JPS62144059A - イオンセンサ - Google Patents
イオンセンサInfo
- Publication number
- JPS62144059A JPS62144059A JP60285258A JP28525885A JPS62144059A JP S62144059 A JPS62144059 A JP S62144059A JP 60285258 A JP60285258 A JP 60285258A JP 28525885 A JP28525885 A JP 28525885A JP S62144059 A JPS62144059 A JP S62144059A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- section
- ion
- needle
- layer
- tip
- Prior art date
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- Granted
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超微細なイオン感応部をもつイオンセンサの構
造に関するものである。生体の細胞レベルでのイオンの
濃度をモニターリングするのに、従来マイクロI S
FETが提案されている。マイクロセンサの必要条件は
(1)イオン感応部が細胞より十分小さい針状構造であ
ること、(2)電極抵抗が小さく、応答速度が速く、外
部雑音を拾いにくいこと。(3)細胞と電気的に絶縁が
完全であること。
造に関するものである。生体の細胞レベルでのイオンの
濃度をモニターリングするのに、従来マイクロI S
FETが提案されている。マイクロセンサの必要条件は
(1)イオン感応部が細胞より十分小さい針状構造であ
ること、(2)電極抵抗が小さく、応答速度が速く、外
部雑音を拾いにくいこと。(3)細胞と電気的に絶縁が
完全であること。
この条件を満たすマイクロセンサとして、従来は81基
板を特殊な做細加工技術でイオンに感応するl8FFT
のゲート部分を針の先端の微小部分に形成することによ
り、マイクロl8FETを製作していた。このマイクロ
I 8 PETはSi基板をくり抜いて加工するので、
Si全面を絶縁物で被攪する必要があり、加工は複雑で
あり、量産するのは困難であった。又、細胞との絶縁は
針状先端部にピンホールが発生しやすいので、細胞との
絶縁が不良となることが間頌となっている。本発明の目
的は、上記の問題点を解決し、量産しやすく安価であり
、電気的絶縁が良好なマイクロl8FETを実現するも
のである。まずMOSFETの細胞との絶縁は登録第1
508320号に明記されているように、シリコン基板
上のPN接合又は絶縁物で囲丈れた島状シリコン内KM
08FBTを形成することにより、実現できる。そして
この島状シリコン内に製作されたMOSFETの大きさ
を10μ以内にするのは無理なので本発明では、MOS
FETのゲートに接続されて絶縁物上針状に引き出され
た電極を超小型にパターン形成する。そして、この針状
に引き出された電極にイオン感応膜を被着し、分離ゲー
ト部のl5FETをシリコンウーハ上に製作する。イオ
ン感応部を細胞より十分小さい針状構造にするには、上
記のシリコンウーハ上のl5FBTの引き出されたイオ
ン感応部を異方性エツチングで針状にくり抜くことによ
り実現する。MO8FFiTはPN接合又は絶縁物に囲
まれて針状ゲート引き出しff1cffiもイオン感応
部と絶縁物で囲まれているので、細胞との電気絶縁はこ
のままで十分である。次にマイクロl5FETの構造に
ついて、−例を以下に説明する。第1図、第2図及び第
3図は本発明の実施例構造図で第1図は断面図、第2図
は平面図、第3図(al (b) (C)は夫々第2図
中A−A、B−B及びC−C断面図である。
板を特殊な做細加工技術でイオンに感応するl8FFT
のゲート部分を針の先端の微小部分に形成することによ
り、マイクロl8FETを製作していた。このマイクロ
I 8 PETはSi基板をくり抜いて加工するので、
Si全面を絶縁物で被攪する必要があり、加工は複雑で
あり、量産するのは困難であった。又、細胞との絶縁は
針状先端部にピンホールが発生しやすいので、細胞との
絶縁が不良となることが間頌となっている。本発明の目
的は、上記の問題点を解決し、量産しやすく安価であり
、電気的絶縁が良好なマイクロl8FETを実現するも
のである。まずMOSFETの細胞との絶縁は登録第1
508320号に明記されているように、シリコン基板
上のPN接合又は絶縁物で囲丈れた島状シリコン内KM
08FBTを形成することにより、実現できる。そして
この島状シリコン内に製作されたMOSFETの大きさ
を10μ以内にするのは無理なので本発明では、MOS
FETのゲートに接続されて絶縁物上針状に引き出され
た電極を超小型にパターン形成する。そして、この針状
に引き出された電極にイオン感応膜を被着し、分離ゲー
ト部のl5FETをシリコンウーハ上に製作する。イオ
ン感応部を細胞より十分小さい針状構造にするには、上
記のシリコンウーハ上のl5FBTの引き出されたイオ
ン感応部を異方性エツチングで針状にくり抜くことによ
り実現する。MO8FFiTはPN接合又は絶縁物に囲
まれて針状ゲート引き出しff1cffiもイオン感応
部と絶縁物で囲まれているので、細胞との電気絶縁はこ
のままで十分である。次にマイクロl5FETの構造に
ついて、−例を以下に説明する。第1図、第2図及び第
3図は本発明の実施例構造図で第1図は断面図、第2図
は平面図、第3図(al (b) (C)は夫々第2図
中A−A、B−B及びC−C断面図である。
P型8i基板1を使用し、n型分離層2内のP型Siに
nチャネルM OS F RTを製作し、所要部に絶縁
物3を形成後、ポリシリコン又はメタルシリサイド4を
MOSFETのゲート部4aとドレイン4b及びソース
部4cに接続し引き出して配線する。この引き出し電極
