JPS62113456A - 半導体パッケ−ジ - Google Patents

半導体パッケ−ジ

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JPS62113456A
JPS62113456A JP60254010A JP25401085A JPS62113456A JP S62113456 A JPS62113456 A JP S62113456A JP 60254010 A JP60254010 A JP 60254010A JP 25401085 A JP25401085 A JP 25401085A JP S62113456 A JPS62113456 A JP S62113456A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 インナーリードの先端部においてインナーリード自体に
よって複数のリードを同電位に接続して高周波インピー
ダンスの低減を図った高周波信号用のリードを具備せし
め、入出力インピーダンス低減に際しての半導体チップ
とインナーリードとのワイヤ接続本数を1本に減少させ
た高周波用の半導体パッケージ。
〔産業上の利用分野〕
本発明は半4体パッケージに係り、特に高周波或いは高
速動作用半導体装置に用いられる半4体パッケージに関
する。
高周波通信装置や、スーパコンピュータ、高速コンピュ
ータ等に用いられる高周波半導体集積回路(IC)にお
いては、信号の伝達効率の低下や、応答速度の低下を防
止するために、該高周波ICと外部回路とのインピーダ
ンスのマツチングが必要であり、そのため入出力インピ
ーダンスの小さい高周波rcが要望される。
〔従来の技術〕
高周波ICにおいて入出力インピーダンスを減少する手
段としては、−高周波入出力信号を複数のパッケージリ
ードに分配する方法が、容易で且つ有効である。
従来高周波ICにおいて上記−高周波入出力信号を複数
のパッケージリードに分配する手段として、以下に示す
ような2通りの方法が用いられていた。
即ち第1の方法は第3図(alに平面構造を模式的に示
すように、パッケージに搭載されたICチップ51の1
個の人出力パッド52と複数例えば2本のパッケージリ
ード53a及び53bのインナーリード部54a及び5
4bとを、それぞれ1本のボンディングワイヤ55a 
、 55b即ち計2本のボンディングワイヤで接続する
方法である。
また第2の方法は第3図(b)に平面構造を模式的に示
すように、ICチップの1個の入出力パッド52と1本
のパッケージリード53aのインナーリード部54a 
とを第1のボンディングワイヤ56aで接続し、更に該
インナーリード部54aと隣接するパッケージリード5
3bのインナーリード部54b との間を第2のボンデ
ィングワイヤ56bで接続する方法である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記第1の従来方法においては、8i 
I Cが高集積化され該ICのポンディングパッドの面
積が微少化して来ているために、1個のボンディングパ
ノド上に複数本のボンディングワイヤを接続することが
困難であるという問題を生じている。
また上記第2の従来方法においては、図のように異なる
方向にボンディングワイヤを張らねばならないために、
自動ワイヤボンディングにおける作業性が著しく悪くな
り、量産性が阻害されるという問題がある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点は、インナーリード先端部で、該インナーリ
ード自体によって一体に接続された複数本のパッケージ
リードを含んでなる本発明による半導体パッケージによ
って解決される。
〔作 用〕
即ち本発明は半導体パッケージにおける一部の隣接する
複数のパッケージリードを、そのインナーリードの先端
部において、インナーリード自体によって一体に接続し
て、該複数のパッケージリードを同電位とした半導体パ
ッケージであり、上記一体化されたインナーリード部と
半導体チップの一ボンディングパソドとの間を、1本の
ボンディングワイヤで接続するだけで入出力信号電流が
複数のパッケージリードに分散され入出力インピーダン
スの低減が図られる。
〔実施例〕
以下本発明を図示実施例により、具体的に説明する。
第1図はフラットパッケージにおける一実施例のチップ
搭載後の状態を模式的に示す平面図(al及びA−A矢
視断面図(blと封止後の状態を模式的に示す側断面図
(C)で、第2図はメタルシールパッケージにおける一
実施例を模式的に示す平面図(al及びA−A矢視断面
図(b)である。
全図を通じ同一対象物は同一符合で示す。
コンピュータ用に主として用いられる低融点ガラスを用
いたフラットパッケージにおける本発明の一実施例を示
す第1図(a)、 (b)、 (C)において、lはセ
ラミック容器、2は低融点ガラス、3a〜3h及び3A
〜311はパッケージリード、4はインナーリード部、
5はアウターリード部、6a+6b、6c、6dは隣接
するパッケージリードのインナーリード接続部、7は半
導体チップ、8は直流若しくは低周波用のポンディング
パッド、9a〜9dは高周波入出力パッド、10及び1
0a−10dは金のボンディングワイヤ、11はチップ
ステージ、12は導電性接着剤、13はセラミックキャ
ップを示す。
なお同図の(a)及び(b)はチップを搭載しワイヤボ
ンディングを完了せしめた状態で、(C1は封止完了の
状態である。
本発明を適用したフラットパッケージは例えば同図に示
すようにパッケージリード3bと30.3fと3g、3
Bと36.3Fと3Gのインナーリード部4がその先端
部においてインナーリード材料自体よりなる接続部6a
、 6b、 6c、 6d等を介してそれぞれ一体に即
ち同電位に接続され高周波入出力用として準備される。
従って例えば図示のように、パッケージ内に搭載された
半導体チップ7の高周波入出力パッド9aとパッケージ
リード3bのインナーリード部4を1木のボンディング
ワイヤ10aで接続することにより高周波入出力バッド
9aの高周波入出力信号電流はパッケージリード3bと
30に分配され、該人出力パッド9aの高周波入出力イ
ンピーダンスは大幅に減少する。
同様に高周波入出力パッド9b、9c、9dの入出力電
流も、1本のポンディングワイヤ10b、 10c、 
10dによる接続によりそれぞれ2本のパッケージリー
ド3f及び3g、3B及び3C13F及び3Gに分配さ
れ、これら人出力パッドの高周波入出力インピーダンス
は減少する。
