JPS62125519A - 薄膜磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘツドの製造方法Info
- Publication number
- JPS62125519A JPS62125519A JP26587885A JP26587885A JPS62125519A JP S62125519 A JPS62125519 A JP S62125519A JP 26587885 A JP26587885 A JP 26587885A JP 26587885 A JP26587885 A JP 26587885A JP S62125519 A JPS62125519 A JP S62125519A
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- Japan
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- coil
- insulating layer
- layer
- layer coil
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、薄膜磁気ヘッドの製造方法に係り、特に2層
のコイルを容易に形成する製造方法に関する。
のコイルを容易に形成する製造方法に関する。
(従来の技術)
従来の薄膜磁気ヘッドの製造方法は、一般に第2図(a
)〜(k+に示すように、先ず、(a)〜(C)工程に
おいて、基板1上に所定形状の下部コア2を形成し、該
下部コア2上にギヤ、プ層3を設け、更に、下層コイル
4を全面に形成する。次に、(d)〜(f)工程におい
て、前記下層コイル4上に所定形状のフォトレジスト5
を設け、エツチング技術を用いてコイル形状に下層コイ
ル4を形成し、その後、フォトレジスト5を除去する。
)〜(k+に示すように、先ず、(a)〜(C)工程に
おいて、基板1上に所定形状の下部コア2を形成し、該
下部コア2上にギヤ、プ層3を設け、更に、下層コイル
4を全面に形成する。次に、(d)〜(f)工程におい
て、前記下層コイル4上に所定形状のフォトレジスト5
を設け、エツチング技術を用いてコイル形状に下層コイ
ル4を形成し、その後、フォトレジスト5を除去する。
次に(g)〜(i)工程において、第1絶縁層6を全面
に形成した後、所定の形状にエツチング除去し、更に、
上層コイル7を全面に形成する。
に形成した後、所定の形状にエツチング除去し、更に、
上層コイル7を全面に形成する。
次に(i)〜(1)工程において、前記下層コイル4の
形成工程と同様にフォトレジスト5を設けてコイル形状
に上層コイル7を形成する。
形成工程と同様にフォトレジスト5を設けてコイル形状
に上層コイル7を形成する。
仄に、−〜(0)工程において、第2絶縁層8を全面に
形成し、所定の形状にエツチングした後、所望の上部コ
ア9を設けて薄膜磁気へノドを完成する。
形成し、所定の形状にエツチングした後、所望の上部コ
ア9を設けて薄膜磁気へノドを完成する。
(発明が解決しようとする問題点)
従来の薄膜磁気へノドの製造方法は、非常に工程数が多
く、これが、製品のコストを上げ、歩留りと信頼性を落
とす原因の1つとなっていた。
く、これが、製品のコストを上げ、歩留りと信頼性を落
とす原因の1つとなっていた。
特に、コイルの形成に関する工程は、上層コイル4と下
層コイル7とを各々、独立に形成していたため、この工
程は、全体の工程の半分以上の割合を占めている。
層コイル7とを各々、独立に形成していたため、この工
程は、全体の工程の半分以上の割合を占めている。
本発明の目的は、前記コイルの形成において、上層コイ
ルと下層コイルを、同時に形成することにより、コイル
の形成に関する工程を削減し、製品のコストを下げ、歩
留りと信頼性を上げることにある。
ルと下層コイルを、同時に形成することにより、コイル
の形成に関する工程を削減し、製品のコストを下げ、歩
留りと信頼性を上げることにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明による薄膜磁気へ、ドの製造方法は、所定形状の
第1絶縁層が形成された基板全面にコイル材料を成膜さ
せることにより、第1絶縁層上に上層コイル、その他の
部分に下層コイルを同時に形成し、その後、第2絶縁層
で覆うことを特徴とする。
第1絶縁層が形成された基板全面にコイル材料を成膜さ
せることにより、第1絶縁層上に上層コイル、その他の
部分に下層コイルを同時に形成し、その後、第2絶縁層
で覆うことを特徴とする。
(作用)
上記の技術的手段は次のように作用する。上層コイルと
下層コイルを同時に形成し、コイル形成時の工程数が約
半分に減少する。
下層コイルを同時に形成し、コイル形成時の工程数が約
半分に減少する。
(実施例)
以下、本発明について実施例を上げて説明する8第1図
に本発明の1実施例を示す。この図で各工程順を追って
説明する。先ず、a)工程に示すように、アルミナチタ
ンカーバイト上にアルミナを10〜20μm成膜し、表
面を研磨した基板1上に、パーマロイ等の磁性体をスパ
ッタリング等によ9約4μm成膜し、これをイオンミリ
ングエツチングによυ、下部コアの形状にエツチングし
、下部コア2を形成する。次に、b)工程に示すように
、S + 02、アルミナ等のギャップ層3を約1μm
形成する。次にC)工程に示すように日立化成(掬製P
IQ、東し■製フォトニース等の耐熱性ポリイミドから
成る第1絶縁層6を基板1全面に約6μm塗布し、硬化
させる。次に、d)工程に示すように前記第1絶縁層6
を後述する上層コイルの形状にエツチングする。この時
、エツチングのマスクとシテハ、Ti 、 Or等のメ
タルマスクを使い、エツチングは、RIEで反応ガスと
しては、02ガスを用いる。これによれば、サイドエッ
チやアンダーカットは見られず、テーパー角も約80°
以上である。
に本発明の1実施例を示す。この図で各工程順を追って
説明する。先ず、a)工程に示すように、アルミナチタ
ンカーバイト上にアルミナを10〜20μm成膜し、表
面を研磨した基板1上に、パーマロイ等の磁性体をスパ
ッタリング等によ9約4μm成膜し、これをイオンミリ
ングエツチングによυ、下部コアの形状にエツチングし
、下部コア2を形成する。次に、b)工程に示すように
、S + 02、アルミナ等のギャップ層3を約1μm
形成する。次にC)工程に示すように日立化成(掬製P
IQ、東し■製フォトニース等の耐熱性ポリイミドから
成る第1絶縁層6を基板1全面に約6μm塗布し、硬化
させる。次に、d)工程に示すように前記第1絶縁層6
を後述する上層コイルの形状にエツチングする。この時
、エツチングのマスクとシテハ、Ti 、 Or等のメ
タルマスクを使い、エツチングは、RIEで反応ガスと
しては、02ガスを用いる。これによれば、サイドエッ
チやアンダーカットは見られず、テーパー角も約80°
以上である。
次にe)工程に示すように、(支)等のコイル材料10
を基板全面にスパッタリングによシ約4μm付着させる
。その結果、第1絶縁層6上部分とその他の部分とでコ
イル材料10が分離し、下層コイル4部分と上層コイル
7部分を形成する。この時、上層コイル7部分と下層コ
イル4部分とが互いにつながってしまうおそれがあるの
で、スパッタリングの後に軽くウェ、トエ2チングを行
なうと良い。
を基板全面にスパッタリングによシ約4μm付着させる
。その結果、第1絶縁層6上部分とその他の部分とでコ
イル材料10が分離し、下層コイル4部分と上層コイル
7部分を形成する。この時、上層コイル7部分と下層コ
イル4部分とが互いにつながってしまうおそれがあるの
で、スパッタリングの後に軽くウェ、トエ2チングを行
なうと良い。
次にf)工程に示すように耐熱性ポリイミドから成る第
2絶縁層8を数回塗布し、前記コイル4,7による段差
の平坦化を行なう。次に、ω工程に示すように、前記第
2絶縁層8をプラズマエツチングし、所定形状の絶縁層
を形成する。次に、h)工程に示すように第2絶縁層8
で覆われていない下層コイル4の露出した部分を除去す
る。次にi)。
2絶縁層8を数回塗布し、前記コイル4,7による段差
の平坦化を行なう。次に、ω工程に示すように、前記第
2絶縁層8をプラズマエツチングし、所定形状の絶縁層
を形成する。次に、h)工程に示すように第2絶縁層8
で覆われていない下層コイル4の露出した部分を除去す
る。次にi)。
j)工程に示すように耐熱性有機物を塗布、工、2チン
グし、絶縁層11を形成するとともに、該絶縁層11及
び前記第2絶縁層8の一部にコイルのコンタクト穴12
を形成する。しかる後に、k)工程に示すようにパーマ
ロイ等の磁性体をスパッタリング等により約4μm成膜
し、イオンミリングエツチングにより、上部コア13と
、上層コイル7と下層コイル4の接続部分14.及びコ
イルの引き出し部分15を同時に形成する。
グし、絶縁層11を形成するとともに、該絶縁層11及
び前記第2絶縁層8の一部にコイルのコンタクト穴12
を形成する。しかる後に、k)工程に示すようにパーマ
ロイ等の磁性体をスパッタリング等により約4μm成膜
し、イオンミリングエツチングにより、上部コア13と
、上層コイル7と下層コイル4の接続部分14.及びコ
イルの引き出し部分15を同時に形成する。
上記の方法により製造した薄膜磁気ヘッドのコイル部分
は、第3図に示すような状態となっている。
は、第3図に示すような状態となっている。
(発明の効果)
本発明は、上述の通ρ、上層、下層コイルの2層のコイ
ルを形成する際、上層コイルと下層コイルを同時に形成
するため、コイル形成の工程数が約半分に減少する。そ
のため、製品の歩留り、信頼性が向上するという顕著な
効果を奏する。
ルを形成する際、上層コイルと下層コイルを同時に形成
するため、コイル形成の工程数が約半分に減少する。そ
のため、製品の歩留り、信頼性が向上するという顕著な
効果を奏する。
第1図a)〜k)は本発明の薄膜磁気へ、ドの各工程を
説明する断面図、第2図a)〜0)は従来例の薄膜磁気
へ、ドの各工程を説明する断面図、第3図及び第4図は
、それぞれ、本発明及び従来のコイル部分を説明する説
明図である。 ■、基板 2.下部コア 3 ギヤ、ブ層 4 下層コイル 5 フォトレジスト 6 第1絶縁層 7 上層コイル 8.第2絶縁層 13、上部コア 特許出願人 アルプス電気株式会社 代表者片岡 勝太部 峯 2 図
説明する断面図、第2図a)〜0)は従来例の薄膜磁気
へ、ドの各工程を説明する断面図、第3図及び第4図は
、それぞれ、本発明及び従来のコイル部分を説明する説
明図である。 ■、基板 2.下部コア 3 ギヤ、ブ層 4 下層コイル 5 フォトレジスト 6 第1絶縁層 7 上層コイル 8.第2絶縁層 13、上部コア 特許出願人 アルプス電気株式会社 代表者片岡 勝太部 峯 2 図
Claims (2)
- (1)基板上に、下部コア、下層コイル、上層コイル、
上部コアを有し、それらの間を第1、第2絶縁層で埋め
てある構造からなる薄膜磁気ヘッドの製造方法において
、所定形状の前記第1絶縁層が形成された基板全面にコ
イル材料を成膜し、前記第1絶縁層上に上層コイル、そ
の他の部分に下層コイルを同時に形成し、その後、前記
第2絶縁層で覆う薄膜磁気ヘッドの製造方法。 - (2)第2絶縁層を所定形状に除去した後、上部コアを
形成する工程において、上層コイルと下層コイルの接続
部を前記上部コアで同時に形成し、接続することを特徴
とする、特許請求範囲第1項記載の薄膜磁気ヘッドの製
造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26587885A JPS62125519A (ja) | 1985-11-26 | 1985-11-26 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26587885A JPS62125519A (ja) | 1985-11-26 | 1985-11-26 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62125519A true JPS62125519A (ja) | 1987-06-06 |
Family
ID=17423349
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26587885A Pending JPS62125519A (ja) | 1985-11-26 | 1985-11-26 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62125519A (ja) |
-
1985
- 1985-11-26 JP JP26587885A patent/JPS62125519A/ja active Pending
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