JPS62130354A - 探傷装置 - Google Patents
探傷装置Info
- Publication number
- JPS62130354A JPS62130354A JP27094585A JP27094585A JPS62130354A JP S62130354 A JPS62130354 A JP S62130354A JP 27094585 A JP27094585 A JP 27094585A JP 27094585 A JP27094585 A JP 27094585A JP S62130354 A JPS62130354 A JP S62130354A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- length measurement
- touch roller
- passage detector
- pulse
- measurement pulse
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、タッチローラおよび回転パルス発生器によ
り、測長パルスを発生し被検材の欠陥位置をその測長パ
ルスを用いてトラッキングしマーキングする探傷装置に
係り、詳しくはタッチローラの摩耗および定常滑りの増
減等に起因する測長パルスの増減およびトラッキング誤
差を補正するようにした探傷装置を提供するものである
。
り、測長パルスを発生し被検材の欠陥位置をその測長パ
ルスを用いてトラッキングしマーキングする探傷装置に
係り、詳しくはタッチローラの摩耗および定常滑りの増
減等に起因する測長パルスの増減およびトラッキング誤
差を補正するようにした探傷装置を提供するものである
。
第２図は従来の探傷装置を示す図であり２図において、
（１）は被検材、（２）は被検材（１）の搬送方向。
（１）は被検材、（２）は被検材（１）の搬送方向。
（３）は被検材１１１に存在する欠陥、（４）は被検材
（１）に接触し２回転するタッチローラ、（５Ｉは前記
タッチロ−ラ（４）に直結され、測長パルスを発生する
回転パルス発生器、（６）は被検材（１）の欠陥（３）
を検出する探傷器、（７）は前記探傷器（６）からの探
傷結果を、前記回転パルス発生器（５）からの測長パル
スによυトラッキングするトラッキング回路、（８）は
前記トラッキング回路（７）の出力により被検材ｆｉ＋
にマーキングスルマーキングガンである。
（１）に接触し２回転するタッチローラ、（５Ｉは前記
タッチロ−ラ（４）に直結され、測長パルスを発生する
回転パルス発生器、（６）は被検材（１）の欠陥（３）
を検出する探傷器、（７）は前記探傷器（６）からの探
傷結果を、前記回転パルス発生器（５）からの測長パル
スによυトラッキングするトラッキング回路、（８）は
前記トラッキング回路（７）の出力により被検材ｆｉ＋
にマーキングスルマーキングガンである。
次に動作について説明する。搬送方向（２１へ搬送され
る被検材（１）にタッチローラ（４）を接触させること
により、そのタッチローラ（４）に直結された回転パル
ス発生器（５）より、下記第＋１１式で示される測長パ
ルスｎが出力される。
る被検材（１）にタッチローラ（４）を接触させること
により、そのタッチローラ（４）に直結された回転パル
ス発生器（５）より、下記第＋１１式で示される測長パ
ルスｎが出力される。
ｎ−一 〔パルス／龍〕 ・・・・・・
（１）ａπ 一方、被検材（１）に存在する欠陥（３）は１例えば超
音波探傷法等を利用した探傷器（６）によって検出され
探傷結果として出力される。
（１）ａπ 一方、被検材（１）に存在する欠陥（３）は１例えば超
音波探傷法等を利用した探傷器（６）によって検出され
探傷結果として出力される。
ここで、探傷器（６）よりＬ （ｘｉ）搬送下流に位置
するマーキングガン（８）によって欠陥（３）の存在す
る位置の被検材（１）上に直接マーキングするため、探
傷器（６）より出力される前記探傷結果をトラッキング
回路（７）にて、上記第（２）式で示されるパルス数ｎ
Ｌだけ計数した後に遅延出力させ、マーキングガン（８
）を駆動させている。
するマーキングガン（８）によって欠陥（３）の存在す
る位置の被検材（１）上に直接マーキングするため、探
傷器（６）より出力される前記探傷結果をトラッキング
回路（７）にて、上記第（２）式で示されるパルス数ｎ
Ｌだけ計数した後に遅延出力させ、マーキングガン（８
）を駆動させている。
ｎＩＪ−ｎＸＬ（パルス〕・・・・・・（２）〔発明が