このように本発明に係る上記フラットパッケージにおい
ては低入出力インピーダンス化に際し、半導体チップの
1人出力パッドと複数のパッケージリードを接続するボ
ンディングワイヤは1本で済むので、高集積化によるパ
ッドの微少化にも充分対応でき、且つ自動ワイヤポンデ
ィングの作業性も向上するという効果を生ずる。
第2図は例えば1〜2 GHz帯等の高周波通信に使用
する円形メタルシールパッケージにおける一実施例を模
式的に示す平面図(al及びA−A矢視断面図(blで
ある。
同図において、21は第1のセラミックリング、22は
金属底板、23はメタライズ層、24はろう材、26及
び26a 、 26b 、 26c 、 26dはパ・
しケージリード、27及び27a、27b、27c、2
7dはメタライズ層よりなり表出部が金めっきされたイ
ンナーリード、28及び28a 、 28b 、 28
c 、 28d は4270イ等よりなり表面が金めっ
きされたアウターリード、29はインナーリードとアウ
ターリードのろう付は部、30はチップ搭載溝、31は
第2のセラミックリング、32はワイヤポンディング用
開孔、33は封止用メタライズ部、34a及び34bは
インナーリード自体の延長で形成されるインナーリード
接続部を示す。
このパッケージにおいては高周波の人出力用にはパッケ
ージリード26a 、 26b及び26c、 26dが
用いられる。
該パッケージにおいては、チップ搭載溝30内に搭載さ
れた図示しない半導体チップの二つの高周波入出力バッ
ドがそれぞれ図示しない1本のボンディングワイヤによ
ってインナーリード接続部34a、34bに接続され、
各々の高周波入出力パッドの高周波入出力信号電流はそ
れぞれパッケージリード26a、26b及び26c、 
26dに分配されその高周波インピーダンスは大幅に減
少する。このように該実施例においても入出力インピー
ダンスを減少させることを1本のポンディングワイヤ接
続によって達成できるので、前記実施例同様高集積化に
伴うポンディングパッドの微少化に対応でき、且つ製造
効率も向上する。
なお上記実施例は何れも2本のインナーリードを一体に
接続する構造であるが、該インナーリードの接続は2本
に限られるものではなく、接続本数が増す程、インピー
ダンス低減の効果は大きくなる。
〔発明の効果〕
以上説明のように本発明の半導体パッケージにおいては
、半導体チップの入出力バンドとパッケージのインナー
リードとの接続を1本のポンディング・ワイヤで行うの
みで入出力インピーダンスの小さい高周波半導体装置が
提供される。
従って本発明は高集積化される高周波ICの低入出力イ
ンピーダンス化及び製造効率の向上に有効である。
のチップ搭載後の状態を模式的に示す平面図(al及び
A−A矢視断面図(blと封止後の状態を模式的に施例
を模式的に示す平面図(al及びA−A矢視断面図(b
)、 第3図(a)及び(b)は従来のインピーダンス低減方
法を示す模式平面図である。
図において、 1はセラミック容器、 2は低融点ガラス、 3a〜3h及び3八〜3Hはパッケージリード、4はイ
ンナーリード部、 5はアウターリード部、 6a、6b、6c、6dはインナーリード接続部、7は
半導体チップ、 8は直流、低周波用ポンディングパッド、9a〜9dは
高周波入出力パッド、 10及び10a〜lodはボンディングワイヤ、21は
第1のセラミックリング、 22は金属底板、 26、26a、 26b、 26c、 26dはパッケ
ージリード、27、27a、 27b、 27c、 2
7dはインナーリード、28、28a、 28b、 2
8c、 28dはアウターリード、29はろう付は部、 30はチップ搭載溝、 31は第2のセラミックリング、 32はワイヤボンディング用開孔、 33は封止用メタライズ部、 34a、34bはインナーリード接続部を示す。
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Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. インナーリードの先端部で、該インナーリード自体によ
    って一体に接続された複数本のパッケージリードを含ん
    でなることを特徴とする半導体パッケージ。
JP60254010A 1985-11-13 1985-11-13 半導体パッケ−ジ Granted JPS62113456A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60254010A JPS62113456A (ja) 1985-11-13 1985-11-13 半導体パッケ−ジ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60254010A JPS62113456A (ja) 1985-11-13 1985-11-13 半導体パッケ−ジ

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JPS62113456A true JPS62113456A (ja) 1987-05-25
JPH0347742B2 JPH0347742B2 (ja) 1991-07-22

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ID=17259004

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60254010A Granted JPS62113456A (ja) 1985-11-13 1985-11-13 半導体パッケ−ジ

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6134746U (ja) * 1984-07-31 1986-03-03 関西日本電気株式会社 電子部品

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5641239A (en) * 1979-09-13 1981-04-17 Hitachi Cable Ltd Flame-retardant composition

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6134746U (ja) * 1984-07-31 1986-03-03 関西日本電気株式会社 電子部品

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