JPS6199113A - 顕微鏡のピント合わせ方法 - Google Patents

顕微鏡のピント合わせ方法

Info

Publication number
JPS6199113A
JPS6199113A JP22034984A JP22034984A JPS6199113A JP S6199113 A JPS6199113 A JP S6199113A JP 22034984 A JP22034984 A JP 22034984A JP 22034984 A JP22034984 A JP 22034984A JP S6199113 A JPS6199113 A JP S6199113A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microscope
circuit
image pickup
pickup tube
sent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP22034984A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Sugiura
功 杉浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOHO DENSHI KOGYO KK
Original Assignee
TOHO DENSHI KOGYO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOHO DENSHI KOGYO KK filed Critical TOHO DENSHI KOGYO KK
Priority to JP22034984A priority Critical patent/JPS6199113A/ja
Publication of JPS6199113A publication Critical patent/JPS6199113A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • G02B21/241Devices for focusing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 1匪へ則σ (産業上の利用分野) 本発明は、l微鏡を自動的にピント合わせする方法に関
する。
(従来の技術) 従来では、R徽鏡を肉眼で直接見ながら、または撮像機
を介して画面表示器に映し出された映像を見ながら、手
動操作により顕微鏡のピント合わせを行なっていた。
(発明が解決しようとしている問題点)しかし、上記の
方法では、ピント合わせに時間と手間がかかる欠、αが
あった。
1肛L1L (問題点を解決するための手段) 本発明は上記問題点を解消するためになされたもので、
その要旨は、被観察物を設置するステージおよび顕微鏡
のうち少なくとも一方を移動機構により移動させて両者
の距離を調節可能とし、上記移動機構を駆動しながら、
顕微鏡による拡大像を撮像機により走査して電気信号に
変換し、この電気信号に基づいて最適のピント合わせ位
置を検出し、この検出信号に基づいて上記移動@構の駆
動を最適のピント位置で停止させることをvf?rlと
する顕微鏡のピント合わせ方法にある。
(実施例) 以下、本発明方法を実施するための装置の−例を第1図
、第2図を参jjl Lで説明する。
図中10は、被観察物1を載せるステージであり、この
ステージ10の上方には、顕微鏡11と撮像管(撮像機
)12が配置されている。これら顕@鏡11と撮像管1
2とは一体に固定されており、図示しない〃イドにより
上下方向に移動可能になっている。撮像管12の側部に
はねし孔を有するブラケット13が固定されており、こ
のねじ孔には回転のみ可能なねじ棒14がねじ込まれて
いる。
ねじ棒14はモータ15(移動機構)に連結されており
、このモータ15の回転により、撮像管12お上り顕微
鏡11が上下移動するようになっている。
顕微鏡11.撮像管12の上下方向の位置は、位置検出
装置17により検出されるよ3になっている。位置検出
装置17は、放射状に多数の微細スリットを有する2枚
の円盤18a、18bと、これら円盤18a、18bの
上下に発光器、受光器を備)          えた
エンコーダ19とを有している。一方の円盤13aは回
転不能にして図示しない支持部材iこ固定され、他方の
円盤18bは上記ねし棒14に固定されてねヒ棒14と
ともに回転するよう(こなっている、上記エンコーダー
19の受光器は上記円盤18bの回転に伴ない、換言す
れば顕微鏡11゜撮像管12の上下移動に伴ない、パル
スを発生し、このパルスは計数回路20によって3)°
数外れる。
なお、計数回路20では、たとえば顕微鏡11゜撮像管
12の上昇時に加算を行ない、下降時に減算を行ない、
顕微鏡I1.撮像管12の位置と計数値を常時対応させ
るようになっている。
顕微鏡11には公知の拡大光学系(図示しない)ととも
に、第2図に示す照明光学系が内蔵されている。すなわ
ち、拡大光学系の光輸A上にハーフミラ−21,22が
配置されており、各ハーフミラ−21,22にはランプ
23.24の光が反射して被観察物1に供給されるよう
になっている。一方のランプ23の光はピンホール25
を介してハーフミラ−21に供給されるようになってい
る。
なお、ランプ23はランプ24より高出力のものが望ま
しい。
撮像管12の映像信号は、画面表示器としてのモニター
テレビ30に送られるとともに、微分回路31に送られ
る。微分回路31からの微分出力は、ピークホールド回
路32に送られ、ピークホールド回路からのピーク値は
比較回路33および最大値記憶回路38に送られる。比
較回路33h・らは、書き込み信号が演算回路34に送
られる。
演算回路34では計数回路20からの計数値を一時記憶
するとともに、この記憶値に基づいて所定の演算を行な
うにの演算結果は、記憶回路35に送られる。計数回路
20および記憶回路35の情報は比較回路36に送られ
る。比較回路35からは、制御信号がモータ15の駆動
回路37に送られるようになっている。
上記構成をなす装置において、ステージ10に設置され
た被観察物lは、顕微鏡11で拡大され、この拡大像は
撮像管12で走査されてアナログ電気信号に変換される
。撮像管12の電気信号は、モニターテレビ30に送ら
れ、これにより、被観察物1の拡大像が映し出される。
この際、ランプ24の光はハーフミラ−22に1つ反射
されて被観察物1を広範囲に照らし出す。
本発明方法の要旨をなすピント合わせは、以下のように
して行なわれる。モータ15の駆動により、顕微鏡11
.撮像管12を、最下位の位置から上昇させる。この上
昇の過程で、撮像管12からのアナログ電気信号は微分
回路31にも送られる。
微分回路31では上記電気信号が微分される。
顕微鏡11の位置が最適のピント位置から偏位している
時には、被観察物1の拡大像における明暗のコントラス
トが不明瞭なため、撮像管12がらの電気信号は第4図
(、)に示すようになだらかに変化する。このため、微
分回路31て゛の微分出力は第4図(b)に示すように
低い。
顕微鏡11の位置が最適のピント位置にあるとき;二は
、被観察物1の拡大像における明暗のコントラストがは
っきりするため、第5図(、)に示すように撮イ象管1
2からの電気信号は急激に変化する。このため、微分回
路3】での微分出力は第5図(11)で示すように高く
なる。
上記微分出力はピークホールド回路32に送られ、モニ
ターテレビ30における1画面に相当する走査時間毎の
ピーク値がホールドされる。このピーク値は比較回路3
3および最大値記憶回路38に送られる。なお、ピーク
ホールド回路32と比較回路331最大値記憶回路38
との間に演算回路を設け、この演算回路で複数画面のピ
ーク値の平均値を演算し、この演算結果を、比較回路3
3、最大値記憶回路38に送るようにしてもよい。
この場合、ピーク値を安定して検出できる。
比較回路33では、ピーク値が最大値記憶回路38に記
憶されたピーク値より高い場合に、記憶指令信号を最大
値記憶回路38に送り、最大値記憶回路38ではより高
いピーク値を記憶する。このようにして、最大値記憶回
路38に記憶されるべきピーク値が更新されていく。
ところで、顕微鏡11.i保管12が上昇して最適のピ
ント合わせ位置に近付く過程では、微分出力は徐々に増
大し1画面毎のピーク値も増大していく。やがて最適の
ピント合わせ位置に達°rると、微分出力および1画面
毎ピーク値は最大となり、ここを通過すると徐々に減少
していく。上記比較回路33では、最大値記憶回路38
で記憶されたピーク値に比べて新たにピークホールド回
路32から送られてきたピーク値が低くなった時に、こ
れを検出して演算回路34に書き込み指令信号を送る。
演算回路34では、この時に計数回路20の計数値を一
時記憶し、この計数値に補正を加える6すなわち、上記
計数値は、微分出力が減少し始めた時の顕微鏡11.撮
像管12の位置に対応し、正確に微分出力が最大の位置
すなわち最適のピント合わせ位置に対応していない、し
たがって、この計数値に所定の距離分減算処理して最適
のビジト合わせ位置を演算する。この演算値を記憶回路
35に送りここで記憶する。
顕微鏡11.撮像管12が最上位位置に達した時に、モ
ータ15は逆回転し、これら顕微鏡11゜撮像管12は
下降する。この際、記憶回路35に記憶された最適のピ
ント合わせ位置と、計数回路ン0からの実際の位置とを
比較回路36で比較し、両者が一致した時に駆動回路3
7に停止信号を送り、モータ15を停止させる。この結
果、顕微鏡11、撮像管12が、最適のピント合わせ位
置となる。なお、比較回路36で比較して、その偏差に
対応する出力を増幅して駆動回路37に送り、モータ1
5を制御してもよい。
無模様の被観察物1を観察する場合、最適のピント合わ
せ位置であっても、被観察物1の拡大像にコントラスト
がないため、検出することができない。この場合には、
第2図のランプ23を点灯し、ピンホール25を通して
ハーフミラ−21で反射し、第3図に示すように、撮像
管12の走査範囲Bの中央部における被観察物1の面に
、ピンホール25の像からなる高輝度のマー240を表
示する。この結果、このマーク40の拡大像を撮像管1
2で撮像して、上記と同様に最適のピント合わせ位置を
検出できる。
本発明は上記実施例に制約されず種々の態様が可能であ
る。たとえば、顕微鏡を移動させる代わりに、ステージ
10を上下方向に移動させてもよい、また、上記実施例
におけるランプ23とピンホール25の代わりに、レー
ザー光線を用いてもよい。
第6図は、本発明方法を実施する装置の池の例を示す、
前述した実施例に対応する部材については同番号を付し
てその詳細な説明を省略する。この例では、撮像管12
からの映像信号を、高周数数帯域から低周波数帯域に互
る多数のバンドパスフィルター50により、多数の周波
数成分に分解する。各バンドパスフィルター5()を通
過した各周波数帯域の出力はコンパレータ51に送られ
、所定レベル以上の出力のみ検出される。コンパレータ
51の出力は選択回路52に送られ、選択回路52では
、モニターテレビ30における1画面に相当する走査時
間毎に、最ら高い周波数帯域からの検出信号が選択され
、この選択された最大周波数情報が最大値記憶回路53
と比較回路54に。
送られる。
顕微鏡11が最適のピント位置から偏位している時には
、前述したように撮像管12からの映像信号は第4図(
、)に示すようになだらかに変化し、低い周波数成分し
かない。また、顕微鏡11が最j屯のピント位置にある
ときには、第5図(a)に示すように撮像管12からの
電気信号は急激に変化し、高い周波数成分が含まれる。
比較回路54では、選択回路52から直接送られな周波
数値が、最大値記憶回路53で記+taされた周波数値
より高い場合に、記憶指令信号を最大値記憶回路53に
送り、最大値記憶回路53ではより高い周波数値を記憶
する。このようにして、最大値記憶回路53に記憶され
るべき周波数値を更新していく。
顕微鏡11.撮像管12が上昇して最適のピント合わせ
位置に近付く過程では、選択回路52からの周波数値は
徐々に増大していく。やがてこの最適のピント合わせ位
置に達するとこの周波数値は最高となり、ここを通過す
ると徐々に低下していく。上記比較回路54では、最大
値記憶回路53での周波数値か更新されなくなった時、
すなわち選択回路52からの周波数値が減少し始めた時
に、演算回路34に書き込み指令信号を送る。その池の
作用は前述の例と同様である。
第7図に示す例では、サーボ制御によりピント合わせな
行なう。まず、微分回路:31がらの微分出力がピーク
ホールド回路32に送られ、モニターテレビ30の一画
面に相当する走査時間毎に、ピーク値をホールドする。
そして、このピーク値を最大値記憶回路38および比較
回路60に送る。
比較回路60では、ピークホールド回路32から新たに
送られてくるピーク値と、最大値記憶回路38に記憶さ
れたビ°−り値とを比較して、ピークホールド回路32
からのピーク値が高い場合には、最大値記憶回路38に
記憶指令信号を送るとともに、その偏差出力を増幅回路
63に送る。増幅回路63ではこれを増幅してモータ1
5の駆動回路37に送る。この結果、最適のピント合わ
せ位置に近付くにしたがって、モータ15の回転数は小
さくなり、やがて最適のピント合わせ位置で停止する。
発側10L【 以上説明したように、本発明方法によれば、顕微鏡のピ
ント合わせを自動的【こ行なえ作業能率を大幅に向上さ
せることができる。また、正確なピント合わせを行なう
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法を実施する装置の一例を示す概略図
、第2図は顕微鏡内の照明光学系を示す概略図、第3図
は無模様の被観察物を観察する場合のマーク表示を示す
概略図、第4I2I(a)はピント合わせ位置から偏位
している場合における撮像管からの映像信号の一部を示
す図、第4図(b)はその微分出力を示す図、第5図(
、)は最適のピント合わせ位置にある場合における撮像
管からの映像信号の一部を示す図、第5図(b)はその
微分出力を示す図、第6図、第7図は本発明を実施する
装置の互いに異なる例を示す概略図である。 1・・・被観察物、10・・・ステージ、11・・・i
ii微鏡、12・・・撮像管(撮像機)、15・・・モ
ータ(移動機構)30・・・モニターテレビ(画面)3
示器)畠願人 東邦電子工業株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被観察物を設置するステージおよび顕微鏡のうち少なく
    とも一方を移動機構により移動させて両者の距離を調節
    可能とし、上記移動機構を駆動しながら、顕微鏡による
    拡大像を撮像機により走査して電気信号に変換し、この
    電気信号に基づいて最適のピント合わせ位置を検出し、
    この検出信号に基づいて上記移動機構の駆動を最適のピ
    ント位置で停止させることを特徴とする顕微鏡のピント
    合わせ方法。
JP22034984A 1984-10-22 1984-10-22 顕微鏡のピント合わせ方法 Pending JPS6199113A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22034984A JPS6199113A (ja) 1984-10-22 1984-10-22 顕微鏡のピント合わせ方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22034984A JPS6199113A (ja) 1984-10-22 1984-10-22 顕微鏡のピント合わせ方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6199113A true JPS6199113A (ja) 1986-05-17

Family

ID=16749738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22034984A Pending JPS6199113A (ja) 1984-10-22 1984-10-22 顕微鏡のピント合わせ方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6199113A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02143210A (ja) * 1988-11-25 1990-06-01 Nikon Corp オートフォーカシングステージシステムおよびステージ装置
JP2002090653A (ja) * 2000-09-19 2002-03-27 Olympus Optical Co Ltd 測定顕微鏡

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5331151A (en) * 1976-09-03 1978-03-24 Hitachi Ltd Automatic focusing device for microscope
JPS5596406A (en) * 1979-01-19 1980-07-22 Hitachi Ltd Device for determining roughness of surface

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5331151A (en) * 1976-09-03 1978-03-24 Hitachi Ltd Automatic focusing device for microscope
JPS5596406A (en) * 1979-01-19 1980-07-22 Hitachi Ltd Device for determining roughness of surface

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02143210A (ja) * 1988-11-25 1990-06-01 Nikon Corp オートフォーカシングステージシステムおよびステージ装置
JP2864509B2 (ja) * 1988-11-25 1999-03-03 株式会社ニコン オートフォーカシングステージシステムおよびステージ装置
JP2002090653A (ja) * 2000-09-19 2002-03-27 Olympus Optical Co Ltd 測定顕微鏡

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3462006B2 (ja) オートフォーカス装置
CA1321498C (en) Objective lens positioning system for confocal tandem scanning reflected light microscope
US5099363A (en) Method and apparatus for slow aperture scanning in a single aperture confocal scanning EPI-illumination microscope
US4897537A (en) Automatic focus adjusting system of microscope employed in surface inspection apparatus
JP3406987B2 (ja) 電動式顕微鏡
JP3568286B2 (ja) 共焦点走査型光学顕微鏡及びこの顕微鏡を使用した測定方法
JPH103875A (ja) 走査電子顕微鏡
JPS6199113A (ja) 顕微鏡のピント合わせ方法
US4183055A (en) Beam/seam alignment control for electron beam welding
JP3722535B2 (ja) 走査型共焦点顕微鏡及びこの顕微鏡を使用した測定方法
JPH06500222A (ja) 光学的結像系をフォーカシングするための装置
JP3390106B2 (ja) 自動合焦点装置を備えた光学顕微鏡
JP2003014611A (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JPH07280537A (ja) 撮像式検査方法および装置
JPH08261947A (ja) 管状体の内面撮影装置
JPS6111714A (ja) 顕微鏡の自動焦点調整装置
JP3376680B2 (ja) 顕微鏡装置
JPH08190053A (ja) 共焦点走査型光学顕微鏡
JP6977681B2 (ja) 集束イオンビーム装置および半導体装置の製造方法
JP2599352B2 (ja) 光学的情報記録装置
JPS59182409A (ja) 顕微鏡自動合焦点装置
JPH07121080B2 (ja) 自動焦点調節装置
JP3251477B2 (ja) 表面に存在する欠陥の検査方法
JP2003084208A (ja) 顕微鏡装置
JPH11283548A (ja) 電子顕微鏡装置及びそれを用いた試料観察方法