JPS6171946A - 数値制御工作機械における加工制御方法 - Google Patents
数値制御工作機械における加工制御方法Info
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- JPS6171946A JPS6171946A JP18942884A JP18942884A JPS6171946A JP S6171946 A JPS6171946 A JP S6171946A JP 18942884 A JP18942884 A JP 18942884A JP 18942884 A JP18942884 A JP 18942884A JP S6171946 A JPS6171946 A JP S6171946A
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/182—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by the machine tool function, e.g. thread cutting, cam making, tool direction control
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/50—Machine tool, machine tool null till machine tool work handling
- G05B2219/50063—Probe, measure, verify workpiece, feedback measured values
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）、産業上の利用分野
本発明は、旋盤やマシニングセンタ等の数値制御工作機
械において、ワークの加工寸法を所定の公差内に収める
ために用いられる加工制御方法に関する。
械において、ワークの加工寸法を所定の公差内に収める
ために用いられる加工制御方法に関する。
（ｂ）、従来の技術
第４図は数値制御工作機械において、寸法公差を有する
加工に際して設定される、補正領域と非補正領域を示す
図、第５図及び第６図は従来の加工制御方法で加工を行
った場合の、加工の進行状況と不良の発生状態を示す図
である。
加工に際して設定される、補正領域と非補正領域を示す
図、第５図及び第６図は従来の加工制御方法で加工を行
った場合の、加工の進行状況と不良の発生状態を示す図
である。
通常、数値制御工作機械にいて、寸法公差を有する加工
を行う場合、数値制御工作機械側では加ニブログラム指
示された寸法公差に対して、第４図に示すように、加工
目標値Ｍ１を中心として上下に所定の寸法範囲Ａ１、Ａ
２で非補正領域ＵＭを設定すると共に（一般に非補正領
域ＵＭは、タッチセンサ等の寸法計測手段による測定誤
差により、むやみに、刃先位置を変動させないための緩
衝領域として設ける。）、非補正領域ＵＭと寸法公差の
上限Ｂ１と下限Ｂ２間に補正領域を上部補正領域ＡＭＩ
と下部補正領域ＡＭ２に分割した形で設定し、所定数の
ワークの加工が終了する度毎に、り・ソチセンサ等のワ
ーク寸法測定手段によりワークの加工寸法を測定し、そ
の結果ワークの加工寸法が、非補正領域ＵＭ内に納まっ
ている場合には良好な状態で加工が行われているものと
判断して何らの補正動作も行わず、また測定結果が上部
補正領域ＡＭＩと下部補正領域ＡＭ２に入っている場合
には、工具の刃先の摩耗等により、加工寸法がいずれ所
定の寸法公差の上限Ｂ１又は下限Ｂ２を逸脱するであろ
うものと判断し、次のワークを加工ずろ時点から、加工
寸法の補正動作を行って、加工寸法が寸法公差の上限Ｂ
１又は下限Ｂ２を逸脱しないように制御している。
を行う場合、数値制御工作機械側では加ニブログラム指
示された寸法公差に対して、第４図に示すように、加工
目標値Ｍ１を中心として上下に所定の寸法範囲Ａ１、Ａ
２で非補正領域ＵＭを設定すると共に（一般に非補正領
域ＵＭは、タッチセンサ等の寸法計測手段による測定誤
