JPS62153133A - 光伝送用ガラス素材の製造方法 - Google Patents

光伝送用ガラス素材の製造方法

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JPS62153133A
JPS62153133A JP29597485A JP29597485A JPS62153133A JP S62153133 A JPS62153133 A JP S62153133A JP 29597485 A JP29597485 A JP 29597485A JP 29597485 A JP29597485 A JP 29597485A JP S62153133 A JPS62153133 A JP S62153133A
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dehydration
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oxygen
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JP29597485A
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Inventor
Akira Iino
顕 飯野
Kunio Ogura
邦男 小倉
Katsumi Orimo
折茂 勝巳
Katsuhiko Okubo
勝彦 大久保
Toshiaki Kuroba
黒羽 敏明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B37/00Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
    • C03B37/01Manufacture of glass fibres or filaments
    • C03B37/012Manufacture of preforms for drawing fibres or filaments
    • C03B37/014Manufacture of preforms for drawing fibres or filaments made entirely or partially by chemical means, e.g. vapour phase deposition of bulk porous glass either by outside vapour deposition [OVD], or by outside vapour phase oxidation [OVPO] or by vapour axial deposition [VAD]
    • C03B37/01446Thermal after-treatment of preforms, e.g. dehydrating, consolidating, sintering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2201/00Type of glass produced
    • C03B2201/06Doped silica-based glasses
    • C03B2201/07Impurity concentration specified
    • C03B2201/075Hydroxyl ion (OH)
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2201/00Type of glass produced
    • C03B2201/06Doped silica-based glasses
    • C03B2201/08Doped silica-based glasses doped with boron or fluorine or other refractive index decreasing dopant
    • C03B2201/12Doped silica-based glasses doped with boron or fluorine or other refractive index decreasing dopant doped with fluorine

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 r産業上の利用分野1 本発明は石英系の多孔質母材を脱水ならυに透明ガラス
化して光伝送用ガラス素材を製造する方法に関する。
r従来の技術J 光ファイバで代表される光伝送体の場合、その素材(母
材)の主たる製造方法を大別すると、VAD法、OVD
法、MCVD法(7)ヨウニナリ、これら各法により光
ファイバが大規模で生産されている。
とりわけ、VAD法、OVD法はごく低ロスの光フアイ
バ素材が得やすく、これらに関する研究がわが国、米国
などで盛んである。
」−記二法はガラス微粒子による多孔質層ないし多孔質
母材を形成する点で共通しており、その低ロス化は、g
