JPS6170666A - 図形シエ−デイング装置 - Google Patents
図形シエ−デイング装置Info
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- JPS6170666A JPS6170666A JP59191490A JP19149084A JPS6170666A JP S6170666 A JPS6170666 A JP S6170666A JP 59191490 A JP59191490 A JP 59191490A JP 19149084 A JP19149084 A JP 19149084A JP S6170666 A JPS6170666 A JP S6170666A
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- 239000013598 vector Substances 0.000 claims abstract description 39
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 13
- 239000000872 buffer Substances 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 4
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T15/00—3D [Three Dimensional] image rendering
- G06T15/50—Lighting effects
- G06T15/506—Illumination models
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Image Generation (AREA)
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- Digital Computer Display Output (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は図形処理装置に関し、特に、三次元図形の処理
における表示物体のシェーディング(陰付け)に関する
。
における表示物体のシェーディング(陰付け)に関する
。
図形処理装置において、三次元図形をCRT等の表示装
置に表示する場合に、表示された物体にシェーディング
を行なうことは、周知であり、例えば次のような文献が
ある。
置に表示する場合に、表示された物体にシェーディング
を行なうことは、周知であり、例えば次のような文献が
ある。
Bui −’l”uong Phong、 ” Ill
umination forComputer −Qe
nerated pictures −Communi
cations of ACM 、 18 (6) 、
June1975、l)p、311〜317゜ J 、 D 、 Foly、 A 、 Van [)a
m、 ” pundamentalsof Inte
ractive Computer Qraphics
’ 。
umination forComputer −Qe
nerated pictures −Communi
cations of ACM 、 18 (6) 、
June1975、l)p、311〜317゜ J 、 D 、 Foly、 A 、 Van [)a
m、 ” pundamentalsof Inte
ractive Computer Qraphics
’ 。
Addison Wesely publ ish
ing Company 。
ing Company 。
James F、 B11nn、 ”Models
of LightReflection for
Computer 5ynthesizedpictu
res ”、5IGGRAPR’77 Proce
eding。
of LightReflection for
Computer 5ynthesizedpictu
res ”、5IGGRAPR’77 Proce
eding。
詳細は前記文献(特にJ、 D、 Foly 他の著
書)にゆするとして、反射モデルによるシェーディング
の原理を以下に概説する。第2図はBl innが紹介
した反射モデルであって、Nは反射面の単位法線ベクト
ル、Lは反射点Pから光源に向かう単位ベクトル、■は
