の加工寸法の精度の検査工程を改良したプ
リント基板の製造方法に関する。
〔発明の背景と従来の技術〕
7” IJント基板は、絶縁基板の加工が簡単なため、
従来のように電子部品を乗せるだけではなく、例えばモ
ーターなどの一部を基板上に形成して用いている。
このときに問題となるのがプリント基板の加工精度であ
る。すなわち、プリント基板上に形成された検出素子と
プリント基板に設けられた取り付は穴の相対位置の寸法
精度であるとか、プリント基板のパターン位置とプリン
ト基板の穴の相対位置の精度は、パターンの形成工程と
プリント基板の機械加工工程が別々に行われるため、精
度維持が困難であった。
このような問題を解決する従来の手段は、例えば特公昭
54−25226号公報に開示されているように、導体
パターンと同時に穴位置を示すマークを形成し、そのマ
ークに対して穴位置が、どのようにずれたかを目視によ
って811べろというものがあった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、このように、基本的に目視による検査は自動化
が困難であった。また他の欠点としては大きな寸法の穴
では穴位置がずれたのかどうかを判別するのが困難であ
った。
本発明はかかる従来の問題点に着目してなされたもので
、プリント基板上の導体パターンとプリント基板にあけ
た穴の相対位置の精度を簡単に、しかも自動的に検査で
きるプリント基板の製造方法を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明はかかる目的を達成するため、基板に機械的な加
工を施したプリント基板を製造する方法において、基板
の加工位置の縁に沿って細い導体パターンを形成したプ
リント基板を作成し、該導体パターンの導通を検査し、
導通があったときにプリント基板を良品とし、導通がな
かったときにプリント基板を不良品としたものである。
〔実施例〕
第1図は本発明の実施例である。図中1は絶縁基板であ
り、図示しない導体パターンが形成されている。2は絶
縁基板に設けた穴である。3は穴2の外縁に沿って形成
した細い導体パターンであり、4及び5は導体パターン
3の両端に設けた端子である。この導体パターン3は図
示しない他の導体パターンと同時に形成されている。こ
のよろなプリント基板を製造する場合は、まず、導体パ
ターンの形成と穴加工を終ったプリント基板について端
子間の導通を確認する。
もし、導通が無ければ、第1図に示した符号6のように
導体パターン3に対して穴2の位置がずれており、その
ために導体パターン3が切断されたものである。この場
合は、不良品と判断する。
また導通があれば、良品と判断する。
第2図は本発明の他の実施例である。絶縁基板1には穴
2が加工され、符号7の部分は捨てられる部分である。
穴2の位置を検査するパターン3は穴2の内側に設けで
ある点が第1図で示した実施例と異なる。
さらに他の実施例としては、同じく第2図において示す
ように絶縁基板1の外周に導体パターン8を設けるもの
が考えられる。
第1図に示した実施例は、絶縁基板1に導体パターンを
形成した後に穴2の加工を行ってもよく、また穴2の加
工が終わってから導体パターンの形成を行ってもよい。
第2図に示した絶縁基板1の穴2の内側にパターン3を
形成するには、穴2の加工を行う前に導体パターンの形
成を行なわなければならないが。
検査が終わった後に基板1側に導体パターン3が残らな
い利点がある。
また第2図に示した基板1の外周にパターン8を形成す
ることにより、基板の外周に対する基板1に形成された
図示しないパターンの相対位置の検査を容易に行える。
さらにいずれの実施例であっても、検査用のパターンと
回路用パターンを兼用するようにしても良い。
〔効 果〕
以上、本発明を実施する事により簡単に精度のよいプリ
ント基板を製造する事ができる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すプリント基板の平面図
、第2図は本発明の他の実施例を示すプリント基板の平
面図である。 l・・・・・・基板、3,8・・・・・・導体パターン
。 l 箋23目

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基板に機械的な加工を施したプリント基板を製造する
    方法において、基板の加工位置の縁に沿って細い導体パ
    ターンを形成したプリント基板を作成し、該導体パター
    ンの導通を検査し、導通があったときにプリント基板を
    良品とし、導通がなかったときにプリント基板を不良品
    とするプリント基板の製造方法。
JP61018841A 1986-01-29 1986-01-29 プリント基板の製造方法 Granted JPS62176186A (ja)

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JP61018841A JPS62176186A (ja) 1986-01-29 1986-01-29 プリント基板の製造方法

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JPS62176186A true JPS62176186A (ja) 1987-08-01
JPH0426795B2 JPH0426795B2 (ja) 1992-05-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5118638A (en) * 1988-03-18 1992-06-02 Fuji Electric Co., Ltd. Method for manufacturing MOS type semiconductor devices

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5118638A (en) * 1988-03-18 1992-06-02 Fuji Electric Co., Ltd. Method for manufacturing MOS type semiconductor devices

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JPH0426795B2 (ja) 1992-05-08

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