A後の塩素による脱水技術の確立によるところが大きい
最近では、SF6を用いた脱水方法に関する研究報告が
、昭和59年度電子通信学会全国大会r 1149フツ
素ドープVAD単一モード光フアイバの製置コのタイト
ルで発表され、これに基づ〈発明も特公昭60−111
033号公報に開示されている。
上記SF6を用いる脱水方法では、例えばクラッドとな
る部分へのフッ素ドープも行なえるので注目されている
r発明が解決しようとする問題点」 しかし、L述したフッ素脱水、フッ素ドープ法の場合、
つぎのような問題点がある。
例えば、SF6 /SF6 +He=5 X 10−2
(7)条件で多孔質母材を処理するとき、その母材中に
Δ−=0.2%程度ののフッ素がドープできるが、OH
基が40ppbも残留し、脱水不充分となる。
その上、上記処理雰囲気中に02が添加されないため、
フッ素ドープト石英中に構造欠陥の前駆体が多くなり、
耐放射線特性が著しく劣化する。
本発明はL記の問題点に鑑み、OH基の除去がほぼ完全
に行なえ、良好な耐放射線特性を確保することのできる
光伝送用ガラス素材の製造方法を提供しようとするもの
である。
r問題点を解決するための手段」 本発明は上記の目的を達成するため1石英を主成分とす
るガラス微粒子の堆積物からなる多孔質m材を脱水なら
びに透明ガラス化する光伝送用ガラス素材の製造方法に
おいて、上記多孔質母材を、少なくとも酸素系ガスとフ
ルオロ系シランとを含み、1200℃以下の脱水処理温
度に保持された雰囲気中で脱水処理し、その後、該母材
を、少なくとも不活性ガスと酸素系ガスとを含み、透明
ガラス化温度に保持された雰囲気中で透明ガラス化する
ことを特徴とする。
1作用J 本発明方法では、VAD法、OVD法などの任意の手段
で作製された石英系の多孔質母材を処理炉内に入れ、こ
れの脱水処理、透明ガラス化処理を行なう。
脱水処理のとき、処理炉内の最高温部を1200℃以下
に保持し、その炉内に酸素系ガス、フルオロ系シランを
供給する。
多孔質母材は、処理炉内の上記最高温部を所定速度で通
過することにより、脱水処理されるが、かかる脱水処理
で重要なことは、処理温度と処理ガスであり、以下これ
らについて説明する。
フッ素ドープト石英において、これに例えばフッ素がΔ
−=0.2X程度ドープされると、そのガラス転位点が
石英のそれよりも約150℃低下する。
すなわち、純石英多孔質母材の最低焼結温度は約140
0℃であるが、フッ素による脱水、あるいはフッ素ドー
プを意図して当該母材を上記雰囲気中で処理する場合、
この際のフッ素ドープによりその母材の焼結温度が低下
する。
したがって、一般的に採用されている脱水処理温度13
40℃は、フッ素ドープト石英の最低焼結温度を上回る
ことになる。
かかる温度1340℃では、多孔質母材の脱水が完全に
行なわれないまま焼結によるガラス化が進行し、OH基
吸収ピークの高さが4.6dB/に層にもなる。
もちろん、従来例のごとく多孔質母材の脱水と透明ガラ
スとを同時に行なう場合も、完全な脱水が期待できない
L記脱水処理温度を1270℃とした場合でも、ゆるや
かに多孔質母材の焼結が進行し、その母材の細孔が表面
から閉塞されのいくので、脱水不充分となる。
本発明方法では、多孔質母材の脱水処理温度を1200
℃以下としている。
これはフッ素ドープト石英の最低焼結温度(約1250
℃)を下回る温度であり、したがって多孔質母材の焼結
はもちろんのこと、前述した表面からの細孔閉塞すら生
ぜず、フッ素が脱水剤としてのa歳を充分にはたす。
なお、本発明方法の脱水処理において、フルオロ系シラ
ンとして例えばS iFaを用いたとき、つぎの反応が
起きると推定される。
5iFa:SiF2+F2  ・・・・・・(1)・・
・・・・・・(2) 本発明方法の脱水処理を受けた光伝送用ガラス素材は、
後述するようにOH基による吸収ピークが全く認められ
ず、かつ、所定量のフッ素がドープされている。
脱水処理ガスとしては、上述した脱水とフッ素ドープの
ためフルオロ系シランが不可欠であるほか、母材中の構
造欠陥の前駆体を減少させるため酸素系ガスが必要とな
る。
なお、酸素系ガスの必要性については、透明ガラス化処
理の場合に併せて説明する。
脱水処理雰囲気を、フルオロ系シラン、酸素系ガス、不
活性ガス(例えばHe)の混合ガスにより形成すること
があり、この場合も前記と同様の脱水が行なえる。
つぎに、脱水処理後の母材を透明ガラス化するとき、処
理炉内の最高温部を透明ガラス化温度以上に保持すると
ともに、その炉内に不活性ガス、酸素系ガスを供給する
脱水処理後の母材は、かかる処理炉内の最高温部を所定
速度で通過することにより透明ガラス化される。
透明ガラス化の処理温度は所定値以上であればよいが、
この際の処理ガスとしては不活性ガスだけでなく酸素系
ガスをも供給する。
かかる透明ガラス化雰囲気中に酸素系ガスを存在させる
理由は下記の通りであり、前記脱水処理雰囲気中に酸素
系ガスを存在させる理由もこれと同じである。
すなわち前記(2)式においてS iF2がガラス中に
導入され、処理雰囲気中の酸素が不足した場合、Siの