差により、むやみに、刃先位置を変動させないための緩
衝領域として設ける。）、非補正領域ＵＭと寸法公差の
上限Ｂ１と下限Ｂ２間に補正領域を上部補正領域ＡＭＩ
と下部補正領域ＡＭ２に分割した形で設定し、所定数の
ワークの加工が終了する度毎に、り・ソチセンサ等のワ
ーク寸法測定手段によりワークの加工寸法を測定し、そ
の結果ワークの加工寸法が、非補正領域ＵＭ内に納まっ
ている場合には良好な状態で加工が行われているものと
判断して何らの補正動作も行わず、また測定結果が上部
補正領域ＡＭＩと下部補正領域ＡＭ２に入っている場合
には、工具の刃先の摩耗等により、加工寸法がいずれ所
定の寸法公差の上限Ｂ１又は下限Ｂ２を逸脱するであろ
うものと判断し、次のワークを加工ずろ時点から、加工
寸法の補正動作を行って、加工寸法が寸法公差の上限Ｂ
１又は下限Ｂ２を逸脱しないように制御している。
しかし、従来、寸法補正量を決定する上で基準となる補
正目標値と１７で、加工目標値Ｍ１が採用されており、
その値は、加ニブログラムの指示に基づく固定的な値と
して数値制御工作機械内で設定されていた。
正目標値と１７で、加工目標値Ｍ１が採用されており、
その値は、加ニブログラムの指示に基づく固定的な値と
して数値制御工作機械内で設定されていた。
（Ｃ）０発明が解決しようとする問題点このように、補
正目標値を固定的な値とじて設定すると、第５図及び第
６図に示すように、加工に際１ノでの加工寸法の変動、
即ち寸法変動Ｖ Ｌが一定の値を越えると、直ちに不良
が発生する可能性が高く ［第５図（第６図）の場合、
１０個目のワークにおいて、９個目のワークに対して加
工寸法が＋０．０６ｍｍ （−０，０６胴）変動し、そ
の結果加工寸法は、寸法公差に基づく最大（小）許容寸
法であるφ１００．１０抽ｎ（φ９９．９０ｍｍ）を越
えて、不良品（第２図、第３図、第５図及び第６図にお
いて「良否」の欄の「○」は良品を示し、「×」は不良
品を示す。）となる。］、そうした寸法変動をある程度
許容しうる加工制御方法の開発が望まれていた。
正目標値を固定的な値とじて設定すると、第５図及び第
６図に示すように、加工に際１ノでの加工寸法の変動、
即ち寸法変動Ｖ Ｌが一定の値を越えると、直ちに不良
が発生する可能性が高く ［第５図（第６図）の場合、
１０個目のワークにおいて、９個目のワークに対して加
工寸法が＋０．０６ｍｍ （−０，０６胴）変動し、そ
の結果加工寸法は、寸法公差に基づく最大（小）許容寸
法であるφ１００．１０抽ｎ（φ９９．９０ｍｍ）を越
えて、不良品（第２図、第３図、第５図及び第６図にお
いて「良否」の欄の「○」は良品を示し、「×」は不良
品を示す。）となる。］、そうした寸法変動をある程度
許容しうる加工制御方法の開発が望まれていた。
本発明は、前述の欠点を解消すべく、ワークの加工に伴
って発生する加工寸法の変動に対応して、加工寸法が公
差を逸脱しないように適宜調整することが出来る数値制
御工作機械における加工制御方法を提供することを目的
とするものである。
って発生する加工寸法の変動に対応して、加工寸法が公
差を逸脱しないように適宜調整することが出来る数値制
御工作機械における加工制御方法を提供することを目的
とするものである。
（ｄ）０問題点を解決するための手段
即ち、本発明は、補正目標値を、加工の進行に伴って変
化させるようにして構成される。
化させるようにして構成される。
（ｅ）０作用
上記した構成により、本発明は、加工の進行に伴う加工
寸法の変動に応じて補正目標値が変化し、加工寸法を公
差の範囲内に押さえるように作用する。
寸法の変動に応じて補正目標値が変化し、加工寸法を公
差の範囲内に押さえるように作用する。
（ｆ）、実施例
以下、本発明の実施例を図面に基づき説明する。
第１図は本発明による加工制御方法が適用されナコ数値
制御工作機械の一実施例を示す制御ブロック図、第２図
及び第３図は本発明による加工制御方法を用いて加工を
行った場合の、加工の進行状況と不良の発生状態を示す
図である。
制御工作機械の一実施例を示す制御ブロック図、第２図
及び第３図は本発明による加工制御方法を用いて加工を
行った場合の、加工の進行状況と不良の発生状態を示す
図である。
数値制御工作機械１は、第１図に示すように、主制御部
２を有しており、主制御部２にはバス線３を介して加ニ
ブログラムメモリ５、公差メモリ６、領域演算部７、補
正パラメータメモリ９、ワーク寸法測定制御部１０、補
正目標値メモリ１１、機構制御部１２、キーボード１３
、補正演算部１７等が接続している。ワーク寸法測定制
御部１０には、タッチセンサ１５が移動駆動自在に接続
しており、機構制御部１２には刃物台、テーブル等の機
構部１６が機構制御部１２により駆動制御自在に設けら
れている。
２を有しており、主制御部２にはバス線３を介して加ニ
ブログラムメモリ５、公差メモリ６、領域演算部７、補
正パラメータメモリ９、ワーク寸法測定制御部１０、補
正目標値メモリ１１、機構制御部１２、キーボード１３
、補正演算部１７等が接続している。ワーク寸法測定制
御部１０には、タッチセンサ１５が移動駆動自在に接続
しており、機構制御部１２には刃物台、テーブル等の機
構部１６が機構制御部１２により駆動制御自在に設けら
れている。
数値制御工作機械１は以上のような構成を有するので、
加工に際しては、主制御部２は加ニブログラムメモリ５
に格納された加ニブログラムＰＲＯを読み出し、それに
基づいて機構制御部１２を介して機構部１６を駆動制御
して、加ニブログラムＰＲＯに指示された所定の加工を
行ってゆく。
加工に際しては、主制御部２は加ニブログラムメモリ５
に格納された加ニブログラムＰＲＯを読み出し、それに
基づいて機構制御部１２を介して機構部１６を駆動制御
して、加ニブログラムＰＲＯに指示された所定の加工を
行ってゆく。
この際、主制御部２は加ニブログラムＰＲＯに示された
加工情報から、第４図に示す、加工目標値Ｍ１、寸法公
差の上限Ｂ１、下限Ｂ２を読み出して公差メモリ６に格
納し、更に補正パラメータメモリ９にパラメータとして
格納された、加ニブログラムＰＲＯに指示された寸法公
差に対応する非補正領域ＵＭの寸法範囲Ａ１、Ａ２を読
み出す。
加工情報から、第４図に示す、加工目標値Ｍ１、寸法公
差の上限Ｂ１、下限Ｂ２を読み出して公差メモリ６に格
納し、更に補正パラメータメモリ９にパラメータとして
格納された、加ニブログラムＰＲＯに指示された寸法公
差に対応する非補正領域ＵＭの寸法範囲Ａ１、Ａ２を読
み出す。
次に、主制御部２は、領域演算部７を駆動して、上限Ｂ
１及び下限Ｂ２と非補正領域ＵＭの寸法範囲ＡＩ、Ａ２
の値から、上部補正領域ＡＭＩと下部補正領域ＡＭ２の
値を演算させ、その結果を補正パラ、メータメモリ９に
格納する。
１及び下限Ｂ２と非補正領域ＵＭの寸法範囲ＡＩ、Ａ２
の値から、上部補正領域ＡＭＩと下部補正領域ＡＭ２の
値を演算させ、その結果を補正パラ、メータメモリ９に
格納する。
こうして、寸法公差に対する、非補正領域ｔＪＭ及び各
補正領域ＡＭＩ、ＡＭ２が設定されたところで、加］−
プログラムＰＲＯに基づく実際の加工に入るが、仮に、
ワークの加工が、第２図に示すように、１個目のワーク
から１０個目のワークまで行わ第１、その際に、各ワー
クについて工具の刃先の摩耗やワーク材質の関係から、
図示するような寸ン去変動Ｖｌ−が認められたとする。
補正領域ＡＭＩ、ＡＭ２が設定されたところで、加］−
プログラムＰＲＯに基づく実際の加工に入るが、仮に、
ワークの加工が、第２図に示すように、１個目のワーク
から１０個目のワークまで行わ第１、その際に、各ワー
クについて工具の刃先の摩耗やワーク材質の関係から、
図示するような寸ン去変動Ｖｌ−が認められたとする。
ここで、加ニブログラムＰＲＯの指示した加工目標値Ｍ
１及び寸法公差はφ１００±０．１０ｍｍであり、補正
パラメータメモリ９に格納された非補正領域Ｕ ＭのＮ
広範囲Ａ１、Ａ２は、−０，０５＋＋＋ｍＪＪ、上、−
Ｉ−０，０５ｍｍｊＪ下とする。すると、領域演算部７
により演算されて補正パラメータメモリ９に格納される
上部補正領域Ａ Ｍ １は、＋０．０５を越え、＋０．
１０ｍｍＪＪ下で、下部補正領域ＡＭ２は、−０，１昨
線上、−〇、０５ｍｍ未満となる。
１及び寸法公差はφ１００±０．１０ｍｍであり、補正
パラメータメモリ９に格納された非補正領域Ｕ ＭのＮ
広範囲Ａ１、Ａ２は、−０，０５＋＋＋ｍＪＪ、上、−
Ｉ−０，０５ｍｍｊＪ下とする。すると、領域演算部７
により演算されて補正パラメータメモリ９に格納される
上部補正領域Ａ Ｍ １は、＋０．０５を越え、＋０．
１０ｍｍＪＪ下で、下部補正領域ＡＭ２は、−０，１昨
線上、−〇、０５ｍｍ未満となる。
この状態で、１個目のワークの加工を加ニブログラムＰ
ＲＯに基づいて行い、当該加工が終了したところで、主
制御部２はワーク寸法測定制御部１０を駆動してタッチ
センサ１５によるワークの寸法計測を行い、その計測結
果を補正パラメータメモリ９内に格納されｔこ補正領域
の値と比較して、ワークの寸法が補正すべき値になって
いるか否かを判定する。その計測結果を、第２図の「加
工寸法」の欄に示すが、１個目のワークはφ１００゜０
０ｍｍで、その寸法は加工目標値Ｍ１と一致しており、
良好な加工が行われているものと判断されるので、主制
御部２は何らの補正動作も行わない。
ＲＯに基づいて行い、当該加工が終了したところで、主
制御部２はワーク寸法測定制御部１０を駆動してタッチ
センサ１５によるワークの寸法計測を行い、その計測結
果を補正パラメータメモリ９内に格納されｔこ補正領域
の値と比較して、ワークの寸法が補正すべき値になって
いるか否かを判定する。その計測結果を、第２図の「加
工寸法」の欄に示すが、１個目のワークはφ１００゜０
０ｍｍで、その寸法は加工目標値Ｍ１と一致しており、
良好な加工が行われているものと判断されるので、主制
御部２は何らの補正動作も行わない。
こうして、２個目のワークの加工に入り、同様にその加
工後にタッチセンサ１５による加工寸法計測を行うが、
２個目のワークもφ１００．０２ｍ＋ｎで、その値は非
補正領域ＵＭに納まっているので、補正動作は行わない
が、４個目のワークになると、φ１００．０８ｍｍとな
り、その値は上部補正領域ＡＭＩに入る。そこで、主制
御部２は補正演算部１７を駆動して、寸法補正量Ｋｌｅ
演算させる。この補正量にば、演算時点の補正目標値Ａ
Ｖ（この場合、加工目標値Ｍ １． ）と、最新のワー
クの加工寸法（この場合、φ１． Ｏ０，０８ｍｍ）の
差から求められる。演算部１７が寸法補正量Ｋを演算し
て求めると、主制御部２は、この求められた補正量Ｋに
基いて、加工に際しての工具刃先を−０，０８ｍｍだけ
ずらして、次のワークの加工寸法が補正目標値ＡＶとし
てのφ１００，００ｍｍとなるように、補正動作を加ニ
ブログラムＰＲＯに対して行い、機構制御部１２に指令
する。これと同時に、主制御部２は、補正演算部１７を
駆動して、補正目標値ＡＶの変更を指令する。
工後にタッチセンサ１５による加工寸法計測を行うが、
２個目のワークもφ１００．０２ｍ＋ｎで、その値は非
補正領域ＵＭに納まっているので、補正動作は行わない
が、４個目のワークになると、φ１００．０８ｍｍとな
り、その値は上部補正領域ＡＭＩに入る。そこで、主制
御部２は補正演算部１７を駆動して、寸法補正量Ｋｌｅ
演算させる。この補正量にば、演算時点の補正目標値Ａ
Ｖ（この場合、加工目標値Ｍ １． ）と、最新のワー
クの加工寸法（この場合、φ１． Ｏ０，０８ｍｍ）の
差から求められる。演算部１７が寸法補正量Ｋを演算し
て求めると、主制御部２は、この求められた補正量Ｋに
基いて、加工に際しての工具刃先を−０，０８ｍｍだけ
ずらして、次のワークの加工寸法が補正目標値ＡＶとし
てのφ１００，００ｍｍとなるように、補正動作を加ニ
ブログラムＰＲＯに対して行い、機構制御部１２に指令
する。これと同時に、主制御部２は、補正演算部１７を
駆動して、補正目標値ＡＶの変更を指令する。
これを受けて補正演算部１７は、補正シフト基Ｘを補正
パラメータメモリ９から読み出して、補正目標値ＡＶを
加工目標値Ｍ１と等しい、それまてのφ１．００．００
ｍｍから、加工寸法が入り込ノしだ上部補正領域ＡＭＩ
とは反対側の下部補正領域ＡＭ２側に補正シフトＪＩ
Ｘ ＝ ０．０１ｍｍだけずらし、その値をφ９９．９
９ｍｍに更新し、同時に補正目標値メモリ１１に格納さ
れた補正目標値ＡＶもそれまでのφ１００．００からφ
９９．９９−こ更新する。この状態で、更に５個目と６
個目のワークの加工及びタッチセンサ１５による計測を
行うが、補正目標値ＡＶは下部補正領域ＡＭＺ側にシフ
トされているので、５個目以降のワークについては、補
正動作に際して決定される寸法補正量Ｋが新たに下部補
正領域ＡＭＺ側にシフトした形で設定された補正目標値
ＡＶに基づいて決定されるので、突発的に、大きな寸法
変動が上部補正領域ＡＭＩ側に生じても、加工寸法を公
差内に収めるための体制が整うことになる。第２図の場
合、６個目のワークで加工寸法が上部補正領域ＡＭＩに
入るので、補正動作が主制御部２により行われる。この
際の、補正量には、既に述べたように、補正目標値ＡＶ
を基準として補正演算部１７により演算決定される。更
に、この際、再度、補正目標値ＡＶが、下部補正領域Ａ
ＭＺ側に、補正シフト量Ｘに相当する量だけシフトされ
る形で更新され、補正目標値メモリ１１中に格納される
。この更新された値は、演算部１７から補正目標値メモ
リ１１に格納される時点で、補正パラメータメモリ９中
で予め設定された限界補正目標値ＬＴＴ （この場合、
ＬＴＴ＝φ９９，９８）と比較され、演算部１７が演算
した新ｔコな補正目標値ＡＶの値が限界補正目標値ＬＩ
Ｔより、加工目標値Ｍ１に対１７て外側、即ち各補正領
域ＡＭＩ、ＡＭＺ側ヘシフトする場合には、それ以上の
補正目標値ＡＶのシフト動作は行わずに、限界補正目標
値ＬＩＴを最終的な補正目標値ＡＶとして採用し、補正
目標値メモリ１１内に格納する。
パラメータメモリ９から読み出して、補正目標値ＡＶを
加工目標値Ｍ１と等しい、それまてのφ１．００．００
ｍｍから、加工寸法が入り込ノしだ上部補正領域ＡＭＩ
とは反対側の下部補正領域ＡＭ２側に補正シフトＪＩ
Ｘ ＝ ０．０１ｍｍだけずらし、その値をφ９９．９
９ｍｍに更新し、同時に補正目標値メモリ１１に格納さ
れた補正目標値ＡＶもそれまでのφ１００．００からφ
９９．９９−こ更新する。この状態で、更に５個目と６
個目のワークの加工及びタッチセンサ１５による計測を
行うが、補正目標値ＡＶは下部補正領域ＡＭＺ側にシフ
トされているので、５個目以降のワークについては、補
正動作に際して決定される寸法補正量Ｋが新たに下部補
正領域ＡＭＺ側にシフトした形で設定された補正目標値
ＡＶに基づいて決定されるので、突発的に、大きな寸法
変動が上部補正領域ＡＭＩ側に生じても、加工寸法を公
差内に収めるための体制が整うことになる。第２図の場
合、６個目のワークで加工寸法が上部補正領域ＡＭＩに
入るので、補正動作が主制御部２により行われる。この
際の、補正量には、既に述べたように、補正目標値ＡＶ
を基準として補正演算部１７により演算決定される。更
に、この際、再度、補正目標値ＡＶが、下部補正領域Ａ
ＭＺ側に、補正シフト量Ｘに相当する量だけシフトされ
る形で更新され、補正目標値メモリ１１中に格納される
。この更新された値は、演算部１７から補正目標値メモ
リ１１に格納される時点で、補正パラメータメモリ９中
で予め設定された限界補正目標値ＬＴＴ （この場合、
ＬＴＴ＝φ９９，９８）と比較され、演算部１７が演算
した新ｔコな補正目標値ＡＶの値が限界補正目標値ＬＩ
Ｔより、加工目標値Ｍ１に対１７て外側、即ち各補正領
域ＡＭＩ、ＡＭＺ側ヘシフトする場合には、それ以上の
補正目標値ＡＶのシフト動作は行わずに、限界補正目標
値ＬＩＴを最終的な補正目標値ＡＶとして採用し、補正
目標値メモリ１１内に格納する。
こうして、８個目及び１０個目のワークでは、補正目標
値ＡＶのシフト動作は、該補正目標値ＡＶが限界補正目
標値Ｌ Ｉ Ｔに達していることから行われることは無
いが、各ワークに加工の進行に伴って発生する寸法変動
ＶＬば、第５図に示す、固定的な補正目標値ＡＶの場合
と同一であるにも係わらず、１個の不良品も発生するこ
とは無い。
値ＡＶのシフト動作は、該補正目標値ＡＶが限界補正目
標値Ｌ Ｉ Ｔに達していることから行われることは無
いが、各ワークに加工の進行に伴って発生する寸法変動
ＶＬば、第５図に示す、固定的な補正目標値ＡＶの場合
と同一であるにも係わらず、１個の不良品も発生するこ
とは無い。
なお、上述の実施例は、加工に伴って発生する寸法変動
Ｖ Ｌが、第２図に示すように、加工目標値Ｍ１に対し
てプラス側（マイナス側でも同じ。
Ｖ Ｌが、第２図に示すように、加工目標値Ｍ１に対し
てプラス側（マイナス側でも同じ。
熱変位等の影響でマイナス側となることも有る。）の片
方にのみ生じた場合について述べたが、通常の加工では
、ワークの寸法変動ＶＬはどちらか一方の側に片寄るの
が殆どであるので問題は無い。
方にのみ生じた場合について述べたが、通常の加工では
、ワークの寸法変動ＶＬはどちらか一方の側に片寄るの
が殆どであるので問題は無い。
しかし、難切削材等で、寸法変動ＶＬが加工目標値Ｍ１
に対してプラス側又はマイナス側の両方に変動する場合
も考えられるので、次にそうした場合について説明する
。
に対してプラス側又はマイナス側の両方に変動する場合
も考えられるので、次にそうした場合について説明する
。
第３図は、図からも明らかなように、寸法変動Ｖ Ｌが
プラス側又はマイナス側の両方に発生しているが、この
場合でも本発明による、補正目標値ＡＶのシフト動作が
有効であることが、第６図に示すように、同一の寸法変
動ＶＬ条件で、従来の固定的な補正目標値ＡＶを用いｔ
コ加工に、不良品が出ることを考慮すると明らかである
。なお、補正目標値ＡＶのシフト動作は、第３図からも
明らかなように、ワークの加工寸法が入り込んだ補正領
域ＡＭ１またはＡＭ２に対して、当該寸法が入り込んだ
時点で、その反対側にシフトする形で行なわれる。
プラス側又はマイナス側の両方に発生しているが、この
場合でも本発明による、補正目標値ＡＶのシフト動作が
有効であることが、第６図に示すように、同一の寸法変
動ＶＬ条件で、従来の固定的な補正目標値ＡＶを用いｔ
コ加工に、不良品が出ることを考慮すると明らかである
。なお、補正目標値ＡＶのシフト動作は、第３図からも
明らかなように、ワークの加工寸法が入り込んだ補正領
域ＡＭ１またはＡＭ２に対して、当該寸法が入り込んだ
時点で、その反対側にシフトする形で行なわれる。
また、ワークのタッチセンサ１５等の寸法測定手段によ
る加工寸法の測定動作は、本実施例のように、ワークの
加工１個毎に行う必要は無く、工具摩耗等の発生程度に
応じて、１０個毎、１００個毎等適宜に決定することが
出来る。また、寸法測定手段としては、タッチセンサ１
５の他に、レーザ測長器等、非接触形の測定手段等を用
いることも当然可能である。
る加工寸法の測定動作は、本実施例のように、ワークの
加工１個毎に行う必要は無く、工具摩耗等の発生程度に
応じて、１０個毎、１００個毎等適宜に決定することが
出来る。また、寸法測定手段としては、タッチセンサ１
５の他に、レーザ測長器等、非接触形の測定手段等を用
いることも当然可能である。
更に、補正パラメータメモリ９内に格納される各種パラ
メータは、加ニブログラムＰＲＯ等で指定することも、
またキーボード１３を介してオペレータが任意に設定す
ることも当然可能である。
メータは、加ニブログラムＰＲＯ等で指定することも、
またキーボード１３を介してオペレータが任意に設定す
ることも当然可能である。
（ｇ）０発明の効果
以−ヒ、説明したように、本発明によれば、寸法補正量
Ｋを決定する基準となる補正目標値ＡＶを、加工の進行
に伴って変化させるように構成したので、ワークの加工
に伴って発生する加工寸法の変動に対応１ノで、寸法補
正量Ｋが、後の加工において加工寸法が公差を逸脱しな
い方向に適宜調整され、従って不良品の発生頻度の低い
、信頼性の高い加工方法の提供が可能となる。
Ｋを決定する基準となる補正目標値ＡＶを、加工の進行
に伴って変化させるように構成したので、ワークの加工
に伴って発生する加工寸法の変動に対応１ノで、寸法補
正量Ｋが、後の加工において加工寸法が公差を逸脱しな
い方向に適宜調整され、従って不良品の発生頻度の低い
、信頼性の高い加工方法の提供が可能となる。
第１図は本発明による加工制御方法が適用された数値制
御工作機械の一実施例を示す制御ブロック図、第２図及
び第３図は本発明による加工制御方法を用いて加工を行
った場合の、加工の進行状況と不良の発生状態を示す図
、第４図は数値制御工作機械において、寸法公差を有す
る加工に際して設定される、補正領域と非補正領域を示
す図、第５図及び第６図は従来の加工制御方法で加工を
行った場合の、加工の進行状況と不良の発生状態を示す
図である。 １・・・・・・数値制御工作機械 Ｋ・・・・・・寸法補正量 Ｂ１・・・・・・上限 Ｂ２・・・・・・下限 Ｍｌ・・・・・・加工目標値 ＡＶ・・・・・・補正目標値 ＵＭ・・・・・・非補正領域
御工作機械の一実施例を示す制御ブロック図、第２図及
び第３図は本発明による加工制御方法を用いて加工を行
った場合の、加工の進行状況と不良の発生状態を示す図
、第４図は数値制御工作機械において、寸法公差を有す
る加工に際して設定される、補正領域と非補正領域を示
す図、第５図及び第６図は従来の加工制御方法で加工を
行った場合の、加工の進行状況と不良の発生状態を示す
図である。 １・・・・・・数値制御工作機械 Ｋ・・・・・・寸法補正量 Ｂ１・・・・・・上限 Ｂ２・・・・・・下限 Ｍｌ・・・・・・加工目標値 ＡＶ・・・・・・補正目標値 ＵＭ・・・・・・非補正領域
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 加工目標値を中心にして上下に加工寸法を 補正しない非補正領域を有し、更に前記非補正領域と寸
法公差の上限と下限間に加工寸法を補正する補正領域を
設け、ワークの加工寸法を測定して、該加工寸法が前記
補正領域内に入った場合には、前記加工寸法と補正目標
値との差から寸法補正量を求め、前記寸法補正量に基づ
いてワークの加工寸法を補正して、加工寸法が公差を逸
脱しないように制御する数値制御工作機械における加工
制御方法において、前記補正目標値を、加工の進行に伴
って変化させるようにしたことを特徴とする数値制御工
作機械における加工制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18942884A JPS6171946A (ja) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | 数値制御工作機械における加工制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18942884A JPS6171946A (ja) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | 数値制御工作機械における加工制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6171946A true JPS6171946A (ja) | 1986-04-12 |
Family
ID=16241079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18942884A Pending JPS6171946A (ja) | 1984-09-10 | 1984-09-10 | 数値制御工作機械における加工制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6171946A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2406812A (en) * | 2002-09-10 | 2005-04-13 | Alstom | Production system for the manufacture of products |
| CN111381557A (zh) * | 2018-12-29 | 2020-07-07 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 基于单机的加工设备误差补正方法及系统 |
| CN111381558A (zh) * | 2018-12-29 | 2020-07-07 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 加工设备误差补正方法及系统 |
| CN111381559A (zh) * | 2018-12-29 | 2020-07-07 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 基于服务器的加工设备误差补正方法及系统 |
| JP2020108918A (ja) * | 2018-12-29 | 2020-07-16 | 鴻富錦精密電子（成都）有限公司 | 加工装置誤差補正方法及びそのシステム |
-
1984
- 1984-09-10 JP JP18942884A patent/JPS6171946A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2406812A (en) * | 2002-09-10 | 2005-04-13 | Alstom | Production system for the manufacture of products |
| US6975918B2 (en) | 2002-09-10 | 2005-12-13 | Alstom Technology Ltd | Processing device, measuring device, and correcting device for the manufacture of products |
| GB2406812B (en) * | 2002-09-10 | 2008-06-18 | Alstom | Production system for the manufacture of products |
| CN111381557A (zh) * | 2018-12-29 | 2020-07-07 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 基于单机的加工设备误差补正方法及系统 |
| CN111381558A (zh) * | 2018-12-29 | 2020-07-07 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 加工设备误差补正方法及系统 |
| CN111381559A (zh) * | 2018-12-29 | 2020-07-07 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 基于服务器的加工设备误差补正方法及系统 |
| JP2020108918A (ja) * | 2018-12-29 | 2020-07-16 | 鴻富錦精密電子（成都）有限公司 | 加工装置誤差補正方法及びそのシステム |
| JP2020109657A (ja) * | 2018-12-29 | 2020-07-16 | 鴻富錦精密電子（成都）有限公司 | 加工装置誤差補正方法及びそのシステム |
| US11556107B2 (en) | 2018-12-29 | 2023-01-17 | Hongfujin Precision Electronics (Chengdu) Co., Ltd. | Machining apparatus error correction system and method using safe, correction and alarm intervals |
| CN111381558B (zh) * | 2018-12-29 | 2023-08-15 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 加工设备误差补正方法及系统 |
| CN111381559B (zh) * | 2018-12-29 | 2023-08-15 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 基于服务器的加工设备误差补正方法及系统 |
| CN111381557B (zh) * | 2018-12-29 | 2023-09-19 | 鸿富锦精密电子（成都）有限公司 | 基于单机的加工设备误差补正方法及系统 |
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