JPS62159067A - デイスク型記録媒体の検査方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ディスク型記録媒体の検査を行なう技術分
野に係るものであり、特に、ディスク型記録媒体上のエ
ラー検出位置における記録波形の確認を行なえるように
したものに関する。

〔従来の技術〕

磁気ディスクの検査項目の一種に、モジーレーションエ
ラー検査、ミッシングエラー検査がある。

モジュレーションエラー検査は、被検査ディスクの所定
トラックにアナログ信号を書込んだ後読トラックの読出
しを行ない、読出し波形が所定の許容レベル範囲内にあ
るか否か（許容レベルを超える波形のうねり（＝エラー
）がないかどうか）を判定することにより、ディスク表
面の凸凹の有無等の検査を行なうものである。ミッシン
グエラー検査は、トラックの読出しを同様に行ない、読
出し信号が規定値より小さい部分（＝エラー）がないか
どうかを判定することにより、ディスク表面のキズの有
無等の検査を行なうものである。

従来このような検査を行なう場合には、「アナログ信号
の書込み」、「読出しに基づく判定」。

「消去」を盲目的に連続して行なうシーケンス処理によ
って検査を実行するようにしていた。従って、トラック
の記録波形は、エン−の有無に無関係に常に判定終了後
直ちに消去されていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、このような方式では、ディスク上のどの位置で
エラーが検出されたかはわかっても、そのエラー検出位
置にいかなる波形が記録されていたかを確認することが
できない。この記録波形の確認は、検査装置が正常に動
作しているか否かを判断するために重要なものであり、
且つ記録波形は書込み毎に変化するものであるから消去
後新たに同一のアナログ信号を書込むことによっては行
ないえないものである。

この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、ディスク
上のエラー検出位置における記録波形の確認を行なうこ
とのできる検査方式を提供しようとするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明に係る検査方式は、ディスク型記録媒体への信
号の書込み処理、該ディスク型記録媒体の記録内容の読
出しに基づくエラー検出処理、該ディスク型記録媒体の
記録内容の消去処理、を順次行なうシーケンス処理によ
って検査を実行するディスク型記録媒体の検査方式にお
いて、前記エラー検出処理実行時にエラーが検出された
とき、前記シーケンス処理を一時停止し、該エラーが検
出されたトラックの記録内容の読出しを行なうようにし
たことを特徴としている。

〔作用〕

エラーが検出される毎に、消去処理に移行する前に記録
内容が再び読出されるので、その読出し信号に基づき、
エラー検出位置における記録波形の確認を行なうことが
できる。

〔実施例〕

以下、添付図面を参照してこの発明の一実施例を詳細に
説明する。

第１図は、この発明に係る検査方式を採用した磁気ディ
スク検査装置の一例を示すものである。

この検査装置は、駆動部１と制御部２を含んでいる。駆
動部１には、図示しない２台のスピンドル部が設けられ
ている。これらのスピンドル部は、夫々被検査磁気ディ
スクを２枚ずつ搭載するものである。これらのスピンド
ル部に対する磁気ディスクの搭載は、例えば図示しない
産業用ロボット等によって行なわれる。

各スピンドル部には、磁気ディスクの回転角度位置を検
出するためのアングル円板３，４が夫々取付けられてい
る。アングル円板３，４は、周知の通り、磁気ディスク
のインデックスを検出するための１個の切欠きと、一定
角度置きに並んだ多数の切欠きとを具えたものである。

（図では切欠きの図示を省略している。）アングル円板
３，４を用いて得られたインデックス信号Ａ及び回転角
度信号Ｂは、制御部２に設けられたインデックス部５．
アングル部６に与えられる。制御部２にはセクタ部１９
が設けられており、インデックス部５、アングル部６に
与えられた信号Ａ、Ｈに基づき、磁気ディスクのセクタ
情報Ｃがセクタ部１９により作成される。

駆動部１には、２台のスピンドル部のうちの一方のスピ
ンドル部に搭載された２枚の磁気ディスクの各ディスク
面（合計４面）に対して信号の読み書きを行なう４個の
磁気ヘッド７と、他方のスピンドル部に搭載された２枚
の磁気ディスクに対して同様に信号の読み書きを行なう
４個の磁気ヘッド８が設けられている。（図では１個の
磁気ヘッド７．８のみを示し他の磁気ヘッド７．８の図
示を省略している。以下に述べるバッファアンプ１０．
１２．プリアンプ１１．１３についても同様とする。）
各磁気ヘッド７には、制御部２に設けられた電流設定部
９により指示された値が、バッファアンプ１０内部の電
流源により、プリアンプ１１を介して書込み又は消去電
流りが与えられる。また各磁気ヘッド７には、制御部２
に設けられた水晶発振器１４の出力信号Ｅに基づき、制
御部２に設けられたステージコントローラ１５から、バ
ッファアンプ１２及びプリアンプ１３を介して書込み／
読出しタイミング信号Ｆが与えられる。

他方、各磁気ヘッド８にも、電源９．ステージコントロ
ーラ１５から、バッファアンプ１２及びプリアンプ１３
を介して夫々信号り、Ｆが与えられる。

各磁気ヘッド７の読出し信号Ｇは、プリアンプ１１、バ
ッファアンプ１０を介し、制御部２に設けられたリード
セレクタ１６に与えられる。また、この検査装置には一
例として波形観測用のオシロスコープ２８が設けられて
おり、信号Ｇはこのオシロスコープ２８にも与えられる
。各磁気ヘッド８の読出し信号Ｈも、プリアンプ１３．
バッファアンプ１２を介し、リードセレクタ１６とオシ
ロスコープ２８に与えられる。リードセレクタ１６は、
与えられた読出し信号Ｇ又はＨを選択して出力する。制
御部２には４個の検査処理回路１７が設けられており、
リードセレクタ１６の出力信号は夫々１系統ずつ各検査
処理回路１７に与えられる。（図では、１個の検査処理
回路１７のみを示し、他の検査処理回路１７の図示を省
略している。

）また各検査処理回路１７には、水晶発振器１４の出力
信号Ｅ、セクタ部７のセクタ情報Ｃが与えられ、アング
ル円板３及び４からのインデックス信号Ａ１回転角度信
号Ｂが夫々インデックス部５゜アングル部６を介して与
えられる。各検査処理回路１７は、これらの入力信号に
基づき、磁気ディスクについてモジュレーションエラー
検査、ミッシングエラー検査等の検査（すなわち、これ
らのエラーの検出並びにエラー検出位置の特定）を行な
うための回路である。

駆動部１には図示しないマイクロコンピュータが設けら
れており、駆動部１の各部はこのマイクロコンピータに
よって制御される。制御部２にはマイクロコンピュータ
１８が設けられている。

マイクロコンピュータ１８は、電源９．ステージコント
ローラ１５．各検査処理回路１７等の制御を行ない且つ
駆動部１のマイクロコンピュータとの間で信号の授受を
行なうことにより、磁気ディスクの検査を実行する。

次に、この発明に係る検査方式の一例を第２図及び第３
図を参照して説明する。

第２図は、マイクロコンピュータ１８が実行スるコンピ
ュータプログラムの一例を略示するフローチャートであ
り、検査シーケンスに関するものである。最初にステッ
プ１０１では、スピンドル部に磁気ディスクが搭載され
たことを示す信号■が駆動部１のマイクロコンピュータ
から与えられたか否かを判断し、与えられていなければ
この判断を繰返す。産業用ロボット等によりいずれかの
スピンドル部に磁気ディスクが搭載されると、駆動部の
マイクロコンビュータカ１ら信号Ｔが与えられ、ステッ
プ１０１においてＹＥＳと判断してステップ１０２に進
む。

ステップ１０２では、磁気ディスクが搭載されたスピン
ドル部についての検査準備指示信号Ｊを駆動部１のマイ
クロコンピュータに与える。駆動部では、この信号Ｊに
基づき、スピンドル部上での磁気ディスクのクランプ、
対応する磁気ヘッド７又は８の磁気ディスクへのロード
、スピンドル部の回転駆動２等の検査準備が実行される
。ステ・　ツブ１０２に続いてステップ１０３では、検
査準備の終了を示す信号Ｋが駆動部１のマイクロコンピ
ュータから与えられため）否かを判断する。検査準備が
終了すると、該マイクロコンピュータから信号Ｋが与え
られ、ステップ１０３においてＹＥＳと判断してステッ
プ１０４に進む。

ステップ１０４では、スピンドル部上の磁気ディスクの
最初のトラックを、対応する磁気ヘッド７又は８により
シークする。次にステップ１０５では、電源９及びステ
ージコントローラ１５を制御することにより、前記最初
のトラックに対して、前記磁気へノド７又は８によって
アナログ信号の書込みを行なう。書込みが終了すると続
いてステップ１０６に進み、ステージコントローラ１５
及び各検査処理回路１７を制御することにより、前記最
初のトラックの記録内容を前記磁気ヘッド７又は８によ
って読出し、リードセレクタ１６を介して各回路１７に
与えられたその読出し信号Ｇ又はＨに基づいてモジュレ
ーションエラー検査、ミッシングエラー検査を実行する
。

検査が終了するとステップ１０７に進み、前記ステップ
１０６の処理によってエラーが検出されため）否かを判
断する。エラーが検出されていなければ、ステップ１０
８に進み、電源９及びステージコントローラ１５を制御
することにより、前記最初のトラックの記録内容を前記
磁気ヘッド７又は８によって消去する。

他方、エラーが検出されていれば、第２図の検査シーケ
ンスを停止して第３図のフローチャートの最初のステッ
プ２０１に移る。このフローチャートも、マイクロコン
ピュータ１８が実行するコンピュータプログラムの一例
を略示するものであり、トラック上のエラー検出位置の
記録波形を確認する処理に関する。ステップ２０１では
、第２図のステップ１０６で読出しを行なったトラック
の記録内容を対応する磁気ヘッド７又は８によって再び
繰返して読出す。次にステップ２０２では、前記ステッ
プ２０１の処理による読出し信号Ｇ又はＨのうち、前記
ステップ１０６でエラーが検出されたトランク上の位置
からの信号を特定する。

続いてステップ２０３では、前記ステップ２０２で特定
した信号の波形をオシロスコープ２８に表示する。この
ステップ２０３が終了すると、第２図のステップ１０８
に移って検査シーケンスを再開し、前述のように記録内
容の消去を行なう。

第２図において、ステップ１０８が終了すると、ステッ
プ１０９に進んでエキストラエラー検査等の他の種類の
検査を実行した後、ステップ１１０に進み、検査を行な
ってきたトラックが最終トラックであるか否かを判断す
る。最終トラックでなければ、ステップ１１１に進んで
次のトラックを前記磁気ヘッド７又は８によってシーク
した後、前記ステップ１０５に戻って再び同様な過程を
繰返す。この過程を幾度か繰返して全てのトラックにつ
いての検査が終了すると１、ステップ１１０においてＹ
ＥＳと判断してステップ１１２に進む。

ステップ１１２ではスピンドル部からの磁気ディスクの
搬出を指示する信号りを駆動部１のマイクロコンピュー
タに与える。駆動部１では、この信号りに基づき、スピ
ンドル部の回転停止、前記磁気ヘッド７又は８のアンロ
ード、磁気ディスクのアンクランプ、産業用ロボット等
による磁気ディスクの搬出が実行返れる。ステップ１１
２に続いてステップ１１３では、搬出の終了を示す信号
Ｍが駆動部１のマイクロコンピュータから与えられたか
否かを判断する。搬出が終了すると、該マイクロコンピ
ュータから信号Ｍが与えられ、ステップ１１３において
ＹＥＳと判断して最初のステップ１０１に戻る。そして
、スピンドル部に新たな磁気ディスクが搭載されると、
同様な過程を繰返して検査を実行する。

このようにこの検査方式では、「磁気ディスクへのアナ
ログ信号の書込み」、「磁気ディスクの記録内容の読出
しに基づくエラー検出」、「磁気ディスクの記録内容の
消去」を順次行なうシーケンス処理によって検査を実行
しながらも、エラーが検出された場合には、シーケンス
を一時停止して磁気ディスクの記録内容の読出しを繰返
し、エラー検出位置の波形をオシロスコープ２８で表示
するようにしている。従って、エラー検出位置における
記録波形の確認を行ないつつ検査を実行することができ
るようになる。

ここで、第１図の検査装置の各検査処理回路１７のうち
モジュレーションエラー検査及びミッシングエラー検査
に関する部分の構成の一例を示すと、第４図の通りであ
る。同図に示すように、リードセレクタ１６から与えら
れた読出し信号Ｇ又はＨは、アベレージ回路２０に入力
する。回路２０は、信号Ｇ又はＨを増幅するとともに、
１トラック分の信号Ｇ又はＨの平均電圧を求めるもので
ある。回路２０からは、増幅しただけの信号Ｇ又はＨが
コンパレータ２４，２５に与えられ、求めた平均電圧を
示す信号Ｎがモジュレーションエラー用スライス回路２
１．ミッシングエラー用スライス回路２２及びマイクロ
コンピュータ１８に与えられる。スライス回路２１．２
２は、マイクロコンピュータ１８の制御の下でスライス
データアウト回路２３から出力されて回路２１．２２に
与えられた所定の設定値Ｏ（例えば７０％〜１２０チ）
を前記平均電圧に乗するこさにより、エラー判定のため
のスライスレベルを作成するものである。

スライス回路２１．２２からは、作成したスライスレベ
ルを示す信号Ｐ、Ｑが夫々コンパレータ２４．２５に与
えられる。コンパレータ２４，２５は、与えられた読出
し信号Ｇ又はＨがこのスライスレベルの範囲内にあるか
否かを判定することによって、夫々モジュレーションエ
ラー、ミッシングエラーの検出を行なうものである。コ
ンパレータ２４．２５の判定結果を示す信号Ｒ，Ｓはワ
ンショット回路２６に与えられる。回路２６は、コンパ
レータ２４．２５のエラーありの判定に対応してワンシ
ョット信号Ｔを出力する。この信号Ｔは、エラー処理回
路２７に与えられる。エラー処理回路２７は、発振器１
４．インデックス部５゜アングル部６から夫々与えられ
る出力信号Ｅ、インデックス信号Ａ２回転角度信号Ｂ及
び前記ワンショット信号Ｔに基づき、マイクロコンピュ
ータ１８の制御の下、ディスク上におけるエラー検出位
置の特定等の処理を行なうものである。回路２７からは
、処理結果がマイクロコンピュータ１８に与えられる。

尚、この実施例ではモジュレーションエラー検査及びミ
ッシングエラー検査を実行するためにこの検査方式を用
いているが、他の種類の検査を実行するためにこの検査
方式を用いるようにしてもよい。

また、この実施例では磁気ディスクの検査を実行するた
めにこの検査方式を用いているが、他の種類のディスク
型記録媒体の検査を実行するためにこの検査方式を実行
するようにしてもよい。

〔発明の効果〕

以上の通り、この発明に係る検査方式によれば、ディス
ク型記録媒体上のエラー検出位置における記録波形を確
認しつつ、シーケンス処理によりて検査を行なうことが
できる。従って、シーケンス処理によって検査を実行す
るのと同時に、検査装置が正常に動作しているか否かを
判断することができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係る検査方式を採用した磁気ディス
ク検査装置の一例を示す電気的ブロック図、第２図及び
第３図は第１図の検査装置の制御部のマイクロコンピュ
ータが実行するコンピュータプログラムの一例を略示す
るフローチャートであり、第２図は検査シーケンスに関
するもの、第３図はトラック上のエラー検出位置の記録
波形を確認する処理に関するもの、第４図は第１図の検
査装置の検査処理回路のうちモジニレ−ジョンエラー検
査及びミッシングエラー検査に関する部分の構成の一例
を示す電気的ブロック図である。 １・・・駆動部、２・・・制御部、６，４・・・アング
ル円板、５・・・インデックス部、６・・・アングル部
、７゜８・・・磁気ヘッド、９・・電流設定部、１０．
１２・・バッファアンプ、１１．１３・・プリアンプ、
１４・・・水晶発振器、１５・・・ステージコントロー
ラ。 １６・・・リードセレクタ、１７・・・検査処理回路、
１８・・・マイクロコンピュータ、１９・・・セクタ部
、２０・・・アベレージ回路、２１・・・モジニレ−ジ
ョンエラー用スライス回路、２２・・・ミッシングエラ
ー用スライス回路、２３・・・スライスデータアウト回
路。 ２４．２５・・・コンパレータ、２６・・・ワンショッ
ト回路、２７・・エラー処理回路、２８・・・オシロス
コープ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ディスク型記録媒体への信号の書込み処理、該ディスク
   型記録媒体の記録内容の読出しに基づくエラー検出処理
   、該ディスク型記録媒体の記録内容の消去処理、を順次
   行なうシーケンス処理によって検査を実行するディスク
   型記録媒体の検査方式において、 前記エラー検出処理実行時にエラーが検出されたとき、
   前記シーケンス処理を一時停止し、該エラーが検出され
   たトラックの記録内容の読出しを行なうようにしたこと
   を特徴とするディスク型記録媒体の検査方式。