反射点Pから視点に向かう単位ベクトルである。HはL
とVの和の向きの単位ベクトルであり、したがって、H
はLとVのなす角をちょうど部分している。このモデル
において、視点における光の強度■は次式で表わされる
。
書)にゆするとして、反射モデルによるシェーディング
の原理を以下に概説する。第2図はBl innが紹介
した反射モデルであって、Nは反射面の単位法線ベクト
ル、Lは反射点Pから光源に向かう単位ベクトル、■は
反射点Pから視点に向かう単位ベクトルである。HはL
とVの和の向きの単位ベクトルであり、したがって、H
はLとVのなす角をちょうど部分している。このモデル
において、視点における光の強度■は次式で表わされる
。
・・・・・・・・・(1)
ただし、
■、:周囲光の強度
に、:周囲光反射係数
■p :光源からの光の強度
Kd :拡散反射係数
に、:直接反射係数
n :物体の表面粗さに依存する量で、数十から数百の
間の値 なお、″・″記号は内積を表わす。
間の値 なお、″・″記号は内積を表わす。
他方、曲面で囲まれた三次元の表示物体は、まず、複数
のパッチ面と呼ばれる多角形の面からなる多面体で近似
され、この多面体の各頂点の単位法線ベクトルを求める
。第3図において、表示物体を近似する多面体1は、パ
ッチ面11−13で構成され、各パッチ面の単位法線ベ
クトルがそれぞれN t −N 3であるとすると、こ
れらパンチ面の頂点14の単位法線ベクトルNvは、N
l−N3の平均ベクトルを単位化することによって求め
られる。各頂点の単位法線ベクトルがこのようにして得
られた後、各パッチ面に対応する本来の曲面の各点にお
ける単位法線ベクトルは、そのパッチ面に接する各頂点
の単位法線ベクトルの補間によって算出される。そこで
(1)式により、表示物体表面の各点からの光の強度、
すなわち、表示画面の各ドツト(画素)の輝度を決定す
ることにより、シェーディングを行なうことができる。
のパッチ面と呼ばれる多角形の面からなる多面体で近似
され、この多面体の各頂点の単位法線ベクトルを求める
。第3図において、表示物体を近似する多面体1は、パ
ッチ面11−13で構成され、各パッチ面の単位法線ベ
クトルがそれぞれN t −N 3であるとすると、こ
れらパンチ面の頂点14の単位法線ベクトルNvは、N
l−N3の平均ベクトルを単位化することによって求め
られる。各頂点の単位法線ベクトルがこのようにして得
られた後、各パッチ面に対応する本来の曲面の各点にお
ける単位法線ベクトルは、そのパッチ面に接する各頂点
の単位法線ベクトルの補間によって算出される。そこで
(1)式により、表示物体表面の各点からの光の強度、
すなわち、表示画面の各ドツト(画素)の輝度を決定す
ることにより、シェーディングを行なうことができる。
なお、以上の方法ではHを導入したが、■を直接用いて
も、計算が複雑になるだけで、本質的には同じである。
も、計算が複雑になるだけで、本質的には同じである。
従来は、各ドツトごとに、N及びそれとり、Hの各内積
を算出して、それから(1)式の計算を行なっていたた
め、表示の完成までに長時間を要していた。
を算出して、それから(1)式の計算を行なっていたた
め、表示の完成までに長時間を要していた。
本発明の目的は、三次元物体の表示におけるシェーディ
ングのための処理時間を短縮することにある。
ングのための処理時間を短縮することにある。
本発明、9第一の特徴は、前記内積の各値に対応する輝
度を予め計算してテーブルを構成する点にある。[3’
llえば、(1)式において、一つのパンチ面について
は、■、及び■、は一定と考えることができる。したが
って、(1)式は、第1項及び第2項からなる部分と第
3項との2部分からなり、それぞれの部分を単一の内積
の関数として処理することができるものである。それゆ
え、2つの単純なテーブルを作ればよいことになる。
度を予め計算してテーブルを構成する点にある。[3’
llえば、(1)式において、一つのパンチ面について
は、■、及び■、は一定と考えることができる。したが
って、(1)式は、第1項及び第2項からなる部分と第
3項との2部分からなり、それぞれの部分を単一の内積
の関数として処理することができるものである。それゆ
え、2つの単純なテーブルを作ればよいことになる。
本発明の第二の特徴は、内積の補間計算のためにベクト
ルの極座標表示を用いる点にある。一つと考えることが
できるから、各ドツトの輝度計算に必要な内積、例えば