を全面絶縁物5で被1する。イオン感応部6の製作はボ
ロンの高in tt 、@が異方性エツチングの附性を
有しているので、拡散により高a度ボロン層7を針状に
形成し、その上層に絶縁物3を形成し、MOSFETの
ゲート引き出し電極を針状にパ″−7配置πして・その
先端n′X!−0絶祿板上にイ・オン感応膜8を形成し
、異方性エツチングにより切り抜いて実現する。イオン
感応部6の製作は異方性エツチングに耐える模であれば
エツチング前に行ない、エツチングに耐えなければ。
nチャネルM OS F RTを製作し、所要部に絶縁
物3を形成後、ポリシリコン又はメタルシリサイド4を
MOSFETのゲート部4aとドレイン4b及びソース
部4cに接続し引き出して配線する。この引き出し電極
を全面絶縁物5で被1する。イオン感応部6の製作はボ
ロンの高in tt 、@が異方性エツチングの附性を
有しているので、拡散により高a度ボロン層7を針状に
形成し、その上層に絶縁物3を形成し、MOSFETの
ゲート引き出し電極を針状にパ″−7配置πして・その
先端n′X!−0絶祿板上にイ・オン感応膜8を形成し
、異方性エツチングにより切り抜いて実現する。イオン
感応部6の製作は異方性エツチングに耐える模であれば
エツチング前に行ない、エツチングに耐えなければ。
エツチング後に製作すればよい。ドレイン、ソースはM
OSFETのドレイン、ソース部より引き出されて配置
し、末端で金属電極9を形成し外部回路と接続するよう
Kする。本発明により、はぼ全工程をシリコンウェハの
まま加工できるので量産に適して歩留りも良好である。
OSFETのドレイン、ソース部より引き出されて配置
し、末端で金属電極9を形成し外部回路と接続するよう
Kする。本発明により、はぼ全工程をシリコンウェハの
まま加工できるので量産に適して歩留りも良好である。
細胞との電気絶縁も完全である。針状構造のイオン感応
部を簡単に製作できるので安価になり効果は大である。
部を簡単に製作できるので安価になり効果は大である。
第1図、第2図、第3図は本発明の実施例構造図である
。図において1はシリコン基板、2は分離層、3.5は
絶縁部%4はポリシリコン、6はイオン感応部、7はボ
ロン層、8はイオン感応膜である。
。図において1はシリコン基板、2は分離層、3.5は
絶縁部%4はポリシリコン、6はイオン感応部、7はボ
ロン層、8はイオン感応膜である。
Claims (2)
- (1)シリコン基板上でPN接合又は絶縁物で囲まれた
島状シリコン内にMOSFETを形成し、このMOSF
ETのゲート部に配置されたゲート電極を絶縁物を介し
て前記島状外に細長く引き出し、そのほぼ先端部上にイ
オン感応膜を被着したことを特徴とするイオンセンサ。 - (2)感応膜部下のシリコンが針状になっているイオン
感応部を先端にもった特許請求の範囲第(1)項記載の
イオンセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60285258A JPS62144059A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | イオンセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60285258A JPS62144059A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | イオンセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62144059A true JPS62144059A (ja) | 1987-06-27 |
JPH0511785B2 JPH0511785B2 (ja) | 1993-02-16 |
Family
ID=17689168
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60285258A Granted JPS62144059A (ja) | 1985-12-18 | 1985-12-18 | イオンセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62144059A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59100851A (ja) * | 1982-12-02 | 1984-06-11 | Nec Corp | 半導体イオンセンサ |
JPS59142452A (ja) * | 1983-02-02 | 1984-08-15 | Nec Corp | イオンセンサ |
JPS59225344A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Sanken Electric Co Ltd | イオンセンサ−用絶縁ゲ−ト電界効果トランジスタ |
-
1985
- 1985-12-18 JP JP60285258A patent/JPS62144059A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59100851A (ja) * | 1982-12-02 | 1984-06-11 | Nec Corp | 半導体イオンセンサ |
JPS59142452A (ja) * | 1983-02-02 | 1984-08-15 | Nec Corp | イオンセンサ |
JPS59225344A (ja) * | 1983-06-06 | 1984-12-18 | Sanken Electric Co Ltd | イオンセンサ−用絶縁ゲ−ト電界効果トランジスタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0511785B2 (ja) | 1993-02-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |