JPH01262489A - ハードディスク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、ハードディスクの検査装置の改良に関する。

（発明の概要） 本発明は、ハードディスクの１トラック分の検査データ
中に欠陥信号が存在しないときは、そのトラックの検査
データの集計処理を省略し、検査時間の短縮を図るよう
にしたものである。

（従来技術） 従来、磁気ディスク等のハードディスク（以下「ディス
クＪという）の製品検査においては、回転するディスク
面にヘッドを接近させて検査用磁気信号を書込むととも
に、再度ヘッドで読取り、あるいは消去侵の残信号を読
取って、その読取結果に基づいてミッシングパルスエラ
ー、エクストラパルスエラー等の複数種の検査項目につ
いて検査が行なわれている。

上述の検査は、ディスクに工２【プられている数千水の
全トラック（リング状の磁気ストライプ）に対して検査
されディスクの品質管理が行なわれている。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、上記従来のディスクの検査装置は、全ト
ラックの検査結果を集計処理していたため、検査に艮時
間要するという問題点があった。

なぜならば、検査項目は複数あり、１トラツク検査を終
了するにはディスクを４〜５回転させる必要があること
に加え、１トラツクの検査結果の集計処理が完了するま
では次のトラックの検査に移行できず、実際は上述以上
の回転数が必要となっていた。

（問題点を解決するための手段） 本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
あって、ハードディスクに検査用信号を書込む書込手段
と、 書込まれた信号または消去復の残信号を読込むための読
取手段と、 読取信号からハードディスクの欠陥を検出する検出手段
と、 ハードディスクの１トラツク分毎の検査データを集計処
理する集計手段と、 前記１１〜ラック分の検査データ中から欠陥信号を抽出
する抽出手段と、 前記１トラツク分の検査データ中に欠陥信号が存在しな
いとき該トラックの集計処理を禁止する禁止手段と、 を具備することを特徴とするものでおる。

（作用） 本発明では、１トラツクの検査データ中に欠陥信号が含
まれないとぎは、そのトラックの検査データの集計処理
を省略し、次のトラックの検査が行なわれるように作用
する。

（実施例） 以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。

第１図は本発明装置の斜視図であって、ディスク１は回
転スピンドル２に載置されて所定の回転数で回転される
。

ヘッド３ａ、３ｂは、ベース４に載置されているキャリ
ッジ５の先端に設けられるとともに、ディスク１の半径
方向に間隔を保って設けられている。

ヘッド３ａと３ｂの間隔は、ディスク１の半径の約１７
′２となっており、またキレリッジ５はサーボ［−夕６
によりディスク１の中心に向かって曲後動できるように
構成されている。

ヘッド３ａ、３ｂは検査時にヘッドローディング機構７
によりディスク１面上に接近するように構成されている
。

なお、図示されていないがディスク１の裏面側にもヘッ
ド３ａ、３ｂと対応した位置にヘッドが設りられていて
、このヘッドによりディスク１の裏面の検査が行なわれ
るようになっている。したがって、キャリッジ５の１往
復動でディスク１の両面の検査が終了するように構成さ
れている。

第２図は本発明装置の電気的構成を示すブロック図であ
って、ｃｐｕ　ｃ中央！２！ｌ理装置）１０は図示しな
いシステムプログラムの格納されているＲＯＭおよびワ
ーキングメモリの格納されているＲＡＭにより本装置全
体が統括的に制御される。

書込回路１１からの所定の検査用信号（情報）は、ヘッ
ド３ａ、３ｂを介してディスク１に送出されて記録され
るとともに、書込回路１１からは書込まれた信号を消去
する信号がヘッド３ａ、３ｂを介してディスク１に送出
される。

ヘッド３ａ、３ｂは、書込まれた検査用信号あるいは消
去後の残信号をディスク１から読取り、これは増幅器１
２で増幅される。増幅された信号（波形）は整形回路１
３で整形された後コンパレータ１４へ送出される。

コンパレータ１４は、各検査項目毎のコンパレータ群１
４ａ〜１４ｈから構成されるとともに、各コンパレータ
１４ａ〜１４ｈには、スライスレベル出力回路１５から
のしきい値信号が入力される。スライスレベル出力回路
１５は、１トラツクの出力平均値（ＴＡＡ）を出力する
ＴＡＡ回路１６の出力を基に各検査項目毎のスラー（ス
レベルを発生する。

各コンパレータ１４ａ〜１４ｈの出力側には、各検査項
目に対応した検出回路１７が接続されている。すなわち
検出回路１７は、書込周波数２Ｆで書込まれた信号を読
出し、これと所定の基準値に対し２０〜９５％の範囲内
で設定された３種類のスレッシュホールドレベルとを比
較して検査するミッシングパルスエラーテスト（ＭＰ）
用検査回路１７８〜１７Ｃ１残信号と所定の基準値に対
し１０〜９５％の範囲内で設定された３種類のスレッシ
ュホールドレベルとを比較して検査するエクストラパル
スエラーテスト（ＥＰ）用検出回路１７ｄ〜１７ｆ、書
込周波数２Ｆで書込まれた信号を読出し、これと所定の
基準値に対し１０５〜１５０％の範囲内で設定されたス
レッシュホールドレベルとを比較して検査するポジティ
ブ［ジュレーション（ＰＭＯＤ）用検出回路１７ＣＪお
よび所定基準値の５０〜９０％の範囲内で設定されたス
レッシュホールドレベルとを比較して検査するネガティ
ブ［ジュレーション（ＮＭＯＤ）用検出回路１７ｈから
構成されている。

各コンパレータ１４ａ〜１４ｈおよび各検出回路１７ａ
〜１７ｈは同期信号発生回路１８によりタイミングがと
られて順次各検査項目毎の検査が行なわれる。

検査結果は１トラツク分の各検査項目を一時格納するた
めのメモリ１８ａに直接送出されて記憶される（ＤＭＡ
）。

メモリ１８ａはポジティブおよびネガティブモジュレー
ションの検査結果以外の検査については、その検査の結
果の判定が重度の欠陥か、おるいは軽度の欠陥かが記録
できるようになっているとともに、１トラツクのエリア
を３６０°に分割してその各３６０個について記録され
、その記録の仕方は欠陥があるときは該当場所にｕ　１
　Ｉｆを、ないときは゛０パが記録される。

検出回路１７からの検出出力信号は２段のＯＲ回路１９
．２０を介してフリップフロップ回路２１に送出される
。

すなわち、１トラツク中の検査結果中に１個以上の欠陥
信号が抽出されたときは、そのトラックに欠陥があるこ
とを示す欠陥フラグが図示しないＲＡＭ中に立てられる
。

メモリ１８ａの１トラツク分の検査結果のデータは、デ
ィスク１枚分のデータを収納するメモリ２２に移送され
、したがってデータ移送後はメ［す１８ａはクリアされ
て次のトラック検査用に当てられる。

次に上記構成からなる本実施例の動作を第３図のフロー
チャートを参照しながら説明する。

今、検査が開始されディスク１が１回転し、この回転中
ディスク１には検査用信号である周波数２Ｆがヘッド３
ａ、３ｂから書込まれる（ステップ１００）。

次の２回転目において、ＴＡＡ、ＭＰおよび各ＭＯＤが
測定される（ステップ１０２）。この測定結果に基づく
検査において、１個の欠陥信号もなく、このため欠陥フ
ラグが立たなかったときはくステップ１０４否定）、検
査結果の集計処理は行なわず、ディスク１の１回転目に
店込んだ検査用情報が消去される（ステップ１０８（３
回転目））。

なお、欠陥フラグが立っているときはその欠陥信号が集
計処理される。

ディスク１が４回転目において、ＥＰが測定され、その
検査の結果、１個も欠陥が抽出されないときは（ステッ
プ１１２否定）、次のトラックに進んで同様の検査が行
なわれる（ステップ１１８否定、１２０）。

しかし、ＥＰの検査において、欠陥があるときはその欠
陥信号が集計される（ステップ１１２肯定）。

以上のように、本実施例においては１トラツクの検査に
おいて欠陥が抽出されないときは、そのトラックの欠陥
信号の集計処理を行なわないのでディスク全体としての
集計処理時間が短縮される。

特にディスク全体において、欠陥のあるトラックは通常
数トラツクでおり、このため従来のように全てのトラッ
クの集計処理を行なっていたのに比べ大幅に集計処理時
間を短縮することができる。

したがって、ディスクの検査時間を短縮することができ
、本装置がディスクの製造ライン中に組込まれたときは
、製造ラインの効率を高めることができる等の効果があ
る。

（効果） 本発明は、上述の如く１トラック分の検査データ中に欠
陥信号が存在しないときは、そのトラックの集計処理を
禁止するように構成したので、欠陥のないトラックの集
計処理が省略され、ディスク全体としての集計処理時間
が短縮される。

したがって、ディスクの検査時間短縮を図ることができ
る等の効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明装置の斜視図、第２図はその電気的構成
を示すブロック図Ｊ３よび第３図は制御動作のフローチ
ャートである。 １・・・ハードディスク ３ａ、３ｂ・・・ヘッド １０・・・ＣＰＵ １１・・・書込回路 １２・・・増幅器 １３・・・整流回路 １４・・・コンパレータ １５・・・スラ・ｒスレベル回路 １６・・・ＴＡＡ回路 １７・・・検出回路 １８ａ・・・メＦり

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、ハードディスクに検査用信号を書込む書込手段と、 書込まれた信号または消去後の残信号を読込むための読
   取手段と、 読取信号からハードディスクの欠陥を検出する検出手段
   と、 ハードディスクの１トラック分毎の検査データを集計処
   理する集計手段と、 前記１トラック分の検査データ中から欠陥信号を抽出す
   る抽出手段と、 前記１トラック分の検査データ中に欠陥信号が存在しな
   いとき該トラックの集計処理を禁止する禁止手段と、 を具備することを特徴とするハードディスク検査装置。