、(1)式における(N−L)系の下では、Nの座標角
θの三角関数に帰着する。
ルの極座標表示を用いる点にある。一つと考えることが
できるから、各ドツトの輝度計算に必要な内積、例えば
、(1)式における(N−L)系の下では、Nの座標角
θの三角関数に帰着する。
したがって、ベクトルを補間により求めてから内債を計
算する代りに、内積そのものを、θをパラメータとして
直接補間することができる。
算する代りに、内積そのものを、θをパラメータとして
直接補間することができる。
第1図は、本発明の一実施例の全体構成を示す。
座標変換プロセッサ2は、図示されていないホストコン
ピュータから、近似多面体の各頂点の座標を受取って、
必要に応じて座標の回転、平行移動などの処理を行なう
。この処理の内容は、本発明と直接の関係はなく、前掲
Foly他の著書に詳述されている。図形−スキャンラ
イン変換プロセッサ3は、後で詳述するが、多面体の座
標情報から、各スキャンラインの始点及び終点について
、それらの座標と、各単位法線ベクトル、更には(1)
式における内積(N−L)及び(N−H)の極座標表≦ 現を作成し、それらに基いて、次段の内積補間プロセッ
サ41.42に供給するパラメータを作シ出す。内積補
間プロセッサ41は、詳細は後述するが、要するに、前
記パラメータを受けて、各スキャンライン上の各ドツト
に対する内積(N−L)を補間算出し、内積補間プロセ
ッサ42は、同様に内積(N−H)を補間算出する。輝
度テーブル51〜56は、前記両内積の各値に対応して
、周囲光反射と拡散反射の和に相当する輝度(r、、+
)と、直接反射に相当する輝度(■、)とを保持してい
る。なお、テーブル51及び52は赤成分、同53及び
54は緑成分、同55及び56は青成分のために、それ
ぞれ用意されている。これらのテーブルから読出された
輝度情報は、各色成分ごとに、加算器61〜63によっ
て前記両輝度の和をとられてから、フレームバッファ7
1〜73に各ドツト対応に格納され、そこがらD/A変
換器81〜83を経て、CFLT表示装置9の輝度を制
御し、シェーディングが実現される。
ピュータから、近似多面体の各頂点の座標を受取って、
必要に応じて座標の回転、平行移動などの処理を行なう
。この処理の内容は、本発明と直接の関係はなく、前掲
Foly他の著書に詳述されている。図形−スキャンラ
イン変換プロセッサ3は、後で詳述するが、多面体の座
標情報から、各スキャンラインの始点及び終点について
、それらの座標と、各単位法線ベクトル、更には(1)
式における内積(N−L)及び(N−H)の極座標表≦ 現を作成し、それらに基いて、次段の内積補間プロセッ
サ41.42に供給するパラメータを作シ出す。内積補
間プロセッサ41は、詳細は後述するが、要するに、前
記パラメータを受けて、各スキャンライン上の各ドツト
に対する内積(N−L)を補間算出し、内積補間プロセ
ッサ42は、同様に内積(N−H)を補間算出する。輝
度テーブル51〜56は、前記両内積の各値に対応して
、周囲光反射と拡散反射の和に相当する輝度(r、、+
)と、直接反射に相当する輝度(■、)とを保持してい
る。なお、テーブル51及び52は赤成分、同53及び
54は緑成分、同55及び56は青成分のために、それ
ぞれ用意されている。これらのテーブルから読出された
輝度情報は、各色成分ごとに、加算器61〜63によっ
て前記両輝度の和をとられてから、フレームバッファ7
1〜73に各ドツト対応に格納され、そこがらD/A変
換器81〜83を経て、CFLT表示装置9の輝度を制
御し、シェーディングが実現される。
第4図ないし第8図は、図形−スキャンライン変換プロ
セッサ3による処理を説明するだめのものである。図形
−スキャンライン変換プロセッサ3は、座標変換プロセ
ッサ2から渡された多面体の頂点座標からパッチ面の各
辺のベクトルを求め、次にこの辺ベクトルの外積として
パンチ面の単位法線ベクトルを求め、そして、前述の方
法により頂点の単位法線ベクトルを算出する。それから
、通常のスキャンコノバージョンの場合と同様にして各
スキャンラインの始点と終点を求めて、各スキャンライ
ンごとに逐次法線ベクトルの演算を行なう。
セッサ3による処理を説明するだめのものである。図形
−スキャンライン変換プロセッサ3は、座標変換プロセ
ッサ2から渡された多面体の頂点座標からパッチ面の各
辺のベクトルを求め、次にこの辺ベクトルの外積として
パンチ面の単位法線ベクトルを求め、そして、前述の方
法により頂点の単位法線ベクトルを算出する。それから
、通常のスキャンコノバージョンの場合と同様にして各
スキャンラインの始点と終点を求めて、各スキャンライ
ンごとに逐次法線ベクトルの演算を行なう。
そのため、第4図に示すように、パッチ面3゜において
、処理中のスキャンライン31の始点Sにおける単位法
線ベクトルNLを、始点Sが属する辺32の両端をなす
、頂点の単位法線ベクトルN1.&びN2からの補間に
より求めるとともに、終点Tにおける単位法線ベクトル
Naを、同様に辺33の両端をなす頂点の単位法線ベク
トルN3及びN4からの補間により求める。それから、
スキャンライン上の各ドツト位置における内積(N特別
な座標系を形成する。すなわち、第5図に示Npの外積
Jとを基準とする極座標系を定義する。
、処理中のスキャンライン31の始点Sにおける単位法
線ベクトルNLを、始点Sが属する辺32の両端をなす
、頂点の単位法線ベクトルN1.&びN2からの補間に
より求めるとともに、終点Tにおける単位法線ベクトル
Naを、同様に辺33の両端をなす頂点の単位法線ベク
トルN3及びN4からの補間により求める。それから、
スキャンライン上の各ドツト位置における内積(N特別
な座標系を形成する。すなわち、第5図に示Npの外積
Jとを基準とする極座標系を定義する。
この座標系においては、スキャンライン上の各ドツト位
置における単位法線ベクトルNは、N[、−化すると考
えられる。換言すれば、NLとNのなす角θは、0から
θR(−πくθRくπ)まで、角の変化量が少ない方の
向きで変化する。この座標系において、任意の単位ベク
トルXは、それとGのなす角ψ。と、そのNLJ平面−
の投影成分がNLとなす角θえとの、極座標で表わされ
る。
置における単位法線ベクトルNは、N[、−化すると考
えられる。換言すれば、NLとNのなす角θは、0から
θR(−πくθRくπ)まで、角の変化量が少ない方の
向きで変化する。この座標系において、任意の単位ベク
トルXは、それとGのなす角ψ。と、そのNLJ平面−
の投影成分がNLとなす角θえとの、極座標で表わされ
る。
第5図におけるψHとθ□及びψ、とθ、は、ベクトル
H及びLの前記極座標である。
H及びLの前記極座標である。
ここで、任意の単位ベクトルXの前記極座漂ψ工及びθ
工の求め方を詳述する。まず、Gからの角ψ工は、次式
で与えられる。
工の求め方を詳述する。まず、Gからの角ψ工は、次式
で与えられる。
ψ、=C05−’ (G−X) (0<ψ工くπ)θ
、については、前述のようにNLとNRの間を最短経路
で補間するため、−πくθ工くπとする。例えば、第6
図において、XIはNt、から正方向に01だけ回転し
たものとするが、N2はNt、から負方向にθ2だけ回
転したものとする。
、については、前述のようにNLとNRの間を最短経路
で補間するため、−πくθ工くπとする。例えば、第6
図において、XIはNt、から正方向に01だけ回転し
たものとするが、N2はNt、から負方向にθ2だけ回
転したものとする。
第7図は、XのNL −J平面への投影成分が存在値と
の関係を示し、第8図は、前記の象限と、内とに応じて
採用すべきθ工の計算式を示す。もし7図の関係から直
接θよを求めることができる。
の関係を示し、第8図は、前記の象限と、内とに応じて
採用すべきθ工の計算式を示す。もし7図の関係から直
接θよを求めることができる。
まだ、以上の説明はN L 4 N aを前提としてい
るが、Nt、=NR丁! ワ’+ N L X N a
= U (1)”A8’ri、Nしと直交する任意の
ベクトルをGとして採用すればよい。なお、NL =
Nnの場合、すなわち同一パッチ面の両端での単位法
線が逆になることは、通常ありえない。このような事態
は、パッチ面への分割を細かくすることによって回避さ
れる。
るが、Nt、=NR丁! ワ’+ N L X N a
= U (1)”A8’ri、Nしと直交する任意の
ベクトルをGとして採用すればよい。なお、NL =
Nnの場合、すなわち同一パッチ面の両端での単位法
線が逆になることは、通常ありえない。このような事態
は、パッチ面への分割を細かくすることによって回避さ
れる。
以上のようにして、第5図のψH9ψし、θH及びθL
を算出することができる。また、θは、0からθRまで
、スキャンライン上の1ドツトごとにΔθずつ増してゆ
くものとし、したがって、Δθ=θR/(スキャンライ
ントッド数−1)である。
を算出することができる。また、θは、0からθRまで
、スキャンライン上の1ドツトごとにΔθずつ増してゆ
くものとし、したがって、Δθ=θR/(スキャンライ
ントッド数−1)である。
最終的に、図形−スキャンライン変換プロセッサ3は、
前記のψH2ψし、θH2θL及びΔθを算出して、次
段の内積補間プロセッサ41及び42に供給する。
前記のψH2ψし、θH2θL及びΔθを算出して、次
段の内積補間プロセッサ41及び42に供給する。
次に、内積補間プロセッサ41及び42の説明に移る。
第5図において、内積(N−L)は、N @L =CO
5θ・slnψL、 @ cosθ。
5θ・slnψL、 @ cosθ。
+sinθ・Slnψt、・sinθし= 1 / 2
(sin (ψL+θL−θ)+5in(ψし −θ
L十〇)) ・・・・・・・・(2)同様にして、 N ・I−I= 1/2 (sin (ψH+θH−θ
)+5in(ψH−θH+θ))・・・・・・・・・(
3)ところで、通常、パッチ面の寸法に比して光源及び
視点は充分遠方にあると考えてよいから、一つのパッチ
面上でLとHは一定であるとすることができ、したがっ
て、前記(2)式と(3)式はθのみの関数となり、こ
のθは、前述のように、0から始まってΔθずつ増加し
つつθRに至るものである。
(sin (ψL+θL−θ)+5in(ψし −θ
L十〇)) ・・・・・・・・(2)同様にして、 N ・I−I= 1/2 (sin (ψH+θH−θ
)+5in(ψH−θH+θ))・・・・・・・・・(
3)ところで、通常、パッチ面の寸法に比して光源及び
視点は充分遠方にあると考えてよいから、一つのパッチ
面上でLとHは一定であるとすることができ、したがっ
て、前記(2)式と(3)式はθのみの関数となり、こ
のθは、前述のように、0から始まってΔθずつ増加し
つつθRに至るものである。
第9図は、(N−L)のだめの内積補間プロセッサ41
の構成を示す。ラッチ411は図形−スキャンライ/変
換プロセッサ3から与えられたΔθを保持し、加算器4
12の一方の入力に−Δθを供給するとともに、加算器
413の一方の入力にΔθを供給する。加算器412の
他方の入力はラッチ414の出力であり、このラッチ4
14は、初期値として(ψム+θL)を図形−スキャン
ライン変換プロセッサ3から供給される。また、加算器
413の他方の入力はラッチ415の出力であり、この
ラッチ415は、同様に初期値として(ψL−〇L)を
供給される。加算器412゜413の出力はそれぞれラ
ッチ414,415に与えられ、したがって、ラッチ4
14及び415の内容は、各ドツトごとにそれぞれ一Δ
θ及びΔθの累算により更新されて、当面の処理対象の
ドツト位置に対する(ψム十〇L−〇)及び(ψし一θ
し十〇)の値を保っている。sinテーブル416及び
417は、各ラッチの出力によって検索されて、それぞ
れの角に対するsin値を出力する。加算器418は両
sin値を加算し、ンフタ419は2で割る演算に相当
するシフトを行なって、(2)式の値を出力する。
の構成を示す。ラッチ411は図形−スキャンライ/変
換プロセッサ3から与えられたΔθを保持し、加算器4
12の一方の入力に−Δθを供給するとともに、加算器
413の一方の入力にΔθを供給する。加算器412の
他方の入力はラッチ414の出力であり、このラッチ4
14は、初期値として(ψム+θL)を図形−スキャン
ライン変換プロセッサ3から供給される。また、加算器
413の他方の入力はラッチ415の出力であり、この
ラッチ415は、同様に初期値として(ψL−〇L)を
供給される。加算器412゜413の出力はそれぞれラ
ッチ414,415に与えられ、したがって、ラッチ4
14及び415の内容は、各ドツトごとにそれぞれ一Δ
θ及びΔθの累算により更新されて、当面の処理対象の
ドツト位置に対する(ψム十〇L−〇)及び(ψし一θ
し十〇)の値を保っている。sinテーブル416及び
417は、各ラッチの出力によって検索されて、それぞ
れの角に対するsin値を出力する。加算器418は両
sin値を加算し、ンフタ419は2で割る演算に相当
するシフトを行なって、(2)式の値を出力する。
(N−H)のための内積補間プロセッサ42は、(3)
式の演算を行なうもので、ψLとθLの代シにψHとθ
Hが与えられる点を除き、第9図と同じである。
式の演算を行なうもので、ψLとθLの代シにψHとθ
Hが与えられる点を除き、第9図と同じである。
内積補間プロセッサ41の出力は、輝度テーブル51.
53及び55の検索に使用され、内積補間プロセッサ4
2の出力は、輝度テーブル52゜54及び56の検索に
使用される。(1)式は、次の2個の式に分解して処理
することができる。
53及び55の検索に使用され、内積補間プロセッサ4
2の出力は、輝度テーブル52゜54及び56の検索に
使用される。(1)式は、次の2個の式に分解して処理
することができる。
1、、+=I−に一+I、Kd(N@L) ・・・
・・・・・・(4)1、=I、に、(N−H)″
・・・・・・・・・(5)(4)式は周囲光の反射
と光源からの光の拡散反射とによる光の強度であり、(
5)式は光源からの光の直接反射による光の強度であっ
て、これらはそのまま表示輝度のそれぞれの成分に対応
する。そこで、表示すべき物体について指定された諸反
射係数、周囲光及び光源からの光の強度並びにnの値を
用いて、赤、緑、青の各成分ごとに、(N−L)及び(
N −H)の適当な間隔の各位に対して、(4)式及び
(5)式を予め計算する。そして、赤、緑、青のそれぞ
れの成分についての(4)式の値は、それぞれテーブル
51,53.55に格納し、また、同じり(5)式の値
は、それぞれテーブル52,54゜56に格納しておく
。ff1lえば、前記内積の間隔を17256にとると
すれば、谷テーブルの工/トリ数を257とし、第1工
/トリには内積が0の場合、第2エントリには内積が1
/256の場合、以下同様にして第256エントリには
内積が255/256の場合、第257エ/トリには内
債が1の場合の、赤、緑、青の各成分に対する(4)式
又は(5)式の値が、それぞれ書込まれる。これらの値
は、ホストコンピュータに計算させてもよいし、まだ、
図形表示装置に付属のプロセッサにより計算するように
してもよい。
・・・・・・(4)1、=I、に、(N−H)″
・・・・・・・・・(5)(4)式は周囲光の反射
と光源からの光の拡散反射とによる光の強度であり、(
5)式は光源からの光の直接反射による光の強度であっ
て、これらはそのまま表示輝度のそれぞれの成分に対応
する。そこで、表示すべき物体について指定された諸反
射係数、周囲光及び光源からの光の強度並びにnの値を
用いて、赤、緑、青の各成分ごとに、(N−L)及び(
N −H)の適当な間隔の各位に対して、(4)式及び
(5)式を予め計算する。そして、赤、緑、青のそれぞ
れの成分についての(4)式の値は、それぞれテーブル
51,53.55に格納し、また、同じり(5)式の値
は、それぞれテーブル52,54゜56に格納しておく
。ff1lえば、前記内積の間隔を17256にとると
すれば、谷テーブルの工/トリ数を257とし、第1工
/トリには内積が0の場合、第2エントリには内積が1
/256の場合、以下同様にして第256エントリには
内積が255/256の場合、第257エ/トリには内
債が1の場合の、赤、緑、青の各成分に対する(4)式
又は(5)式の値が、それぞれ書込まれる。これらの値
は、ホストコンピュータに計算させてもよいし、まだ、
図形表示装置に付属のプロセッサにより計算するように
してもよい。
本実施例によれば、輝度テーブルを用いたことにより、
各ドツトについて、両内積が得られた後での(1)式の
計算が各1動作のテーブル検索と加算とで完成されるの
に対して、通常の方法によれば、仮りにI=に一、Ip
Kd及びI、に、が予め計算されているとしても、なお
2回の乗算と2回の加算が必要である。テーブル内の各
数値の算出に要する時間を考慮に入れても、一般に、表
示物体上には同じ内積値を持つ点が多数存在するから、
やは1 り本発明の方が有利である。
各ドツトについて、両内積が得られた後での(1)式の
計算が各1動作のテーブル検索と加算とで完成されるの
に対して、通常の方法によれば、仮りにI=に一、Ip
Kd及びI、に、が予め計算されているとしても、なお
2回の乗算と2回の加算が必要である。テーブル内の各
数値の算出に要する時間を考慮に入れても、一般に、表
示物体上には同じ内積値を持つ点が多数存在するから、
やは1 り本発明の方が有利である。
また、内積の計算においても、各ドツトについて、本実
施例では2@作の加算と一動作のテーブル検索で済むの
に対して、通常の方法によれば、6回の乗算と4回の加
算を必要とする。
施例では2@作の加算と一動作のテーブル検索で済むの
に対して、通常の方法によれば、6回の乗算と4回の加
算を必要とする。
本発明によれば、輝度テーブルの設置により、内積から
輝度を計算するだめの処理時間が大幅に短縮され、史に
、極座標の導入により、内債の補間計算のだめの処理時
間も著しく短縮される。
輝度を計算するだめの処理時間が大幅に短縮され、史に
、極座標の導入により、内債の補間計算のだめの処理時
間も著しく短縮される。
第1図は本発明の一実施例のブロックダイヤグラム、第
2図は反射モデルの模式図、第3図は近似多面体の略図
、第4図はスキャンコンバージョンの模式図、第5図及
び第6図は極座標で表わしたベクトル図、第7図は前記
極座標における象限とベクトル値の対照図、第8図は同
じく象限とベクトル値と極座標値の対照図、第9図は第
1図における内積補間プロセッサのブロックダイヤグラ
ムである。 3・・・図形−スキャンライン変換プロセッサ、41゜
42・・・内積補間プロセッサ、51〜56・・・輝度
チー7’/し、61〜63・・・刀OJI、71−73
・・・フレームバッファ、81〜83・・・D/unM
、9・・・CR1表示装置。
2図は反射モデルの模式図、第3図は近似多面体の略図
、第4図はスキャンコンバージョンの模式図、第5図及
び第6図は極座標で表わしたベクトル図、第7図は前記
極座標における象限とベクトル値の対照図、第8図は同
じく象限とベクトル値と極座標値の対照図、第9図は第
1図における内積補間プロセッサのブロックダイヤグラ
ムである。 3・・・図形−スキャンライン変換プロセッサ、41゜
42・・・内積補間プロセッサ、51〜56・・・輝度
チー7’/し、61〜63・・・刀OJI、71−73
・・・フレームバッファ、81〜83・・・D/unM
、9・・・CR1表示装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、三次元図形の表示にあたり、スキャンライン上の各
ドットの輝度を対応する表示物体上の各点における法線
方向と光源方向と視点方向の相互関係を表わすベクトル
内積の関数として算定してシェーディングを行なう図形
処理装置において、前記ベクトル内積に基づいて検索さ
れ、予想される一連のベクトル内積に対応して予め計算
された一連の輝度データを保持するテーブルを備えたこ
とを特徴とする、図形シェーディング装置。 2、三次元図形の表示にあたり、スキャンライン上の各
ドットの輝度を対応する表示物体上の各点における法線
方向と光源方向と視点方向の相互関係を表わすベクトル
内積の関数として算定してシェーディングを行なう図形
処理装置において、各スキャンライン上の各ドットに対
するベクトル内積を各ベクトルの極座標を用いて当該ス
キヤンラインの両端におけるベクトル内積から補間する
手段と、この補間手段の出力に基づいて検索され、予想
される一連のベクトル内積に対応して予め計算された一
連の輝度データを保持するテーブルとを備えたことを特
徴とする、図形シェーディング装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59191490A JPH0746391B2 (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 図形シエ−デイング装置 |
US06/766,941 US4709231A (en) | 1984-09-14 | 1985-08-19 | Shading apparatus for displaying three dimensional objects |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59191490A JPH0746391B2 (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 図形シエ−デイング装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPS6170666A true JPS6170666A (ja) | 1986-04-11 |
JPH0746391B2 JPH0746391B2 (ja) | 1995-05-17 |
Family
ID=16275509
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP59191490A Expired - Lifetime JPH0746391B2 (ja) | 1984-09-14 | 1984-09-14 | 図形シエ−デイング装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
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US (1) | US4709231A (ja) |
JP (1) | JPH0746391B2 (ja) |
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