解決しようとする問題点〕 従来の探傷装置は以上のように構成されているので１例
えばタッチローラ（４１が摩耗した場合に回転パルス発
生器（５）より出力される測長パルスｎ′は上記第（３
）式で示されるものとなシ、この結果、上記第（４）式
に示すΔｎだけ増加し誤差を生じてしまａ−ａＮ Δｎｍｎ−ｎ■−１−一〔パルス／朋〕 ・・・（４）
ｆｉａπ 従って、前記トラッキング回路（７）にて前記第１２）
式で示されるパルス数ｎＬのまま計数すると、上記第（
５）式で示されるトラッキング誤差ΔＬを生じ。
解決しようとする問題点〕 従来の探傷装置は以上のように構成されているので１例
えばタッチローラ（４１が摩耗した場合に回転パルス発
生器（５）より出力される測長パルスｎ′は上記第（３
）式で示されるものとなシ、この結果、上記第（４）式
に示すΔｎだけ増加し誤差を生じてしまａ−ａＮ Δｎｍｎ−ｎ■−１−一〔パルス／朋〕 ・・・（４）
ｆｉａπ 従って、前記トラッキング回路（７）にて前記第１２）
式で示されるパルス数ｎＬのまま計数すると、上記第（
５）式で示されるトラッキング誤差ΔＬを生じ。
ΔＬだけ手前の位置にマーキングしてしまう問題点があ
った。
った。
定常滑りの増加の場合には、逆に行過ぎ位置にマーキン
グしてしまう問題点があった。
グしてしまう問題点があった。
ΔＬ、Δｎ ｘ Ｌ （ｘｍ） −−
１５１この発明は、上記のような問題点を解消するため
になされたもので、タッチローラの摩耗および定常１’
＊！！ｌ）の増減等の場合にも常に正しい位置に欠陥位
置マーキングできる探傷装置を得ることを目的とする。
１５１この発明は、上記のような問題点を解消するため
になされたもので、タッチローラの摩耗および定常１’
＊！！ｌ）の増減等の場合にも常に正しい位置に欠陥位
置マーキングできる探傷装置を得ることを目的とする。
この発明に係る探傷装置はタッチローラの搬送下流に位
置し、被検材通過有無を検出する第１の通過検出器と、
上記第１の通過検出器の位置より被検材搬送方向に所定
距離をおいて設置された第２の通過検出器と、上記回転
パルス発生器の測長パルスを、上記第１の通過検出器が
動作してから上記第２の通過検出器が動作するまでの間
計数する測長パルス計数回路と、上記回転パルス発生器
と測長パルス計数回路の出力を人力し、′上記測長パル
ス計数回路の出力から上記タッチローラの摩耗および定
常滑りの増減等に起因する測長パルスの増減分を補正し
、補正後の測長パルスを上記トラッキング回路へ出力す
る測長パルス補正回路とを具備したものである〇 〔作用〕 この発明においては、第１の通過検出器が動作してから
第２の通過検出器が動作するまでの間に前記測長パルス
を計数することによりタッチローラの摩耗および定常滑
りの増減等により生じる測長パルスの増減を補正する。
置し、被検材通過有無を検出する第１の通過検出器と、
上記第１の通過検出器の位置より被検材搬送方向に所定
距離をおいて設置された第２の通過検出器と、上記回転
パルス発生器の測長パルスを、上記第１の通過検出器が
動作してから上記第２の通過検出器が動作するまでの間
計数する測長パルス計数回路と、上記回転パルス発生器
と測長パルス計数回路の出力を人力し、′上記測長パル
ス計数回路の出力から上記タッチローラの摩耗および定
常滑りの増減等に起因する測長パルスの増減分を補正し
、補正後の測長パルスを上記トラッキング回路へ出力す
る測長パルス補正回路とを具備したものである〇 〔作用〕 この発明においては、第１の通過検出器が動作してから
第２の通過検出器が動作するまでの間に前記測長パルス
を計数することによりタッチローラの摩耗および定常滑
りの増減等により生じる測長パルスの増減を補正する。
第１図はこの発明の一実施例を示す探傷装置の構成図で
あり、第１図において、（１）〜（８）は従来の探傷装
置と全く同一のものである。（９）はタッチローラ（４
）の搬送下流に位置し、被検材（１）の通過有無を検出
する第１の通過検出器、α１は第１の通過検出器（９）
のさらにｘ（ｉ＋ｍ）搬送下流に位置する第２の通過検
出器、αυは前記第１の通過検出器（９）が動作してか
ら第２の通過検出器α１が動作するまでの間の測長パル
スを計数する測長パルス計数回路、α３は測長パルス計
数回路の計数結果からタッチローラの摩耗および定常滑
りの増減等に起因する測長パルスの増減を検出し、この
増減分を補正する測長パルス補正回路である。
あり、第１図において、（１）〜（８）は従来の探傷装
置と全く同一のものである。（９）はタッチローラ（４
）の搬送下流に位置し、被検材（１）の通過有無を検出
する第１の通過検出器、α１は第１の通過検出器（９）
のさらにｘ（ｉ＋ｍ）搬送下流に位置する第２の通過検
出器、αυは前記第１の通過検出器（９）が動作してか
ら第２の通過検出器α１が動作するまでの間の測長パル
スを計数する測長パルス計数回路、α３は測長パルス計
数回路の計数結果からタッチローラの摩耗および定常滑
りの増減等に起因する測長パルスの増減を検出し、この
増減分を補正する測長パルス補正回路である。
上記のように構成された探傷装置において、被検材（１
）が搬送方向（２）へ向って搬送されている状態で、タ
ッチローラ（４）の搬送下流にある第１の通過検出器（
９）が動作してから、第１の通過検出器（９）のさらに
ｘ （ｍｍ〕搬送下流にある第２の通過検出器Ｑｌが動
作するまでの間に初期のタッチローラ径の場合には、下
記第（６）式で示されるパルス数ｎｚが計数結果として
出力される。
）が搬送方向（２）へ向って搬送されている状態で、タ
ッチローラ（４）の搬送下流にある第１の通過検出器（
９）が動作してから、第１の通過検出器（９）のさらに
ｘ （ｍｍ〕搬送下流にある第２の通過検出器Ｑｌが動
作するまでの間に初期のタッチローラ径の場合には、下
記第（６）式で示されるパルス数ｎｚが計数結果として
出力される。
これに対し、摩耗したタッチローラ径の場合には、下記
第（７）式で示されるパルス数ｎ′ｘが計数結果として
得られる。
第（７）式で示されるパルス数ｎ′ｘが計数結果として
得られる。
ｎｚ −ｎ Ｘ ：ｃ （パルス）
−・−ｔａ＋ｎ’ｚｍｎ’Ｘｘ （パルス〕
・・・・・・（７）従って、測長パルス補正回路
α２により、上記第（８）式に示される補正を測長パル
スｎ′に対して実施し、補正後の測長パルスｎｃ（＝ｎ
）をトラッキング回路（７）へ出力すればタッチローラ
（４）の摩耗に関わらず、常に正しい位置に欠陥位置マ
ーキングが実なお、上記ではタッチローラの摩耗に起因
する測長パルスの増加の例で説明したがタッチローラの
定常滑り（一定量）の増減等に起因する測長パルスの増
減についても同様に適用できる。
−・−ｔａ＋ｎ’ｚｍｎ’Ｘｘ （パルス〕
・・・・・・（７）従って、測長パルス補正回路
α２により、上記第（８）式に示される補正を測長パル
スｎ′に対して実施し、補正後の測長パルスｎｃ（＝ｎ
）をトラッキング回路（７）へ出力すればタッチローラ
（４）の摩耗に関わらず、常に正しい位置に欠陥位置マ
ーキングが実なお、上記ではタッチローラの摩耗に起因
する測長パルスの増加の例で説明したがタッチローラの
定常滑り（一定量）の増減等に起因する測長パルスの増
減についても同様に適用できる。
また、上記では超音波探傷法等を利用した探傷器という
表現を用いているが、この意味するところは、渦流探傷
法、光学式表面疵検査法等を利用した探傷器による探傷
装置一般について適用できることを示している。
表現を用いているが、この意味するところは、渦流探傷
法、光学式表面疵検査法等を利用した探傷器による探傷
装置一般について適用できることを示している。
この発明は以上説明したとおシ、２つの通過検出器と測
長パルス計数回路、測長パルス補正回路を追加し、第１
の通過検出器が動作してから第２の通過検出器が動作す
るまでの間に前記測長パルスを計数することによりタッ
チローラの摩耗または定常溝シの増減等に起因する測長
パルスの増減を検出し、この測長パルスの増減を補正す
るのでタッチローラの摩耗または定常滑９の増減等に関
わらず常に正しい位置に欠陥位置マーキングできる効果
がある。
長パルス計数回路、測長パルス補正回路を追加し、第１
の通過検出器が動作してから第２の通過検出器が動作す
るまでの間に前記測長パルスを計数することによりタッ
チローラの摩耗または定常溝シの増減等に起因する測長
パルスの増減を検出し、この測長パルスの増減を補正す
るのでタッチローラの摩耗または定常滑９の増減等に関
わらず常に正しい位置に欠陥位置マーキングできる効果
がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す探傷装置の構成図、
第２図は従来の探傷装置の構成図である。 図において、（１）は被検材、（２）は被検材ｆｌ＋の
搬送方向、（４）はタッチローラ、（５）は回転パルス
発生器。 （６）は探傷器、（７）はトラッキング回路、（８）は
マーキングガン、（９）は第１の通過検出器、 ＱＧは
第２の通過検出器、αυは測長パルス計数回路、αａは
測長パルス補正回路である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
第２図は従来の探傷装置の構成図である。 図において、（１）は被検材、（２）は被検材ｆｌ＋の
搬送方向、（４）はタッチローラ、（５）は回転パルス
発生器。 （６）は探傷器、（７）はトラッキング回路、（８）は
マーキングガン、（９）は第１の通過検出器、 ＱＧは
第２の通過検出器、αυは測長パルス計数回路、αａは
測長パルス補正回路である。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 搬送される被検材に接触し回転するタッチローラと、こ
のタッチローラと直結して測長パルスを発生する回転パ
ルス発生器と、被検材に存在する欠陥を検出する探傷手
段と、この探傷手段の探傷結果を上記回転パルス発生器
からの測長パルスによりトラッキングするトラッキング
回路と、被検材搬送下流側に位置し、上記トラッキング
回路の出力により被検材にマーキングするマーキングガ
ンとを備えた探傷装置において、上記タッチローラの搬
送下流に位置し、被検材通過有無を検出する第１の通過
検出器と、上記第１の通過検出器の位置より被検材搬送
方向に所定距離をおいて設置された第２の通過検出器と
、上記回転パルス発生器の測長パルスを、上記第１の通
過検出器が動作してから上記第２の通過検出器が動作す
るまでの間計数する測長パルス計数回路と、上記回転パ
ルス発生器と測長パルス計数回路の出力を入力し、上記
測長パルス計数回路の出力から上記タッチローラの摩耗
および定常滑りの増減等に起因する測長パルスの増減分
を補正し、補正後の測長パルスを上記トラッキング回路
へ出力する測長パルス補正回路とを具備したことを特徴
とする探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27094585A JPS62130354A (ja) | 1985-12-02 | 1985-12-02 | 探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27094585A JPS62130354A (ja) | 1985-12-02 | 1985-12-02 | 探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62130354A true JPS62130354A (ja) | 1987-06-12 |
Family
ID=17493197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27094585A Pending JPS62130354A (ja) | 1985-12-02 | 1985-12-02 | 探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62130354A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01128145U (ja) * | 1988-02-25 | 1989-09-01 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5075085A (ja) * | 1973-11-01 | 1975-06-20 | ||
| JPS59159219A (ja) * | 1983-03-02 | 1984-09-08 | Daido Steel Co Ltd | 圧延ラインのマ−キング位置制御装置 |
-
1985
- 1985-12-02 JP JP27094585A patent/JPS62130354A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5075085A (ja) * | 1973-11-01 | 1975-06-20 | ||
| JPS59159219A (ja) * | 1983-03-02 | 1984-09-08 | Daido Steel Co Ltd | 圧延ラインのマ−キング位置制御装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01128145U (ja) * | 1988-02-25 | 1989-09-01 |
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