JPS62114320A - デイジタル入力回路の雑音除去方式 - Google Patents

デイジタル入力回路の雑音除去方式

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JPS62114320A
JPS62114320A JP60254306A JP25430685A JPS62114320A JP S62114320 A JPS62114320 A JP S62114320A JP 60254306 A JP60254306 A JP 60254306A JP 25430685 A JP25430685 A JP 25430685A JP S62114320 A JPS62114320 A JP S62114320A
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JP
Japan
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signal
circuit
noise
digital input
random function
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Pending
Application number
JP60254306A
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English (en)
Inventor
Katsuichi Arai
新井 勝一
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ディジタル入力回路における雑音除去方式に
関するものである。
〔従来技術〕
従来このような技術の分野としては、三菱半導体データ
ブック、マイクロコンピュータ関連LSI編;第8−1
03〜B−109(M5L8279P−5のキー入力回
路)に記載されたものがあった。
第2図は、従来のディジタル入力回路における雑音除去
方式の一構成例を示すブロック図である。同図において
、1はディジタル信号の入力端子、2はフィルタ、3は
ゲート回路、4はn段のエツジトリガフリップフロップ
で構成されるシフトレジスタ、5はアンド回路、6はク
ロック発振回路、7は分周回路、8は遅延回路、9はデ
ィジタル信号の出力端子である。
第3図は、第2図に示す回路の動作を説明するだの各部
の信号波形を示す図であり、ここでは説明をffl1′
l!にするためシフトレジスタ4の段数nをn=3とし
である。同図において、aはサンプルパルス信号、bは
前記シフトレジスタ4を駆動するシフトレジスタクロツ
タ信号、c、d、eはそれぞれ前記シフトレジスタ4を
構成するフリップフロップFF1.FF2 、FF3の
各Q端子の出力信号、■は前記入力端子1の入力信号、
0は前記出力端子9の出力信号の各波形を示す。
以下、第3図の波形図を参照しながら第2図に示す回路
の動作を説明する。
入力端子1に入力されるディジタル入力信号は、フィル
タ2で高周波雑音が除去されて、ゲート回路3の一方の
端子に印加される。また、クロック発振回路6が発した
クロック信号は分周回路7を通して分周され、周期Tの
サンプルパルス信号a(第3図のa参照)となり、ゲー
ト回路3の他方の端子に印加されるから、該サンプルパ
ルス信号aの印加期間中(第3図のaの高レベル期間中
)、フィルタ2で高周波雑音の除去されたディジタル入
力信号■は、該ゲート回路3を通過し出力されシフトレ
ジスタ4の初段のフリップフロップFFIに印加上れる
一方、シフトレジスタ4のクロックは遅延回路8を通り
シフトレジスタクロック信号すとなる(第3図のb参照
)。該シフトレジスタクロック信号すは適当な時間遅延
されているので、ゲート回路3が開放されている期間の
データをエツジにより、シフトレジスタ4にロードする
ことができる。ジフトレジスタ4は、順次前段のデータ
をシフトレジスタクロツタ信号すの度毎に後段に伝える
ことができるので、第3図のc、d、eに示す如く、デ
ィジタル入力信号が高レベルになったと 。
したら、順次シフトレジスタ4の各段のプリップフロッ
プの出力端子Qが高レベルとなる。そしてシフトレジス
タ4の各段のフリップフロップの出力はアンド回路5で
論理積がとられ出力されているので、その出力、つまり
ディジタル信号出力Oは連続して3回のサンプル値が高
レベルになって始めて、高レベルとなる。
上記のように従来は、サンプリングパルス信号aでディ
ジタル入力信号Iをサンプリングし、アンド回路5で複
数回の論理積をとることにより、ディジタル入力信号■
の雑音を除去していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記構成の雑音除去方式において、ランダムな雑音が重
畳するようなディジタル入力信号の雑音除去に関しては
、複数回の論理積をとることは非常に雑音除去に有効に
作用するが、周期的に重畳きれている場合は、サンプリ
ング周期と、その雑音周期が一致することもあり、その
結果真の信号がないにもかかわらず高レベルを検出する
という欠点があった。
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、上記欠点を
除去し、サンプリング周期と雑音周期が一致してもその
雑音を除去し真のディジタル信号を出力する、ランダム
雑音及び周期的雑音にも有効に動作するディジタル入力
回路の雑音除去方式を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するため本発明は、サンプリングパル
スでディジタル入力信号をサンプリングして複数回の論
理積をとることにより、ディジタル入力信号の雑音を除
去する雑音除去回路において、サンプリングパルスが到
来する毎に、そのサンプリングパルスの周期を最大値と
するランダム関数を発生するランダム関数発生器と、該
ランダム関数発生器による関数領分サンプリングパルス
を遅延させる遅延器を設け、該遅延器で遅延されたサン
プリングパルスでディジタル入力信号をサンプリングし
、複数回の論理積をとるように構成した。
〔作用〕
上記のように構成することにより、ランダム関数発生器
によるランダム関数値分遅延させる遅延器でサンプリン
グパルスを遅延させ、該サンプリングパルスでディジタ
ル入力信号をランダムにサンプリングし複数回の論理積
をとるから、従来のように周期的雑音が除去されないと
いう問題はなくなり、ランダム雑音及び周期的雑音にも
有効に除去されることになる。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明に係るディジタル入力回路の雑音除去方
式の構成を示すブロック図である。同図において、第2
図と同一符号を付した部分は同一または相当部分を示す
。10はランダム関数を発生するランダム関数発生器、
11はサンプリングパルスを遅延させる遅延器である。
第4図は第1図の雑音除去回路の各部の信号の波形を示
す波形図である。同図において、aは第2図に示す従来
回路と同じサンプルパルス信号、a′は前記遅延器11
で遅延処理されたサンプルパルス信号、b′はシフトレ
ジスタクロック信号、c、d、eはそれぞれ前記シフト
レジスタ4を構成するフリップフロップFFI 、FF
2 、FF3の各Q端子の出力信号、■は前記入力端子
1の入力信号、0は前記出力端子9の出力信号の各波形
を示す。
以下、第1図に示す雑音除去回路の動作を第4図の波形
図を参照しながら説明する。
サンプルパルス信号aは一定周期Tを持つ上記従来回路
と同じサンプルパルス信号で、従来回路と同様クロック
発振回路6及び分周回路7により生成される。該サンプ
ルパルス信号a′はランダム関数発生器10及び遅延器
11に印加きれる。
ランダム関数発生器10は、サンプルパルス信号aを受
信する度毎にランダム関数値を発生するもので、サンプ
ルパルス信号aの周期Tを上まわらない値にノーマライ
ズして遅延器11にその情報値(第4図a゛のT r 
1 、 T r 21 T r s + T r 4 
+T r 8+・・・・・・)を送出する。遅延器11
は該情報値を受けて、受信したサンプルパルス信号aか
ら 。
その領分だけ遅延させたサンプルパルス信号a′を出力
する(第4図のa′参照)。該サンプルパルス信号a′
は、ゲート回路3にサンプルパルスとして印加きれると
共に、遅延回路8で適当に遅延させられ、シフトレジス
タ4にシフトレジスタクロツタ信号b′として印加きれ
る。ディジタル入力信号I(第4図のI参照)はフィル
タ2で高周波雑音が除去され、ゲート回路3の一方の端
子に印加され、前記サンプルパルス信号a′によりゲー
ト回路3を通過し、シフトレジスタ4にローディングき
れる。シフトレジスタ4の各段のツリツブフロップFF
I 、FF2 、FF3の各Q端子の出力信号は、アン
ド回路5により論理積がとられ、結果として雑音が除去
された出力信号Oとして出力端子9から出力きれる。
第5図は第2図に示す雑音除去回路と第1図に示す雑音
除去回路との動作の比較を行なうための波形図であり、
同図(a)は第2図に示す雑音除去回路の各部の信号波
形を示す図、同図(b)は第1図に示す雑音除去回路の
各部の信号波形を示す図である。第5図において、第3
図及び第4図と同じ符号を付した部分は同一信号波形を
示す。
第2図に示す従来の雑音除去装置では、周期的に雑音N
iが重畳するディジタル入力信号Iが入力された場合(
第5図(a)のI参照)、シフトレジスタ4の各段のフ
リップフロップFFI、FF2 、FF3が連続的に動
作しく第5図(a)のc、d、e参照)、結果としてデ
ィジタル入力信号■が低レベルであるにもかわらずアン
ド回路5の出力端に高レベル出力信号Oが現われて、雑
音Niによる誤検出が発生する(第5図(a)の0参照
)。しかしながら、第1図に示す本発明に係る雑音除去
回路においては、シフトレジスタクロック信号b′がラ
ンダムに発生するため(第5図(b)のb′参照)シフ
トレジスタ4の各段のフリップフロップFFI 、FF
2 、FF3が連続的に動作しない(第5図(b)のc
、d、e参照)から、雑音による誤検出がない(第5図
(b)のO参照)。
〔発明の効果〕
以上、説明したように本発明によれば、ランダム関数発
生器からのランダム関数値分遅延許せたサンプリングパ
ルスでディジタル入力信号をランダムにサンプリングし
複数回の論理積をとるから、従来のように周期的雑音が
除去きれない場合があるという問題はなくなり、ランダ
ム雑音及び周期的雑音にも有効に除去できるという優れ
た効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るディジタル入力回路の雑音除去方
式の構成を示すブロック図、第2図は従来のディジタル
入力回路における雑音除去方式の−構成例を示すブロッ
ク図、第3図は第2図に示す回路の各部の信号波形を示
す図、第4図は第1図の雑音除去回路の各部の信号の波
形を示す波形図、第5図は第2図に示す雑音除去回路と
第1図に示す雑音除去回路との動作の比較を行なうため
の波形図で、同図(a)は第2図に示す雑音除去回路の
各部の信号波形を示す図、同図(b)は第1図に示す雑
音除去回路の各部の信号波形を示す図である。 図中、1・・・・ディジタル信号の入力端子、2・・・
フィルタ、3・・・・ゲート回路、4・・・・シフトレ
ジスタ、5・・・・アンド回路、6・・・・クロック発
振回路、7・・・・分周回路、8・・・・遅延回路、9
・・・・出力端子、10・・・・ランダム関数発生器、
11・・・・遅延器。 第i図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. サンプリングパルス回路からのサンプリングパルスでデ
    ィジタル入力信号をサンプリングし、論理積回路で該サ
    ンプリング値の複数回の論理積をとることにより、前記
    ディジタル入力信号の雑音を除去する雑音除去方式にお
    いて、前記サンプリングパルスが到来する毎に、そのサ
    ンプリングパルスの周期を最大値とするランダム関数を
    発生するランダム関数発生器と、該ランダム関数発生器
    による関数値分前記サンプリングパルスを遅延させる遅
    延器を設け、該遅延器により遅延されたサンプリングパ
    ルスにより前記ディジタル入力信号をサンプリングし、
    複数回の論理積をとることにより雑音を除去することを
    特徴とするディジタル入力回路の雑音除去方式。
JP60254306A 1985-11-13 1985-11-13 デイジタル入力回路の雑音除去方式 Pending JPS62114320A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5512053B1 (ja) * 2013-04-04 2014-06-04 三菱電機株式会社 ノイズ判定装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5512053B1 (ja) * 2013-04-04 2014-06-04 三菱電機株式会社 ノイズ判定装置
WO2014162564A1 (ja) * 2013-04-04 2014-10-09 三菱電機株式会社 ノイズ判定装置
US9395706B2 (en) 2013-04-04 2016-07-19 Mitsubishi Electric Corporation Noise determination device

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