JPS62154733A - ドライエツチング装置 - Google Patents
ドライエツチング装置Info
- Publication number
- JPS62154733A JPS62154733A JP29484085A JP29484085A JPS62154733A JP S62154733 A JPS62154733 A JP S62154733A JP 29484085 A JP29484085 A JP 29484085A JP 29484085 A JP29484085 A JP 29484085A JP S62154733 A JPS62154733 A JP S62154733A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cathode
- etching
- electrodes
- spherically curved
- dry etching
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はドライエツチング装置の電極に関するものであ
る。
る。
従来、半導体装置製造に用いるドライエツチング装置に
おいて、高周波電圧を印加する対向電極は双方とも平面
か又は円筒形であった。
おいて、高周波電圧を印加する対向電極は双方とも平面
か又は円筒形であった。
上述した従来のドライエツチャーのうち、前者の平行平
板電極の場合に、同時に処理できる半導体基板の枚数を
増してスループントを向上させるためには、装置の平面
積を大きくする必要があり、設置スペース効率が悪くな
るという欠点があった。
板電極の場合に、同時に処理できる半導体基板の枚数を
増してスループントを向上させるためには、装置の平面
積を大きくする必要があり、設置スペース効率が悪くな
るという欠点があった。
又、後者の円筒形電極の場合には、エツチング室内で半
導体基板が配置された電極を回転したり平行移動するこ
とが困難であり、平行平板電極タイプのように一方の電
極を回転させて、エツチングの均一性を向上させること
ができないという欠点があった。
導体基板が配置された電極を回転したり平行移動するこ
とが困難であり、平行平板電極タイプのように一方の電
極を回転させて、エツチングの均一性を向上させること
ができないという欠点があった。
本発明の目的はスループット向上対策やウェリー大口径
化の際に設置スー%率が低下せず、かつエツチングの均
一性を平行平板電極タイプのレベル以下に低下させるこ
とのないドライエツチング装置を提供することにある。
化の際に設置スー%率が低下せず、かつエツチングの均
一性を平行平板電極タイプのレベル以下に低下させるこ
とのないドライエツチング装置を提供することにある。
本発明はエツチング室内を真空ポンプにより真空に保ち
、該エツチング室内に対向配置された電極に高周波の電
圧を印加し、導入されたガスの励起又はイオン化によっ
て電極上の半導体基板をドライエツチングするドライエ
ツチング装置において、前記対向電極双方を球面状に弯
曲させたことを特徴とするドライエツチング装置である
。
、該エツチング室内に対向配置された電極に高周波の電
圧を印加し、導入されたガスの励起又はイオン化によっ
て電極上の半導体基板をドライエツチングするドライエ
ツチング装置において、前記対向電極双方を球面状に弯
曲させたことを特徴とするドライエツチング装置である
。
次に本発明の実施例につき、図面を用いて説明する。
第1図において、本実施例のドライエツチング装置は、
真空ポンプ1により真空に保持されるエツチング室2の
内部に、球面状に弯曲したアノード3と球面に弯曲した
カソード4を対向配置し、かつカソード4は回転軸5を
介してモーター6に接続し、エツチング中に回転可能に
しである。エツチング処理の際には、ガス導入ロアより
ガスが電極間に導入され、かつ高周波電源8により、電
極間に高周波電圧が印加され、カソード表面に配置され
た半導体基板9表面をエツチングする。
真空ポンプ1により真空に保持されるエツチング室2の
内部に、球面状に弯曲したアノード3と球面に弯曲した
カソード4を対向配置し、かつカソード4は回転軸5を
介してモーター6に接続し、エツチング中に回転可能に
しである。エツチング処理の際には、ガス導入ロアより
ガスが電極間に導入され、かつ高周波電源8により、電
極間に高周波電圧が印加され、カソード表面に配置され
た半導体基板9表面をエツチングする。
本発明によれば、対向電極としてのアノード3及びカソ
ード4が球面状に弯曲しているため、カソード4の表面
に設置される半導体基板9の枚数が平面の場合に比して
多くなる。また両電極3゜4が球面状に弯曲しているか
ら、カソード4を他のアノード3に干渉することなく回
転させられるため、エツチングの均一性を保つことが可
能になる。
ード4が球面状に弯曲しているため、カソード4の表面
に設置される半導体基板9の枚数が平面の場合に比して
多くなる。また両電極3゜4が球面状に弯曲しているか
ら、カソード4を他のアノード3に干渉することなく回
転させられるため、エツチングの均一性を保つことが可
能になる。
上述の実施例において、高周波電源の接続をカソードで
なく、アノードに変更することができるし、電極表面に
配置される半導体基板の枚数は自由に選択できる。
なく、アノードに変更することができるし、電極表面に
配置される半導体基板の枚数は自由に選択できる。
以上説明したように本発明によれば、装置の平面積、即
ち設置面積を増すことなく、電極表面に配置される半導
体基板の枚数を増すことができ、設置スペース効率を向
上させることができる。さらに、回転機構を介してカソ
ードを回転させることにより、エツチングの際の均一性
も保つこともできる効果を有するものである。
ち設置面積を増すことなく、電極表面に配置される半導
体基板の枚数を増すことができ、設置スペース効率を向
上させることができる。さらに、回転機構を介してカソ
ードを回転させることにより、エツチングの際の均一性
も保つこともできる効果を有するものである。
第1図は本発明の一実施例を説明するための概略断面図
である。 1・・・真空ポンプ、2・・・エツチング室、3・・・
アノード、4・・・カソード、5・・・回転軸、6・・
・モーター、7・・・ガス導入口、8・・・高周波電源
、9・・・半導体基板。 晃1図
である。 1・・・真空ポンプ、2・・・エツチング室、3・・・
アノード、4・・・カソード、5・・・回転軸、6・・
・モーター、7・・・ガス導入口、8・・・高周波電源
、9・・・半導体基板。 晃1図
Claims (1)
- (1)エッチング室内を真空ポンプにより真空に保ち、
該エッチング室内に対向配置された電極に高周波電圧を
印加し、導入されたガスの励起又はイオン化によって電
極上の半導体基板をドライエッチングするドライエッチ
ング装置において、前記対向電極双方を球面状に弯曲さ
せたことを特徴とするドライエッチング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60294840A JPH0691040B2 (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | ドライエツチング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60294840A JPH0691040B2 (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | ドライエツチング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62154733A true JPS62154733A (ja) | 1987-07-09 |
JPH0691040B2 JPH0691040B2 (ja) | 1994-11-14 |
Family
ID=17812931
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60294840A Expired - Fee Related JPH0691040B2 (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | ドライエツチング装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0691040B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6010636A (en) * | 1995-12-29 | 2000-01-04 | Lam Research Corporation | Electrode with domes for plasma focusing |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6179762A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-23 | Hitachi Ltd | 蒸着装置 |
-
1985
- 1985-12-27 JP JP60294840A patent/JPH0691040B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6179762A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-23 | Hitachi Ltd | 蒸着装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6010636A (en) * | 1995-12-29 | 2000-01-04 | Lam Research Corporation | Electrode with domes for plasma focusing |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0691040B2 (ja) | 1994-11-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |