JP2003084208A - 顕微鏡装置 - Google Patents

顕微鏡装置

Info

Publication number
JP2003084208A
JP2003084208A JP2001275549A JP2001275549A JP2003084208A JP 2003084208 A JP2003084208 A JP 2003084208A JP 2001275549 A JP2001275549 A JP 2001275549A JP 2001275549 A JP2001275549 A JP 2001275549A JP 2003084208 A JP2003084208 A JP 2003084208A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk
microscope
image blur
sample
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001275549A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisafumi Okada
尚史 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP2001275549A priority Critical patent/JP2003084208A/ja
Publication of JP2003084208A publication Critical patent/JP2003084208A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Adjustment Of Camera Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試料の振動に同期した像ぶれのない観察を簡
単な構成で、安価に実現できる顕微鏡装置を提供する。 【解決手段】 顕微鏡本体1の観察光学系の光路xを横
切る開口部12aを有するディスク12を有し、このデ
ィスク12をモータ13で回転駆動させるとともに、モ
ータ13の回転数を制御する回転制御装置15を有する
像ぶれ低減装置5を備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料の観察像のぶ
れを低減する像ぶれ低減機能を備えた顕微鏡装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】半導体や液晶基板などの被検体の検査に
用いられる顕微鏡装置は、被検体の微細化にともない高
分解能のものが用いられている。また、最近は、これら
被検体は、大型化の傾向にあり、これにともない、より
大きな範囲を観察できる大型の顕微鏡装置が用いられる
ようになっている。
【0003】ところが、大型の被検体に対して高分解能
の顕微鏡装置を用いて微細な観察を行うと、被検体に伝
わる僅かな振動により像ぶれが生じることがあり、被検
体の観察像に悪影響を与えることがあった。
【0004】そこで、従来、特開平7−190727号
公報に開示されるように、振動計により試料の振動を検
出し、振動の微分がゼロのときに撮像を行うことで、試
料が振動により変化しない時の画像を撮像するようにし
たもの、特開平10−213522号公報に開示される
ように、AF(オートフォーカス)により試料に合焦
し、このときのAF装置の合焦信号の変動から試料の振
動周期を測定し、この振動周期に同期したタイミングに
より撮像を行うことで、像ぶれのない画像を取得するよ
うにしたもの、および特開平6−160171号公報に
開示されるように、試料の振動に同期したストロボによ
り試料を照明することで、試料のスローモーションおよ
び静止画を観察するものなどが考えられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、特開平7−
190727号公報のものは、試料の振動周期を測定し
て振動の微分=0(振動の変化が0)で撮像を行うよう
にしているため、振動計や、この振動計の出力から微分
=0のタイミングを検出する信号処理部などが必要とな
り、その分構成が複雑になり、また、振動の微分が0と
いう条件で撮像する場合、合焦が保証されないという問
題があった。
【0006】また、特開平10−213522号公報の
ものは、AFの合焦信号をもとに試料の振動周期(合焦
程度が高くなるタイミング)を検出し、このタイミング
で撮像を行うようになっているため、合焦信号を処理し
て撮像を制御する装置が必要で、その分構成が複雑とな
り、また、光軸に対して垂直方向の振動に関しては、振
動周期の検出が難しいこともあり、さらには、カメラに
使用される電子シャッタによっては振動周波数が制限さ
れ、高価な高速度カメラを使用する必要があるなどの問
題があった。
【0007】さらに、特開平6−160171号公報の
ものは、ストロボスコープのストロボ制御が用いられる
が、このような光源をストロボさせることで試料を停止
させて観察する方法は、様々な光源を利用する顕微鏡で
は、光源によってストロボ発光できないものもあり、全
ての顕微鏡に適用できないという問題があった。
【0008】一方、これら公報に開示された技術の他に
も、高速度カメラを用いて試料の振動と同期した撮像を
行う方法が考えられるが、この方法は既存の装置に適用
しやすい利点はあるものの、価格的に高価である。ま
た、光源としてパルスレーザを用い、試料の振動に同期
して照明を行う方法も考えられるが、高速なパルスレー
ザは、やはり価格的に高価であり、しかも、レーザ光
は、干渉による像劣化を考慮しなければならないという
問題がある。
【0009】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、試料の振動に同期した観察を簡単な構成で、安価に
実現できる顕微鏡装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
顕微鏡と、前記顕微鏡の観察光学系または照明光学系の
少なくとも一方の光学系に設けられ、前記光学系の光束
を周期的に遮断/透過可能な光束遮断/透過手段と、前
記遮断/透過手段の透過と遮断の周期を任意に設定可能
な周期制御手段とを有する像ぶれ低減手段とを具備した
ことを特徴としている。
【0011】請求項2記載の発明は、顕微鏡と、前記顕
微鏡の観察光学系または照明光学系の少なくとも一方の
光学系を横切る開口部を有するディスクと、前記ディス
クを回転駆動させる回転駆動手段と、前記ディスクを任
意の回転数に制御する回転制御手段とを有する像ぶれ低
減手段とを具備したことを特徴としている。
【0012】請求項3記載の発明は、請求項2記載の発
明において、前記ディスクを前記光学系の平行光の部分
に配置したことを特徴としている。
【0013】請求項4記載の発明は、請求項2または3
記載の発明において、前記ディスクと前記回転駆動手段
を前記顕微鏡と別体に構成したことを特徴としている。
【0014】この結果、本発明によれば、周期的に振動
する試料の同一位相状態を連続して観察できるようにし
たので、試料の振動による像ぶれの少ない観察画像を得
ることができる。
【0015】また、本発明によれば、平行光をディスク
の開口部が横切ることで、開口通過時の視野内の明るさ
変化を均一にすることができる。
【0016】さらに、本発明によれば、ディスクや回転
駆動手段を顕微鏡と別体にしたので、これらディスクや
回転駆動手段より発生する振動を顕微鏡側に伝えないよ
うにできる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に従い説明する。
【0018】(第1の実施の形態)図1は、本発明の第1
の実施の形態が適用される透過光観察の顕微鏡装置の概
略構成を示している。図において、1は顕微鏡本体で、
この顕微鏡本体1は、水平方向のベース部1a、このベ
ース部1aに対し直立して形成された胴部1bを有し、
さらに胴部1bの先端部に、ベース部1aに対し平行な
対物アーム1cを有している。
【0019】顕微鏡本体1の胴部1bには、試料3を載
置したステージ2が上下動可能に設けられている。この
ステージ2は、顕微鏡本体1側面に配置された図示しな
い焦準ハンドルを操作することで焦準機構を介して上下
方向に移動できるようになっている。
【0020】対物アーム1cには、図示しないレボルバ
を介して複数の対物レンズ4が設けられ、レボルバの回
転操作により、対物レンズ4を選択的に観察光学系の光
路x上に切換できるようになっている。
【0021】対物アーム1cの上方には、像ぶれ低減装
置5を介して結像レンズ6を有する三眼鏡筒7が設けら
れている。この三眼鏡筒7には、光路x方向に対して所
定角度傾けて接眼レンズ8が設けられるとともに、光路
x方向に沿って中間鏡筒9を介してCCDカメラ10が
設けられている。CCDカメラ10には、モニタ11が
接続されている。
【0022】像ぶれ低減装置5は、観察光学系の光束を
周期的に遮断/透過可能な光束遮断/透過手段として、
観察光学系の光路aの光束を遮断/透過する開口部12
aを有するディスク12と、このディスク12を所定の
回転数で回転させる駆動源としてのモータ13を有して
いる。また、モータ13には、ディスク12による透過
と遮断の周期を任意に設定する周期制御手段として回転
制御装置15が接続されている。この回転制御装置15
は、モータ13の回転数を制御するもので、モータ回転
数を表示する回転数表示部15aとモータ回転数を調整
する操作つまみ15bを有している。
【0023】ここで、モータ13には、例えば、DCモ
ータが使用される。このDCモータは、印加電圧値に応
じて回転数が変化するので、回転制御装置15として
は、可変電圧アンプを用いることができ、価格的に安価
にして構成できる。勿論、モータ13は、DCモータに
限定されるものでなく、ACサーボモータや超音波モー
タなどのようにディスク12を回転させることが可能な
ものならば適用することができる。また、ここで使用さ
れるディスク12には、例えば、図2(a)(b)
(c)に示すようなものが用いられる。同図(a)は、
円板状のディスク12周縁部の円周方向に沿って等間隔
に4個の円形状の開口部12aを形成したもの、同図
(b)は、円板状のディスク12周縁部の円周方向に沿
って等間隔に2個の円形状の開口部12aを形成したも
の、同図(c)は、ディスク12の円周方向に沿って等
間隔に4個のスリット状の開口部12aを形成したもの
である。
【0024】一方、図1に戻って、顕微鏡本体1の背面
下部には、透過照明用光源16が配置されている。この
透過照明用光源16のランプ16aからの照明光は、コ
レクタレンズ17で平行光になって、顕微鏡本体1のベ
ース部1a内部のミラー18で光路x方向に反射され、
コンデンサレンズ19を介してステージ2上の試料3に
照射される。そして、試料3を透過した光は、合焦した
対物レンズ4で平行光となって像ぶれ低減装置5のディ
スク12の開口部12aを透過し三眼鏡筒7に入射さ
れ、接眼レンズ8で観察像として目視観察され、同時
に、結像レンズ6を介してCCDカメラ10の撮像面に
結像され、撮像された試料3の様子がモニタ11に表示
される。
【0025】次に、このように構成した実施の形態の動
作を説明する。
【0026】いま、試料3の振動が問題にならないよう
な場合は、像ぶれ低減装置5のディスク12の開口部1
2aを光路x上に位置させ、この光路xを遮らないよう
にしている。
【0027】次に、試料3が振動している場合は、回転
制御装置15の操作つまみ15bを調整して像ぶれ低減
装置5のモータ13を回転させる。そして、モータ13
の回転数を上昇していくと、図3(D)に示すように試
料3の振動周期の整数倍とディスク12の開口部12a
による光路xの光束を遮断/透過する周期が一致する。
この状態で、像ぶれは改善されるが、このとき同図から
明らかなように、合焦位置をc、試料3の振動振幅をa
とすると、ディスク12の開口部12aを通過する光は
bのみの僅かな量であり、このため、CCDカメラ10
のサンプリング周期内に入射する光量も少なくなり、撮
像画像は暗くなってしまう。
【0028】そこで、モータ13の回転数を、さらに上
昇して試料3の振動の周期とディスク12の開口部12
aの光路xの光束を遮断/透過する周期が一致する回転
数を探す。この操作は、モニタ11の画像を見ながら行
う。その後、試料3の振動周期にディスク12の開口部
12aの光路xの光束を遮断/透過する周期が近づく
と、図3(C)に示すように合焦位置c、試料3の振動
振幅aに対して、ディスク12の開口部12aを通過す
る光bの総量が増加し、CCDカメラ10に入射する光
量も多くなって撮像画像の明るさが大幅に改善される。
また、この時のモニタ11上に映し出される試料像は、
試料3の振動周期とディスク12の開口部12aの光路
xの光束を遮断/透過する横切る周期の最小公倍数で決
まる周期でゆっくり振動した状態で見える。
【0029】ここで、試料3の振動が光軸方向ならば、
像がボケるのが観察でき、光軸と垂直な面内の振動なら
ば、試料3が動くのが観察できる。試料3の振動が光軸
方向の場合は、ディスク12の回転数の調整とともに、
合焦も微調整する必要がある。この場合、図3(A)(B)
に示すように、合焦位置によって像のボケ具合に相違が
生じる。同図(A)は、振動の最大値の位置に合焦させ
た場合、同図(B)は、振動の中間の位置に合焦させた
場合である。
【0030】なお、試料3の振動が周期的な場合は、振
動の最大値または最小値の位置で振動の変化が最小にな
るので、これら最大値または最小値に合焦した場合にボ
ケを一番小さくできる。また、図3(E)に示すように
試料3の振動の最大値または最小値の位置でディスク1
2の開口部12aが光路xの光束を透過するようにすれ
ば、像ぶれを改善できると同時に、撮像画像の明るさを
最大にすることができる。
【0031】ここで、ディスク12として、図2(a)
(b)に示すように周縁部の円周方向に沿って等間隔で複
数の円形状の開口部12aを形成したものを使用した場
合、これらのディスク12は、開口部12aの数が異な
るものの、それぞれの開口部12aは、同一円周上に中
心を持ち、且つ角度を等分した位置に配置されているの
で、ディスク12が同一回転数の場合は、開口部12a
の数を多くすると、開口部12aが光路xを横切る周期
を短くできる。つまり、ディスク12が同一回転数で回
っている場合、図2(a)に示すディスク12は、開口部
12aの光路xを横切る周期を同図(b)の場合の半分に
できる。これにより、開口部12aの数を多くすること
で、ディスク12の回転数を下げることができるが、回
転数を下げると、開口部12aの通過時間が長くかかる
ので、像ぶれ量は、その分大きくなってしまう。このこ
とから、ディスク12の径、開口部12aの数は、像ぶ
れの対象となる振動や周波数、装置の大きさなどを考慮
して決定する必要がある。また、同図(c)に示すように
スリット状の開口部12aを形成したものを使用した場
合は、ディスク12の回転軸と光路xとの間の距離を調
整する機能を設ければ、像ぶれ量と観察像の明るさを調
整できる。例えば、ディスク12の回転軸を光路xに近
づけると、開口部12aが光路xを通過する時間が長く
なり、像ぶれ量は大きくなるが、観察像は明るくなり、
また、ディスク12の回転軸を光路xから離すと、開口
部12aが光路xを通過する時間が短くなり、像ぶれ量
は小さくなり、観察像は暗くなる。これにより、これら
の設定は、観察条件に応じて調整される。
【0032】従って、このようにすれば、像ぶれ低減装
置5において、ディスク12の開口部12aが光路xを
横切る周期を試料3の振動周期と一致させることで、周
期的に振動する試料3の同一位相状態を連続して観察で
きるようにしたので、試料3の振動による像ぶれを低減
でき、像ぶれの少ない良質の観察画像を得ることができ
る。また、このような像ぶれ低減装置5は、ディスク1
2、モータ13および回転制御装置15の簡単な構成か
らなるので、価格的にも安価にすることができる。さら
に、観察光学系の光路xの平行光をディスク12の開口
部12aが横切るようになるので、開口通過時の視野内
の明るさ変化を均一にすることができる。
【0033】(第2の実施の形態)次に、本発明の第2の
実施の形態を説明する。
【0034】図4は、第2の実施の形態が適用される落
射光観察の顕微鏡装置の概略構成を示すもので、図1と
同一部分には、同符号を付している。
【0035】この場合、顕微鏡本体1の対物アーム1c
の上方には投光管21が設けられている。この投光管2
1は、落射照明用光源22を有し、この落射照明用光源
22のランプ22aからの照明光は、照明光学系を構成
するコレクタレンズ23で平行光となって、投光管21
内部の光路yを通ってハーフミラー24により光路x方
向に反射され、対物レンズ4を介してステージ2上の試
料3に照射される。そして、試料3から反射された光
は、対物レンズ4で平行光となってハーフミラー24を
透過して三眼鏡筒7に入射され、接眼レンズ8で観察像
として目視観察され、同時に、結像レンズ6を介してC
CDカメラ10の撮像面に結像されるようになってい
る。
【0036】また、投光管21内の光路y上には、像ぶ
れ低減装置25が設けられている。この像ぶれ低減装置
25は、光路yの光束を遮断/透過する開口部26aを
有するディスク26と、このディスク26を所定の回転
数で回転させる駆動源のモータ27を有し、また、この
モータ27には、モータ27の回転数を制御するための
モータ回転数を表示する回転数表示部28aとモータ回
転数を調整する操作つまみ28bを有する回転制御装置
28が接続されている。
【0037】このような構成においても、第1の実施の
形態で述べたと同様にして像ぶれ低減装置25におい
て、モータ27の回転数を制御し、ディスク26により
光路yの光束を遮断/透過することにより、像ぶれの低
減を実現することができる。
【0038】従って、このようにしても、第1の実施の
形態で述べたと同様な効果を期待できる。加えて、像ぶ
れ低減装置25を対物アーム1c上方に設けられた投光
管21に取付け、落射照明用光源22からの平行光から
なる光束をディスク26により遮断/透過するようにし
たので、試料3に照射される照明光の光量を抑制するこ
とができる。このことは、光源として、紫外線などの光
源を使用した場合に、試料3に与えるダメージを軽減す
ることができる。また、像ぶれ低減装置25を試料3お
よび対物レンズ4から離して配置しているので、ディス
ク26やモータ27で発生する振動を試料3および対物
レンズ4に伝えないようにもでき、像ぶれ低減効果をさ
らに向上させることができる。
【0039】(第3の実施の形態)次に、本発明の第3の
実施の形態を説明する。
【0040】図5は、第3の実施の形態が適用される透
過光観察の顕微鏡装置の概略構成を示すもので、図1と
同一部分には、同符号を付している。
【0041】この場合、透過照明用光源16からの照明
光のミラー18とコンデンサレンズ19との間の光路z
上に像ぶれ低減装置31が設けられている。この像ぶれ
低減装置31は、ミラー18とコンデンサレンズ19と
の間の光路zの光束を遮断/透過する開口部32aを有
するディスク32と、このディスク32を所定の回転数
で回転させる駆動源のモータ33を有し、また、このモ
ータ33には、モータ33の回転数を制御するためのモ
ータ回転数を表示する回転数表示部34aとモータ回転
数を調整する操作つまみ34bを有する回転制御装置3
4が接続されている。
【0042】このような構成においても、第1の実施の
形態で述べたと同様にして像ぶれ低減装置31におい
て、モータ33の回転数を制御し、ディスク32により
光路zの光束を遮断/透過することにより、像ぶれの低
減を実現することができる。
【0043】従って、このようにしても、第1および2
の実施の形態で述べたと同様な効果を期待できる。加え
て、像ぶれ低減装置31は、透過照明用光源16からの
照明光のミラー18とコンデンサレンズ19との間の光
路zに配置されることで、顕微鏡本体1と別体(機械的
な結合を持たない)に構成できるので、ディスク32や
モータ33で発生する振動を試料3および対物レンズ4
側に伝えないようにでき、像ぶれ低減効果をさらに向上
させることができる。
【0044】(第4の実施の形態)次に、本発明の第4の
実施の形態を説明する。
【0045】図6は、第4の実施の形態が適用される透
過光観察の顕微鏡装置の概略構成を示すもので、図1と
同一部分には、同符号を付している。
【0046】この場合、顕微鏡本体1の対物アーム1c
の上方には、像ぶれ低減装置41が配置されている。こ
の像ぶれ低減装置41は、観察光学系の光路xの光束を
遮断/透過する液晶シャッタ42を有し、この液晶シャ
ッタ42には、液晶シャッタ42の閉じ時間を表示する
シャッタ閉時間表示部43aと液晶シャッタ42の閉じ
時間を調整する操作つまみ43bを有する液晶シャッタ
制御装置43が接続されている。
【0047】このような構成においても、第1の実施の
形態で述べたと同様にして像ぶれ低減装置41におい
て、液晶シャッタ42の閉じ時間を制御し、光路xの光
束を遮断/透過することにより、像ぶれの低減を実現す
ることができる。
【0048】従って、このようにしても、第1および2
の実施の形態で述べたと同様な効果を期待でき、加え
て、像ぶれ低減装置41に液晶シャッタ42を用いるこ
とにより、装置自身で発生する振動を大幅に低減でき、
像ぶれ低減効果をさらに向上させることができる。
【0049】なお、上述した実施の形態では、光束の遮
断/透過を行う構成を回転するディスクや液晶シャッタ
の例で説明したが、これらに限定されるものでなく、例
えば、機械的シャッタを用いても、その作用効果は変わ
らない。
【0050】その他、本発明は、上記実施の形態に限定
されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しな
い範囲で種々変形することが可能である。
【0051】さらに、上記実施の形態には、種々の段階
の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件
における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から
幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようと
する課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄
で述べられている効果が得られる場合には、この構成要
件が削除された構成が発明として抽出できる。
【0052】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、試料
の振動に同期した像ぶれのない観察を簡単な構成で、安
価に実現できる顕微鏡装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図2】第1の実施の形態に適用される像ぶれ低減装置
のディスクの概略構成を示す図。
【図3】第1の実施の形態の動作を説明するための図。
【図4】本発明の第2の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図5】本発明の第3の実施の形態の概略構成を示す
図。
【図6】本発明の第4の実施の形態の概略構成を示す
図。
【符号の説明】
1…顕微鏡本体 1a…ベース部 1b…胴部 1c…対物アーム 2…ステージ 3…試料 4…対物レンズ 5…像ぶれ低減装置 6…結像レンズ 7…三眼鏡筒 8…接眼レンズ 9…中間鏡筒 10…CCDカメラ 11…モニタ 12…ディスク 12a…開口部 13…モータ 15…回転制御装置 15a…回転数表示部 15b…操作つまみ 16…透過照明用光源 16a…ランプ 17…コレクタレンズ 18…ミラー 19…コンデンサレンズ 21…投光管 22…落射照明用光源 22a…ランプ 23…コレクタレンズ 24…ハーフミラー 25…像ぶれ低減装置 26…ディスク 26a…開口部 27…モータ 28…回転制御装置 28a…回転数表示部 28b…操作つまみ 31…像ぶれ低減装置 32…ディスク 32a…開口部 33…モータ 34…回転制御装置 34a…回転数表示部 34b…操作つまみ 41…像ぶれ低減装置 42…液晶シャッタ 43…液晶シャッタ制御装置 43a…シャッタ閉時間表示部 43b…操作つまみ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 顕微鏡と、 前記顕微鏡の観察光学系または照明光学系の少なくとも
    一方の光学系に設けられ、前記光学系の光束を周期的に
    遮断/透過可能な光束遮断/透過手段と、前記遮断/透
    過手段の透過と遮断の周期を任意に設定可能な周期制御
    手段とを有する像ぶれ低減手段とを具備したことを特徴
    とする顕微鏡装置。
  2. 【請求項2】 顕微鏡と、 前記顕微鏡の観察光学系または照明光学系の少なくとも
    一方の光学系を横切る開口部を有するディスクと、前記
    ディスクを回転駆動させる回転駆動手段と、前記ディス
    クを任意の回転数に制御する回転制御手段とを有する像
    ぶれ低減手段とを具備したことを特徴とする顕微鏡装
    置。
  3. 【請求項3】 前記ディスクを前記光学系の平行光の部
    分に配置したことを特徴とする請求項2記載の顕微鏡装
    置。
  4. 【請求項4】 前記ディスクと前記回転駆動手段を前記
    顕微鏡と別体に構成したことを特徴とする請求項2また
    は3記載の顕微鏡装置。
JP2001275549A 2001-09-11 2001-09-11 顕微鏡装置 Withdrawn JP2003084208A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001275549A JP2003084208A (ja) 2001-09-11 2001-09-11 顕微鏡装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001275549A JP2003084208A (ja) 2001-09-11 2001-09-11 顕微鏡装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003084208A true JP2003084208A (ja) 2003-03-19

Family

ID=19100394

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001275549A Withdrawn JP2003084208A (ja) 2001-09-11 2001-09-11 顕微鏡装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003084208A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7413421B2 (en) * 2003-09-10 2008-08-19 Sanden Corporation Multi-cylinder reciprocating compressor
DE102008051913A1 (de) 2007-10-18 2009-04-23 Keyence Corp. Hochgeschwindigkeits-Fotovorrichtung, Verfahren zum Steuern einer Hochgeschwindigkeits-Fotovorrichtung und Computerprogramm
CN101706444B (zh) * 2009-11-13 2011-07-13 哈尔滨工业大学 光学晶体元件激光损伤阈值检测装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7413421B2 (en) * 2003-09-10 2008-08-19 Sanden Corporation Multi-cylinder reciprocating compressor
DE102008051913A1 (de) 2007-10-18 2009-04-23 Keyence Corp. Hochgeschwindigkeits-Fotovorrichtung, Verfahren zum Steuern einer Hochgeschwindigkeits-Fotovorrichtung und Computerprogramm
US8098317B2 (en) 2007-10-18 2012-01-17 Keyence Corporation High speed photographic device, method for controlling high speed photographic device, and computer program
CN101706444B (zh) * 2009-11-13 2011-07-13 哈尔滨工业大学 光学晶体元件激光损伤阈值检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6778323B2 (en) Confocal microscope
JP5764455B2 (ja) 顕微鏡照明システム、顕微鏡および傾斜入射照明方法
JP5621259B2 (ja) 顕微鏡装置
US5943118A (en) Arrangement and method for illumination in a stereoscopic ophthalmic microscope
JPH09304685A (ja) オートフォーカス装置
US5930033A (en) Slit scan centrifuge microscope
JPH0830648B2 (ja) 光学像コントラストを発生させる装置
US5886813A (en) Autofocus control apparatus and method applied to microscope
JP2021535428A (ja) 仮想対物レンズを有する顕微鏡装置
JP4186263B2 (ja) 顕微鏡
WO2001071406A1 (fr) Microscope
JPH1195091A (ja) 自動焦点顕微鏡
CN106772983A (zh) 一种自动对焦的显微镜
JP2003043363A (ja) 共焦点顕微鏡
JP2003084208A (ja) 顕微鏡装置
JP2000275534A (ja) 共焦点顕微鏡
JP2000162134A (ja) 表面検査装置
JPH0821956A (ja) 走査型光学顕微鏡
JP3515162B2 (ja) 観察装置
JP2008046362A (ja) 光学装置
JP2001051208A (ja) 顕微鏡を用いて被検査物の3次元イメージを求める観察装置
JP4662194B2 (ja) 検査装置
JPH10123425A (ja) ズーム機能付き蛍光顕微鏡
JP2005024596A (ja) 共焦点走査顕微鏡
JPH09230250A (ja) 光学顕微鏡自動合焦点装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20081202