JPS62170873A - 光バリア装置 - Google Patents

光バリア装置

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JPS62170873A
JPS62170873A JP61308992A JP30899286A JPS62170873A JP S62170873 A JPS62170873 A JP S62170873A JP 61308992 A JP61308992 A JP 61308992A JP 30899286 A JP30899286 A JP 30899286A JP S62170873 A JPS62170873 A JP S62170873A
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light
relay
barrier device
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signal
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JP61308992A
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エーサン　サリム
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Agie Charmilles SA
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 本発明は、相互に対応された複数の送光手段および複数
の受光手段を含む光バリア装置であって、前記送光手段
と前記受光手段の各対を周期的に活動的にさせる制御回
路と、前記送光手段が活動的にされた場合にその送光手
段に対応する受光手段が応答したか否かを点検する第１
のチャンネルおよび前記送光手段が非活動的であるにも
かかわらずその送光手段に対応する受光手段が応答した
か否かを点検する第２のチャンネルを有する評価回路と
を含む、光バリア装置に関する。
この種の光バリア装置は、米国特許第４，５２０．２６
２号明細書により公知である。複数の発光ダイオードの
列は、ダイオード一つづつ順次発光するように制御され
る。各光反応受光素子は、各発光ダイオード（送光器）
と共同する。各送光器および受光器の対はマルチプレク
サにより同期して制御され、該マルチプレクサは共通の
バイナリ−カウンタによって制御される。バイナリ−カ
ウンタは、クロック発生器からのパルスを計数する。受
光器側では、論理回路内でそれぞれの発光器用の励起パ
ルスを受光器側のパルスと比較し、これを二つの関係に
定義付ける。第１の論理積回路は発光器側制御パルスが
受光器側でパルスとして生じたか否かを点検し、第２の
論理積回路は発光器側のパルスインターバルの間受光器
側で異常パルスが生じたか否かを点検する。
しかし、この回路では、考えられる全ての異常、特に各
要素に特有の異常の場合に正確に応答しないという欠点
がある。また、アラームを誤って作動させることができ
るので、各パルスの位置場よび幅を正確に一致させなけ
ればならないという欠点がある。
発明の概要 本発明の目的は、最適な安全性および信頼性となるよう
に、上記の光バリア装置の監視回路を改良することにあ
る。
この目的は、本発明によれば、相互に対応された複数の
送光手段および複数の受光手段と、前記送光手段と前記
受光手段との各対を周期的に活動的にさせる制御回路と
、前記送光手段が活動的にされた場合にその送光手段に
対応する受光手段が応答したか否かを点検する第１のチ
ャンネルおよび前記送光手段が非活動的であるにもかか
わらずその送光手段に対応する受光手段が応答したか否
かを点検する第２のチャンネルを有する評価回路とを含
み、前記評価回路は前記受光手段の出力信号の動的成分
に応答して異常が生じたときに前記第１および第２のチ
ャンネルの応答感度を増大さ“せる第３のチャンネルを
さらに有する、光バリア装置、とすることにより解決さ
れる。
本発明の重要な基本的な特徴は、２つのチャンネルすな
わち第１および第２のチャンネルを監視する第３のチャ
ンネルを備えることである。信頼性は、正しくない指示
を導く回路要素の欠陥を直ちに検出することができるよ
うに、測定段階および特有の試験段階を実行することに
より、増大される。
信頼性は、また、プラントまたは機械、たとえば光バリ
ア装置によって監視される外部要素の各構成要素が評価
回路すなわち監視回路に組み込まれることによっても増
大される。
信頼性は、まちがったアラームの多くのリスクを同時に
減じる間、３つのチャンネルで処理する信号がアナログ
信号であるが、実際には３つのチャンネルの入出力信号
がパルス状のディジタル信号であることによっても増大
される。
信頼性は、また、無故障運転時に一つのチャンネルによ
り制御される切換え要素が常に作動しく励磁されたリレ
ーの場合）、他が作動しない（非励磁のリレーの場合）
ように、一つのチャンネルの出力を他のチャンネルに対
し反転させることによって増大される。最後に信頼性は
異常が生じた後、監視される機械またはプラントが停止
され、操作員がリセットキーを操作して作動状態にする
ことができるだけである点でも増大される。
これは、異常が完全に解決されたときだけ行なうことが
できる。
好ましい実施例の説明 本発明の上記のおよび他の特徴は、以下の制限さねない
実施例についての別添図面を参照する説明からより明ら
かになろう。
第１図は本発明に従う回路のブロック図を示す。送信器
すなわち送光器ｌは、受信器すなわち受光器３で監視さ
れるように空間すなわち通路２を経る赤外線のような光
線を発生する。送光器１は、通常直線ダイオード列の形
に配置された複数の発光ダイオード４〜４ｍを含む。Ｌ
ＥＤすなわち各発光ダイオード４〜４ｍは、光ビームを
より形よく集光するレンズ５〜５ｍのような光学手段と
共同する。受光器３はその入力側に、受光した光ビーム
を光感応素子７〜７ｍに伝達するレンズ６〜６ｍのよう
な光学手段を有する。各光感応素子７〜７ｍは、発光ダ
イオード４〜４ｍと一対一の関係で対応される。光学手
段５〜５ｍ。
６〜６ｍは、特定の発光ダイオードの光ビームを該発光
ダイオードと共同する光感応素子にだけ確実に到達させ
る。
それぞれの発光ダイオード４〜４ｍは、送光器側マルチ
プレクサ８により規則的かつ連続的に活動化される。同
様に、光感応素子７〜７ｍは、受光器側マルチプレクサ
９によりて規則的かつ連続的にポーリングをされる。両
マルチプレクサ８．９は、一つの測定段階において発光
している発光ダイオード４に対応する光感応素子７だけ
がポーリングをされるように、相互に同期される。
発生器１０は、その固定された周波数の方形波状のクロ
ックパルスを端子ｃ１から出方し、またクロックパルス
の周波数より低い２分の１の周波数の制御パルスを端子
Ｑから出力する。発生器１０の出力端子Ｑのパルスは、
バイナリカウンタである二つのカウンタ１１，１２に供
給される。
これらのカウンタは、相互に同期して作動され、またマ
ルチプレクサ８．９を制御するのに使用される。カウン
タ１１．１２の読取り機能すなわち歩進により、マルチ
プレクサ８．９はスイッチングステイトを明らかに規定
される。発生器１０の出力端子Ｑのパルスは、マルチプ
レクサ８の信号入力端子に供給される。この信号の供給
線にはアンドゲート８′が接続され、該ゲートの他の入
力端子にはカウンタ１２の最高ビット位置Ｅが接続され
ている。このビット位置が１であるときだけ、送光器は
活動的にされる。このビット位置Ｅは、測定段階のとき
と試験段階のときとで反転される。試験段階の間、送光
器は非作動にされ、受光器だけがポーリングをされる。
カウンタ１１の読取り計数機能すなわち歩進にともなっ
て、パルスはマルチプレクサ８から発光ダイオード４の
一つに供給され、その間その発光ダイオードから光パル
スが発生される。このパルスは、その発光ダイオードと
共同する光感応素子７により受光され、その光感応素子
７はカウンタ１２によって制御されるマルチプレクサ９
により正確にポーリングをされ、その結果マルチプレク
サの出力に信号が現われる。この操作モードにおいて、
マルチプレクサ９はデマルチプレクサとしてより正確に
作動する。
二つのカウンタ１１，１２は二つのマルチプレクサ８，
９を並行して制御する単一のバイナリカウンタに置き換
えることができる。しかし、それぞれの要素のフェイル
セーフ作動を確実にするには、二つの分離されたカウン
タを用いることが好ましい。
マルチプレクサ９の出力信号は、主要な作用なする三つ
のチャンネルを持つ評価回路に供給される。第１のチャ
ンネルは光パルスの出現を主として監視する。第２のチ
ャンネルは二つの光パルス間のインターバルを主として
監視し、第３のチャンネルは第１および第２のチャンネ
ルを監視する。評価回路は、以下のように構成されてい
る。
マルチプレクサ９の出力信号は比較器１３の反転された
入力すなわち反転入力に供給され、該比較器には参照値
供給回路１４からの基準値すなわち参照値が他の入力に
供給される。比較器１３は反転比較器として作用し、そ
の出力は第１のＤフリップフロップ１５の０入力に供給
される。該フリップフロップ１５のクロック端子ＣＩＬ
は発生器１０の出力端子Ｃ２に接続されている。フリッ
プフロップ１５のＱ出力端子は排他的オアゲート１９の
一つの入力端子に接続されている。フリップフロップ１
５は、その出力Ｑを０入力のロジックレベルにする入力
端子Ｃ１にクロックパルスが供給されているとき、その
スイッチングステイトを変更するように作用する。
発生器１０のクロック出力端子Ｃ１２は、第２のＤフリ
ップフロップ１６のクロック入力端子ｃ℃にも接続され
ている。フリップフロップ１６のＤ入力端子はナントゲ
ート１８の出力端子に接続され、該ナントゲートはその
一つの入力端子が発生器１０の出力端子Ｑに接続され、
他の−っの入力端子がカウンタ１２の最高位ビット出力
端子Ｅに接続されている。カウンタ１１，１２は、ｎ個
の出力端子を有し、従って２ηを計数することができる
。従って、発光ダイオード４および光感応素子７の符号
ｍは、２ト１である。このように、カウンタ１１，１２
の完全な一計数サイクルにおいて、マルチプレクサ８．
９は可能な全ての切換え状態を２回行なう。
第２のフィリップフロップ１６の出力端子Ｑは、排他的
オアゲート１９の他の入力の端子に接続されている。同
様に、フィリップフロップ１５．１６の二つの反転出力
端子Ｑは、他の排他的オアゲート２３の二つの入力端子
に接続されている。両排他的オアゲート１９，２３の出
力端子はダイオードＤＩ　、Ｄ２を経て積分用ＲＣ素子
２０，２１，２４．２５に接続されており、点Ｂ、Ｃの
出力は比較器２２．２６の非反転入力に供給される。第
２のチャンネルの比較器２６も反転比較器である。キャ
パシタ２１．２５は、該キャパシタの放電時定数を決定
する抵抗２１”。
２５°に接続されている。ダイオードＤＩ　、　Ｄ２は
、キャパシタ２１．２５が排他的オアゲート１９．２３
の出力端子の側へ放電することを防止する。第１のチャ
ンネルは要素１５，１９゜ＤＩ　、２０．２１’　、２
２により形成され、第２のチャンネルは要素１６，２３
．Ｄ２．２５゜２５°、２６によって形成される。
第３のチャンネルはナントゲート１７を含む。
該ナントゲートの一つの入力端子はフリップフロップ１
５の出力端子Ｑに接続され、他の一つの入力端子はカウ
ンタ１２の出力端子Ｅに接続されている。ナントゲート
１７の出力端子は該ナントゲートの動的成分のみを通過
させる結合キャパシタ１７′を経て第３の積分用ＲＣ素
子２７．２８に接続され、その出力Ａは電圧分割器すな
わち抵抗２９を経て比較器２２．２６の反転入力に供給
される。キャパシタ２２．２６は三つのスイッチすなわ
ち切換え接点３１，３２．９０または３５．３６．９１
を作動させるリレー３０．３４の一つを制御する。二つ
の切換え接点３１．３５は直列に接続され、この直列接
続の一端はアースに、他端は発光ダイオード３３の一端
にそれぞ接続され、該発光ダイオードの他端は図示しな
い電圧供給源に接続される。切換え接点３２，３６゜９
０．９１は、光バリア装置により監視されるプラント機
器の制御のために接続される。第１図では、全ての切換
え接点を非作動の状態、すなわちリレーが非励磁である
ものとして示す。
加えるに、比較器２２．２６の二つの出力端子は排他的
オアゲート３７に接続され、該排他的オアゲートの出力
はスイッチすなわち切換え接点４０．４１を有する他の
リレー３９を増幅器３８を経て制御する。比較器２６の
出力は、インバータ３７°を有する排他的オアゲートの
反転入力に供給される。これとは逆に、比較器２６の出
力を反転することなく排他的オアゲート３７に供給して
もよい。
切換え接点４０には、他の発光ダイオード４２が直列に
接続されている。切換え接点４１は、回路の出力端子と
して役立ち、またリセット機能のために使用される。増
幅器３８の出力端子には、他の発光ダイオード４３が接
続されている。最終的に、排他的オアゲート３７の出力
端子は、第５図により具体的に示されるリセット回路４
４に供給される。このリセット回路の出力端子８０は、
カウンタ１１，１２およびフリップフロップ１５．１６
のリセット入力端子に接続されている。
真理値０のロジックレベルリセット信号が出力端子８０
に生じると同時に、二つのフリップフロップ１５．１６
および二つのカウンタ１５゜１６は規定された状態にリ
セットされ、その結果二つの前記カウンタおよび二つの
前記フリップフロップは同期される。切換え接点９０．
９１は、リレー３０が励磁されたときおよびまたはリレ
ー３４が非励磁のとき、ライン７７に作動電圧を加える
。ライン７７はリレー３９に接続されており、該リレー
は増幅器３８または切換え接点９０．９１により励磁す
ることができる。ライン７７には、他の切換え接点７３
が挿入されている。該切換え接点は、無故障運転の場合
第１図に示す閉鎖位置にあり、また第５図に示すリセッ
ト回路４４内のリレー５４により作動される。
第１図の回路の説明を第２図のパルス波形と関連して以
下に行なう。第２図は選択きれた信号のタイムチャート
を示し、第１図の要素をそれに関連する参照符号で示す
。従って、たとえば”Ｑ（１５）”は、フリップフロッ
プ１５の出力Ｑのパルス列である。
発生器１０は、クロックパルスＣ１（１０）を連続的に
発生する。測定段階において、カウンタ１２の出力Ｅは
真理値１であり、実施例では測定段階に発生器１０の出
力端子Ｑに生じるパルス数が１６になる。
カウンタ１１，１２が”１　・−−０００”　　（Ｅが
１であり、他のすべてのカウンタ出力が０）であると仮
定する。Ｑ　（１０）の第１のパルスは二つのカウンタ
１１，１２を計数状態”１００・・・０１”にさせ、そ
れにより二つのマルチプレクサ８，９は共同する最初の
一対の発光ダイオードおよび光感応素子を活動的にさせ
る。さらに、Ｑ（１０）の第１のパルスは、対応して接
続されたマルチプレクサ８を通って最初の発光ダイオー
ド４にエネルギーを与え、連続通路２を経る光線を生じ
させる。該光線は最初の光感応素子７に入射して対応す
る電圧パルスに変換される。このように、パルスＱ（１
０）が出力されるたびに発光ダイオード４が順次活動的
にされ、その発光ダイオードに対応する光感応素子から
電圧パルスが生じる。
光感応素子からの電圧パルスは、マルチプレクサ９を経
て比較器１３に供給される。対応する信号列は第２図に
おいて”出力（９）”として示す。比較器１３は、パル
ス列を参照値供給回路１４からの予め設定された参照値
すなわち閾値と比較する。マルチプレクサ９の出力信号
の振幅が前記閾値より高いと、比較器１３の出力は反転
する。しかし、館記振幅が前記閾値より低いと、比較器
１３の出力は反転しない。このような比較器１３の反転
動作に起因して比較器１３は反転パルス形成器として作
用し、第２図の出力（１３）の信号列が前記比較器の出
力に現われる。フリップフロップ１５は、その入力端子
りに真理値１が入力すると、その後のクロックパルスＣ
Ｉによりその状態を反転され、それにより信号列Ｑ（１
５）、Ｑ（１５）が得られる。これらの信号は、比較器
１３の出力信号に関し、Ｄフリップフロップの特性によ
り定まる信号Ｑ（１０）の位相の１８０度だけ移相され
る。このように、信号Ｑ（１５）は、マルチプレクサ９
の実際の出力に対し位相状態が遅れたすなわち反転され
た方形波状のパルス信号を構成する。各パルスは、発光
ダイオード４と光感応素子７との２ｎ−１対の一つを表
わす。これは、以後の各パルスＱ（１０）によりカウン
タ１１，１２が歩進し、それに対応してマルチプレクサ
８，９が発光ダイオード４および光反応素子７の次の対
を活動的にさせるためである。
測定段階の間、フリップフロップ１６は、カウンタ１２
の出力Ｅが真理値１であるから、位相置換手法において
光パルスの希望値を意味するパルス互（１０）をＤ入力
端子に受ける。フリップフロップ１６の作用は、また、
対応する遅延すなわち移相なもたらす。フリップフロッ
プ１５（実際値）およびフリップフロップ１６（希望値
）のＱ出力端子の信号は排他的オアゲート１９において
相互に比較される。該二つの信号が同一すなわち共に真
理値０または真理値１であると、ゲート１９の出力は真
理値Ｏになる。しかし、それらが相互に異なると、ゲー
ト１９の出力は真理値１になって異常が発生したことを
意味する。このような測定段階の間の異常は、第２図に
斜線を施したパルスの部分により示す。
マルチプレクサ９の出力信号のレベルが閾値に達しない
ように、光路２が一点で遮断されているとする。これに
応じて、反転比較器１４の出力は真理値１のままであり
、正しい作動である真理値０に反転しない。位相置換手
法において、出力Ｑ　（１５）は真理値１を維持し、反
転出力Ｑ（１５）は真理値０を維持する。これにより、
排他的オアゲート１９にはＱ　（１５）からの真理値１
とＱ（１６）からの真理値０とが入力し、該ゲートは第
２図に斜線で示す異常パルスを発生する。同様に、フリ
ップフロップ１５．１６の反転出力６は、Φ（１５）が
真理値０、ζ（１６）が真理値１であり、排他的オアゲ
ート２３も対応するパルスを出力する。これらのパルス
がＲＣ素子２０．２１，２４．２５により積分され、そ
れにより点Ｂ、Ｃに第２図の下部に示す信号Ｂ、Ｃが現
われる。換言すれば、前記信号は正常時は低レベルであ
り、異常になると急に高レベルになる。
前記信号は、その後、放電用抵抗２１’　、２５゜を経
るキャパシタ２１．２５の放電により実質的に徐々に低
下する。ダイオードＤＩ、Ｄ２は、前記キャパシタの放
電が排他的オアゲート１９゜２３の出力を経る全ての可
能性を防止する。
測定段階の間比較器２２．２６に共通に供給される比較
信号（第２図における曲線Ａ）は、フリップフロ・ツブ
１５の反転出力Ｑ（ナントゲート１７は信号Ｑを反転す
る）の動的成分（キャパシタ１７゛）の積分値の上下動
を表わす。キャパシタ２８の放電時定数は抵抗２９によ
り定められ、キャパシタ２８の充電時定数にほぼ等しい
。従って、ナントゲート１７の出力が連続方形波信号の
場合、木質的に一定の信号が点Ａに得られる。異常が生
じると、直ちに、ナントゲート１７の出力はパルスギャ
ップすなわちパルスの欠落を生じ、それによって信号Ａ
は与えられたレベルから低下し、二つの比較器２２．２
６は感度を切り換えられる。複数のパルスがない場合に
は、信号Ａが対応してさらに低下し、それにより第１お
よび第２のチャンネルの感度が対応して増大される。
異常でないと、比較器２２の出力は真理値０であり、リ
レー３０は励磁されない。逆に、比較器２６の反転出力
は無故障運転の場合真理値１であり、リレー３４は励磁
される。従って、ダイオード３３の回路は二つの切換え
接点３１．３５を経て閉路され、黄色のダイオード３３
は発光する。
インバータ３７゛が存在する結果、排他的オアゲート３
７の二つの入力端子は同一の信号を受けてその出力が真
理値Ｏになる。従って、リレー３９は励磁されず、切換
え接点４０は閉路された非作動位置にあり、緑色の発光
ダイオード４４は発光するが、赤色のダイオード４３は
発光しない。
通常の異常（光路すなわち通路２または受光器に照射さ
れる他の光源からの光の遮断）の場合には、両比較器２
２．２６は逆転される。リレー３０は向上され、リレー
３４は落下される。その後、第５図に関連して説明する
リセット手段により、アラームが駆動されるか、監視さ
れた機器がオフに切り換えられる。反転リレー３０．３
４により、切換え接点９０．９１も反転されて、ライン
７７に配置されたリレー３９が励磁され、切換え接点４
０．４１が切り換えられ、発光ダイオード４２が消灯し
、赤色の発光ダイオード４３が点灯する。
第１およびまたは第２のチャンネル１９〜２２およびま
たは２３〜２６の異常のような特定の異常の場合には、
排他的オアゲート３７は、その内入力端子に同一レベル
の信号を受ける。これによりリレー３９は、増幅器３８
に切り換えられて励磁される。これにより、緑の発光ダ
イオード４２が消灯し、赤の発光ダイオード４３が点灯
する。
切換え接点４０．４１も反転される。従って、リレー３
９は二つの異なる通路９０．９１または３７．３８を経
て励磁することができる。
上記の通常の異常の場合には、光パルスが誤りであるか
受光器に充分な強度を得られないと推定される。第２図
に星印で示す点は光パルスが生じるべきでない位置で生
じた場合の例である。マルチプレクサ９の出力には、第
２図に斜線で示す余分なパルスが生じる。従って、該パ
ルスは比較器１３の出力に異常信号となって現われ、フ
リップフロップ１５の出力Ｑに位相の反転を生じる。Ｑ
（１５）（真理値０）とＱ（１６）（真理値１）との排
他的オア結合により、異常パルスは排他的オアゲート１
９の出力に現われる。従って、第１の異常の場合で説明
したように、第２図の曲線Ｂ、Ｃは立上がり、曲線Ａは
異常である。最後に説明した異常の場合第２図に曲線Ａ
、Ｂ、Ｃの関係を示さない。
カウンタ１２の出力Ｅが真理値０に、なると、システム
は試験段階になる。カウンタ１１の出力Ｅ（この場合ア
ンドゲートが省略される）またはアンドゲート８゛のい
ずれかにより、マルチプレクサ８の入力をそのいずれの
出力にも接続させないか、もしくは非活動または非励起
パルスを発光ダイオードに到達させる手法でもって、マ
ルチプレクサ８または送光器１は非作動にされ、後者の
場合には駆動信号を生じない。
しかし、マルチプレクサ９は、作動を継続する。従って
、光反応素子７〜７ｍの一つが異常信号を受けたか否か
のポーリングをされる。これが真実でないすなわち異常
信号を受けないと、マルチプレクサ９の出力は参照値供
給手段１４の参照値より明らかに低い低レベル信号であ
り、反転比較器１３は無異常の場合真理値１を連続して
発生する。従って、フリップフロップ１５はその０入力
に真理値１が連続し、その出力は連続する真理値１とな
るがその後発生するクロック信号Ｃ℃によっては反転さ
れない。同様に、フリップフロップ１５の出力点は連続
する真理値０である。
カウンタ１２の出力Ｅが真理値０であることにより、ナ
ントゲート１８は、その他の入力端子に入力する信号と
無関係に真理値１を連続して出力する。同様に、フリッ
プフロップ１６もその出力Ｑに真理値１を、反転出力ｄ
に真理値０をそれぞれ連続して出力する。従って、異常
が生じないときは、両排他的オアゲート１９，２３、は
その両入力に同一の信号が入力し、真理値０を出力する
。これにより、点Ｂ、Ｃの信号は連続する低レベルとな
る。カウンタ１２の出力端子Ｅからの信号が真理値０の
ため、ナントゲート１７の出力は連続する真理値１とな
る。しかし、キャパシタ１７′はこのＤＣ電圧を遮断し
、それによりキャパシタ２８は抵抗２９を経て放電し、
点Ａの信号は徐々に零に向かう。外部光源により発生さ
れ同じ波長範囲を有する赤外線または異常要素を経る赤
外線に起因して、試験段階中にマルチプレクサ９の出力
に異常信号か生じると、第２図の試験段階の間に斜線で
示す信号がマルチプレクサ９の出力に現われる。後者の
場合、これは特定の異常のときに起るだけである。同様
に、比較器１３の出力は真理値０の信号レベルの異常と
なり、位相置換手法により、フリップフロップ１５に異
常出力Ｑすなわち正パルスＱを導く。しかし、フリップ
フロップ１６はこのような異常に影響されず、排他的オ
アゲート１９．２３は異常が生じたとき各入力に異なる
信号を有し、それらの出力に真理値１の短期間パルスを
生じる。以下に説明するように、点Ｂ、Ｃの信号は急激
に立ち上り、比較器２２．２６は再度応答する。
第３図は、３２（２５）の送受信チャンネル用の送光器
側マルチプレクサの制御回路のより具体的な例を示す。
第３図の実施例では、　２４＝１６のチャンネルを制御
することができる、一般的なタイプ４０７６の二つのマ
ルチプレクサ８゛。
８′°を用いる。マルチプレクサ８°、８゛′は、第１
図のカウンタ１１の出力でありかつ第４図に示す制御入
力Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄを受ける。好ましい実施例では、これ
らの制御入力は６つのビット位置Ａ〜ＦのＢＣＤコード
の計数パルスである。
４ビツトのマルチプレクサ８°、８°′はプリセット入
力Ｖを受け、該プリセット入力はこれが真理値１の場合
にマルチプレクサがその機能を実行し、プリセット入力
が真理値０の場合にマルチプレクサが信号を出力しない
効果を有する。測定と試験のサイクルは、相手のマルチ
プレクサが対応する段階になる前に、マルチプレクサ８
′、８”が測定段階および試験段階でもって完全な一サ
イクルとなる手法で実行されるみこの目的のために、カ
ウンタ１１の出力信号Ｅ、Ｆが用いられ、両信号はアン
ドゲート４５により結合されて４ビツトの第１のマルチ
プレクサ８°のプリセット入力Ｖに供給される。第２の
マルチプレクサ８”には、信号Ｅと、インバータ４７に
より反転された信号「との結合信号すなわち第４図に示
す論理積信号がアンドゲート４６を経て供給される。論
理積信号ＥＸＦが真理値１である間、マルチプレクサ８
゛は周期的な切り換えを実行し、それにより各発光ダイ
オード４０〜４２トｌは順次活動化される。この間、論
理積信号ＥｘＦは真理値０であり、それにより第２のマ
ルチプレクサ８”は非作動である。マルチプレクサ８′
が第１の試験段階を実行することに対応して、第２のマ
ルチプレクサ８゛°は測定段階（測定２）を実行し、そ
の後試験段階（試験２）を実行する。
このように、６ビツトカウンタの１６でもって、計３２
の発光ダイオード４０〜４２ηを制御することができる
。１６のダイオードだけを使用するときは、信号Ｅは点
線４８で示ずようにマルチプレクサ８゛のプリセット入
力端子■に直接供給される。それは切換えスイッチとす
ることができ、それにより必要とする１６または３２チ
ヤンネルでシステムを作動させることができる。それに
応じて、システムをさらにそれ以上に拡張することがで
きる。
第３図において、駆動トランジスタ４９がマルチプレク
サ８′、８”の出力と発光ダイオードとの間に接続され
ている。従って、各発光ダイオードの陰極は抵抗５を経
てアースされるように接続された接続点に相互に接続さ
れている。オーム抵抗５１が各ダイオードの陽極に接続
されている場合、該抵抗の他の接続点はアースされる。
第５図はリセット回路４４のより具体的な例を示す。ス
イッチすなわち切換え接点９０，３２゜９１．３６を有
するリレー３０．３４．３９は、第１図から分離してま
た第５図に示し、またリセット回路の機能的部分として
作用する。リセット回路は８つのリレー３０．３４，３
９，５４゜５５．５６，５７．５８とともに作動する。
リレー５６，５７．５８は、リレー３０，３４゜３９の
スイッチすなわち切換え接点３２，３６゜４１により励
磁される。切換え接点３２゜３６．４１は、それらのリ
レーが非励磁状態であると開放されているが、それらの
リレーが励磁された状態であるとライン５９の正の励起
電圧（ここでは２４Ｖ）を共同するリレー５６．５７゜
５８に供給する。第５図の全ての切換え接点はリセット
状態すなわち非励磁状態で示す。リレー５６〜５８は、
切換え接点すなわち切換え接点６０と６１．６２と６３
．６４と６５の対を作動させる。切換え接点６０，６２
．６４は押しボタンスイッチすなわちリセットキー６６
に直列に接続され、この直列接続回路はライン５９の正
の供給電圧を加えられる。切換え接点６０．６４は、リ
レー５６．５８が非励磁状態であるときリセットキー６
６から切り離され、励磁状態であるときリセットキー６
６に接続される。切換え接点６２は、リレー５７がリセ
ット状態であるとき切換え接点６０に接続され、リレー
５７が励磁されているとき切り離される。６６．６０，
６２．６４の直列接続回路の出力はライン６７に供給さ
れる。
３つの切換え接点６１，６３．６５も直列に接続されて
おり、切換え接点６１はライン６８にり、セット状態ｉ
接続されている。非作動状態において、切換え接点６３
は開放されており、また切換え接点６５は閉じられ接点
６３に接続されている。３つの切換え接点６１，６３．
６５の直列接続部にリレー６９が直列に接続されており
、該リレーは機器の機能を制御する作動接点である３つ
のスイッチすなわち切換え接点を有する。ライン６８は
アースまたは供給電圧の正側に接続することができる。
リレー６９の他の接続部は、供給電圧の負側にまたはア
ースに接続することができる。全ての３つの切換え接点
６１，６３．６５が閉路されると、すなわちリレー５６
．５８が励磁されず、リレー５７が励磁されると、リレ
ー６９は励磁され、所望の機器の機能（作動）が開始さ
れる。１つまたはそれ以上のリレー５６．５７゜５８が
上記と逆になると、リレー６９は非励磁になり、被監視
機器は非作動になる。
異常の場合、同時にリレー５６．５８が励磁され、リレ
ー５７が励磁されず、リセットキー６６が押し下げられ
ると、ライン６７が正電位になる。
構成要素の故障の結果、排他的オアゲート３７の切換え
接点が応答すると、リレー３０または３４の一方だけが
その状態に励磁され、これに応じてリレー５６または５
８の１つだけが励磁される。従って、直列接続回路６０
，６２．６４は切換え接点により相互に接続され、その
結果異常の場合にキー６６によってリセットが可能であ
る。
リセットは、以下に記載の構成要素によりなされる。ラ
イン６７とアースすなわちＯＶとの間のリレー５４が転
換される。前記リレーに対し並列に抵抗７０とキャパシ
タ７１の直列接続回路が設けられている。これら２つの
構成要素の共通接続点はダイオード７２によりリレー５
４に接続されてライン６７に接続されている。リレー５
４は、２つのスイッチすなわち切換え接点７３．７４を
作動させる。図示の状態においては、接点７３は一端が
アースすなわちＯＶに接続された抵抗の他端に接続され
ている。リレー５４か励磁状態であると、切換え接点７
３はライン６７に接続される。切換え接点７３の第３の
端子はキャパシタ７６を経てリレー５５に接続され、該
リレーの他端はアースすなわち０■に接続されている。
リレー５４の第２の切換え接点７４は供給電圧をリセッ
ト時はライン７７に供給し、リレーが励磁されると抵抗
７８とキャパシタ７９との並列接続部すなわち端子８０
に切り換えて供給する。接続部８０は、第１図のフリッ
プフロップ１５゜１６およびカウンタ１１，１２をリセ
ットさせるリセット信号を与える。リレー５４が励磁さ
れず、その結果切換え接点７４が図示の位置である間、
リレー３９は切換え接点９０．９１を紅て励磁すること
ができる。さらに詳細な説明は第７図に関連して行なう
。
リレー５５は、２つのスイッチすなわち切換え接点８１
．８２を含む。切換え接点８１は、非作動時には開放さ
れており、閉じられるとライン６７をライン５９に接続
し、従って切換え接点６０．６２，６４．６６とは別に
ライン６７にイ共給電圧を加える。
非作動時に切換え接点８２は、閉じられ、それにより１
２Ｖの供給電圧を送光器へ供給するための接続部８３へ
供給する。＋１２Ｖの供給電圧は、キャパシタ８５．８
６のより平滑される外、ツェナーダイオード８４により
ピーク電圧に対し保護される。
第５図のリセット回路の動作を説明する。回路は、異常
がない間は以下の状態である。リレー３０．５６，３９
，５８，５４，５５．６９は落下されており、対応する
各切換え接点は図示の非作動位置にある。しかし、リレ
ー３４．５７は励磁され、切換え接点３６は閉じられ、
切換え接点６２．９１は開放されている。従って、切換
え接点６２はリセットキー６６からライン６７への回路
を中断し、その結果リセットキー６６の操作は無効であ
る。リレー６９への回路は閉鎖された切換え接点６１，
６３．６５により閉じられ、その結果リレー６９は励磁
され、所望の機器の機能は対応する切換え接点が閉じる
ことにより活動的にされる。切′換え接点９０．９１は
開放され、その結果リレー３９は励磁されない。
もし、異常が発生すると、リレー３０，３４゜３９の少
なくとも１つひいては対応するリレー５６．５７．５８
がその状態を変更する。参照値は、第１に、常時異常す
なわち光バリア装置を中断するように作られている。リ
レー３０，３４゜３９．５７．５８は反転される。すな
わち、リレー３０，３９，５６．５８は引き上げられ、
リレー３４．５７は落下する。従って、リレー６９のた
めの電源回路は切換え接点６１，６３．６５により中断
され、その結果リレー６９は落下し、機器は非作動にな
る。切換え接点６０，６２゜６４が同時に切り換えられ
ると、リセットキー６６を操作するための電流路か形成
される。キー６６が押し下げられると、この抑圧作用を
持続する間、正の供給電圧がライン６７を経てリレー５
４に加えられ、該リレー５４が引き上げられる。また、
キャパシタ７１が充電され、リレー５４の自己保持機能
を所定時間確保する。リレー５４が引き上げられた結果
、リレー５５に短いパルスがキャパシタ７６を経て供給
され、それによりリレー５５が短時間引き上げられる。
切換え接点８２は開放され、送光器へ加える供給電圧を
短時間中断し、それにより送光器は光パルスを短時間発
生しない。この短時間の間、切換え接点８１はリレー５
４に正の供給電圧を加え、それによりリセットキー６６
が押し下げられる期間のときと無関係に、キャパシタ７
１は明らかに規定された時間の間充電し、またリレー５
４の自己保持時間が正確に規定される。リレー５４が引
き上げられた結果、切換え接点７４は反転され、端子８
０はアース電位を加えられる。従って、カウンタ１１．
１２＄５よびフリップフロップ１５．１６はリセットさ
れる。以前に検出された異常すなわち光バリア装置の中
断が排除されると、説明されたリセットでもって第５図
のリセット回路は前記した状態にすなわちリレー３０，
３９，５６．５８が落下し、リレー３４．５７が引き上
げられた状態に切換え復帰する。しかし、異常のままで
あると、すなわち光バリア装置が中断されたままである
と、リセットリレー３０．３４，３９，５６゜５７．５
８は切換え復帰せず、その結果リセットプロセスの間、
予告なしに監視機器を作動状態におくことはできない。
２つのカウンタ１１，１２が同期して作動しないと発光
ダイオード４の励起時が光感応素子のポーリング時と一
致しないので、他の異常が生じる。この異常は、光バリ
ア装置の中断という前記の異常と同じ手法で回路により
処理される。
前に説明したように、２つのチャンネル（比較器２２．
２６）の出力が同じ信号であるとき、すなわちインバー
タ３７゛を考慮してオアゲート３７への入力が同じ信号
でないとき、排他的オアゲート３７は応答する。このよ
うな異常は、２つのチャンネルの１つが構成要素の異常
のために故障したときに生じる。リレー３９は排他的オ
アゲート３９と増幅器３８により励磁され、切換え接点
９０，９１．７４を経て選択的に付加的に励磁される。
この異常の場合、２つのリレ４３０．３４は反転されず
、それにより２つのリレー５６．５７が反転されず、リ
セットキー６６からライン６７への回路は中断状態に維
持される。リセットキー６６によるリセットはもはや可
能でない。それ故に、異常構成要素は、充分に申し分な
い作動をシュミレートすることができない。リセットは
、３つの全てのリレー３０゜３４．３９が、それ故にま
たリレー５６，５７゜５８がそれらの状態を変更したと
き可能なだけである。
第７図は本発明の他の実施例の回路図を示す。
第１図の構成要素１〜１６および１８は、第７図の実施
例においても必要であるが、説明を簡単にする上で第７
図の実施例では省略している。完全な回路が必要である
ならば、ゲート１７，１９゜２３の入力端子に第１図の
構成要素１５，１６゜１２の出力端子を接続すればよい
。比較器２２゜２６に至るまで（参照番号１７〜２６の
構成要素）、第７図の評価回路は第１図の実施例に対応
し、同一の参照番号を付して示す。第１図と第２図とは
、電圧分割器２９のタップが抵抗９６゜９８の１つを経
て比較器２２．２６の非反転入力に接続されている点で
相違する。また、両比較器２２．２６は、それぞれ、そ
の出力端子から非反転入力への帰還抵抗９８．９９を有
する。比較器２２の出力端子は抵抗１００を経てトラン
ジスタ１０２のベースに接続され、該ベースには抵抗１
０１を経るベース電圧が供給されている。比較器２２の
入力の極性が第１図の実施例と逆にして比較されている
ので、その出力信号は第１図の実施例と反転される。従
って、異常（信号Ｄ〉信号Ａ）の場合には、比較器２２
の出力は低レベルの信号（たとえば、アース電位）であ
る。この場合、トランジスタ１０２のベース電位は、電
圧分割器１０１，１００を経て減少し、該トランジスタ
を切り換え、リレー３０を励磁する。このように、トラ
ンジスタ１０２は、反転増幅器として作用する。第１図
の実施例に比べて２重反転である結果、第１図と同じ切
換え状態がリレー３０のためになされる。各リレーとそ
れらの切換え接点の関係をより明らか強調すべく、符号
に１〜に５を各リレーとそれらの切換え接点に付して示
す。
第１図の実施例と比較して、比較器２６を経る第２のチ
ャンネルの場合、入力端子は交換されており、それによ
り比較器２６は第７図において非反転増幅器として設計
されている。比較器２６の出力は一方に抵抗１０３を他
方に抵抗１０４゜１０５を含む電圧分割器に接続されて
いる。抵抗１０３の他端子には供給電圧が印加される。
抵抗１０４，１０５の共通接続点はトランジスタ１０６
のベースに接続され、抵抗１０４の他端はアースされて
いる。無故障運転の場合（信号Ｃく信号Ａ）、比較器２
６は、各抵抗１０３゜１０４．１０５およびトランジス
タ１０６の結果切り換えられ、それによってリレー３４
が励磁される。しかし、異常の場合には比較器２６の出
力電位が低レベルになり、それによりトランジスタ１０
６がオフになり、リレー３４が非励磁になる。トランジ
スタ１０６は、該トランジスタが切り換えられたときゲ
ート３７に低レベルの信号が供給され、逆のとき逆の信
号が供給されるため、排他的オアゲート３７に供給され
る信号に関し、反転増幅器として作用する。
リレーの各切換え接点３２，３６．４１の接続、同様に
リレー５４．５５およびそれらと共同する構成要素７０
〜８１は、第１図の実施例のそれらに対応し、従って再
度の説明はしない。しかし、リレー３９および後述の構
成要素の制御に関しては、第１図の例と異なる。
第７図の実施例において、並列の切換え接点９０．９１
は切換え接点７４と直列に接続されている。この直列接
続回路は、リレー３９の１つの端子とアースとの間に配
置されている。第７図はまた、全てのスイッチすなわち
切換え接点を対応するリレーが非励磁状態であるものと
して示す。
無故障運転において、２つの切換え接点９０゜９１は開
放されており、切換え接点７４は図示のように非作動位
置にある。異常の場合に、リレー３０．３４の両者また
は一方が反転されると、対応する切換え接点９０．９１
は反転され、それによりリレー３９はアースに接続され
た切換え接点を経て励磁される。
第５図に関して説明したように、試験の間中、リレー５
４　（Ｋ４）は与えられた時間励磁され、それに基づい
て切換え接点７４は反転される。２つのナントゲート１
１０，１１１を相互に交差させて接続したフリップフロ
ップ回路は、前記反転または前記切換え時にリレー３９
が再度落下しないことを確実にする。切換え接点７４が
非作動位置にある間、抵抗１１９を経る、ナントゲート
１１０への制御入力は供給電圧電位である。切換え接点
７４がリレー５４の励磁により反転されると同時に、抵
抗１２０およびこれに並列に接続されたキャパシタ１２
１を経る、ナンドケート１１０への制御入力は、電圧分
割器としての抵抗９０．９１が供給電圧とアースとの間
に配置されるため、低電位に低下される。ナントゲート
１１０の出力は抵抗１１７を経てトランジスタ１１７の
ベースに供給され、リレー３９のアースラインを切り換
えすなわちゲートする。このように、切換え接点７４が
開放する異常の場合には、該リレーが励磁状態に維持さ
れ、フリップフロップ１１０，１１１はリレー３９の自
己保持機能を確実にする。励磁されたリレー５４のナン
トゲート１１０の制御入力を経て切り換えられたアース
電位はインバータ１１８に達し、該インバータの出力ラ
イン８０を経てフリップフロップ１５゜１６およびカウ
ンタ１１，１２ヘリセット信号として供給される。
リセットプロセスの間に、リレー５４がキャパシタ７１
によって決定される自己保持時間を経邊後落下し、それ
により切換え接点７４が非作動位置に反転復帰すると、
フリップフロップ１１０゜１１１はリレー３９が励磁さ
れる前記状態にさらに維持される。無故障運転が以下の
リセット操作に応じて維持されるやいなや、フリップフ
ロップ１１０．１１１はリレー３９が落下（リセット機
能）できるように切り換えねばならない。
この目的のために、ナントゲート１１１の制御入力は、
抵抗１１６と、抵抗１１４およびキャパシタ１１５の並
列接続回路と、スイッチすなわち切換え接点９４．９５
の直列接続回路とを含む電圧分割器により制御される。
切換え接点９４はリレー３０により作動され、切換え接
点９１はリレー３４によって作動される。２つの切換え
接点９０．９１は抵抗１１４に直列に配置され、その端
子をアースに接続する。非作動状態のとき、切換え接点
９４は閉路され、切換え接点９５は開放される。異常の
場合、切換え接点９４およびまたは９５が開放している
間、抵抗１１４はアースから切り離され、それにより供
給電圧がナントゲート１１１の制御入力に加えられる。
ナントゲート１１０の出力が高レベルであると、ゲート
１１１はその両入力が切換え状態である高レベルとなり
、それによりその出力が低電位になる。異常を取り除く
ことに起因する切換え接点９４．９５の切り換えにより
、ナントゲート１１１の制御入力には低電位が加えられ
、それによフてその出力は高電位になる。従って、ナン
トゲート１１０の両入力は高電位になり、ナントゲート
１１０゜１１１からなるフリップフロップは反転され、
ナントゲート１１０の出力は低電位になる。その後、正
常運転を連続することができる。
加えるに、排他的オアゲート３７の出力が抵抗１０７を
経てトランジスタ１０９のベースに供給される。上記の
異常の場合排他的オアゲート３７はゲートされ、その正
出力電位は抵抗１０７を経てトランジスタ１０９のベー
スに供給され、それによりトランジスタ１０９がオンに
なり、リレー３９が励磁される。
リレー３９のための再度の自己保持機能は、該リレーに
より作動される切換え接点４０によってさらに与えられ
る。リレー３９が引き上げられると、切換え接点９０．
８１またはトランジスタ１０９のいずれかを経ることに
より、切換え接点４０は反転される。この自己保持機能
はリセットプロセスの間に切換え接点７４を切り換える
ことを通して無効にされる。
赤色の発光ダイオード３３を制御するために、以下の回
路部品が用いられる。抵抗１１２とキャパシタ１１３の
並列接続回路はナントゲート１１１の制御入力に接続さ
れており、この並列接続回路の他端は発光ダイオード３
３におよび切換え接点３１．３５の直列接続回路を経て
アースに接続されている。一方または両方の切換え接点
３１．３５が開放されるやいなや、一端に供給電圧が加
えられた発光ダイオードの他端には、正電位が抵抗１１
６，１１２を経て加えられる。それ故に該発光ダイオー
ドは発光しない。これら両切換え接点は、リレー３０．
３４と共同するから、無故障運転の場合だけ閉路される
。ナントゲート１１１の制御入力に対し、抵抗１１４，
１１２は相互に並列であり、この並列接続回路は抵抗１
１６とともに電圧分割器を形成する。これらの抵抗の値
により、４つの全ての切換え接点９４゜９５．３１．３
５が閉路されたときだけナンドゲート１１１が切り換え
られるように、ナントゲート１１１のトリガー電圧を固
定することができる。
第６図は各リレーの切換え状態の切換えパターンを示す
。第７図におけるリレー３０はに１、リレー３４はに２
、リレー３９はに３、リレー５４はに４、リレー５５は
に５をそれぞれ示す。異常の場合、Ｋ１とに３が励磁さ
れ、Ｋ２が落下する。第５図のリセットキー６６が押し
下げられることにより、Ｋ４が励磁され、リセット信号
”リセットパが第７図の切換え接点７４により発生され
る。ｔ１遅延すると、Ｋ５が励磁され、それにより送光
器への電力が断たれる。Ｋ５が再度落下すると、送光器
には再度電力が供給される。カウンタ１１，１２とフリ
ップフロップ１５．１６はすでにリセットされ、それに
より正常運転がを開始することができ、Ｋ１、Ｋ３は落
下され、Ｋ２は励磁される。
本発明は、特許請求の範囲に記載された事項から逸脱す
ることなく、上記の実施例を変更することができる。
【図面の簡単な説明】
第１図は評価回路を含む本発明の光バリア装置の電気回
路を示すブロック図、第２図は第１図の回路の選択され
たパルス波形を示す図、第３図は送光器側マルチプレク
サの変形例をその制御手段とともに示すブロック図、第
４図は第３図に示す回路用のパルスの波形を示す図、第
５図は第１図のリセット回路を示すブロック図、第６図
はリセット回路のリレーの切り換えの時間的順序を説明
するためのパルス波形図、第７図は本発明の他の実施例
に従う評価回路とリセット回路を示す図である。 １：送光器、　　　　　３：受光器、 ４：発光ダイオード、７：光感応素子、８．９：マルチ
プレクサ、１０：信号発生器、１１．１２：カウンタ、 １３．２２，２６：比較器、 １５．１６：フリップフロツブ、 １７．１８：ナンドゲート、 １９．２３，３７：排他的オアゲート、２０，２４，２
７，２９．２１’　、２５°　：抵抗器、２１，２５．
２８：キャパシタ、 ３０．３４，３９，５４，５５，５６，５７゜５８．６
９：リレー、４４：リセット回路。 代理人　弁理士　松　永　宣　行 手続補正書 昭和６２年４月２０日 特許庁長官　黒　１）明　ｔｄｌ　　殿１、事件の表示 昭和６１年特許願第３０８９９２号 ２、発明の名称 光バリア装置 ３、補正をする者 事件との関係　　　特許出願人 アギ−ローソネ　バイ　ロカルノ ４、代理人 ６、補正の対象 （１）明細書の発明の詳細な説明の欄 （２）図面の第７図 ７、補正の内容 （］）明細書の記載において次のとおり訂正する。 （２）図面の第７図を別紙のとおり訂正する。 ８、添付書類の目録

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）相互に対応された複数の送光手段および複数の受
    光手段と、前記送光手段と前記受光手段との各対を周期
    的に活動的にさせる制御回路と、前記送光手段が活動的
    にされた場合にその送光手段に対応する受光手段が応答
    したか否かを点検する第１のチャンネルおよび前記送光
    手段が非活動的であるにもかかわらずその送光手段に対
    応する受光手段が応答したか否かを点検する第２のチャ
    ンネルを有する評価回路とを含み、前記評価回路は前記
    受光手段の出力信号の動的成分に応答して異常が生じた
    ときに前記第１および第２のチャンネルの応答感度を増
    大させる第３のチャンネルをさらに有する、光バリア装
    置。
  2. （２）前記評価回路は、測定段階と試験段階とを周期的
    にかつ交互に実行し、また測定段階の間は前記送光手段
    および受光手段を活動的にさせ、前記試験段階の間は前
    記送光手段を非活動的にさせ、前記受光手段を活動的に
    させる、特許請求の範囲第（１）項に記載の光バリア装
    置。
  3. （３）前記評価回路には、前記光バリア装置によって制
    御される、モータ保護器、リレーのようなプラントまた
    は機械の各構成要素が機能的に組み込まれている、特許
    請求の範囲第（１）項または第（２）項に記載の光バリ
    ア装置。
  4. （４）前記３つのチャンネルへの入力信号はディジタル
    信号の形に処理され、前記３つのチャンネルは前記ディ
    ジタル入力信号をアナログ信号に変換するアップ・ダウ
    ン積分器をそれぞれ備え、前記３つのチャンネルの出力
    信号はディジタル信号の形の信号を出力する２つの比較
    器に供給され、その中で前記第３のチャンネルの前記積
    分器の出力信号は前記２つの比較器へ参照信号として供
    給される、特許請求の範囲第（１）項、第（２）項また
    は第（３）項に記載の光バリア装置。
  5. （５）前記受光手段の入力は調節可能の閾値を有する比
    較器で比較され、該比較器の入力信号は前記受光手段の
    出力信号のディジタル化された実際の値を表わす信号を
    出力する第１のフリップフロップのＤ入力端子に供給さ
    れ、前記送光手段のための励起パルスが供給されかつ光
    パルスの存在のための所望の値を表わす信号を出力する
    第２のＤフリップフロップを備え、両フリップフロップ
    の出力信号は第１のチャンネルの入力信号を表わす信号
    を出力する排他的オアゲートで比較され、両フリップフ
    ロップの反転出力が第２の排他的オアゲートに供給され
    、該第２の排他的オアゲートの出力は第２のチャンネル
    の入力信号を形成し、第１のフリップフロップの出力信
    号は測定段階の間第３のチャンネルの入力信号を形成す
    る、特許請求の範囲第（４）項に記載の光バリア装置。
  6. （６）前記第１のチャンネルの出力信号は、各構成要素
    が異常でないときに前記第２のチャンネルの出力信号に
    対し常に逆である、特許請求の範囲第（４）項または第
    （５）項に記載の光バリア装置。
  7. （７）前記第１および第２のチャンネル各出力信号はそ
    れぞれリレーを制御し、無故障運転の間一方のリレーは
    励磁され他方のリレーは非励磁にされ、前記各リレーと
    共同する各切換え接点は一方のリレーが励磁され他方の
    リレーが非励磁にされたとき光バリア装置により監視さ
    れる機械またはプラントの作動を許す、特許請求の範囲
    第（６）項に記載の光バリア装置。
  8. （８）前記第１および第２のチャンネルの出力信号は、
    構成要素の異常の結果前記両出力が相互に反転されない
    ときに応答する第３の排他的オアゲートにおいて相互に
    比較され、該第３の排他的オアゲートが応答したとき、
    光バリア装置により監視されるプラントまたは機械が停
    止される、特許請求の範囲第（６）項または第（７）項
    に記載の光バリア装置。
  9. （９）前記第３の排他的オアゲートにより励磁されると
    ともに前記第１および第２のチャンネルの前記リレーと
    共同する切換え接点の反転によって励磁される第３のリ
    レーをさらに備え、該第３のリレーは、自己保持接点を
    有し、少なくとも１つの他の切換え接点を経て、光バリ
    ア装置によって監視される機械またはプラントを停止さ
    せ、前記自己保持接点の結果前記プラントまたは機械を
    リセットキーの操作に応じて元の状態に戻すことができ
    る、特許請求の範囲第（８）項に記載の光バリア装置。
  10. （１０）リセットキーを操作後、前記各接点とフリップ
    フロップとを規定された初期状態にさせ、光バリア装置
    の以下のリセットの操作を無故障または無欠陥であると
    きの作動にし、光バリア装置により監視されるプラント
    または機械を作動させることができるリセット回路をさ
    らに備える、特許請求の範囲第（１）項から第（９）項
    のいずれか１項に記載の光バリア装置。
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