二価構造(Sin)すなわち構造欠陥の前駆体が生じ、
これがガラス中に残留する。
このような前駆体をもつガラスがγ線などの放射線をあ
びると、第4図のごとき構造欠陥が生成され、紫外部に
強い光吸収を生じる。
本発明方法では脱水処理雰囲気中、および透明ガラス化
雰囲気中に酸素系ガスを導入して母材処理を行なうから
、酸素不足に起因した構造欠陥の前駆体が減少され、し
たがって、当該光伝送用ガラス素材の紡糸加工物たるフ
ァイバが放射線をあびたとしても、いわゆる構造欠陥に
起因した伝送ロス増が抑制され、耐放射線特性が向上す
る。
「実 施 例j 以下本発明方法の実施例につき、図面を参照して説明す
る。
第1図において、1はVAD法を介して作製されたガラ
ス微粒子の堆積物からなる多孔質母材であり、かかる多
孔質母材1は、そのコア部分が直径約20mmφのS 
i02−Ge02 (Δ・=0 、3%)からなり、ク
ラッド部分が外径110鵬馬φの5i02からなる。
2はその多孔質母材1を脱水ならびに透明ガラス化する
ための処理炉(Tf、気炉)であり、この処理炉2は石
英炉心管3とその炉心管外周に設けられた電気ヒータ4
とからなり、炉心管3にはガス導入口5、ガス排出口θ
が設けられている。
つぎに、上記処理炉2を用いて上記多孔質母材lを脱水
し、透明ガラス化する例につき、表1を参照して説明す
る。
なお表1中、炉温は炉心管3内における最高温部の温度
、移動速度は炉心管3内の上部からその最高温部に向け
て母材を降下させる際の速度、工程での■は脱水処理、
■は透明ガラス化処理をそれぞれあられす。
上記各個により得られた光伝送用ガラス素材にそれぞれ
同一サイズの無水合成石英管をジャケットして、カット
オフ波長1.2pmの単一モード型の光フアイバ母材を
作製し、これら各母材を加熱延伸により線引して外径1
25μ重φ、コア直径10JLIlφ、シリコーン被覆
による被覆外径380 JLmφの光フアイバ素線を得
た。
これら光フアイバ素線のロススペクトルを測定し、波長
1.39JL肩における吸収ピークの高さを比較した結
果を第2図に示す。
第2図の結果からして明らかなように、脱水処理温度は
例3のごと< 1200℃を上回らないのがよいといえ
、脱水処理温度1340℃では例1のごと〈OH基吸収
ピークが4.[ldB/kmにもなってしまった。
これは前記1作用1の項で述べた通り、1200’C!
以下での脱水が完全であるのに対し、 1200”Oを
上回る脱水では多孔質母材の焼結や表面細孔閉塞が生じ
、脱水不完全が起きるからである。
脱水処理雰囲気中にフルオロ系シラン(SiFa)を導
入する例3と、そうでない例4とのロススペクトルを第
3図に示すが、例3の処理母材にはOH基の吸収ピーク
が全く認められず、Δ〜=0.2!に相当するフッ素が
ドープされていた。
上記伝送特性の良好な光フアイバ素線(例3)の耐放射
線特性について、これの各母材処理が酸素を含む雰囲気
中で行なわれるので、酸素不足による構造欠陥の前駆体
が生じがたく、したがってフッ素ドープト石英の耐放射
線特性がより向上する。
本発明方法の場合、脱水、透明ガラス化する雰囲気中に
は、通常の02に代え、反応性の高い発生期の02とか
、オゾンを導入してもよい。
本発明方法の脱水処理雰囲気中へ導入するフルオロ系シ
ランとして、前述の場合は5iFaを用いる例を述べた
が、これ以外のものとして、Si2F6、SiHF3.
5iHzF2.5ilhF 、 CF6 すl!’を採
用すルコともできる。
脱水処理工程で母材中に導入されたフッ素は、つぎの透
明ガラス化工程の雰囲気中にフルオロ系シランが存在し
ないとき、少し飛散する傾向を示す。
したがって、母材中に多くのフッ素をドープすべく、透
明ガラス化工程の雰囲気中にフルオロ系シランを少量導
入してもよい。
なお、本発明方法での脱水処理において、その脱水処理
雰囲気中へ導入するフルオロ系シランの量により、処理
温度をシフトさせることは当然あり得るが、その処理温
度が1200℃を上回るかについては以下の通りである
すなわち、フルオロ系シランの導入量が多くなる場合は
、母材中へのフッ素ドープ量が増え、その母材の最低焼
結温度が下がるので、脱水処理温度を1200℃以下に
設定する必要が生じ、逆の場合は脱水処理温度を120
0℃以上に設定する必要が生じる。
しかし、脱水処理雰囲気中へ導入するフルオロ系シラン
の量を少なくした場合では、多孔質母材の脱水が不充分
となるため、脱水処理雰囲気中には多孔質母材の脱水が
適切に行なえる量のフルオロ系シランを導入する必要が
生じる。
かかる導入量の保持した上で母材の脱水を行なう場合は
、その脱水処理温度を1200℃以下に設定しなければ
ならない。
本発明方法において多孔質母材を脱水処理するとき、前
述した例3のごとく、その脱水処理雰囲気中に不活性ガ
ス(He)を導入したが、これを省略した場合でも、す
なわち酸素系ガスとフルオロ系シランとを含む雰囲気(
ただし温度1200℃以下)中でも所定のフッ素ドープ
と脱水とが行なえる。
その理由は以下の通りである。
ヘリウムは、その原子半径は0.93ゎづストa−ムと
きわめて小さく、ゆえに多孔質母材の内奥まで拡散浸透
し、かつ、容易に抜は出ることができ、かかる特性が、
母材中のOH基やその他のガスの除去に役立ち、塩素の
脱水効果を向上させるのに有効であった。
一方、フッ素の場合、その原子半径は0.71ゎゲスト
ロームであり、その気体分子の結合長さは1.42ゎゲ
ストa−ムである。
さらにフルオロ系シラン(フー7化物ガス)はハロゲン
ガスの一種である。
かかるフルオロ系シランを含む雰囲気中で多孔質母材を
脱水し、透明ガラス化した際、フッ素が均−に存在する
事実は、フッ素がヘリウムと同様な作用のあることを意
味する。
しかもフッ素は、前記(1)(2)式のごとく母材中の
水素と反応する。
すなわちフッ素は、ヘリウムよりも小さい原子半径を有
するので、多孔質母材中のガスの除去など、ヘリウムと
同等の役割をはたし、かつ、脱水剤としても作用する二
つの機能を有する。
以下その具体例を、表2に示す例5により説明する。
なお表2は、表1の場合と同様、前記処理炉2を用いて
前記多孔質母材lを工程!で脱水し、工程■で透明ガラ
ス化したものである。
上記例5により得られた光伝送用ガラス素材を用い、前
記各個と同様にして光フアイバ素線を得た。
かかる例5の光フアイバ素線につき、そのロススペクト
ルを第3図に示したが、これは前記例3の特性と殆ど同
じであり、したがって、脱水処理に際し、その雰囲気ガ
スの一つである不活性ガス(He)を省略した場合でも
、所定のフッ素ドープ、脱水の行なえることが例証され
ている。
このように、高価な不活性ガス(He)を省略する場合
、目的とする光伝送用ガラス素材が安価に製造できる。
その他、本発明方法の脱水処理工程、透明ガラス化処理
工程において不活性ガスを用いるとき、He以外の不活
性ガスを用いてもよく、Heとそれ以外の不活性ガスと
を混合して用いてもよい。
r発明の効果J 以上説明した通り、本発明方法によるときは、多孔質母
材を、少なくとも酸素系ガスとフルオロ系シランとを含
み、1200℃以下の脱水処理温度に保持された雰囲気
中で脱水処理し、その後、該母材を、少なくとも不活性
ガスと酸素系ガスとを含み、透明ガラス化温度に保持さ
れた雰囲気中で透明ガラス化するから、伝送特性、耐放
射線特性の優れた光伝送用のフッ素ドープト石英ガラス
素材が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の一実施例を略示した説明図、第2
図は脱水処理温度とOH基による吸収ピークとの関係を
示した図、第3図は各種光ファイノく素線のロススペク
トルを示した図、第4図はガラスの構造欠陥を示した説
明図である。 l・・−多孔質母材 2・φ・処理炉 3・・・炉心管 4 ・・・ヒータ 代理人 弁理士 斎 藤 義 雄 If  図 12  図 ハ茫水処!tiA/l ’C

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)石英を主成分とするガラス微粒子の堆積物からな
    る多孔質母材を脱水ならびに透明ガラス化する光伝送用
    ガラス素材の製造方法において、上記多孔質母材を、少
    なくとも酸素系ガスとフルオロ系シランとを含み、12
    00℃以下の脱水処理温度に保持された雰囲気中で脱水
    処理し、その後、該母材を、少なくとも不活性ガスと酸
    素系ガスとを含み、透明ガラス化温度に保持された雰囲
    気中で透明ガラス化することを特徴とする光伝送用ガラ
    ス素材の製造方法。
  2. (2)多孔質母材を、不活性ガスと酸素系ガスとフルオ
    ロ系シランとを含み、1200℃以下の脱水処理温度に
    保持された雰囲気中で脱水処理する特許請求の範囲第1
    項記載の光伝送用ガラス素材の製造方法。
  3. (3)フルオロ系シランがSiF_4、Si_2F_6
    、SiHF_3、SiH_2F_2、SiH_3Fのい
    ずれかからなる特許請求の範囲第1項または第2項記載
    の光伝送用ガラス素材の製造方法。
  4. (4)不活性ガスがHeからなる特許請求の範囲第2項
    記載の光伝送用ガラス素材の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1221430A2 (en) * 2001-01-05 2002-07-10 Lucent Technologies Inc. Process of manufacturing fluorine-doped preforms for optical fibres
JP2004149371A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Fujikura Ltd フッ素添加ガラス材料の製造方法、フッ素添加ガラス材料
JP2007302554A (ja) * 2006-05-11 2007-11-22 Shinetsu Quartz Prod Co Ltd 所定の水酸基含有量を有する合成石英ガラスの製造方法

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