JPS62166442A - 故障診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、故障診断やデバグ時等に、装置内のフリップ
フロップ群をシフトレジスタに構成し、そのシフト動作
によって７リツプフロツプ群の値を読み出したり（シフ
トアウト）フリップフロップ群に値を書き込んだり（シ
フトイン〕することが可能な情報処理装置における、故
障診断方式に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種のシフトバスを用いた診断方式では、テス
トパターンをシフトインした後、被診断装置のクロック
周期に比べて十分長い時間が経過してからクロックを１
ステツプだけ歩進させ、このときのフリップフロップの
値をシフトアウトしあらかじめ求めである期待（正解）
パターンと比較することにより、装置の故障を判断して
いた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

このような従来のシフトバスを用いた診断方式では、論
理回路の遅延時間が通常動作時の規定値を越えるような
故障の場合でも、故障診断時には、シフト動作によって
７リツプフロツプに値が設定されてからクロックが進む
までには十分な時間が経過しているために、クロックを
歩進した後の結果は正しいものとなってしまう。それゆ
え、このような遅延時間オーバーの故障を検出出来ない
という欠点があった。

また、近年高速のクロックサイクルを有する情報処理装
置の必要性が高まっている〃ζ　このような装置の開発
時における遅延時間問題は、従来は遅延時間計算式によ
る計算値や、発生した問題点の間接的な情報をもとにし
て解決していた。そのため、これらの作業は多くの手間
と時間のかかるものであった。

〔問題点を解決するだめの手段〕

本発明の故障診断方式は、シフト動作モードで所定のテ
ストパターンを上記シフトバスにシフトインする手段と
、通常動作モードで実クロック周期のクロック１に２以
上の所定数だけ歩進させる手段と、このクロック歩進後
シフト動作モードで上記シフトバスの内容をシフトアウ
トする手段と、このシフトアウトパターンと所定の正解
パターンとの比較結果から装置の故障診断を行なう手段
とを有する。

〔作　用〕

診断時は、テストパターンがシフトインされた状態で実
クロック周期のクロックが２以上歩進されり後、上記テ
ストパターンがシフトアウトされて正解パターンと比較
される。

〔実施例〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。

図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。

同図において、被診断部１はｎ個のフリップフロップ１
１，１２．・・・・・・・・・、１ｎとそれｔ）−１；
、接続された組合せ回路とから構成され、動作モード指
示信号線６の信号ａによってそのときの動作モードが決
定される。すなわち、被診断部１が通常の動作を行って
いるときは、動作モード指示信号ａは通常動作モードを
指示している。

これに対し、動作モード指示信号ａがシフト動作モード
を指示しているときには、被診断部１内の７リツプフロ
ツプ１１，１２．・・−・・・・・ｕｎは、論理的に図
中破線で示すように連結されたシフトレジスタに構成さ
れる。このような状態で、クロック制御部２１から信号
線３を通じてクロックが供給されると、クロックが１個
進むたびに、フリップフロップ１１，１２．・・・・・
・・・・ｔｌｎの内容は１ずつ図中矢印の方向にシフト
されていく。このとき、フリップフロップ１１には診断
制御部２２からの値が信号線４ｔ−介して入力され、一
方フリップフロップ１ｎの値は信号線５を介して診断制
御部２２に取り込まれる。このようにしてクロックｉｎ
個進めると、フリップフロップ１１，１２．・・・・・
！・・・ｓｌｎの値はすべて診断制御部２２に取り込ま
れ（シフトアウト）、新たに別の値がフリップフロップ
１１゜１２、・・−・・・・・ｔｌｎに設定される（シ
フトイン）。

診断部２は、上述したクロック制御部２１、診断制御部
２２およびテストパターンと正解パターンとを記憶する
外部記憶装置２３を有している。診断動作時には、診断
制御部２２は被診断部１の動作モード全シフト動作モー
ドにし、外部記憶装置２３から読み出したテストパター
ンを、クロック制御部２１を制御することによって前述
したように７リツジフロツプ１１，１２．・・−・・・
・・ｕｎにシフトインする。その後、動作モードを通常
動作モードにし、クロック制御部２１を制御することに
よって実クロック周期、すなわち通常動作時のクロック
周期のクロックを２個以上歩進する。そして再び動作モ
ードをシフト動作モードにし、前述したと同様の方法で
７リツプフロツプ１１，１２．・・・・・−・・、１ｎ
の値をシフトアウトシ、このパターンと、外部記憶装置
２３に記憶されている正解パターンとを比較することに
よって、被診断部１の故障を判定する。

以上の動作を、必要なテストパターンの数だけ繰り返し
て行なう。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、装置の７リツプフロツプ
にテストパターンがシフトインされてから実クロック周
期のクロックを２個以上歩進させるため、２回目以降の
動作における遅延時間条件は装置の通常動作時と同じで
ある。そのため、論理回路の遅延時間が規定値より遅く
なる故障の発見や、装置の設計上遅一時間条件を満足し
ていない部分の発見が容易に行なえる効果がある。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を示すブロック図である。 １・・・・被診断部、２・・・・靜断部、６・・・・動
作モード指示信号線、１１，１２．・・・・・・・・・
、１ｎ・働・・フリップフロップ、２１・・・・クロッ
ク制御部、２２・・・・診断制御部、２３・・・・外部
記憶装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. シフトバスを用いた情報処理装置において、シフト動作
   モードで所定のテストパターンを上記シフトバスにシフ
   トインする手段と、通常動作モードで実クロック周期の
   クロックを２以上の所定数だけ歩進させる手段と、この
   クロック歩進後シフト動作モードで上記シフトバスの内
   容をシフトアウトする手段と、このシフトアウトパター
   ンと所定の正解パターンとの比較結果とから装置の故障
   診断を行なう手段とを備えたことを特徴とする故障診断
   方式。