JPH02130638A - データ処理装置 - Google Patents
データ処理装置Info
- Publication number
- JPH02130638A JPH02130638A JP63284889A JP28488988A JPH02130638A JP H02130638 A JPH02130638 A JP H02130638A JP 63284889 A JP63284889 A JP 63284889A JP 28488988 A JP28488988 A JP 28488988A JP H02130638 A JPH02130638 A JP H02130638A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- address
- signal
- data
- timing
- supplied
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 101100328887 Caenorhabditis elegans col-34 gene Proteins 0.000 abstract description 10
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 abstract description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 3
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、論理集積回路技術さらにはマイクロプロセッ
サの構成法に適用して特に有効な技術に関し、特に与え
られたプログラムに従って処理を実行するプログラム制
御方式のデータ処理装置における不良解析、自己診断機
能を実現する場合に利用して好適なLSI構成法に関す
る。
サの構成法に適用して特に有効な技術に関し、特に与え
られたプログラムに従って処理を実行するプログラム制
御方式のデータ処理装置における不良解析、自己診断機
能を実現する場合に利用して好適なLSI構成法に関す
る。
[従来の技術]
従来、マイクロプロセッサのような論理LSIのハード
ウェアの不良解析は、LSI内部に設けられた診断回路
を用いて行われていた。従来の論理LSIにおける診断
回路は、LSI内部を複数のブロックに分割するととも
に、特定の端子に信号を加えると上記分割されたブロッ
クごとに信号の入出力が可能になるテストモードへ移行
する機能により実現されていた。
ウェアの不良解析は、LSI内部に設けられた診断回路
を用いて行われていた。従来の論理LSIにおける診断
回路は、LSI内部を複数のブロックに分割するととも
に、特定の端子に信号を加えると上記分割されたブロッ
クごとに信号の入出力が可能になるテストモードへ移行
する機能により実現されていた。
なお、LSIの故障診断技術に関しては、例えば■テク
ノシステムセミナー事業部発行、昭和61年7月8日講
演資料[論理回路の診断技術」に記載がある。
ノシステムセミナー事業部発行、昭和61年7月8日講
演資料[論理回路の診断技術」に記載がある。
[発明が解決しようとする課題]
従来の診断回路を備えた論理LSIは実際の処理モード
とは異なる状態で動作するテストモードで診断を行なう
ため、LSIの不良発生時と同一の状態を再現し、これ
をモニタしながら解析を行なうようなことができなかっ
た。そのため、大規模プロセッサで、しかも開発中のプ
ログラムに従って処理を行なっている場合などは、バグ
がハードウェアにあるのかソフトウェアにあるのが不明
であるので、その不良解析には多くの時間を必要とし、
かつ完全な解析が困難であるという問題点があった。
とは異なる状態で動作するテストモードで診断を行なう
ため、LSIの不良発生時と同一の状態を再現し、これ
をモニタしながら解析を行なうようなことができなかっ
た。そのため、大規模プロセッサで、しかも開発中のプ
ログラムに従って処理を行なっている場合などは、バグ
がハードウェアにあるのかソフトウェアにあるのが不明
であるので、その不良解析には多くの時間を必要とし、
かつ完全な解析が困難であるという問題点があった。
本発明の目的は、ヌイクロプロセッサのようなプログラ
ムに従って動作するデータ処理装置における不良解析、
自己診断を短時間でしかもより正確に行なえるようにす
るLSI構成方法を提供することにある。
ムに従って動作するデータ処理装置における不良解析、
自己診断を短時間でしかもより正確に行なえるようにす
るLSI構成方法を提供することにある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴に
ついては、本明maの記述および添附図面から明らかに
なるであろう。
ついては、本明maの記述および添附図面から明らかに
なるであろう。
[課題を解決するための手段]
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、下記のとおりである。
を説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、マイクロプロセッサ内に、外部よりモード切
替え信号が入力されると1マシンサイクル内のすべての
タイミング信号を発生し終わった時点で次のタイミング
信号の発生を中止するタイミング発生回路と、内部のレ
ジスタやRAM等アドレス信号によって指定可能なデー
タ保持手段を選択する信号を発生するデコーダに対する
アドレス信号の供給パスを切替え可能なアドレス切替手
段と、外部から供給される制御信号に応じて動作モード
を切り替えるモード制御手段を設け、特定のモード(テ
ストモード)が指定されたときは上記タイミング発生回
路を停止させ、かつ上記アドレス切替手段によって上記
アドレスデコーダに対するアドレス信号の供給バスを外
部入力側に切替え、外部からのアドレス信号によって内
部レジスタまたはRAMを指定してデータの読出し、書
込みを行なえるようにした。
替え信号が入力されると1マシンサイクル内のすべての
タイミング信号を発生し終わった時点で次のタイミング
信号の発生を中止するタイミング発生回路と、内部のレ
ジスタやRAM等アドレス信号によって指定可能なデー
タ保持手段を選択する信号を発生するデコーダに対する
アドレス信号の供給パスを切替え可能なアドレス切替手
段と、外部から供給される制御信号に応じて動作モード
を切り替えるモード制御手段を設け、特定のモード(テ
ストモード)が指定されたときは上記タイミング発生回
路を停止させ、かつ上記アドレス切替手段によって上記
アドレスデコーダに対するアドレス信号の供給バスを外
部入力側に切替え、外部からのアドレス信号によって内
部レジスタまたはRAMを指定してデータの読出し、書
込みを行なえるようにした。
[作用]
上記した手段によれば、マイクロプロセッサ内部の動作
をマシンサイクル単位で停止させ、その時点でのレジス
タおよびRAM内のデータを保持させて外部からアドレ
スを与えて読み出したり、外部から任意のデータを所望
のレジスタやRAMに入れてそのデータを使って処理を
続行させることができるようになり、これによって、マ
イクロプロセッサのようなプログラムに従って動作する
データ処理装置における不良解析、自己診断を短時間で
しかもより正確に行なえるようにするという上記目的を
達成することができる。
をマシンサイクル単位で停止させ、その時点でのレジス
タおよびRAM内のデータを保持させて外部からアドレ
スを与えて読み出したり、外部から任意のデータを所望
のレジスタやRAMに入れてそのデータを使って処理を
続行させることができるようになり、これによって、マ
イクロプロセッサのようなプログラムに従って動作する
データ処理装置における不良解析、自己診断を短時間で
しかもより正確に行なえるようにするという上記目的を
達成することができる。
[実施例]
第1図は本発明をマイクロプロセッサに適用した場合の
一実施例を示す。
一実施例を示す。
この実施例のマイクロプロセッサは、マイクロプログラ
ム制御方式の制御部1とALU (演算論理ユニット)
やアキュームレータ、インデックスレジスタ等の専用レ
ジスタからなる実行ユニット2、データの一時保存を行
なう汎用レジスタ群3、ワークエリアとなるRAM4、
入出力の制御を行なうI10コントロール回路5および
プロセッサ内部のタイミング信号を発生するタイミング
発生回路としてのタイミングジェネレータ6等を備えて
いる。
ム制御方式の制御部1とALU (演算論理ユニット)
やアキュームレータ、インデックスレジスタ等の専用レ
ジスタからなる実行ユニット2、データの一時保存を行
なう汎用レジスタ群3、ワークエリアとなるRAM4、
入出力の制御を行なうI10コントロール回路5および
プロセッサ内部のタイミング信号を発生するタイミング
発生回路としてのタイミングジェネレータ6等を備えて
いる。
上記制御部1はマイクロプロセッサを格納したROMI
1、I10コントロール回路5を介して外部のプログ
ラムメモリより読み込んだマクロ命令を保持し、そのマ
クロ命令に対応された一連のマイクロ命令群を上記RO
MIIから読み出して処理の流れを制御するシーケンサ
12と、上記ROM11から読み出されたマイクロ命令
を保持する命令レジスタ13と、この命令レジスタ13
に保持されたマイクロ命令をデコードして実行ユニット
2や汎用レジスタ群3およびRAM4等に対する制御信
号C,,C,,・・・・Ci影形成る命令デコーダ14
とにより構成されている。
1、I10コントロール回路5を介して外部のプログ
ラムメモリより読み込んだマクロ命令を保持し、そのマ
クロ命令に対応された一連のマイクロ命令群を上記RO
MIIから読み出して処理の流れを制御するシーケンサ
12と、上記ROM11から読み出されたマイクロ命令
を保持する命令レジスタ13と、この命令レジスタ13
に保持されたマイクロ命令をデコードして実行ユニット
2や汎用レジスタ群3およびRAM4等に対する制御信
号C,,C,,・・・・Ci影形成る命令デコーダ14
とにより構成されている。
上記実行ユニット2や汎用レジスタ群3およびRAM4
は、各々ゲートG工、G2.・・・・Gjを介して内部
データバス7a、7bに接続されており、各ゲートG1
.G、、・・・・Qjはアドレスデコード信号Skとリ
ードライト制御信号R/Wとに基づいて制御され、書込
みと読出しが行われるようにされている。
は、各々ゲートG工、G2.・・・・Gjを介して内部
データバス7a、7bに接続されており、各ゲートG1
.G、、・・・・Qjはアドレスデコード信号Skとリ
ードライト制御信号R/Wとに基づいて制御され、書込
みと読出しが行われるようにされている。
この実施例では上記レジスタ等を指定するアドレスをデ
コードして選択信号S工、S2.・・・・Skを形成す
るアドレスデコーダ8の前段に、アドレスセレクタ21
が設けられており、命令レジスタ13またはI10コン
トロール回路5を介して外部から供給されるアドレスの
いずれかによってレジスタ等を指定できるように構成さ
れている。
コードして選択信号S工、S2.・・・・Skを形成す
るアドレスデコーダ8の前段に、アドレスセレクタ21
が設けられており、命令レジスタ13またはI10コン
トロール回路5を介して外部から供給されるアドレスの
いずれかによってレジスタ等を指定できるように構成さ
れている。
しかもこの実施例のアドレスセレクタ21は、いずれの
アドレスもデコーダ8へ供給しないアドレス無指定状態
を作り出せるように構成されており、このアドレス無指
定状態になるとアドレスデコーダ8の出力たる選択信号
S工、S2.・・・・Skはすべてロウレベルになり、
内部のレジスタ3やRAM4を内部バス7a、7bから
切り離して、直前に取り込んだデータを保持させること
ができるようになっている。
アドレスもデコーダ8へ供給しないアドレス無指定状態
を作り出せるように構成されており、このアドレス無指
定状態になるとアドレスデコーダ8の出力たる選択信号
S工、S2.・・・・Skはすべてロウレベルになり、
内部のレジスタ3やRAM4を内部バス7a、7bから
切り離して、直前に取り込んだデータを保持させること
ができるようになっている。
さらにこの実施例では、テストモードと通常処理モード
との切替えを行なう制御信号を発生するモード切替え回
路22と、テストモードのタイプを決定し、かつその起
動/停止を制御するテストモード制御回路23および上
記アドレスセレクタ21におけるアドレスの切替制御信
号を形成するアドレス切替制御回路24が設けられてい
る。
との切替えを行なう制御信号を発生するモード切替え回
路22と、テストモードのタイプを決定し、かつその起
動/停止を制御するテストモード制御回路23および上
記アドレスセレクタ21におけるアドレスの切替制御信
号を形成するアドレス切替制御回路24が設けられてい
る。
第2図には、本実施例で使用されるタイミングジェネレ
ータ6の構成例が示されている。
ータ6の構成例が示されている。
このタイミングジェネレータ6は9個のフリップフロッ
プFF1〜FF、がカスケード形式で接続されており、
このうちフリップフロップFF、とFF4およびFF、
の出力信号がNORゲートGnに入力され、その出力信
号がANDゲートGaを介して第1のフリップフロップ
FF1の入力端子にフィードバックされている。これと
ともに、フリップフロップFF工〜FF、は外部から供
給され共通のクロックGKによってトリガされる。しか
も、奇数番目のフリップフロップはクロックCKの立上
りエツジで、また偶数番号のフリップフロップはクロッ
クCKの立下リエッヂ(逆も可)によってトリガされる
ようにされている。これによってフリップフロップFF
工の出力状態(ロウレベル)がタロツクGKの半周期ご
とに次段のフリップフロップに伝えられ、各フリップフ
ロップFF工〜FF、の出力が次々と変化される。この
場合。
プFF1〜FF、がカスケード形式で接続されており、
このうちフリップフロップFF、とFF4およびFF、
の出力信号がNORゲートGnに入力され、その出力信
号がANDゲートGaを介して第1のフリップフロップ
FF1の入力端子にフィードバックされている。これと
ともに、フリップフロップFF工〜FF、は外部から供
給され共通のクロックGKによってトリガされる。しか
も、奇数番目のフリップフロップはクロックCKの立上
りエツジで、また偶数番号のフリップフロップはクロッ
クCKの立下リエッヂ(逆も可)によってトリガされる
ようにされている。これによってフリップフロップFF
工の出力状態(ロウレベル)がタロツクGKの半周期ご
とに次段のフリップフロップに伝えられ、各フリップフ
ロップFF工〜FF、の出力が次々と変化される。この
場合。
ANDゲートGaが開かれた状態でFF1の最初の入力
がロウレベルと仮定すると、3クロック周期で6番目の
フリップフロップFF、の出力がロウレベルに変化した
時点でFF、の入力がハイレベルに変化してその状態で
取り込まれ、その1クロツク後にフリップフロップFF
、の出力がハイレベルに変化すると、NORゲートOn
の出力がロウレベルに変化してFF工の入力もロウレベ
ルになる。そのため、各ブリップフロップFF1〜FF
、の出力は、クロックCKの4倍の周期で174のデユ
ーティを持つ信号となる(第3図参照)。この実施例で
はフリップフロップFF1〜FFgのうちFF工〜FF
、の出力が内部タイミング信号φ1〜φ。とじて、実行
ユニット2等プロセッサ内部の各回路に供給され、クロ
ックCKの4倍の周期を1マシンサイクルとして動作す
るように構成されている。
がロウレベルと仮定すると、3クロック周期で6番目の
フリップフロップFF、の出力がロウレベルに変化した
時点でFF、の入力がハイレベルに変化してその状態で
取り込まれ、その1クロツク後にフリップフロップFF
、の出力がハイレベルに変化すると、NORゲートOn
の出力がロウレベルに変化してFF工の入力もロウレベ
ルになる。そのため、各ブリップフロップFF1〜FF
、の出力は、クロックCKの4倍の周期で174のデユ
ーティを持つ信号となる(第3図参照)。この実施例で
はフリップフロップFF1〜FFgのうちFF工〜FF
、の出力が内部タイミング信号φ1〜φ。とじて、実行
ユニット2等プロセッサ内部の各回路に供給され、クロ
ックCKの4倍の周期を1マシンサイクルとして動作す
るように構成されている。
この実施例のタイミングジェネレータ6は、上記AND
ゲートGaの他方の入力端子に接続された外部端子31
にハイレベルの制御信号TESTを印加しておくと、正
常に動作し、制御信号TESTをロウレベルに変化させ
ると、フリップフロップFF□の入力信号がロウレベル
に固定されるため、第3図に示すようにそれ以降はフリ
ップフロップFF、の出力パルス(φ、)が新たに形成
されなくなる。ただし、−旦バルスφ1が形成された後
に制御信号TESTがロウレベルに変化されても、それ
に続くタイミング信号φ、〜φ、のパルスは引き続き形
成される。そのため、プロセッサ内部は1マシンサイク
ルの動作が終了した時点で停止するようになる。
ゲートGaの他方の入力端子に接続された外部端子31
にハイレベルの制御信号TESTを印加しておくと、正
常に動作し、制御信号TESTをロウレベルに変化させ
ると、フリップフロップFF□の入力信号がロウレベル
に固定されるため、第3図に示すようにそれ以降はフリ
ップフロップFF、の出力パルス(φ、)が新たに形成
されなくなる。ただし、−旦バルスφ1が形成された後
に制御信号TESTがロウレベルに変化されても、それ
に続くタイミング信号φ、〜φ、のパルスは引き続き形
成される。そのため、プロセッサ内部は1マシンサイク
ルの動作が終了した時点で停止するようになる。
また、この実施例では、クロックジェネレータ6を構成
するフリップフロップFF、〜FF、の出力のワイヤー
ドORをとった信号が制御信号HALTとして上記アド
レス切替制御回路24に供給されるようになっている。
するフリップフロップFF、〜FF、の出力のワイヤー
ドORをとった信号が制御信号HALTとして上記アド
レス切替制御回路24に供給されるようになっている。
しかも、アドレス切替制御回路24は、制御信号HAL
Tがロウレベルに変化すると、アドレスセレクタ21を
アドレス無指定状態に移行させるような信号を発生させ
る。
Tがロウレベルに変化すると、アドレスセレクタ21を
アドレス無指定状態に移行させるような信号を発生させ
る。
その結果、プロセッサ内部のレジスタ3やRAM4は入
出力ゲートG、、G、、・・・・Giが閉じられるため
、マシンサイクル終了時点で入っているデータをそのま
ま保持し続ける。しかも、このときライト側のゲートも
閉じられるので、後述のテストタイプ選択信号が変化し
た際等に発生するノイズによって誤ってレジスタやRA
Mに不所望のデータが取り込まれてしまうようなことも
ない。
出力ゲートG、、G、、・・・・Giが閉じられるため
、マシンサイクル終了時点で入っているデータをそのま
ま保持し続ける。しかも、このときライト側のゲートも
閉じられるので、後述のテストタイプ選択信号が変化し
た際等に発生するノイズによって誤ってレジスタやRA
Mに不所望のデータが取り込まれてしまうようなことも
ない。
一方、上記外部端子31に入力された制御信号TEST
は、モード切替回路22にも入力されており、制御信号
TESTがロウレベルに変化されると、モード切替回路
22はテストモード制御回路23に対して動作モードを
通常モードからテストモードへ切り替えるように指示す
るモード切替信号MCを供給する。この信号を受けると
、モード切替回路23は、外部端子32,33.34に
入力されているテストタイプ選択信号TTYP1〜TT
YP、を取り込んで、その組み合わせに応じたテストモ
ードを決定し、外部端子35に印加されている信号TE
Nがアサートされた時点で決定されたテストモードを起
動させるような制御信号を発生して上記アドレス切替制
御回路24やI10コントロール回路5へ供給する。
は、モード切替回路22にも入力されており、制御信号
TESTがロウレベルに変化されると、モード切替回路
22はテストモード制御回路23に対して動作モードを
通常モードからテストモードへ切り替えるように指示す
るモード切替信号MCを供給する。この信号を受けると
、モード切替回路23は、外部端子32,33.34に
入力されているテストタイプ選択信号TTYP1〜TT
YP、を取り込んで、その組み合わせに応じたテストモ
ードを決定し、外部端子35に印加されている信号TE
Nがアサートされた時点で決定されたテストモードを起
動させるような制御信号を発生して上記アドレス切替制
御回路24やI10コントロール回路5へ供給する。
この実施例のマイクロプロセッサでは、上記3つのテス
トタイプ選択信号TTYP、〜TTYP。
トタイプ選択信号TTYP、〜TTYP。
の組み合わせに応じて次の表1に示すような6種類のテ
ストが行なえるようにされているゆ上記表1におけるテ
ストタイプTTOが選択されると、マイクロプロセッサ
は通常の動作モードと同じ動作を行なうが、機能多重端
子からマイクロコードの実行タイミングやタイムジェネ
レータの起動、停止(HALT信号)等をモニタできる
ようになる。
ストが行なえるようにされているゆ上記表1におけるテ
ストタイプTTOが選択されると、マイクロプロセッサ
は通常の動作モードと同じ動作を行なうが、機能多重端
子からマイクロコードの実行タイミングやタイムジェネ
レータの起動、停止(HALT信号)等をモニタできる
ようになる。
テストタイプTTIが選択されると、マイクロプロセッ
サがアクセスできる全レジスタを外部からリード、ライ
トできるようになる。
サがアクセスできる全レジスタを外部からリード、ライ
トできるようになる。
テストタイプTT2が選択されると、マイクロプロセッ
サによりアクセスできないレジスタ、特にシーケンスを
直接制御するレジスタのリード・ライトを行なうことが
できる。具体的には、命令レジスタ13にマイクロコー
ドを設定して特定命令を強制実行させたり、シーケンサ
ll内のプログラムカウンタにマイクロコードアドレス
を設定し、マイクロプログラムの強制ジャンプ、または
読出しによるシーケンスのモニタを行なうことができる
ようになる。
サによりアクセスできないレジスタ、特にシーケンスを
直接制御するレジスタのリード・ライトを行なうことが
できる。具体的には、命令レジスタ13にマイクロコー
ドを設定して特定命令を強制実行させたり、シーケンサ
ll内のプログラムカウンタにマイクロコードアドレス
を設定し、マイクロプログラムの強制ジャンプ、または
読出しによるシーケンスのモニタを行なうことができる
ようになる。
テストタイプTT3が選択されると、RAMのリード・
ライトを行ない、12ビツトのアドレスでRAM内の全
空間をアクセスすることができるようになる。
ライトを行ない、12ビツトのアドレスでRAM内の全
空間をアクセスすることができるようになる。
テストタイプTT4は未使用である。
テストタイプTTSが選択されると、スキャンバスのリ
ード・ライトが行なえるようになる。
ード・ライトが行なえるようになる。
テストタイプTT6が選択されると、ブレークポイント
レジスタ(TT2で設定)に指定された番地でマイクロ
プログラムの実行を停止させることができるようになる
。
レジスタ(TT2で設定)に指定された番地でマイクロ
プログラムの実行を停止させることができるようになる
。
テストタイプTT7が選択されると、マイクロプロセッ
サはシングルステップ動作を行なう。すなわち、プロセ
ッサを1マシンサイクル毎に停止起動できる。従ってテ
ストタイプTTI、TT2゜TT3と組み合わせると、
マイクロプログラムの1ステップ実行ごとにLSI内部
のモニタができる。
サはシングルステップ動作を行なう。すなわち、プロセ
ッサを1マシンサイクル毎に停止起動できる。従ってテ
ストタイプTTI、TT2゜TT3と組み合わせると、
マイクロプログラムの1ステップ実行ごとにLSI内部
のモニタができる。
次に上記のごとく構成されたマイクロプロセッサの動作
について説明する。
について説明する。
この実施例のマイクロプロセッサは、テストモード切替
用の制御信号TESTがハイレベルにされている通常動
作モードでは、シーケンサ11により指定されたアドレ
スのマイクロ命令をROM12より読み出して命令レジ
スタ13に一時保持させる。このとき、アドレスセレク
タ21は命令レジスタ13内のアドレスをアドレスデコ
ーダ8に供給するようにバスが選択されている。
用の制御信号TESTがハイレベルにされている通常動
作モードでは、シーケンサ11により指定されたアドレ
スのマイクロ命令をROM12より読み出して命令レジ
スタ13に一時保持させる。このとき、アドレスセレク
タ21は命令レジスタ13内のアドレスをアドレスデコ
ーダ8に供給するようにバスが選択されている。
命令レジスタ13に保持されたマイクロ命令は命令デコ
ーダ14によってデコードされて制御信号C1〜Ciが
発生され、これによってレジスタ群3やRAM4よりデ
ータが読み出されて実行ユニット2に供給されて処理さ
れ、I10コントロール回路5を介して外部へ出力され
たり、レジスタ群3やRAM4内に格納される。これら
一連の処理はタイミングジェネレータ6で発生される周
期的なタイミング信号φ1〜φ8によって各回路素子が
順次作動されることにより実行される。
ーダ14によってデコードされて制御信号C1〜Ciが
発生され、これによってレジスタ群3やRAM4よりデ
ータが読み出されて実行ユニット2に供給されて処理さ
れ、I10コントロール回路5を介して外部へ出力され
たり、レジスタ群3やRAM4内に格納される。これら
一連の処理はタイミングジェネレータ6で発生される周
期的なタイミング信号φ1〜φ8によって各回路素子が
順次作動されることにより実行される。
上記のごとくマイクロプロセッサがプログラムに従って
処理を実行している状jl!(通常動作モード)で、テ
ストモード切替用の制御信号TESTがロウレベルにさ
れたとする。すると、この信号は第2図のタイミングジ
ェネレータ6に供給されて、タイミング信号φ、〜φ。
処理を実行している状jl!(通常動作モード)で、テ
ストモード切替用の制御信号TESTがロウレベルにさ
れたとする。すると、この信号は第2図のタイミングジ
ェネレータ6に供給されて、タイミング信号φ、〜φ。
をプロセッサのマシンサイクル単位で停止させる。
タイミングジェネレータ6が停止され、タイミング信号
φ1〜φ、が出力されなくなるとプロセッサの処理が停
止されるとともに、タイミングジェネレータ6からアド
レス切替制御回路24に対しHALT信号が供給される
。これによってアドレスセレクタ21はアドレス無指定
状態に切り替えられ、レジスタ群3やRAM4への書込
みバスが一時遮断される。その結果、そのときレジスタ
群3やRAM4に書き込まれている処理途中のデータが
保存される。
φ1〜φ、が出力されなくなるとプロセッサの処理が停
止されるとともに、タイミングジェネレータ6からアド
レス切替制御回路24に対しHALT信号が供給される
。これによってアドレスセレクタ21はアドレス無指定
状態に切り替えられ、レジスタ群3やRAM4への書込
みバスが一時遮断される。その結果、そのときレジスタ
群3やRAM4に書き込まれている処理途中のデータが
保存される。
次に、テストタイプ選択信号TTYP、〜TTYP3を
入力してテストタイプを選択し、制御信号TENをアサ
ートすると、対応するテストモードが起動される。
入力してテストタイプを選択し、制御信号TENをアサ
ートすると、対応するテストモードが起動される。
例えばテストタイプTTIが選択された場合を考えると
、制御信号TENのアサートによりアドレスセレクタ2
1はI10コントロール回路5側にアドレスバスが切り
替えられ、外部からのアドレスをアドレスデコーダ8へ
供給するようになる。
、制御信号TENのアサートによりアドレスセレクタ2
1はI10コントロール回路5側にアドレスバスが切り
替えられ、外部からのアドレスをアドレスデコーダ8へ
供給するようになる。
従って、アドレス入力端子36よりレジスタ群3を指定
するようなアドレス信号ADを入力してやればレジスタ
群3内のデータが内部データバス7aに出力され、I1
0コントロール回路5を介してデータ入出力端子37へ
出力させることができる。そのため、1マシンサイクル
ごとに内部レジスタやRAM内の処理途中のデータを外
部からモニタすることが可能になる。
するようなアドレス信号ADを入力してやればレジスタ
群3内のデータが内部データバス7aに出力され、I1
0コントロール回路5を介してデータ入出力端子37へ
出力させることができる。そのため、1マシンサイクル
ごとに内部レジスタやRAM内の処理途中のデータを外
部からモニタすることが可能になる。
その後、制御信号TENを解除するとアドレスセレクタ
21はアドレス無指定の状態に戻り、さらにテストモー
ド切替制御信号TESTを解除すると、タイミングジェ
ネレータ6が動作を開始し、タイミング信号をφ、から
発生し始める。そのため、プロセッサはマシンサイクル
の始まりから動作を再開し、停止直後の状態をそのまま
引き継いで処理を続行する。従って、1マシンサイクル
ごとの状態をモニタすることができる。
21はアドレス無指定の状態に戻り、さらにテストモー
ド切替制御信号TESTを解除すると、タイミングジェ
ネレータ6が動作を開始し、タイミング信号をφ、から
発生し始める。そのため、プロセッサはマシンサイクル
の始まりから動作を再開し、停止直後の状態をそのまま
引き継いで処理を続行する。従って、1マシンサイクル
ごとの状態をモニタすることができる。
一方、テストタイプTTOti−指定したときリード・
ライト制御信号R/Wによってレジスタのライトを指示
してやれば、レジスタ内に外部から所望のデータを入れ
て、やることができるので、マイクロプロセッサは書き
込まれたデータを使って処理を続行する。
ライト制御信号R/Wによってレジスタのライトを指示
してやれば、レジスタ内に外部から所望のデータを入れ
て、やることができるので、マイクロプロセッサは書き
込まれたデータを使って処理を続行する。
また、テストタイプとしてレジスタのリード・ライト(
TTI)の替わりに、タイプTT2を指定してやればプ
ログラムカウンタや命令レジスタのリード・ライトが可
能となるので、搭載するプログラムによらないシーケン
ス制御も可能となる。
TTI)の替わりに、タイプTT2を指定してやればプ
ログラムカウンタや命令レジスタのリード・ライトが可
能となるので、搭載するプログラムによらないシーケン
ス制御も可能となる。
これによって、プロセッサのハードウェアやソフトウェ
アの不良解析が容易かつ短期間に行なえるようになる。
アの不良解析が容易かつ短期間に行なえるようになる。
なお、テストモードにおけるテストタイプは、表1に示
すようなものに限定されず、例えばプロセッサに内蔵さ
れたマイクロプログラムROMをEPROMのような書
換え可能なメモリで構成した場合に外部からそのEPR
OMのリード・ライトを行なえるようシニするテストタ
イプを設けるようにしてもよい。
すようなものに限定されず、例えばプロセッサに内蔵さ
れたマイクロプログラムROMをEPROMのような書
換え可能なメモリで構成した場合に外部からそのEPR
OMのリード・ライトを行なえるようシニするテストタ
イプを設けるようにしてもよい。
また、テストタイプ選択信号TTYP、〜TTYP3を
印加する端子32,33,34を、通常動作モードで使
用する端子と共用させ、テストモード切替信号TEST
をアサートしたときに端子32.33.34に入力され
ている信号をテストモード制御回路23へ供給させるよ
うに構成することで外部端子を多重化させ、ピン数の増
加を抑えるようにすることもできる。
印加する端子32,33,34を、通常動作モードで使
用する端子と共用させ、テストモード切替信号TEST
をアサートしたときに端子32.33.34に入力され
ている信号をテストモード制御回路23へ供給させるよ
うに構成することで外部端子を多重化させ、ピン数の増
加を抑えるようにすることもできる。
以上説明したように上記実施例は、マイクロプロセッサ
内に、外部よりモード切替え信号が入力されると1マシ
ンサイクル内のすべてのタイミング信号を発生し終わっ
た時点で次のタイミング信号の発生を中止するタイミン
グ発生回路と、内部のレジスタやRAM等アドレスによ
って指定可能なデータ保持手段を選択する信号を発生す
るデコーダに対するアドレス信号の供給バスを切替え可
能なアドレス切替手段と、外部から供給される制御信号
に応じて動作モードを切り替えるモード制御手段を設け
、特定のモード(テストモード)が指定されたときは上
記タイミング発生回路を停止させ、かつ上記アドレス切
替手段によって上記アドレスデコーダに対するアドレス
信号の供給バスを外部入力側に切替え、外部からのアド
レス信号によって内部レジスタまたはRAMを指定して
データの読出し、書込みを行なえるようにしたので、マ
イクロプロセッサ内部の動作をマシンサイクル単位で停
止させ、その時点でのレジスタおよびRAM内のデータ
を保持させて外部からアドレスを与えて読み出したり、
外部から任意のデータを所望のレジスタやRAMに入れ
てそのデータを使って処理を続行させることができるよ
うになるという作用により、マイクロプロセッサにおけ
る不良解析、自己診断を短時間でしかもより正確に行な
えるようになるという効果がある。
内に、外部よりモード切替え信号が入力されると1マシ
ンサイクル内のすべてのタイミング信号を発生し終わっ
た時点で次のタイミング信号の発生を中止するタイミン
グ発生回路と、内部のレジスタやRAM等アドレスによ
って指定可能なデータ保持手段を選択する信号を発生す
るデコーダに対するアドレス信号の供給バスを切替え可
能なアドレス切替手段と、外部から供給される制御信号
に応じて動作モードを切り替えるモード制御手段を設け
、特定のモード(テストモード)が指定されたときは上
記タイミング発生回路を停止させ、かつ上記アドレス切
替手段によって上記アドレスデコーダに対するアドレス
信号の供給バスを外部入力側に切替え、外部からのアド
レス信号によって内部レジスタまたはRAMを指定して
データの読出し、書込みを行なえるようにしたので、マ
イクロプロセッサ内部の動作をマシンサイクル単位で停
止させ、その時点でのレジスタおよびRAM内のデータ
を保持させて外部からアドレスを与えて読み出したり、
外部から任意のデータを所望のレジスタやRAMに入れ
てそのデータを使って処理を続行させることができるよ
うになるという作用により、マイクロプロセッサにおけ
る不良解析、自己診断を短時間でしかもより正確に行な
えるようになるという効果がある。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、プロセッサの電源投入直後は、タイミングジェ
ネレータ6が動作せず、またアドレス切替制御回路24
がアドレスセレクタ21をいずれのアドレス供給バスを
もアドレスデコーダ8へ接続させないアドレス無指定状
態になるように構成しておくことで、プロセッサにパワ
ーオンリセットがかかるまでに発生する誤動作を防止す
るようにしでもよい。
ネレータ6が動作せず、またアドレス切替制御回路24
がアドレスセレクタ21をいずれのアドレス供給バスを
もアドレスデコーダ8へ接続させないアドレス無指定状
態になるように構成しておくことで、プロセッサにパワ
ーオンリセットがかかるまでに発生する誤動作を防止す
るようにしでもよい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるマイクロプロセッサ
に適用したものについて説明したが、この発明はそれに
限定されるものでなく、プログラムによって動作するコ
ントローラLSIやディジタルシグナルプロセッサその
他データ処理装置一般に利用することができる。
をその背景となった利用分野であるマイクロプロセッサ
に適用したものについて説明したが、この発明はそれに
限定されるものでなく、プログラムによって動作するコ
ントローラLSIやディジタルシグナルプロセッサその
他データ処理装置一般に利用することができる。
[発明の効果]
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
。
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
。
すなわち、マイクロプロセッサのようなプログラムに従
って動作する論理LSIにおける不良解析、自己診断を
短時間でしかもより正確に行なえるようになる。
って動作する論理LSIにおける不良解析、自己診断を
短時間でしかもより正確に行なえるようになる。
第1図は本発明を適用したマイクロプロセッサの一実施
例を示すブロック図、 第2図はマイクロプロセッサ内のクロックジェネレータ
の一構成例を示す回路構成図、第3図はクロックジェネ
レータの入出力信号のタイミングを示すタイムチャート
である。 1・・・・制御部、6・・・・タイミング発生回路、7
a、7b・・・・内部データバス、13・・・・命令レ
ジスタ、FF工〜FF、・・・・フリップフロップ。
例を示すブロック図、 第2図はマイクロプロセッサ内のクロックジェネレータ
の一構成例を示す回路構成図、第3図はクロックジェネ
レータの入出力信号のタイミングを示すタイムチャート
である。 1・・・・制御部、6・・・・タイミング発生回路、7
a、7b・・・・内部データバス、13・・・・命令レ
ジスタ、FF工〜FF、・・・・フリップフロップ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、各回路部分が、互いにタイミングの異なる複数の信
号により時系列に動作されることによって一つのデータ
を処理するため一連に動作が実行されるように構成され
たデータ処理装置であって、外部から所定の信号が供給
されると一連の処理を実行させるのに必要なタイミング
信号のうち最終のものの発生完了時点で停止され、次の
タイミング信号の発生を中止するように構成されている
タイミング発生回路を備えてなることを特徴とするデー
タ処理装置。 2、内部のデータ保持手段を選択する信号を発生するア
ドレスデコーダに対するアドレス信号の供給パスを切替
え可能なアドレス切替手段を備え、通常の動作モードで
は内部で発生されたアドレスを上記アドレスデコーダに
供給してデータ保持手段を指定するとともに、特定のモ
ードでは外部から供給されたアドレスを上記アドレスデ
コーダに供給してデータ保持手段を指定するように構成
されてなることを特徴とする請求項1記載のデータ処理
装置。 3、外部から供給される制御信号に応じて動作モードを
切り替えるモード制御手段を備え、上記タイミング発生
回路が停止されたとき、上記アドレス切替手段によるア
ドレス供給パスを遮断してアドレス無指定状態とし、外
部から他の制御信号が入力されたときにアドレス供給パ
スを切り替えて外部からのアドレスによって上記データ
保持手段を指定するように構成されていることを特徴と
する請求項2記載のデータ処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63284889A JP2766985B2 (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63284889A JP2766985B2 (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | データ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02130638A true JPH02130638A (ja) | 1990-05-18 |
JP2766985B2 JP2766985B2 (ja) | 1998-06-18 |
Family
ID=17684351
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63284889A Expired - Fee Related JP2766985B2 (ja) | 1988-11-11 | 1988-11-11 | データ処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2766985B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006132994A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Nec Electronics Corp | バウンダリスキャン回路内臓lsi |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5378140A (en) * | 1976-12-22 | 1978-07-11 | Mitsubishi Electric Corp | Diagnosis system for microprocessor |
JPS60233739A (ja) * | 1984-05-07 | 1985-11-20 | Nec Corp | クロツク制御装置 |
JPS61168051A (ja) * | 1985-01-22 | 1986-07-29 | Nec Corp | シングルチツプ・マイクロコンピユ−タ |
-
1988
- 1988-11-11 JP JP63284889A patent/JP2766985B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5378140A (en) * | 1976-12-22 | 1978-07-11 | Mitsubishi Electric Corp | Diagnosis system for microprocessor |
JPS60233739A (ja) * | 1984-05-07 | 1985-11-20 | Nec Corp | クロツク制御装置 |
JPS61168051A (ja) * | 1985-01-22 | 1986-07-29 | Nec Corp | シングルチツプ・マイクロコンピユ−タ |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006132994A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | Nec Electronics Corp | バウンダリスキャン回路内臓lsi |
JP4565626B2 (ja) * | 2004-11-02 | 2010-10-20 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | バウンダリスキャン回路内蔵lsi |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2766985B2 (ja) | 1998-06-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2986104B2 (ja) | 情報処理装置の自己試験回路 | |
JPH02130638A (ja) | データ処理装置 | |
JP4226108B2 (ja) | ディジタルシグナルプロセッサ及びプロセッサのセルフテスト方法 | |
TWI413778B (zh) | 可調整的測試型樣結果潛伏時間 | |
JPS6015969B2 (ja) | マイクロ命令アドレス生成方式 | |
JPH05298088A (ja) | マイクロコンピュータ | |
JP2694172B2 (ja) | ディジタル処理装置 | |
JP3117214B2 (ja) | シーケンサのマイクロプログラム制御方式 | |
US20040177238A1 (en) | Microprocessor | |
JP3315900B2 (ja) | ビルトインセルフテスト回路を備えた処理装置 | |
JPS62166442A (ja) | 故障診断方式 | |
JPH0212436A (ja) | 半導体装置 | |
JPS62109137A (ja) | デ−タ処理システム | |
JPS61282946A (ja) | プログラマプルコントロ−ラ | |
JPH0619751A (ja) | 中央処理装置 | |
JP2008111682A (ja) | 半導体試験方法および半導体試験装置 | |
JPH07182305A (ja) | マイクロプロセッサ | |
JPH0728662A (ja) | マイクロコンピュータ | |
JPH0812624B2 (ja) | データプロセッサ | |
JPH04251331A (ja) | 情報処理装置 | |
JPH1078886A (ja) | テスト装置 | |
JPS58221444A (ja) | マイクロプログラム制御装置 | |
JPS62259145A (ja) | アルゴリズミツク・パタ−ン発生装置 | |
JPS5850046A (ja) | 情報処理装置 | |
JPS6113612B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |